觸控模塊、投影系統(tǒng)及其觸控方法
【專利摘要】一種觸控模塊、投影系統(tǒng)及其觸控方法。觸控模塊包括激光掃描裝置、光電二極管、影像擷取裝置及處理單元。激光掃描裝置在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至觸控區(qū)域。光電二極管用以接收位于觸控區(qū)域的觸碰點(diǎn)的反射光。影像擷取裝置在第二期間擷取具有觸碰點(diǎn)的另一反射光的影像。處理單元依據(jù)光電二極管所接收到的觸碰點(diǎn)的反射光判斷觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，影像擷取裝置擷取的另一反射光對(duì)應(yīng)第二角度，并且依據(jù)第一角度與對(duì)應(yīng)的第二角度，計(jì)算上述觸碰點(diǎn)的位置信息。
【專利說明】觸控模塊、投影系統(tǒng)及其觸控方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種投影系統(tǒng)、觸控模塊及其觸控方法，且特別涉及一種使用激光的投影系統(tǒng)、觸控模塊及其觸控方法。

【背景技術(shù)】
[0002]近年來，隨著信息技術(shù)、無線行動(dòng)通訊和信息家電等各項(xiàng)應(yīng)用的快速發(fā)展，為了達(dá)到更便利、體積更輕巧化，以及更人性化的目的，許多信息產(chǎn)品的輸入裝置已由傳統(tǒng)的鍵盤或鼠標(biāo)等轉(zhuǎn)變?yōu)橛|控模塊。觸控模塊設(shè)計(jì)大致可區(qū)分為電阻式、電容式、光學(xué)式、聲波式以及電磁式等，并且光學(xué)式觸控模塊的觸控機(jī)制適合應(yīng)用在大尺寸的顯示面板。在顯示面板的尺寸漸逐變大的情況下，光學(xué)觸控模塊的使用也隨之普及。
[0003]一般而言，光學(xué)觸控模塊會(huì)通過配置在觸控區(qū)域的不同角落的兩個(gè)影像傳感器感測觸碰點(diǎn)的位置，因此單一點(diǎn)觸控可正常運(yùn)行，但多點(diǎn)(即兩點(diǎn)以上)同時(shí)觸碰時(shí)，會(huì)因?yàn)楣睃c(diǎn)而造成無法運(yùn)行或是誤判。若要消除上述鬼點(diǎn)或是達(dá)到多點(diǎn)觸控的功能，通常會(huì)增加影像傳感器的數(shù)量。然而，增加影像傳感器的數(shù)量會(huì)增加硬件成本和觸碰點(diǎn)的運(yùn)算復(fù)雜度，并且觸控模塊的體積和機(jī)構(gòu)也會(huì)限制影像傳感器數(shù)量的上限。因此，如何在觸控模塊的體積和機(jī)構(gòu)的限制下達(dá)到多點(diǎn)觸控的功能則成為設(shè)計(jì)光學(xué)觸控模塊的一個(gè)重點(diǎn)。
[0004]美國公告專利編號(hào)5525764揭露一種具有手寫輸入功能的影像處理系統(tǒng)及其形成方法，其手寫數(shù)據(jù)會(huì)傳送至影像處理系統(tǒng)的微處理器，接著微處理器依據(jù)手寫的坐標(biāo)及寬度以特定色彩標(biāo)示手寫部分及重疊在影像上，以形成新的混合影像。
[0005]美國公開專利編號(hào)20100207876揭露一種激光掃描輸入裝置，包括水平掃描激光裝置、影像擷取裝置及微處理器，其使用激光水平地掃描目標(biāo)，以及使用影像擷取裝置擷取目標(biāo)所反射的反射影像。此外，激光掃描輸入裝置更通過微處理器計(jì)算及取得目標(biāo)的坐標(biāo)，并且以此作為對(duì)應(yīng)的輸入信息。
[0006]中國公開專利編號(hào)102184060揭露一種光學(xué)式觸控裝置，本案是在觸摸件底板的三個(gè)邊緣處裝有回歸反射式反光條(retro-reflector),在另一邊緣的兩頂角側(cè)分別裝有紅外激光頭和亮度傳感器，旋轉(zhuǎn)機(jī)械裝置上裝有掃射整個(gè)顯示區(qū)域的反射鏡，當(dāng)顯示區(qū)域有觸摸物體而使激光光束被遮斷并將光束反射回亮度傳感器所接收的亮度信息以及旋轉(zhuǎn)裝置返回的亮度信息可判定是否有物體在顯示區(qū)域上。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明提出一種觸控模塊、其投影系統(tǒng)及其觸控方法，可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸控功能且不增加觸控模塊的硬件成本，并且消除多點(diǎn)觸控時(shí)鬼點(diǎn)的產(chǎn)生。
[0008]本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點(diǎn)可以從本發(fā)明所揭露的技術(shù)特征中得到進(jìn)一步的了解。
[0009]為達(dá)上述之一或部份或全部目的或是其它目的，本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種觸控模塊，包括激光掃描裝置、光電二極管、影像擷取裝置及處理單元。激光掃描裝置在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至觸控區(qū)域。光電二極管用以接收位于觸控區(qū)域的觸碰點(diǎn)的反射光。影像擷取裝置在第二期間擷取具有觸碰點(diǎn)的另一反射光的影像。處理單元電連接激光掃描裝置、光電二極管及影像擷取裝置，依據(jù)光電二極管所接收到的觸碰點(diǎn)的反射光判斷觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，影像擷取裝置擷取的另一反射光對(duì)應(yīng)第二角度，并且依據(jù)第一角度與對(duì)應(yīng)的第二角度，計(jì)算觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0010]為達(dá)上述之一或部份或全部目的或是其它目的，本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊，其中激光掃描裝置在第二期間提供對(duì)應(yīng)第一角度的激光至觸控區(qū)域。
[0011]本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的激光至觸控區(qū)域，處理單元將根據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第一角度與影像擷取裝置在這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第二角度，計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0012]本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控模塊，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的這些第一角度的激光至觸控區(qū)域，處理單元依據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度與影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息，其中這些子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度為部分重復(fù)。其中這些子期間的影像的數(shù)量為N，與所述觸碰點(diǎn)的關(guān)系為2N_1，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
[0013]本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的激光至觸控區(qū)域，并且在第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的激光至觸控區(qū)域，處理單元依據(jù)這些第一角度在第一子期間及第二子期間對(duì)應(yīng)的照射亮度變化與影像擷取裝置在第一子期間及第二子期間所得到的這些第二角度對(duì)應(yīng)的亮度變化判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。其中在這些第一角度在第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的激光的照射次數(shù)，這些第一角度在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的激光的照射次數(shù)。以及在這些第一角度在第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的激光的照射功率，這些第一角度在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的激光的照射功率。
[0014]本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控模塊，其中處理單元將這些第一角度的照射亮度的變化程度與影像擷取裝置所得到的這些第二角度中亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì)應(yīng)。
[0015]為達(dá)上述之一或部份或全部目的或是其它目的，本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種投影系統(tǒng)，包括投影幕、投影裝置及如上述的觸控模塊。投影裝置用以投射影像至投影幕。觸控模塊配置于投影幕。觸控模塊包括:激光掃描裝置，在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至投影幕的投影區(qū)域；光電二極管，用以接收位于投影區(qū)域內(nèi)的觸碰點(diǎn)的第一反射光，第一反射光由激光照射到觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生；影像擷取裝置，在第二期間擷取具有觸碰點(diǎn)的第二反射光的影像，第二反射光由激光照射到觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生；以及處理單元，電連接激光掃描裝置、光電二極管及影像擷取裝置，依據(jù)光電二極管所接收到的觸碰點(diǎn)的第一反射光，判斷觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，并且依據(jù)影像擷取裝置擷取的具有第二反射光的影像，判斷第二反射光對(duì)應(yīng)的第二角度，依據(jù)第一角度與對(duì)應(yīng)的第二角度，計(jì)算觸碰點(diǎn)的位置信息
[0016]本發(fā)明一實(shí)施例的投影系統(tǒng)，其中激光掃描裝置在第二期間依序提供對(duì)應(yīng)第一角度的激光至投影區(qū)域。當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的激光至投影區(qū)域，處理單元將這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第一角度與影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0017]本發(fā)明另一實(shí)施例的投影系統(tǒng)，當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的這些第一角度的激光至投影區(qū)域，處理單元依據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度與影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息，其中這些子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度為部分重復(fù)。其中這些子期間的擷取影像的數(shù)量為N，與觸碰點(diǎn)的關(guān)系為2N-1，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
[0018]本發(fā)明一實(shí)施例的投影系統(tǒng)，當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的激光至投影區(qū)域，并且在第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的激光至投影區(qū)域，處理單元依據(jù)這些第一角度在第一子期間及第二子期間的照射亮度變化與影像擷取裝置在第一子期間及第二子期間的所得到的這些第二角度的亮度變化判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。其中這些第一角度在第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的激光的照射次數(shù)，這些第一角度在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的激光的照射次數(shù)。
[0019]本發(fā)明另一實(shí)施例的投影系統(tǒng)，這些第一角度在第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的激光的照射功率，這些第一角度在在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的激光的照射功率。
[0020]本發(fā)明又一實(shí)施例的投影系統(tǒng)，處理單元將這些第一角度的照射亮度的變化程度與影像擷取裝置擷取到的這些第二角度中亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì)應(yīng)。
[0021]為達(dá)上述之一或部份或全部目的或是其它目的，本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種觸控模塊的觸控方法，包括下列步驟。通過激光掃描裝置在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至觸控區(qū)域。通過光電二極管接收位于觸控區(qū)域內(nèi)的觸碰點(diǎn)的第一反射光，第一反射光由激光照射到觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生。
[0022]通過影像擷取裝置在第二期間擷取具有觸碰點(diǎn)的第二反射光的影像，第二反射光由激光照射到觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生。
[0023]通過處理單元，依據(jù)光電二極管所接收到的觸碰點(diǎn)的第一反射光，判斷觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，并且依據(jù)影像擷取裝置擷取的具有第二反射光的影像，判斷第二反射光對(duì)應(yīng)的第二角度，并依據(jù)第一角度與對(duì)應(yīng)的第二角度，計(jì)算觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0024]本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，還包括通過激光掃描裝置在第二期間依序提供對(duì)應(yīng)第一角度的激光至觸控區(qū)域。
[0025]本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，還包括當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，通過激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的激光至觸控區(qū)域；以及將這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第一角度與通過影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度，計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0026]本發(fā)明又一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，還包括:當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的這些第一角度的激光至觸控區(qū)域；以及依據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度與影像擷取裝置于這些子期間所得到的這些第二角度判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息，其中子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度為部分重復(fù)。其中子期間的擷取影像的數(shù)量為N，與觸碰點(diǎn)的關(guān)系為2N-1，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
[0027]本發(fā)明又一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，還包括:當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，通過激光掃描裝置在第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的激光至觸控區(qū)域；通過激光掃描裝置在第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的激光至觸控區(qū)域；以及依據(jù)這些第一角度在第一子期間及第二子期間的照射亮度變化與影像擷取裝置在第一子期間及第二子期間的所得到的這些第二角度的亮度變化判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。其中這些第一角度在第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的激光的照射次數(shù)，這些第一角度在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的激光的照射次數(shù)。
[0028]本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，這些第一角度在第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的激光的照射功率，這些第一角度在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的激光的照射功率。
[0029]本發(fā)明又一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，其中判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度的步驟包括:將這些第一角度的照射亮度的變化程度與影像擷取裝置所得到的這些第二角度中亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì)應(yīng)。
[0030]本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法，還包括:當(dāng)觸碰點(diǎn)觸碰觸控區(qū)域時(shí)，通過激光掃描裝置在第二期間內(nèi)提供對(duì)應(yīng)第一角度的激光至觸控區(qū)域；以及依據(jù)第一角度與通過影像擷取裝置在第二期間所得到的第二角度計(jì)算觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0031]基于上述，在本發(fā)明的上述實(shí)施例的觸控模塊、其投影系統(tǒng)及其觸控方法，其通過光電二極管在第一期間檢測各個(gè)觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，并且激光掃描裝置在第二期間對(duì)應(yīng)各個(gè)觸碰點(diǎn)的照射狀態(tài)不同，因此可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸控功能且不增加觸控模塊的硬件成本。
[0032]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉多個(gè)實(shí)施例，并配合所附視圖，作詳細(xì)說明如下。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0033]圖1為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的系統(tǒng)示意圖。
[0034]圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第一期間的掃描示意圖。
[0035]圖3A至3C為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第二期間的掃描示意圖。
[0036]圖4A及4B為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第二期間的掃描示意圖。
[0037]圖5A及5B為依據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第二期間的掃描示意圖。
[0038]圖6A為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控模塊的系統(tǒng)示意圖。
[0039]圖6B為依據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例的觸控模塊的系統(tǒng)示意圖。
[0040]圖7為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的投影系統(tǒng)的系統(tǒng)示意圖。
[0041]圖8為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法的流程圖。
[0042]【符號(hào)說明】
[0043]100、610、620:觸控模塊
[0044]110、110a、110b、I 1c:激光掃描裝置
[0045]120、120a:光電二極管
[0046]130、130a:影像擷取裝置
[0047]140、140a:處理單元
[0048]700:投影系統(tǒng)
[0049]710:投影幕
[0050]720:投影裝置
[0051]730:觸控模塊
[0052]740:處理器
[0053]AT:觸控區(qū)域
[0054]B11、B12、B21、B22、B31、B32:亮度值
[0055]C1、C2:角落
[0056]Ipos:位置信息
[0057]L、LI ?L3:激光
[0058]P1、P2:子期間
[0059]R1、R2、R11、R12、R21、R22、R31、R32:反射光
[0060]S1、S2:側(cè)邊
[0061]TP、TP1 ?TP3:觸碰點(diǎn)
[0062]Θ 1、Θ la、Θ 11、Θ 21、Θ 31:第一角度
[0063]Θ 2、Θ 2a、Θ 12、Θ 22、Θ 32:第二角度
[0064]S810、S820、S830、S840、S850、S860:步驟

【具體實(shí)施方式】
[0065]有關(guān)本發(fā)明的前述及其它技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)與功效，在以下結(jié)合參考附圖的多個(gè)實(shí)施例的詳細(xì)說明中，將可清楚的呈現(xiàn)。以下實(shí)施例中所提到的方向用語，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」等，僅是參考附圖的方向。因此，使用的方向用語是用來說明，而非用來限制本發(fā)明。
[0066]圖1為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的系統(tǒng)示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1，在本實(shí)施例中，觸控模塊100包括激光掃描裝置110、光電二極管120、影像擷取裝置130及處理單元140。激光掃描裝置110配置在觸控區(qū)域AT的角落Cl，在本實(shí)施例中，角落Cl為圖1中觸控區(qū)域AT的右下角。光電二極管120配置在觸控區(qū)域AT的側(cè)邊SI，在本實(shí)施例中，側(cè)邊SI為圖1中觸控區(qū)域AT的下側(cè)。影像擷取裝置130配置在觸控區(qū)域AT的角落C2，在本實(shí)施例中，角落C2為圖1中觸控區(qū)域AT的左下角。處理單元140耦接激光掃描裝置110、光電二極管120及影像擷取裝置130。其中，上述激光掃描裝置110、光電二極管120及影像擷取裝置130的配置位置僅用以說明，本發(fā)明實(shí)施例不以此為限，也即激光掃描裝置110及影像擷取裝置130可分別配置在觸控區(qū)域AT的任意兩個(gè)角落，光電二極管120可配置在觸控區(qū)域AT的其中一側(cè)。
[0067]激光掃描裝置110受控于處理單元140，且在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光L掃描整個(gè)觸控區(qū)域AT。假設(shè)平行于側(cè)邊SI的角度定義為O度，平行于側(cè)邊S2的角度定義為90度，則激光掃描裝置110可依序提供由O度至90度的激光L，并且從角落Cl進(jìn)入觸控區(qū)域AT。光電二極管120用以接收位于觸控區(qū)域AT的觸碰點(diǎn)(如TP)反射激光L所產(chǎn)生的反射光Rl，也即當(dāng)物體觸碰觸控區(qū)域AT時(shí)，光電二極管120會(huì)接收到來自觸碰點(diǎn)(如TP)的反射光Rl，此時(shí)光電二極管120將已接收到反射光Rl的信號(hào)傳遞至處理單元140，處理單元140會(huì)記錄激光掃描裝置110發(fā)射激光L的角度(如Θ I),即為觸碰點(diǎn)(如TP)對(duì)應(yīng)的第一角度。接著，影像擷取裝置130受控于處理單元140，且在第二期間自角落C2擷取觸控區(qū)域AT的對(duì)應(yīng)影像，在本實(shí)施例中，對(duì)應(yīng)影像為具有觸碰點(diǎn)(如TP)反射光束R2的影像，處理單元140根據(jù)影像擷取裝置130所擷取的反射光束R2，計(jì)算出位于觸控區(qū)域AT的觸碰點(diǎn)(如TP)對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ2)。在本實(shí)施例中，上述的第一期間為激光L依序由O度掃描至90度的時(shí)間，上述的第二期間則為激光L依序由90度掃描至O度的時(shí)間，值得注意的是，在第二期間，激光掃描裝置110在到達(dá)第一角度時(shí)才會(huì)提供激光L，并同時(shí)開啟影像擷取裝置130擷取影像，而在其余時(shí)間內(nèi)，激光掃描裝置110則處于關(guān)閉狀態(tài)，可節(jié)省不必要的效能浪費(fèi)。
[0068]依據(jù)上述，處理單元140可依據(jù)光電二極管120所接收到的觸碰點(diǎn)(如TP)的反射光Rl的時(shí)序判斷觸碰點(diǎn)(如TP)對(duì)應(yīng)的第一角度(如Θ I )，并且依據(jù)影像擷取裝置130擷取到反射光束R2所對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ 2)，接著根據(jù)第一角度(如Θ I)以及對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ 2)，計(jì)算觸碰點(diǎn)(如TP)的位置信息Ipos0
[0069]在本實(shí)施例中，觸控區(qū)域AT假設(shè)為單點(diǎn)觸碰(即單一觸碰點(diǎn)TP)。在第一期間中，處理單元140會(huì)控制激光掃描裝置110依序提供由O度至90度的激光L，即掃描觸控區(qū)域AT至少一次，例如為由觸控區(qū)域AT的一端SI掃描至觸控區(qū)域AT的另一端S2，或者控制激光掃描裝置110依序提供由O度至90度的激光L及依序提供由90度至O度的激光L，也即掃描觸控區(qū)域AT至少來回一次，例如為由觸控區(qū)域AT的一端SI掃描至觸控區(qū)域AT的另一端S2接著再由觸控區(qū)域AT的一端S2掃描至觸控區(qū)域AT的一端SI。當(dāng)激光掃描裝置110提供的激光L的角度為Θ I時(shí)，光電二極管120會(huì)接收到觸碰點(diǎn)TP的反射光R1，此時(shí)處理單元140會(huì)將角度Θ I視為觸碰點(diǎn)(如TP)對(duì)應(yīng)的第一角度。
[0070]在第二期間中，處理單元140會(huì)控制影像擷取裝置130自角落C2擷取觸控區(qū)域AT的對(duì)應(yīng)影像，以通過所擷取到的影像中反射光束R2來判斷位于觸控區(qū)域AT的觸碰點(diǎn)TP對(duì)應(yīng)的第二角度Θ2。其中，當(dāng)環(huán)境光的亮度夠亮?xí)r，影像擷取裝置130所擷取到的影像可清楚判斷觸碰點(diǎn)TP的第二角度Θ 2，也即可使激光掃描裝置110為關(guān)閉狀態(tài)。當(dāng)處理單元140取得觸碰點(diǎn)TP對(duì)應(yīng)的第一角度Θ I及第二角度Θ 2時(shí)，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ I及第二角度Θ 2且通過三角形定位法計(jì)算出觸碰點(diǎn)TP的坐標(biāo)，并且對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP提供位置信息Ipos。
[0071]此外，激光掃描裝置110可在第二期間依序提供對(duì)應(yīng)各第一角度(如Θ I)的激光L至觸控區(qū)域AT，以提高影像中對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP的亮度，進(jìn)而使處理單元140可清楚判斷觸碰點(diǎn)TP的位置。
[0072]圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第一期間的掃描示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1及圖2，在本實(shí)施例中，觸控區(qū)域AT假設(shè)為多點(diǎn)觸碰(以三個(gè)觸碰點(diǎn)TPl?TP3為例)，其中相同或相似的元件使用相同或相似的標(biāo)號(hào)。
[0073]在第一期間中，處理單元140會(huì)控制激光掃描裝置110依序提供由O度至90度的激光L，即掃描觸控區(qū)域AT至少一次，或者控制激光掃描裝置110依序提供由O度至90度的激光L及依序提供由90度至O度的激光L，也即掃描觸控區(qū)域AT至少來回一次。以本實(shí)施例來說，當(dāng)激光掃描裝置110依序提供的激光L1、L2及L3的角度分別為Θ 11、Θ 21及Θ 31時(shí)，光電二極管120會(huì)分別接收到對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TPl、TP2及TP3的反射光Rll、R21及R31，此時(shí)處理單元140會(huì)將角度Θ 11、Θ 21及Θ 31視為觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3分別對(duì)應(yīng)的第一角度。
[0074]圖3A至3C為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)第二期間的掃描示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1、圖2及圖3A至3C，由于本實(shí)施例為多個(gè)觸碰點(diǎn)產(chǎn)生時(shí)，例如三點(diǎn)觸碰，也即代表第一角度(如Θ11、Θ21及Θ 31)的數(shù)量為3個(gè)，因此也可將第二期間分為多個(gè)子期間，其中子期間的數(shù)量相同于觸碰點(diǎn)的數(shù)量，也即本實(shí)施例的子期間的數(shù)量為3，但不限于此數(shù)量。
[0075]在第二期間的第一個(gè)子期間中，如圖3A所示，處理單元140會(huì)控制激光掃描裝置110提供給第一觸碰點(diǎn)TPl于第一角度Θ 11的激光LI至觸控區(qū)域AT，以照亮位于觸碰點(diǎn)TPl的物體，而產(chǎn)生反射。并且，處理單元140會(huì)控制影像擷取裝置130擷取觸控區(qū)域AT中具有觸碰點(diǎn)TPl反射光R12的對(duì)應(yīng)影像。由于位于觸碰點(diǎn)TPl的物體的亮度會(huì)變高，因此處理單元140可通過影像擷取裝置130所擷取影像中的反射光R12，判斷觸碰點(diǎn)TPl對(duì)應(yīng)至第二角度Θ 12，也即第一角度Θ 11對(duì)應(yīng)至第二角度Θ12。此時(shí)，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ 11及第二角度Θ 12且通過三角形定位法計(jì)算出觸碰點(diǎn)TPl的坐標(biāo)，并且提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TPl的位置信息Ipos。
[0076]相同地，在第二期間的第二個(gè)子期間中，如圖3B所示，處理單元140會(huì)控制激光掃描裝置I1提供給第二觸碰點(diǎn)TP2于第一角度0 21的激光L2至觸控區(qū)域AT，以照亮位于觸碰點(diǎn)TP2的物體，而產(chǎn)生反射。并且，處理單元140可通過影像擷取裝置130所擷取的影像中的反射光R22，判斷觸碰點(diǎn)TP2對(duì)應(yīng)至第二角度Θ 22，也即第一角度Θ 21對(duì)應(yīng)至第二角度Θ22。此時(shí)，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ 21及第二角度Θ 22且通過三角形定位法計(jì)算出觸碰點(diǎn)TP2的坐標(biāo)，并且提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP2的位置信息Ipos。
[0077]在第二期間的第三個(gè)子期間中，如圖3C所示，處理單元140會(huì)控制激光掃描裝置110提供給第三觸碰點(diǎn)TP3于第一角度Θ 31的激光L3至觸控區(qū)域AT，以照亮位于觸碰點(diǎn)TP3的物體，而產(chǎn)生反射。并且，處理單元140可通過影像擷取裝置130所擷取的影像中的反射光R32，判斷觸碰點(diǎn)TP3對(duì)應(yīng)至第二角度Θ 32，也即第一角度Θ 31對(duì)應(yīng)至第二角度Θ 32。此時(shí)，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ 31及第二角度Θ 32且通過三角形定位法計(jì)算出觸碰點(diǎn)TP3的坐標(biāo)，并且提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP3的位置信息Ipos。依據(jù)上述的方式，當(dāng)影像擷取裝置擷取N個(gè)影像時(shí)，可達(dá)到N個(gè)點(diǎn)觸控，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
[0078]在本實(shí)施例中，第二期間的子期間的順序可依據(jù)本領(lǐng)域技術(shù)人員自行排列，也即激光掃描裝置110提供的激光L1、L2及L3所分別對(duì)應(yīng)的第一角度可依序?yàn)棣?11、Θ 21、Θ 31，或者依序?yàn)棣?1、Θ21、Θ 11，本發(fā)明實(shí)施例不以此為限。
[0079]圖4A及4B為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第二期間的掃描示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1、圖2、圖3A至3C、圖4A及4B，觸控區(qū)域AT仍假設(shè)為多點(diǎn)觸碰，在本實(shí)施例中以三個(gè)觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3為例，其中觸控模塊100于第一期間的動(dòng)作可參照?qǐng)D2實(shí)施例所示，在此則不再贅述，并且相同或相似的元件使用相同或相似的標(biāo)號(hào)。
[0080]由于本實(shí)施例同樣為多點(diǎn)觸碰，也即觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3的第一角度分別為Θ11、Θ21及θ 31，因此可將第二期間分為多個(gè)子期間。但本實(shí)施例通過類似二進(jìn)制的編碼方式，使這些觸碰點(diǎn)在第二期間的這些子期間的照亮?xí)r間彼此不同，其中子期間的擷取影像的數(shù)量為N，則本方式可達(dá)到2n-1個(gè)觸碰點(diǎn)，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。換言之，本方式擷取影像數(shù)量為2，故可以得知可達(dá)到控制的觸碰點(diǎn)數(shù)量為3。
[0081]在第二期間的第一個(gè)子期間中，如圖4A所示，處理單元140會(huì)控制激光掃描裝置110提供對(duì)應(yīng)部分的第一角度的激光至觸控區(qū)域AT，在此實(shí)施例中，提供第一角度Θ 11及Θ 21的激光分別為LI及L2，以照亮位于觸碰點(diǎn)TP1、TP2的物體。并且，處理單元140可通過影像擷取裝置130所擷取的反射激光R12及R22，判斷分別對(duì)應(yīng)第一角度Θ11及Θ 21的第二角度Θ 12及Θ 22。
[0082]在第二期間的第二個(gè)子期間中，如圖4B所示，處理單元140控制激光掃描裝置110提供第一角度Θ 21及Θ 31的激光分別為L2及L3，以照亮位于觸碰點(diǎn)TP2、TP3的物體。并且，處理單元140可通過影像擷取裝置130擷取反射激光R22及R32，判斷分別對(duì)應(yīng)第一角度Θ 21及Θ 31的第二角度Θ 22及Θ 32。
[0083]接著，處理單元140可依據(jù)上述兩個(gè)子期間中第一角度Θ11?Θ 31與第二角度Θ12?Θ 32的對(duì)應(yīng)狀態(tài)判斷每一第一角度(如Θ11?Θ 31)對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ12?Θ 32)。依據(jù)上述兩個(gè)子期間中第一角度Θ 11?Θ 31與第二角度Θ 12?Θ 32的對(duì)應(yīng)狀態(tài)，可判斷第一角度Θ 11對(duì)應(yīng)至第二角度Θ 12、第一角度Θ 21對(duì)應(yīng)至第二角度Θ22、以及第一角度Θ 31對(duì)應(yīng)至第二角度Θ32。接著，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ 11及第二角度Θ 12計(jì)算及提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TPl的位置信息Ipos，可依據(jù)第一角度Θ 21及第二角度Θ 22計(jì)算及提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP2的位置信息Ipos，以及可依據(jù)第一角度Θ 31及第二角度Θ 32計(jì)算及提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP3的位置信息Ipos。
[0084]由于在第一子期間時(shí)(參考圖4A)影像擷取裝置130僅可得知第一角度Θ 11及Θ 21對(duì)應(yīng)的第二角度為Θ 12及Θ 22，并無法得知第一角度Θ 11及對(duì)應(yīng)的第二角度Θ 12的觸控點(diǎn)為TP1，相同的也無法得知第一角度Θ 12及對(duì)應(yīng)的第二角度Θ 22的觸控點(diǎn)為TP2，第二子期間也相同無法判定第一角度Θ 21及對(duì)應(yīng)的第二角度Θ 22與第一角度Θ31及對(duì)應(yīng)的第二角度Θ 23分別對(duì)應(yīng)的觸控點(diǎn)TP2及TP3。
[0085]因此依據(jù)上述，處理單元140可依據(jù)每一子期間對(duì)應(yīng)的部分的第一角度(如Θ 11?Θ 31)與影像擷取裝置130在每一子期間擷取到的第二角度(如Θ 12?Θ 32)判斷每一第一角度(如Θ11?Θ 31)所對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ12?Θ 32)，以計(jì)算每一觸碰點(diǎn)(如TPl?TP3)的位置信息Ipos，其中在第一子期間及第二子期間分別對(duì)應(yīng)的第二角度Θ 22為重復(fù)，故可以判定在第一子期間時(shí)觸碰點(diǎn)TP2對(duì)應(yīng)第二角度Θ 22，所以觸碰點(diǎn)TPl對(duì)應(yīng)第二角度Θ 21、在第二子期間時(shí)因觸碰點(diǎn)TP2對(duì)應(yīng)第二角度Θ 22所以觸碰點(diǎn)TP3對(duì)應(yīng)第二角度Θ 32。
[0086]圖5A及5B為依據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例的圖1的觸控模塊為多點(diǎn)觸控時(shí)的第二期間的掃描示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1、圖2、圖3A至3C、圖5A及5B，在本實(shí)施例中，觸控區(qū)域AT仍以三個(gè)觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3為例，其中觸控模塊100在第一期間的動(dòng)作可參照?qǐng)D2實(shí)施例所示，在此則不再贅述，并且相同或相似的元件使用相同或相似的標(biāo)號(hào)。
[0087]由于本實(shí)施例同樣為多點(diǎn)觸碰,也即第一角度(如Θ 11、Θ 21及Θ 31)的數(shù)量大于等于2，因此可將第二期間分為多個(gè)子期間(如P1、P2)。但本實(shí)施例主要為使這些觸碰點(diǎn)(如TPl?TP3)在第二期間的這些子期間的照射亮度的變化程度彼此不同，因此本實(shí)施例的子期間的數(shù)量為2。
[0088]在第二期間的第一個(gè)子期間Pl中，處理單元140控制激光掃描裝置110依序提供對(duì)應(yīng)至第一角度0 11、Θ 21及Θ 31且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的激光L至觸控區(qū)域AT，以依序照亮位于觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3的物體。并且，處理單元140可通過影像擷取裝置130所擷取具有反射激光的影像，判斷第二角度Θ12、Θ22、Θ 32分別對(duì)應(yīng)的亮度值為BH、B21及B31，其中所述反射激光會(huì)有亮度值的差異在于使用者皮膚的粗糙程度、反射部分為指甲與皮膚的差異、皮膚的顏色等的影響。
[0089]在第二期間的第二個(gè)子期間P2中，處理單元140控制激光掃描裝置110依序提供對(duì)應(yīng)至第一角度Θ11、Θ21及0 31時(shí)分別提供不同照射亮度的激光L1、L2及L3，以依序照亮位于觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3的物體。并且，處理單元140可通過影像擷取裝置130擷取由觸碰點(diǎn)TP1、TP2及TP3分別反射激光L1、L2及L3的反射光Rl、R2及R3的影像，并根據(jù)所擷取的影像判斷第二角度Θ 12、Θ 22、Θ 32分別對(duì)應(yīng)的亮度值為B12、B22及B32。
[0090]接著，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ 11、Θ 21及Θ 31在第一個(gè)子期間Pl及第二個(gè)子期間P2的照射亮度變化與影像擷取裝置130在第一個(gè)子期間Pl及第二個(gè)子期間P2的擷取到的第二角度Θ 12、Θ 22、Θ 32對(duì)應(yīng)的亮度變化判斷每一第一角度(如Θ 11、Θ 21及Θ 31)所對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ 12、Θ 22、Θ 32)。例如，對(duì)應(yīng)第一角度Θ 11的激光LI的照射亮度由第一個(gè)子期間Pl至第二個(gè)子期間P2的變化為I至0.4，對(duì)應(yīng)第一角度Θ 21的激光L2的照射亮度由第一個(gè)子期間Pl至第二個(gè)子期間P2的變化為I至0.8，對(duì)應(yīng)第一角度Θ 31的激光L3的照射亮度由第一個(gè)子期間Pl至第二個(gè)子期間P2維持為I。并且，若第二個(gè)子期間的亮度B12除以第一個(gè)子期間的亮度Bll約為0.4、第二個(gè)子期間的亮度B22除以第一個(gè)子期間的亮度B21約為0.8、以及第二個(gè)子期間的亮度B32除以第一個(gè)子期間的亮度B31約為1，則第二角度Θ 12對(duì)應(yīng)至第一角度Θ 11，第二角度Θ 22對(duì)應(yīng)至第一角度Θ 21，以及第二角度Θ32對(duì)應(yīng)至第一角度Θ 31。換言之，處理單元140根據(jù)在第一個(gè)子期間亮度的變化程度與在第二個(gè)子期間亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì)應(yīng)。
[0091]接著，處理單元140可依據(jù)第一角度Θ 11及第二角度Θ 12計(jì)算及提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TPl的位置信息Ipos，可依據(jù)第一角度Θ 21及第二角度Θ 22計(jì)算及提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP2的位置信息Ipos，以及可依據(jù)第一角度Θ 31計(jì)算及第二角度Θ 32提供對(duì)應(yīng)觸碰點(diǎn)TP3的位置信息Ipos。在本實(shí)施例中，可僅擷取2個(gè)影像畫面即可實(shí)現(xiàn)N大于或等于2個(gè)點(diǎn)觸控。
[0092]在本發(fā)明一實(shí)施例中，分別對(duì)應(yīng)第一角度Θ 11、Θ 21及Θ 31的激光L1、L2及L3的照射亮度可通過照射次數(shù)來調(diào)整，也即該第一角度(如θ 11、Θ 21及Θ 31)在第一子期間Pl對(duì)應(yīng)相同的激光L的照射次數(shù)，該第一角度(如Θ 11、Θ 21及Θ 31)在第二子期間P2對(duì)應(yīng)不同的激光L的照射次數(shù)。或者，對(duì)應(yīng)第一角度Θ 11、Θ 21及Θ 31的激光L的照射亮度可通過照射功率來調(diào)整，也即該第一角度(如Θ11、Θ21及Θ 31)在第一子期間Pl對(duì)應(yīng)相同的激光L的照射功率，該第一角度(如Θ 11、Θ 21及Θ 31)在第二子期間P2對(duì)應(yīng)不同的激光L的照射功率。
[0093]圖6A為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控模塊的系統(tǒng)示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1及圖6A，觸控模塊610大致相同于觸控模塊100,其不同之處在于激光掃描裝置110a、光電二極管120a、影像擷取裝置130a配置在觸控區(qū)域AT的側(cè)邊SI，并且激光掃描裝置IlOa位于光電二極管120a、影像擷取裝置130a之間，其中相同或相似元件使用相同或相似標(biāo)號(hào)，并且激光掃描裝置IlOa例如可提供180度的激光L。
[0094]在本實(shí)施例中，觸控模塊610的運(yùn)行方式大致相同于觸控模塊100。換言之,激光掃描裝置IlOa在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光L至觸控區(qū)域AT。接著，通過光電二極管120a用以接收位于觸控區(qū)域AT的觸碰點(diǎn)(如TP)反射激光L所產(chǎn)生的第一反射光Rl，以判斷觸碰點(diǎn)(如TP)所對(duì)應(yīng)的第一角度(如0 1a)。接著，影像擷取裝置130a在第二期間擷取觸控區(qū)域AT中具有第二反射光R2對(duì)應(yīng)影像，以擷取位于觸控區(qū)域AT的觸碰點(diǎn)(如TP)對(duì)應(yīng)的第二角度(如9 2a)。而處理單元140a依據(jù)觸碰點(diǎn)(如TP)所對(duì)應(yīng)的第一角度(如Θ Ia)及對(duì)應(yīng)的第二角度(如Θ 2a)計(jì)算觸碰點(diǎn)(如TP)的位置信息Ipos。
[0095]在本實(shí)施例中，上述激光掃描裝置110a、光電二極管120a及影像擷取裝置130a配置于同一側(cè)，但本發(fā)明實(shí)施例不以此為限，也即激光掃描裝置IlOa及影像擷取裝置130a可分別配置在觸控區(qū)域AT的不同側(cè)，激光掃描裝置IlOa及光電二極管120可配置在觸控區(qū)域AT的不同側(cè)。
[0096]圖6B為依據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例的觸控模塊的系統(tǒng)示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D6A及圖6B，觸控模塊620大致相同于觸控模塊610,其不同之處在于激光掃描裝置IlOa分為兩個(gè)激光掃描裝置IlOb及110c，其中相同或相似元件使用相同或相似標(biāo)號(hào)，并且激光掃描裝置IlOb及IlOc例如可提供90度的激光L。
[0097]在本實(shí)施例中，激光掃描裝置IlOb在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光L至觸控區(qū)域AT的右半側(cè)區(qū)域(參考圖6B中虛線的右半邊)，激光掃描裝置IlOc在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光L至觸控區(qū)域AT的左半側(cè)區(qū)域(參考圖6B中虛線的左半邊)。并且，激光掃描裝置IlOb及IlOc為交替地提供激光，例如激光掃描裝置IlOb及IlOc為逐次交替發(fā)射激光，或者激光掃描裝置IlOb及IlOc的其中之一提供完多個(gè)角度的激光L后激光掃描裝置IlOb及IlOc的其中另一再提供多個(gè)角度的激光L。
[0098]圖7為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的投影系統(tǒng)的系統(tǒng)示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D7，在本實(shí)施例中，投影系統(tǒng)700包括投影幕710、投影裝置720、以及觸控模塊730，其中投影幕710可為白色墻壁、具有反射材質(zhì)的布幕或涂布反射材料的透光材質(zhì)等，并不以此為限。投影裝置720用以投射影像至投影布幕710，觸控模塊730配置于投影幕710上用以投射影像的表面，其中觸控模塊730可參照?qǐng)D1所示觸控模塊100、圖6A所示觸控模塊610或圖6B所示觸控模塊620，其中于圖1所示的觸控模塊100所產(chǎn)生的觸碰點(diǎn)(如TP)的位置信息Ipos，傳遞至處理器740，經(jīng)處理器740的信號(hào)處理后，可提供給投影裝置720，投射對(duì)應(yīng)的影像，或處理器740與投影裝置720結(jié)合為一體，位置信息Ipos直接提供給投影裝置720進(jìn)行信號(hào)處理，投射對(duì)應(yīng)的影像。
[0099]圖8為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸控模塊的觸控方法的流程圖。請(qǐng)參照?qǐng)D8，在本實(shí)施例中，觸控方法包括下列步驟:通過激光掃描裝置在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至觸控區(qū)域(步驟S810)，并且通過光電二極管接收位于觸控區(qū)域的觸碰點(diǎn)的第一反射光(步驟S820)。接著，通過影像擷取裝置在第二期間擷取具有觸碰點(diǎn)的第二反射光的影像(步驟S830)。通過處理單元，依據(jù)所述光電二極管所接收到的所述觸碰點(diǎn)的所述第一反射光，判斷所述觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度(步驟S840)，并且依據(jù)所述影像擷取裝置擷取的具有所述第二反射光的所述影像，判斷所述第二反射光對(duì)應(yīng)的第二角度(步驟S850)，并依據(jù)所述第一角度與對(duì)應(yīng)的所述第二角度，計(jì)算所述觸碰點(diǎn)的位置信息。(步驟S860)。
[0100]在步驟中，當(dāng)上述第一角度的數(shù)量等于I時(shí)，通過激光掃描裝置在第二期間內(nèi)提供對(duì)應(yīng)第一角度的激光至觸控區(qū)域，此時(shí)影像擷取裝置在第二期間擷取到具有反射激光的影像，根據(jù)第二角度與對(duì)應(yīng)的第一角度，計(jì)算觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0101]另一方面，當(dāng)上述第一角度的數(shù)量大于等于2時(shí)，可通過激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的激光至觸控區(qū)域，而通過影像擷取裝置在每一子期間擷取具有反射激光的影像所對(duì)應(yīng)的第二角度與每一子期間對(duì)應(yīng)的第一角度相互對(duì)應(yīng)。接著，可將每一子期間對(duì)應(yīng)的第一角度與通過影像擷取裝置在每一子期間擷取具有反射激光的影像所對(duì)應(yīng)的第二角度計(jì)算每一觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0102]或者，當(dāng)上述第一角度的數(shù)量大于等于2時(shí)，可通過激光掃描裝置在第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的第一角度的激光至觸控區(qū)域，并且依據(jù)每一子期間對(duì)應(yīng)的部分的第一角度與影像擷取裝置在每一子期間擷取具有反射激光的影像所對(duì)應(yīng)的第二角度以判斷每一第一角度所對(duì)應(yīng)的第二角度。接著，依據(jù)每一第一角度及其對(duì)應(yīng)第一角度的第二角度計(jì)算每一觸碰點(diǎn)的位置信息，其中這些子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的第一角度為部分重復(fù)。
[0103]再者，當(dāng)上述第一角度的數(shù)量大于等于2時(shí)，可通過激光掃描裝置在第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的激光至觸控區(qū)域，并且通過激光掃描裝置在第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的激光至觸控區(qū)域。接著，依據(jù)影像擷取裝置在第一子期間及第二子期間的擷取到的第二角度的亮度變化判斷每一第一角度所對(duì)應(yīng)的第二角度。最后，以每一第一角度以及對(duì)應(yīng)第一角度的第二角度計(jì)算每一觸碰點(diǎn)的位置信息。
[0104]其中，上述步驟的順序?yàn)橛糜谡f明，本發(fā)明實(shí)施例不以此為限。并且，上述步驟的細(xì)節(jié)可參照?qǐng)D1、圖2、圖3A、圖3B、圖3C、圖4A、圖4B、圖5A及圖5B、圖6A及圖6B的實(shí)施例所示，在此則不再贅述。
[0105]綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例的觸控模塊、其投影系統(tǒng)及其觸控方法，其通過光電二極管在第一期間檢測各個(gè)觸碰點(diǎn)的反射激光對(duì)應(yīng)的第一角度，并且激光掃描裝置在第二期間對(duì)應(yīng)各個(gè)觸碰點(diǎn)的照射狀態(tài)不同，因此可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸控功能且不增加觸控模塊的硬件成本。并且，當(dāng)激光掃描裝置在第二期間對(duì)應(yīng)各個(gè)觸碰點(diǎn)的照射亮度不同時(shí)，可加速多點(diǎn)觸控的感測速度。
[0106]上述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不能以此限定本發(fā)明所實(shí)施的范圍，即所有依本發(fā)明的權(quán)利要求及說明內(nèi)容所作的簡單的等效變形與修改，均屬于本發(fā)明專利所涵蓋的范圍內(nèi)。另外，本發(fā)明的任一實(shí)施例或權(quán)利要求不須達(dá)成本發(fā)明所揭露的全部目的或優(yōu)點(diǎn)或特點(diǎn)。此外，摘要部分和標(biāo)題僅是用來輔助專利文件搜尋之用，并非用來限制本發(fā)明的權(quán)利范圍。此外，本說明書或權(quán)利要求書中提及的“第一”、“第二”等用語僅用以命名元件的名稱或區(qū)別不同實(shí)施例或范圍，而并非用來限制元件數(shù)量上的上限或下限。
【權(quán)利要求】
1.一種觸控模塊，包括: 激光掃描裝置，在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至觸控區(qū)域； 光電二極管，用以接收位于所述觸控區(qū)域內(nèi)的觸碰點(diǎn)的第一反射光，所述第一反射光由所述激光照射到所述觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生； 影像擷取裝置，在第二期間擷取具有所述觸碰點(diǎn)的第二反射光的影像，所述第二反射光由所述激光照射到所述觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生；以及 處理單元，電連接所述激光掃描裝置、所述光電二極管及所述影像擷取裝置，依據(jù)所述光電二極管所接收到的所述觸碰點(diǎn)的所述第一反射光，判斷所述觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，并且依據(jù)所述影像擷取裝置擷取的具有所述第二反射光的所述影像，判斷所述第二反射光對(duì)應(yīng)第二角度，根據(jù)所述第一角度與對(duì)應(yīng)的所述第二角度，計(jì)算所述觸碰點(diǎn)的位置信息。
2.如權(quán)利要求1所述的觸控模塊，其中所述激光掃描裝置在所述第二期間提供對(duì)應(yīng)所述第一角度的所述激光至所述觸控區(qū)域。
3.如權(quán)利要求2所述的觸控模塊，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的所述激光至所述觸控區(qū)域，所述處理單元將根據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第一角度與所述影像擷取裝置在這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第二角度，計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
4.如權(quán)利要求2所述的觸控模塊，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的這些第一角度的所述激光至所述觸控區(qū)域，所述處理單元依據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度與所述影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息，其中這些子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度為部分重復(fù)。
5.如權(quán)利要求4所述的觸控模塊，其中這些子期間的所述影像的數(shù)量為N，與所述觸碰點(diǎn)的關(guān)系為2N-1，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
6.如權(quán)利要求2所述的觸控模塊，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的所述激光至所述觸控區(qū)域，并且在所述第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的所述激光至所述觸控區(qū)域，所述處理單元依據(jù)這些第一角度在所述第一子期間及所述第二子期間對(duì)應(yīng)的照射亮度變化與所述影像擷取裝置在所述第一子期間及所述第二子期間所得到的這些第二角度對(duì)應(yīng)的亮度變化判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
7.如權(quán)利要求6所述的觸控模塊，其中在這些第一角度在所述第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的所述激光的照射次數(shù)，這些第一角度在所述第二子期間對(duì)應(yīng)不同的所述激光的照射次數(shù)。
8.如權(quán)利要求第6項(xiàng)所述的觸控模塊，其中在這些第一角度在所述第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的所述激光的照射功率，這些第一角度在所述第二子期間對(duì)應(yīng)不同的所述激光的照射功率。
9.如權(quán)利要求6所述的觸控模塊，其中所述處理單元將這些第一角度的照射亮度的變化程度與所述影像擷取裝置所得到的這些第二角度中亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì) 應(yīng)。
10.一種投影系統(tǒng)，包括: 投影眷; 投影裝置，用以投射影像至所述投影幕；以及 觸控模塊，配置于所述投影幕上，所述觸控模塊包括: 激光掃描裝置，在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至所述投影幕的投影區(qū)域； 光電二極管，用以接收位于所述投影區(qū)域內(nèi)的觸碰點(diǎn)的第一反射光，所述第一反射光由所述激光照射到所述觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生； 影像擷取裝置，在第二期間擷取具有所述觸碰點(diǎn)的第二反射光的影像，所述第二反射光由所述激光照射到所述觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生；以及 處理單元，電連接所述激光掃描裝置、所述光電二極管及所述影像擷取裝置，依據(jù)所述光電二極管所接收到的所述觸碰點(diǎn)的所述第一反射光，判斷所述觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，并且依據(jù)所述影像擷取裝置擷取的具有所述第二反射光的所述影像，判斷所述第二反射光對(duì)應(yīng)的第二角度，依據(jù)所述第一角度與對(duì)應(yīng)的所述第二角度，計(jì)算所述觸碰點(diǎn)的位置信息。
11.如權(quán)利要求10所述的投影系統(tǒng)，其中所述激光掃描裝置在所述第二期間依序提供對(duì)應(yīng)所述第一角度的所述激光至所述投影區(qū)域。
12.如權(quán)利要求11所述的投影系統(tǒng)，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的所述激光至所述投影區(qū)域，所述處理單元將這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第一角度與所述影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
13.如權(quán)利要求11所述的投影系統(tǒng)，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的這些第一角度的所述激光至所述投影區(qū)域，所述處理單元依據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度與所述影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息，其中這些子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度為部分重復(fù)。
14.如權(quán)利要求13所述的投影系統(tǒng)，其中這些子期間的所述擷取影像的數(shù)量為N，與所述觸碰點(diǎn)的關(guān)系為2N-1，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
15.如權(quán)利要求11所述的投影系統(tǒng)，其中當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的所述激光至所述投影區(qū)域，并且在所述第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的所述激光至所述投影區(qū)域，所述處理單元依據(jù)這些第一角度在所述第一子期間及所述第二子期間的照射亮度變化與所述影像擷取裝置在所述第一子期間及所述第二子期間的所得到的這些第二角度的亮度變化判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
16.如權(quán)利要求15所述的投影系統(tǒng)，其中這些第一角度在所述第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的所述激光的照射次數(shù)，這些第一角度在所述第二子期間對(duì)應(yīng)不同的所述激光的照射次數(shù)。
17.如權(quán)利要求15所述的投影系統(tǒng)，其中這些第一角度在所述第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的所述激光的照射功率，這些第一角度在所述在第二子期間對(duì)應(yīng)不同的所述激光的照射功率。
18.如權(quán)利要求15所述的投影系統(tǒng)，其中所述處理單元將這些第一角度的照射亮度的變化程度與所述影像擷取裝置擷取到的這些第二角度中亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì)應(yīng)。
19.一種觸控模塊的觸控方法,包括: 通過激光掃描裝置在第一期間依序提供多個(gè)角度的激光至觸控區(qū)域； 通過光電二極管接收位于所述觸控區(qū)域內(nèi)的觸碰點(diǎn)的第一反射光，所述第一反射光由所述激光照射到所述觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生； 通過影像擷取裝置在第二期間擷取具有所述觸碰點(diǎn)的第二反射光的影像，所述第二反射光由所述激光照射到所述觸碰點(diǎn)反射而產(chǎn)生， 通過處理單元，依據(jù)所述光電二極管所接收到的所述觸碰點(diǎn)的所述第一反射光，判斷所述觸碰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一角度，并且依據(jù)所述影像擷取裝置擷取的具有所述第二反射光的所述影像，判斷所述第二反射光對(duì)應(yīng)的第二角度，并依據(jù)所述第一角度與對(duì)應(yīng)的所述第二角度，計(jì)算所述觸碰點(diǎn)的位置信息。
20.如權(quán)利要求19所述的觸控模塊的觸控方法，還包括: 通過所述激光掃描裝置在所述第二期間依序提供對(duì)應(yīng)所述第一角度的所述激光至所述觸控區(qū)域。
21.如權(quán)利要求20所述的觸控模塊的觸控方法，還包括: 當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，通過所述激光掃描裝置在所述第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)這些第一角度的其中之一的所述激光至所述觸控區(qū)域；以及 將這些子期間對(duì)應(yīng)的這些第一角度與通過所述影像擷取裝置在這些子期間所得到的這些第二角度，計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
22.如權(quán)利要求20所述的觸控模塊的觸控方法，還包括: 當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，所述激光掃描裝置在所述第二期間的多個(gè)子期間內(nèi)分別提供對(duì)應(yīng)部分的這些第一角度的所述激光至所述觸控區(qū)域；以及 依據(jù)這些子期間對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度與所述影像擷取裝置于這些子期間所得到的這些第二角度判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息，其中所述子期間分別對(duì)應(yīng)的部分的這些第一角度為部分重復(fù)。
23.如權(quán)利要求22所述的觸控模塊的觸控方法，其中所述子期間的擷取影像的數(shù)量為N，與觸碰點(diǎn)的關(guān)系為2N-1，其中N為正整數(shù)且N大于等于2。
24.如權(quán)利要求20所述的觸控模塊的觸控方法，還包括: 當(dāng)多個(gè)觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，通過所述激光掃描裝置在所述第二期間的第一子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)相同照射亮度的所述激光至所述觸控區(qū)域；通過所述激光掃描裝置在所述第二期間的第二子期間及依序提供對(duì)應(yīng)這些第一角度且對(duì)應(yīng)不同照射亮度的所述激光至所述觸控區(qū)域；以及 依據(jù)這些第一角度在所述第一子期間及所述第二子期間的照射亮度變化與所述影像擷取裝置在所述第一子期間及所述第二子期間的所得到的這些第二角度的亮度變化判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度，以計(jì)算這些觸碰點(diǎn)的位置信息。
25.如權(quán)利要求24所述的觸控模塊的觸控方法，其中這些第一角度在所述第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的所述激光的照射次數(shù)，這些第一角度在所述第二子期間對(duì)應(yīng)不同的所述激光的照射次數(shù)。
26.如權(quán)利要求24所述的觸控模塊的觸控方法，其中這些第一角度在所述第一子期間中對(duì)應(yīng)相同的所述激光的照射功率，這些第一角度在所述第二子期間對(duì)應(yīng)不同的所述激光的照射功率。
27.如權(quán)利要求24所述的觸控模塊的觸控方法，其中判斷這些第一角度所對(duì)應(yīng)的這些第二角度的步驟包括: 將這些第一角度的照射亮度的變化程度與所述影像擷取裝置所得到的這些第二角度中亮度變化程度相同者判斷為相互對(duì)應(yīng)。
28.如權(quán)利要求20所述的觸控模塊的觸控方法，還包括: 當(dāng)所述觸碰點(diǎn)觸碰所述觸控區(qū)域時(shí)，通過所述激光掃描裝置在所述第二期間內(nèi)提供對(duì)應(yīng)所述第一角度的所述激光至所述觸控區(qū)域；以及 依據(jù)所述第一角度與通過所述影像擷取裝置在所述第二期間所得到的所述第二角度計(jì)算所述觸碰點(diǎn)的位置信息。
【文檔編號(hào)】G06F3/042GK104298405SQ201310306477
【公開日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2013年7月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月19日
【發(fā)明者】廖建中, 林姚順 申請(qǐng)人:中強(qiáng)光電股份有限公司