專利名稱：提高rfid標(biāo)簽讀取成功率的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及RFID (射頻識(shí)別)標(biāo)簽讀寫(xiě)，尤其涉及一種提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，適用于物聯(lián)網(wǎng)需要快速讀寫(xiě)大量標(biāo)簽，屬于射頻標(biāo)簽讀寫(xiě)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
物聯(lián)網(wǎng)(Internet of things)是目前信息網(wǎng)絡(luò)化發(fā)展的重要趨勢(shì)，被稱為計(jì)算機(jī)、互聯(lián)網(wǎng)之后世界信息產(chǎn)業(yè)的第三次浪潮，無(wú)線射頻識(shí)別技術(shù)RFID為物聯(lián)網(wǎng)關(guān)鍵技術(shù)之一。RFID技術(shù)是一種非接觸式的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)，它通過(guò)射頻信號(hào)自動(dòng)識(shí)別目標(biāo)對(duì)象并獲取相關(guān)數(shù)據(jù)，以其識(shí)別可無(wú)線讀寫(xiě)、信號(hào)穿透能力強(qiáng)、距離遠(yuǎn)、使用壽命長(zhǎng)、環(huán)境適應(yīng)性好、可多標(biāo)簽同時(shí)識(shí)別、信息存儲(chǔ)容易大和數(shù)據(jù)可改寫(xiě)等優(yōu)點(diǎn)，近年來(lái)得到廣泛應(yīng)用?，F(xiàn)有的RFID標(biāo)簽讀寫(xiě)，是通過(guò)閱讀器識(shí)別標(biāo)簽時(shí)，先對(duì)接收到的標(biāo)簽反射數(shù)據(jù)進(jìn)行CRC校驗(yàn)，如果校驗(yàn)失敗，則閱讀器請(qǐng)求標(biāo)簽重傳數(shù)據(jù)，直到標(biāo)簽被成功識(shí)別。由于標(biāo)簽反射的信號(hào)通常非常微弱，易受到噪聲干擾和信號(hào)失真影響，導(dǎo)致標(biāo)簽讀取成功率下降，系統(tǒng)性能惡化。·
背景技術(shù)：
物聯(lián)網(wǎng)(Internet of things)是目前信息網(wǎng)絡(luò)化發(fā)展的重要趨勢(shì)，被稱為計(jì)算機(jī)、互聯(lián)網(wǎng)之后世界信息產(chǎn)業(yè)的第三次浪潮，無(wú)線射頻識(shí)別技術(shù)RFID為物聯(lián)網(wǎng)關(guān)鍵技術(shù)之一。RFID技術(shù)是一種非接觸式的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)，它通過(guò)射頻信號(hào)自動(dòng)識(shí)別目標(biāo)對(duì)象并獲取相關(guān)數(shù)據(jù)，以其識(shí)別可無(wú)線讀寫(xiě)、信號(hào)穿透能力強(qiáng)、距離遠(yuǎn)、使用壽命長(zhǎng)、環(huán)境適應(yīng)性好、可多標(biāo)簽同時(shí)識(shí)別、信息存儲(chǔ)容易大和數(shù)據(jù)可改寫(xiě)等優(yōu)點(diǎn)，近年來(lái)得到廣泛應(yīng)用?，F(xiàn)有的RFID標(biāo)簽讀寫(xiě)，是通過(guò)閱讀器識(shí)別標(biāo)簽時(shí)，先對(duì)接收到的標(biāo)簽反射數(shù)據(jù)進(jìn)行CRC校驗(yàn)，如果校驗(yàn)失敗，則閱讀器請(qǐng)求標(biāo)簽重傳數(shù)據(jù)，直到標(biāo)簽被成功識(shí)別。由于標(biāo)簽反射的信號(hào)通常非常微弱，易受到噪聲干擾和信號(hào)失真影響，導(dǎo)致標(biāo)簽讀取成功率下降，系統(tǒng)性能惡化。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，為了降低RFID標(biāo)簽讀取過(guò)程中因受噪聲干擾和信號(hào)失真導(dǎo)致的誤碼率較高的問(wèn)題，通過(guò)本發(fā)明減少標(biāo)簽數(shù)據(jù)的重發(fā)概率，提聞標(biāo)簽讀取成功率。本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的，一種提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，包括RFID標(biāo)簽、閱讀器和后端編碼系統(tǒng)，其特征在于，應(yīng)用糾錯(cuò)碼對(duì)標(biāo)簽反射數(shù)據(jù)序列提供數(shù)據(jù)糾錯(cuò)保護(hù)，減少標(biāo)簽數(shù)據(jù)的重發(fā)概率，提高標(biāo)簽讀取成功率；糾錯(cuò)方式包括PC/XPC+ EPC + CRC -> PC/XPC + EPC + CRC + ECC。所述糾錯(cuò)碼應(yīng)用常見(jiàn)的BCH碼、卷積碼或LDPC碼。糾錯(cuò)碼生成方式，可以在標(biāo)簽內(nèi)集成糾錯(cuò)編碼電路；亦可對(duì)沒(méi)有集成糾錯(cuò)編碼電路的標(biāo)簽，在寫(xiě)入標(biāo)簽數(shù)據(jù)如PC+EPC+CRC同時(shí)，寫(xiě)入由后端編碼系統(tǒng)、上位機(jī)或閱讀器通過(guò)軟件或硬件生成的相應(yīng)糾錯(cuò)碼編碼數(shù)據(jù)至標(biāo)簽存儲(chǔ)區(qū)。讀寫(xiě)器側(cè)集成的糾錯(cuò)譯碼電路或軟件算法，在標(biāo)簽數(shù)據(jù)讀取過(guò)程中，同時(shí)對(duì)讀取的糾錯(cuò)碼進(jìn)行解碼，以校正隨機(jī)生產(chǎn)的數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤，最后通過(guò)CRC校驗(yàn)?zāi)K完成數(shù)據(jù)正確與否的最后確認(rèn)。本發(fā)明通過(guò)應(yīng)用糾錯(cuò)碼對(duì)標(biāo)簽反射數(shù)據(jù)序列提供數(shù)據(jù)糾錯(cuò)保護(hù)，減少標(biāo)簽數(shù)據(jù)的重發(fā)概率，對(duì)于錯(cuò)碼數(shù)不超過(guò)糾錯(cuò)碼糾錯(cuò)范圍，閱讀器就可以糾正，只有連續(xù)多個(gè)錯(cuò)碼造成的不可糾正錯(cuò)誤，才被CRC校碼發(fā)現(xiàn)，并要求重發(fā)，這就大大減少了同一標(biāo)簽重發(fā)的次數(shù)，大大提高了標(biāo)簽讀取效率(核對(duì)和補(bǔ)充采用本技術(shù)方案帶來(lái)的積極技術(shù)效果)。本發(fā)明通過(guò)應(yīng)用糾錯(cuò)碼對(duì)標(biāo)簽反射數(shù)據(jù)序列提供數(shù)據(jù)糾錯(cuò)保護(hù)，減少標(biāo)簽數(shù)據(jù)的重發(fā)概率，對(duì)于錯(cuò)碼數(shù)不超過(guò)糾錯(cuò)碼糾錯(cuò)范圍，閱讀器就可以糾正，只有連續(xù)多個(gè)錯(cuò)碼造成的不可糾正錯(cuò)誤，才被CRC校碼發(fā)現(xiàn)，并要求重發(fā)，這就大大減少了同一標(biāo)簽重發(fā)的次數(shù)，大大提高了標(biāo)簽讀取效率(核對(duì)和補(bǔ)充采用本技術(shù)方案帶來(lái)的積極技術(shù)效果)。


圖1為本發(fā)明中帶糾錯(cuò)編碼模塊的電子標(biāo)簽讀寫(xiě)工作框 圖2為本發(fā)明中不帶糾錯(cuò)編碼模塊的電子標(biāo)簽讀寫(xiě)工作框圖。

圖1為本發(fā)明中帶糾錯(cuò)編碼模塊的電子標(biāo)簽讀寫(xiě)工作框 圖2為本發(fā)明中不帶糾錯(cuò)編碼模塊的電子標(biāo)簽讀寫(xiě)工作框圖。
具體實(shí)施例方式結(jié)合附圖和實(shí)施例進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明，如圖1所示，本發(fā)明的標(biāo)簽內(nèi)集成了相應(yīng)的糾錯(cuò)編碼電路，同時(shí)，閱讀器則集成相應(yīng)的糾錯(cuò)譯碼電路或軟件。如圖2所示，因本發(fā)明的標(biāo)簽內(nèi)沒(méi)有糾錯(cuò)編碼電路，則在后端編碼系統(tǒng)、上位機(jī)或閱讀器通過(guò)軟件或硬件生成，然后在寫(xiě)入標(biāo)簽數(shù)據(jù)時(shí)一起寫(xiě)入標(biāo)簽存儲(chǔ)區(qū)。讀取數(shù)據(jù)的工作流程為:標(biāo)簽數(shù)據(jù)先通過(guò)CRC電路加上校驗(yàn)碼，然后進(jìn)行糾錯(cuò)編碼電路編碼后發(fā)送回讀寫(xiě)器中(對(duì)沒(méi)有糾錯(cuò)編碼電路的標(biāo)簽，直接發(fā)送存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)存儲(chǔ)的糾錯(cuò)編碼數(shù)據(jù))，所以傳送回讀寫(xiě)器的數(shù)據(jù)包括PC (Protocol Control，協(xié)議控制數(shù)據(jù))、EPC(Electronic Product Code,電子物品碼)、CRC (Cyclical Redundancy Check,循環(huán)校驗(yàn)碼)以及本項(xiàng)發(fā)明額外增加的ECC (Error Correcting Code,電子糾錯(cuò)編碼)。閱讀器先進(jìn)行ECC糾錯(cuò)碼解碼處理，以糾正一些錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)，然后進(jìn)行CRC校驗(yàn)核對(duì)PC+EPC碼是否正確，確認(rèn)數(shù)據(jù)是否正確。 本發(fā)明所采用的糾錯(cuò)碼可以應(yīng)用常見(jiàn)的BCH碼、卷積碼或LDPC碼。
權(quán)利要求
1.一種提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，包括RFID標(biāo)簽、閱讀器和后端編碼系統(tǒng)，其特征在于，應(yīng)用糾錯(cuò)碼對(duì)標(biāo)簽反射數(shù)據(jù)序列提供數(shù)據(jù)糾錯(cuò)保護(hù)，減少標(biāo)簽數(shù)據(jù)的重發(fā)概率，提高標(biāo)簽讀取成功率；糾錯(cuò)方式包括PC/XPC + EPC + CRC -> PC/XPC + EPC + CRC + ECC0
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，其特征在于，所述糾錯(cuò)碼應(yīng)用BCH碼、卷積碼或LDPC碼。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，其特征在于，糾錯(cuò)碼生成方式，可以在標(biāo)簽內(nèi)集成糾錯(cuò)編碼電路；亦可對(duì)沒(méi)有集成糾錯(cuò)編碼電路的標(biāo)簽，在寫(xiě)入標(biāo)簽數(shù)據(jù)如PC+EPC+CRC同時(shí)，寫(xiě)入由后端編碼系統(tǒng)、上位機(jī)或閱讀器通過(guò)軟件或硬件生成的相應(yīng)糾錯(cuò)碼編碼數(shù)據(jù)至標(biāo)簽存儲(chǔ)區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，其特征在于，讀寫(xiě)器側(cè)集成的糾錯(cuò)譯碼電路或軟件算法，在標(biāo)簽數(shù)據(jù)讀取過(guò)程中，同時(shí)對(duì)讀取的糾錯(cuò)碼進(jìn)行解碼，以校正隨機(jī)生產(chǎn)的數(shù)據(jù)讀取 錯(cuò) 誤，最后通過(guò)CRC校驗(yàn)?zāi)K完成數(shù)據(jù)正確與否的最后確認(rèn)。
全文摘要
本發(fā)明涉及RFID(射頻識(shí)別)標(biāo)簽讀寫(xiě)，尤其涉及一種提高RFID標(biāo)簽讀取成功率的方法，適用于物聯(lián)網(wǎng)需要快速讀寫(xiě)大量標(biāo)簽，屬于射頻標(biāo)簽讀寫(xiě)技術(shù)領(lǐng)域，主要用于解決物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用中RFID標(biāo)簽快速讀取時(shí)容易受到噪聲干擾和信號(hào)失真影響，導(dǎo)致標(biāo)簽讀取成功率下降，讀取效率低的問(wèn)題，提出通過(guò)采用糾錯(cuò)碼編碼譯碼實(shí)現(xiàn)對(duì)標(biāo)簽讀取的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)，提高讀標(biāo)簽效率和物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)穩(wěn)定性，改善閱讀器的覆蓋范圍。同時(shí)本發(fā)明給出兩種不同實(shí)現(xiàn)方式，一種需要在標(biāo)簽內(nèi)集成電子糾錯(cuò)編碼模塊，另一種可直接應(yīng)用于現(xiàn)有標(biāo)簽，電子糾錯(cuò)碼由讀寫(xiě)器或者后端系統(tǒng)在標(biāo)簽數(shù)據(jù)寫(xiě)入時(shí)一起寫(xiě)入標(biāo)簽存儲(chǔ)區(qū)中。
文檔編號(hào)G06K7/00GK103226685SQ20131017068
公開(kāi)日2013年7月31日 申請(qǐng)日期2013年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2013年5月10日
發(fā)明者趙彬, 鐘輝, 朱曉東, 姚飛, 孔維新, 李鶴鳴 申請(qǐng)人:智坤(江蘇)半導(dǎo)體有限公司