重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的s-參數(shù)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的多個(gè)S-參數(shù)的裝置和方法。所述方法包括：存儲多個(gè)S-參數(shù)集合，每個(gè)S-參數(shù)集合與子系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)并且具有關(guān)聯(lián)的脈沖響應(yīng)和時(shí)間間隔?；谂c每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔確定增加的時(shí)間間隔。在每個(gè)S-參數(shù)集合中對所述脈沖響應(yīng)填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時(shí)間間隔。以更精細(xì)的頻率分辨率生成多個(gè)重采樣的S-參數(shù)集合以覆蓋所述增加的時(shí)間間隔。
【專利說明】重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的S-參數(shù)
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明一般涉及信號采集和分析系統(tǒng)，并且更特別地，涉及用于重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的S-參數(shù)的系統(tǒng)、裝置和方法。
[0002]【背景技術(shù)】
在高速串行數(shù)據(jù)鏈路系統(tǒng)中以及在RF系統(tǒng)中，S-參數(shù)常常被用于特征系統(tǒng)行為。S-參數(shù)一般被用來特征化η-端口網(wǎng)絡(luò)。復(fù)雜的系統(tǒng)可以由多個(gè)子系統(tǒng)組成。每個(gè)子系統(tǒng)可以由一個(gè)S-參數(shù)集合表示。存在組合這些S-參數(shù)集合來獲得針對完整系統(tǒng)的S-參數(shù)模型的需要。例如，多個(gè)S-參數(shù)的集合可以被級聯(lián)以獲得針對被連接在一起的多個(gè)裝置的組合的整體特性。如下是需要的:S-參數(shù)數(shù)據(jù)需要覆蓋所關(guān)心的特定的帶寬。如下也是需要的:所述S-參數(shù)數(shù)據(jù)需要具有足夠精細(xì)以防止時(shí)域中的混疊現(xiàn)象的頻率分辨率。這意味著:所述頻率分辨率需要足夠精細(xì)以提供足夠長的時(shí)間間隔來覆蓋所述系統(tǒng)的脈沖響應(yīng)持續(xù)時(shí)間。盡管所有針對單個(gè)子系統(tǒng)的S-參數(shù)數(shù)據(jù)可以具有合適的頻率分辨率，當(dāng)以級聯(lián)的方式將它們組合在一起時(shí)，同樣的頻率分辨率可能變得是不適當(dāng)?shù)?。例如，由于較長的傳播時(shí)間和多次反射，所述組合的系統(tǒng)可以具有較長的脈沖響應(yīng)持續(xù)時(shí)間。存在對改進(jìn)的針對S-參數(shù)數(shù)據(jù)的重采樣技術(shù)的需要，其允許多個(gè)S-參數(shù)集合的組合而不引入誤差，例如，混疊誤差。
[0003]
【發(fā)明內(nèi)容】

公開了重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的多個(gè)S-參數(shù)的方法。所述方法包括存儲多個(gè)S-參數(shù)集合，每個(gè)S-參數(shù)集合與子系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)并且具有關(guān)聯(lián)的脈沖響應(yīng)和時(shí)間間隔?；谂c每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔確定增加的時(shí)間間隔。在每個(gè)S-參數(shù)集合中對所述脈沖響應(yīng)填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時(shí)間間隔。用更精細(xì)的頻率分辨率生成多個(gè)重采樣的S-參數(shù)集合以覆蓋所述增加的時(shí)間間隔。
[0004]每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)可以基于波紋閾值而在填零位置處被填零。每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)可以基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔的百分率而在填零位置處被填零。針對不具有DC值的任何S-參數(shù)集合，每個(gè)S-參數(shù)集合可以被外推到DC。所述方法可以進(jìn)一步包括為所有所述S-參數(shù)集合確定最大共同頻率以及將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到超過所述最大共同頻率。
[0005]可以使用快速傅里葉逆變換(IFFT)將所述外推的頻域S-參數(shù)轉(zhuǎn)換至?xí)r域脈沖響應(yīng)?？梢曰谂c每個(gè)所述S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的采樣率而在所述脈沖響應(yīng)之間確定實(shí)際的共同采樣周期?？梢允褂每焖俑道锶~變換(FFT)將所述時(shí)域填零的S-參數(shù)脈沖轉(zhuǎn)換至頻域。被外推的較低頻率和高頻率點(diǎn)也可以被削去。
[0006]也公開了串行數(shù)據(jù)鏈路分析裝置。所述裝置包括被配置為存儲多個(gè)S-參數(shù)集合的存儲器、每個(gè)S-參數(shù)集合與子系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)并且具有關(guān)聯(lián)的脈沖響應(yīng)和時(shí)間間隔。所述裝置還包括被配置為基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔來確定增加的時(shí)間間隔的處理器。所述處理器還被配置為對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時(shí)間間隔以及生成具有更精細(xì)的頻率分辨率的多個(gè)重采樣的S-參數(shù)集合來覆蓋所述增加的時(shí)間間隔。
[0007]所述處理器可以被配置為基于波紋閾值在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。所述處理器可以被配置為基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔的百分率而在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。所述處理器可以被配置為針對不具有DC值的任何S-參數(shù)集合將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到DC。所述處理器可以被配置為:為所有所述S-參數(shù)集合確定最大共同頻率并且將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到超過所述最大共同頻率。
[0008]所述處理器可以被配置為使用快速傅里葉逆變換(IFFT)將所述外推的頻域S-參數(shù)轉(zhuǎn)換至?xí)r域脈沖響應(yīng)。所述處理器可以被配置為基于與每個(gè)所述S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的采樣率而在所述脈沖響應(yīng)之間確定實(shí)際的共同采樣周期。所述處理器可以被配置為使用快速傅里葉變換(FFT)將所述時(shí)域填零的S-參數(shù)脈沖轉(zhuǎn)換至頻域。所述處理器可以被配置為削去被外推的較低頻率和高頻率點(diǎn)。
[0009]【專利附圖】

【附圖說明】
圖1是來自串行數(shù)據(jù)鏈路應(yīng)用的信號路徑窗口的框圖；
圖2是顯示了 SDLA信號路徑窗口的框圖，所述SDLA信號路徑窗口包括級聯(lián)4端口S-參數(shù)的多個(gè)塊的能力；
圖3是顯示了針對4端口 S-參數(shù)集合中的所有16個(gè)S-參數(shù)向量的頻域幅值圖的一組線圖；
圖4是顯示了圖3中的每個(gè)S-參數(shù)向量的時(shí)域脈沖響應(yīng)表示的一組線圖；
圖5是針對具有20ns的持續(xù)時(shí)間的單個(gè)塊的S12脈沖響應(yīng)的線圖；
圖6是顯示了具有90ns的持續(xù)時(shí)間的重采樣的S12 S-參數(shù)的脈沖響應(yīng)的線圖；
圖7是顯示了針對Sll數(shù)據(jù)采樣的脈沖響應(yīng)的線圖；
圖8是顯示了波紋穩(wěn)定之后的填零位置的線圖；
圖9是顯示了所述填零位置被定位之后的填零的線圖；
圖10是顯示了與原始S-參數(shù)相比較的重采樣的S-參數(shù)的線圖；以及圖11是被配置為實(shí)施串行數(shù)據(jù)鏈路分析的測試和測量儀器的框圖。
[0010]【具體實(shí)施方式】
串行數(shù)據(jù)鏈路應(yīng)用(SDLA)是高性能示波器的重要特征。這樣的應(yīng)用允許用戶使用代表他們的裝置和測試定位器的S-參數(shù)來模擬給定設(shè)計(jì)的功能。所述SDLA可以將這些S-參數(shù)轉(zhuǎn)換為FIR濾波器，其被應(yīng)用于所獲得的波形以允許測試定位器和探針被從測量中解除嵌入。它們也允許用戶模擬串行信道將對所獲取的信號產(chǎn)生的影響。用戶也可以使用所述應(yīng)用來模擬發(fā)射器(Tx )和接收器(Rx )均衡器。
[0011]圖1顯示了來自SDLA的信號路徑窗口 10的框圖。在此實(shí)例中，所述SDLA被配置為模擬全信號路徑。在此實(shí)例中，所述信號路徑包括四個(gè)電路塊，包括定位器電路塊12、加強(qiáng)電路塊14 (發(fā)射器Tx)、信道電路塊16以及均衡器電路塊18 (接收器Rx)。
[0012]SDLA示波器源信號被耦合到示波器信道中的一個(gè)(例如，信道1)，并通過定位器而從發(fā)射器輸出被獲取。所述示波器源信號典型地被數(shù)字化并且在運(yùn)行串行數(shù)據(jù)鏈路分析之前被存儲在存儲器中。測試點(diǎn)TpA-TpD允許用戶監(jiān)視各個(gè)電路塊對所述源信號的影響。在此實(shí)例中，定位器電路塊12具有關(guān)聯(lián)的S-參數(shù)來表示所述定位器，并且加強(qiáng)電路塊14可以表示所述發(fā)射器均衡器。所述信道電路塊16具有關(guān)聯(lián)的S-參數(shù)，并且模擬所述發(fā)送信道。所述均衡器電路塊18也具有關(guān)聯(lián)的連續(xù)時(shí)間線性均衡、前饋均衡和/或判定反饋均衡(CTLE/FFE/DFE)定義并且模擬所述接收器均衡器。應(yīng)被理解的是:每個(gè)電路塊可以模擬多個(gè)部件，所述多個(gè)部件中的每個(gè)可以與S-參數(shù)相關(guān)聯(lián)。
[0013]圖2是顯示了 SDLA級聯(lián)工具20的框圖，所述SDLA級聯(lián)工具20包括級聯(lián)4端口 S參數(shù)的多個(gè)塊的能力。在此實(shí)例中，所述S-參數(shù)塊24-40以級聯(lián)的方式被布置，用于模擬組成定位器電路塊12 (圖1)的各個(gè)部件。所述SDLA也允許針對探針44的S-參數(shù)集合被放置為與所述級聯(lián)中的任何的點(diǎn)并聯(lián)。
[0014]所述源22和負(fù)載塊42表示在所述級聯(lián)的每端處的加載。所述級聯(lián)中的塊24-40中的每一個(gè)由4端口 S-參數(shù)表示?？梢詮臏y量的數(shù)據(jù)獲得所述4端口 S參數(shù)或者所述4端口 S參數(shù)可以源自于模擬的電路。每個(gè)塊可以被配置作為一個(gè)全4端口 S-參數(shù)集合或者可以根據(jù)兩個(gè)2端口 S-參數(shù)的組合配置每個(gè)塊。此外，RLC或傳輸線電路模型可以被提供在所述塊中，并且針對所述塊的S-參數(shù)隨后可以源自于這些模型。
[0015]圖3是顯示了針對4端口 S-參數(shù)集合中的所有16個(gè)S-參數(shù)向量的頻域幅值圖的一組線圖。圖4是顯示了圖3中的每個(gè)所述S-參數(shù)向量的時(shí)域脈沖響應(yīng)表示的一組線圖。S-參數(shù)可以經(jīng)由各種技術(shù)而被測量。當(dāng)使用向量網(wǎng)絡(luò)分析器(VNA)測量一組S-參數(shù)時(shí)，正弦波入射信號被放置在端口上。針對反射系數(shù)，測量反射的正弦波幅值和相位。所有其他端口與參考阻抗電阻器端接。反射的信號和入射的信號的比率被表示為S11、S22、S33或S44。針對某個(gè)頻率范圍重復(fù)此過程。對于S21，正弦波被放置在端口 I上并且在端口 2上被測量以及它們的比率變?yōu)镾21。此過程要求:所述正弦波在所有反射和透射已經(jīng)穩(wěn)定之后處于穩(wěn)定狀態(tài)。
[0016]如果用時(shí)域反射計(jì)(TDR)階躍測量S-參數(shù)集合，則在所述時(shí)域中獲得入射的、反射的和透射的波形，隨后可以對所述階躍進(jìn)行求導(dǎo)以獲得如在圖4中所顯示的脈沖響應(yīng)形貌。測量有效的S-參數(shù)集合也要求:所述時(shí)域波形被固定并且在所述時(shí)間間隔的末端已經(jīng)達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。這些波形隨后可以通過使用快速傅里葉變換(FFT)而被轉(zhuǎn)換至頻域中。結(jié)果實(shí)質(zhì)上等同于使用正弦波經(jīng)由VNA進(jìn)行的測量。
[0017]VNA測量的數(shù)據(jù)的頻率間隔將確定采樣的數(shù)量，直至在其處時(shí)域波形將被表示的采樣率頻率。所述頻率間隔越小，存在越多的采樣并且所述時(shí)間間隔將越長。如果所述頻率間隔太大并且所導(dǎo)致的用于固定時(shí)域數(shù)據(jù)的時(shí)間間隔太短，則發(fā)生時(shí)域混疊。這導(dǎo)致所述時(shí)域信號被覆疊到不正確的位置。確定所述時(shí)間間隔的方程被給出如下:
T=I/Af
其中T是被所述S-參數(shù)集合覆蓋的時(shí)間間隔，并且Λ f是所述頻率間隔。此倒數(shù)關(guān)系推論出:為了覆蓋更長的T，所述Af需要是更小的。這導(dǎo)致更精細(xì)的頻率分辨率，其而又導(dǎo)致更大數(shù)量的頻域采樣，直至由期望的采樣率確定的尼奎斯特(Nyquist)頻率。
[0018]采樣的數(shù)量N可以根據(jù)下面的方程而被計(jì)算:
N = 0.5 /s/ Δ f
其中/s是所述采樣率。0.5/s是所述尼奎斯特頻率。當(dāng)計(jì)算所述IFFT以獲得所述時(shí)域響應(yīng)時(shí)，頻域采樣的數(shù)量與時(shí)域采樣的數(shù)量成比例。因此，當(dāng)被使得較小時(shí)，針對給定的采樣率，所述時(shí)間間隔較長。[0019]當(dāng)S-參數(shù)塊被組合時(shí)發(fā)生問題。這些S-參數(shù)塊可能已經(jīng)從不同的源或?qū)嶒?yàn)室被獲得，并且可能不是已經(jīng)以同樣的頻率間隔或點(diǎn)的數(shù)量被采樣。
[0020]為了說明涉及的問題，考慮下面的實(shí)例，在其中三個(gè)塊將被級聯(lián)。假設(shè)所有塊是相同的并且它們的sl2數(shù)據(jù)具有在圖5中所顯示的脈沖響應(yīng)。從所述圖中觀察到傳播延遲是大約10ns。所述S-參數(shù)的50MHz的頻率間隔覆蓋20ns的時(shí)間間隔。當(dāng)僅考慮單個(gè)塊時(shí)，這對于該sl2數(shù)據(jù)集合可能是足夠的。當(dāng)這三個(gè)S-參數(shù)塊被級聯(lián)時(shí)，總的傳播延遲將是30ns。使用同樣的頻率間隔不再足夠覆蓋所述級聯(lián)的塊。此實(shí)例證實(shí)了由本公開解決的問題。必須重采樣各個(gè)S-參數(shù)以提供較小的頻率間隔來覆蓋針對所述組合的S-參數(shù)的增加的時(shí)間間隔。圖6是顯示了覆蓋90ns的重采樣的sl2的脈沖響應(yīng)的線圖。此時(shí)間間隔足以覆蓋30ns的總的傳播延遲。
[0021]可以采用各種方法以解決所述重采樣問題。例如，一種方法是在所述頻域中進(jìn)行內(nèi)插。這可以通過內(nèi)插實(shí)數(shù)分量和虛數(shù)分量而被進(jìn)行，或者這可以通過內(nèi)插幅值分量和相位分量而被進(jìn)行。
[0022]下面是用于重采樣多個(gè)S參數(shù)的改進(jìn)的方法，所述多個(gè)S參數(shù)潛在地具有不同的頻率間隔和不同的帶寬:
1.如果所述S參數(shù)不具有DC值，則將所有S-參數(shù)數(shù)據(jù)外推到DC。通常，從VNA測量的S-參數(shù)不具有DC值。TDR測量的S-參數(shù)典型地具有DC值。
[0023]2.針對所有的所述S-參數(shù)集合確定共同最大頻率。此值可以是所述級聯(lián)中的所有S-參數(shù)集合的最大頻率。將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到超過所述最大共同頻率。
[0024]3.使用快速傅里葉逆變換(IFFT)將外推的頻域S-參數(shù)轉(zhuǎn)換至?xí)r域脈沖響應(yīng)。
[0025]4.確定所述脈沖響應(yīng)之間的實(shí)際的共同采樣周期?？梢詫⑺鰧?shí)際的共同采樣周期作為所述脈沖響應(yīng)的最小采樣周期。所述脈沖響應(yīng)隨后被重采樣從而它們所有具有相同的采樣率。
[0026]5.如下面所描述的，在適當(dāng)?shù)奈恢脤λ雒}沖響應(yīng)填零以產(chǎn)生增加的時(shí)間間隔。所述增加的時(shí)間間隔可以被確定為由每個(gè)S-參數(shù)表示的所有時(shí)間間隔的多倍總和。
[0027]6.使用FFT將時(shí)域填零的脈沖轉(zhuǎn)換至頻域。
[0028]7.削去被外推的(可選的)較低頻率和高頻率點(diǎn)。
[0029]8.在此點(diǎn)處已經(jīng)以足夠的頻率分辨率在相同的頻率點(diǎn)處重采樣所有S-參數(shù)。對于每個(gè)頻率點(diǎn)，針對將被級聯(lián)的每個(gè)塊組合所述S-參數(shù)。這可以被直接地進(jìn)行或者通過T-參數(shù)以獲得所述組合的S-參數(shù)。關(guān)于S-參數(shù)的所述組合的附加的信息在下面的公開(其被整體并入此處)中是可獲得的:“s-參數(shù)設(shè)計(jì)”，安捷倫(Agilent)技術(shù)應(yīng)用說明，1972和“RF 和微波f禹合線電路”，Artech House, 1999, Rajesh Mongia, Inder Bahl 以及 PrakashBhartia0
[0030]如上面所闡釋的，所述脈沖響應(yīng)在適當(dāng)?shù)奈恢帽惶盍阋援a(chǎn)生增加的時(shí)間間隔。所述填零的位置不是任意的，并且不必在所述時(shí)域響應(yīng)的右側(cè)的末端開始。
[0031]對于所述S-參數(shù)集合中的所有脈沖響應(yīng),零相位時(shí)間參考位置是在時(shí)間記錄的開始處。如果數(shù)據(jù)全部是理想的，則填零將被添加到所述記錄的右側(cè)。然而，來自IFFT計(jì)算的泄露有時(shí)能導(dǎo)致波紋從所述時(shí)間記錄的開始被覆疊到所述時(shí)間記錄的末端。因此，從步驟4獲得的脈沖響應(yīng)可能在所述時(shí)間記錄的末端具有一些波紋響應(yīng)。在所述脈沖響應(yīng)末端的該波紋響應(yīng)由S-參數(shù)的限帶特性引起，并且受采樣偏移的影響。
[0032]例如，圖7是顯示了針對在上面的步驟4中獲得的Sll數(shù)據(jù)采樣的脈沖響應(yīng)的線圖。在末端的小的波紋從左端52被覆疊到右端50。規(guī)則的補(bǔ)零(在其中零被填補(bǔ)到所述脈沖響應(yīng)的右端)將產(chǎn)生帶有誤差的S-參數(shù)集合。此實(shí)例證實(shí)了由本公開解決的另一個(gè)問題。零必須被填在適當(dāng)?shù)奶盍阄恢?4以將所述覆疊的波紋保持在所述脈沖響應(yīng)的末端。為了應(yīng)對此填零要求，下面的兩個(gè)選擇可以被用于找到適當(dāng)?shù)奶盍阄恢谩?br> [0033]選擇1-基于閾值:從所述脈沖響應(yīng)的末端(例如，右側(cè))開始，確定在所述末端是否存在波紋。如果不存在波紋，則可以在所述脈沖響應(yīng)的恰好最后的點(diǎn)之后填零。如果存在波紋，則向后搜索以找到所述波紋在其處固定的位置，例如在預(yù)定的波紋閾值56之下。如在圖8中所顯示的，可以在所述固定的位置55中填零。
[0034]選擇2-基于百分率:選擇所述脈沖響應(yīng)的預(yù)定的百分率來定位所述填零位置。例如，在距所述末端5%的位置處填零。例如，所述填零位置54被定位在19ns處，距圖7中所顯示的20ns采樣的末端5%。
[0035]圖9是顯示了在使用上面的選擇中的一個(gè)定位填零位置之后的填零的線圖。使用上面所公開的技術(shù)，如在圖10中所顯示的，所述重采樣的S-參數(shù)與原始S-參數(shù)良好匹配。
[0036]所公開的重采樣技術(shù)提供了與先前已知的技術(shù)相比的各種優(yōu)勢。它們提供了強(qiáng)健的、易于實(shí)施以及快速的重采樣S-參數(shù)的方法，以獲得足夠的頻率分辨率和均勻的頻率采樣。這導(dǎo)致可以在無混疊的情況下被組合的S-參數(shù)。一些方法默認(rèn)使用S-參數(shù)集合的最粗糙的頻率分辨率。這最可能導(dǎo)致不能被容易地檢測的混疊。
[0037]相比于直接重采樣復(fù)頻域數(shù)據(jù)，使用時(shí)域?qū)崝?shù)脈沖響應(yīng)重采樣頻域復(fù)S-參數(shù)是更強(qiáng)健的。此過程使用FFT/IFFT，其比其它方法計(jì)算更加有效率。
[0038]所公開的填零定位方法不同于已知的零填補(bǔ)方法。這些技術(shù)為共同使用S-參數(shù)的情況提供了更好的頻率響應(yīng)，其中所述S-參數(shù)是限帶的并且采樣偏移可以是任意的。
[0039]圖11是被配置為執(zhí)行上面的技術(shù)的測試和測量儀器的框圖。在此情況下，儀器100是具有顯示器102和采集系統(tǒng)104的示波器。所述采集系統(tǒng)104包括具有關(guān)聯(lián)的存儲器110和輸入/輸出電路108的處理器106。各種用戶控制112和電輸入114被稱合到所述采集系統(tǒng)104。所述處理器106也被配置為運(yùn)行如上面所詳細(xì)解釋的SDLA應(yīng)用。
[0040]應(yīng)被理解的是:基于此處的公開的許多變化是可能的。盡管在上面以特定的組合描述了特征和元素，每個(gè)特征或元素可以在沒有其他特征或元素的情況下或者在有或沒有其他特征和元素的各種組合中被單獨(dú)使用。此處提供的方法或流程圖可以在計(jì)算機(jī)程序、軟件或被并入到計(jì)算機(jī)可讀(非暫時(shí)的)存儲介質(zhì)中的固件中被實(shí)現(xiàn)，用于由通用計(jì)算機(jī)或處理器執(zhí)行。計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)的實(shí)例包括只讀存儲器(ROM)、隨機(jī)存取存儲器(RAM)、寄存器、高速緩沖存儲器、半導(dǎo)體存儲裝置、磁性介質(zhì)(諸如內(nèi)部硬盤和可移除盤)、磁光介質(zhì)以及光學(xué)介質(zhì)(諸如⑶-ROM盤和數(shù)字多功能盤(DVDs))。
[0041]經(jīng)由實(shí)例，合適的處理器包括通用處理器、專用處理器、常規(guī)的處理器、數(shù)字信號處理器(DSP)、多個(gè)微處理器、一個(gè)或更多與DSP核芯相關(guān)聯(lián)的微處理器、控制器、微控制器、專用集成電路(ASICs)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGAs)電路、任何其它類型的集成電路(1C)，和/或狀態(tài)機(jī)。
【權(quán)利要求】
1.一種重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的多個(gè)S-參數(shù)的方法，所述方法包括:存儲多個(gè)S-參數(shù)集合，每個(gè)S-參數(shù)集合與子系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)并且具有關(guān)聯(lián)的脈沖響應(yīng)和時(shí)間間隔；基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔確定增加的時(shí)間間隔；在每個(gè)S-參數(shù)集合中對所述脈沖響應(yīng)填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時(shí)間間隔，以及以更精細(xì)的頻率分辨率生成多個(gè)重采樣的S-參數(shù)集合以覆蓋所述增加的時(shí)間間隔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，基于波紋閾值在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔的百分率在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:針對不具有DC值的任何S-參數(shù)集合，將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到DC。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:確定針對所有所述S-參數(shù)集合的最大共同頻率；以及將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到超過所述最大共同頻率。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，進(jìn)一步包括:使用快速傅里葉逆變換(IFFT)將外推的頻域S-參數(shù)轉(zhuǎn)換至?xí)r域脈沖響應(yīng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:基于與每個(gè)所述S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的采樣率在所述脈沖響應(yīng)之間確定實(shí)際的共同采樣周期。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:使用快速傅里葉變換(FFT)將時(shí)域填零的S-參數(shù)脈沖轉(zhuǎn)換至頻域。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，進(jìn)一步包括:削去被外推的較低頻率和高頻率點(diǎn)。
10.一種串行數(shù)據(jù)鏈路分析裝置，包括:存儲器，其被配置為存儲多個(gè)S-參數(shù)集合，每個(gè)S-參數(shù)集合與子系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)并且具有關(guān)聯(lián)的脈沖響應(yīng)和時(shí)間間隔；處理器，其被配置為基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的所述時(shí)間間隔來確定增加的時(shí)間間隔；所述處理器被配置為對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時(shí)間間隔以及以更精細(xì)的頻率分辨率生成多個(gè)重采樣的S-參數(shù)集合來覆蓋所述增加的時(shí)間間隔。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，基于波紋閾值在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔的百分率在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器被配置為針對不具有DC值的任何S-參數(shù)集合，將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到DC。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器被配置為確定針對所有所述S-參數(shù)集合的最大共同頻率并且將每個(gè)S-參數(shù)集合外推到超過所述最大共同頻率。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置，其中，所述處理器被配置為使用快速傅里葉逆變換(IFFT)將外推的頻域S-參數(shù)轉(zhuǎn)換至?xí)r域脈沖響應(yīng)。
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器被配置為基于與每個(gè)所述S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的采樣率在所述脈沖響應(yīng)之間確定實(shí)際的共同采樣周期。
17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器被配置為使用快速傅里葉變換(FFT)將時(shí)域填零的S-參數(shù)脈沖轉(zhuǎn)換至頻域。
18.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置，其中，所述處理器被配置為削去被外推的較低頻率和高頻率點(diǎn)。
19.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其具有被存儲在其上的用于由處理器執(zhí)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器被配置為執(zhí)行重采樣用于串行數(shù)據(jù)鏈路分析的多個(gè)S-參數(shù)的方法，所述方法包括: 存儲多個(gè)S-參數(shù)集合，每個(gè)S-參數(shù)集合與子系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)并且具有關(guān)聯(lián)的脈沖響應(yīng)和時(shí)間間隔；基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的所述時(shí)間間隔確定增加的時(shí)間間隔；對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時(shí)間間隔，以及以更精細(xì)的頻率分辨率生成多個(gè)重采樣的S-參數(shù)集合以覆蓋所述增加的時(shí)間間隔。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其中，基于波紋閾值在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。
21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其中，基于與每個(gè)S-參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的時(shí)間間隔的百分率在填零位置處對每個(gè)S-參數(shù)集合中的脈沖響應(yīng)填零。
【文檔編號】G06F17/40GK103514305SQ201310255801
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年6月25日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月25日
【發(fā)明者】K.譚, J.J.皮克德 申請人:特克特朗尼克公司