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具有測(cè)試功能的電子裝置及測(cè)試方法和系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):6502292閱讀:132來(lái)源:國(guó)知局
具有測(cè)試功能的電子裝置及測(cè)試方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種用于電子裝置測(cè)試方法,該測(cè)試方法包括步驟:從一測(cè)試控制端上獲取測(cè)試該電子裝置所需的所有測(cè)試文件;電子裝置運(yùn)行該測(cè)試文件對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試;電子裝置將測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出;測(cè)試控制端每隔一個(gè)預(yù)設(shè)時(shí)間間隔便從該電子裝置的頁(yè)面上詢問(wèn)該電子裝置的測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明還提供一種具有測(cè)試功能的電子裝置及測(cè)試系統(tǒng)。相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),通過(guò)一次性從服務(wù)器上獲取電子裝置所需的所有測(cè)試文件,并運(yùn)行該測(cè)試文件對(duì)該電子裝置進(jìn)行全面的檢測(cè),并控制電子裝置將測(cè)試結(jié)果輸出至該電子裝置的頁(yè)面上供測(cè)試控制端來(lái)詢問(wèn),大大減小了測(cè)試控制端的壓力,即便是一次性測(cè)試很多臺(tái)電子裝置,也不會(huì)對(duì)測(cè)試控制端帶來(lái)壓力。
【專利說(shuō)明】 具有測(cè)試功能的電子裝置及測(cè)試方法和系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種具有測(cè)試功能的待測(cè)試的電子裝置及其測(cè)試方法和系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]一般而言,電子產(chǎn)品在出廠前都要進(jìn)行嚴(yán)格而全面的硬件和軟件測(cè)試以確保其品質(zhì)。常用的測(cè)試方法是將電子產(chǎn)品連接到一具有控制功能的服務(wù)器上,由服務(wù)器發(fā)送各種測(cè)試指令至該待測(cè)電子產(chǎn)品,待測(cè)電子產(chǎn)品根據(jù)所述測(cè)試指令進(jìn)行測(cè)試,服務(wù)器再獲取所述測(cè)試結(jié)果來(lái)完成測(cè)試。
[0003]然而上述測(cè)試中服務(wù)器需要處理龐大的數(shù)據(jù)流,如果一次性測(cè)試的待測(cè)電子產(chǎn)品較多的話,服務(wù)器會(huì)超負(fù)荷運(yùn)行甚至是出現(xiàn)死機(jī)的情況。
[0004]針對(duì)上述問(wèn)題,為了一次性測(cè)試較多的電子產(chǎn)品,傳統(tǒng)的做法是增加服務(wù)器數(shù)量并且增加網(wǎng)絡(luò)帶寬,但這種做法成本高。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此,有必要提供一種具有測(cè)試功能的電子裝置,不占用網(wǎng)絡(luò)帶寬,成本低,以解決上述問(wèn)題。
[0006]有鑒于此,還有必要提供一種測(cè)試方法,以解決上述問(wèn)題。
[0007]有鑒于此,還有必要提供一種測(cè)試系統(tǒng),以解決上述問(wèn)題。
[0008]一種具有測(cè)試功能的電子裝置,包括:一第二通訊單元,用于與一測(cè)試控制端之間進(jìn)行通訊,接收該測(cè)試控制端發(fā)送的測(cè)試文件;一測(cè)試模塊,用于根據(jù)接收的測(cè)試文件控制電子裝置運(yùn)行該測(cè)試文件以對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試;一測(cè)試結(jié)果輸出模塊,用于控制電子裝置將測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出。
[0009]一種測(cè)試方法,該測(cè)試方法包括步驟:電子裝置從一測(cè)試控制端上獲取測(cè)試該電子裝置所需的所有測(cè)試文件;電子裝置根據(jù)該測(cè)試文件對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試;電子裝置將測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出;測(cè)試控制端每隔一個(gè)預(yù)設(shè)時(shí)間間隔便從該電子裝置的頁(yè)面上詢問(wèn)該電子裝置的測(cè)試結(jié)果。
[0010]一種測(cè)試系統(tǒng),該測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行于通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接的測(cè)試控制端和至少一個(gè)具有測(cè)試功能的待測(cè)試的電子裝置上;該測(cè)試系統(tǒng)包括一測(cè)試文件獲取模塊,用于控制電子裝置向所述測(cè)試控制端發(fā)送一獲取測(cè)試該電子裝置的所有測(cè)試文件的獲取指令;一測(cè)試文件發(fā)送模組,用于根據(jù)所述獲取指令控制所述測(cè)試控制端向電子裝置發(fā)送該電子裝置測(cè)試所需的所有測(cè)試文件;一測(cè)試模塊,用于根據(jù)接收的測(cè)試文件控制電子裝置運(yùn)行該測(cè)試文件以對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試;一測(cè)試結(jié)果輸出模塊,用于將該電子裝置的測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出;該輪詢模組,用于控制所述測(cè)試控制端輪流地從每個(gè)電子裝置上詢問(wèn)所述電子裝置的測(cè)試結(jié)果。
[0011]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),通過(guò)一次性從測(cè)試控制端上獲取電子裝置所需的所有測(cè)試文件,并通過(guò)電子裝置運(yùn)行該測(cè)試文件對(duì)該電子裝置進(jìn)行全面的檢測(cè),并將檢測(cè)結(jié)果直接放在電子裝置的頁(yè)面上供測(cè)試控制端來(lái)詢問(wèn),大大減小了測(cè)試控制端的壓力。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為本發(fā)明一實(shí)施方式中測(cè)試系統(tǒng)的模塊圖。
[0013]圖2為本發(fā)明一實(shí)施方式中測(cè)試方法的流程圖。
[0014]主要元件符號(hào)說(shuō)明

【權(quán)利要求】
1.一種具有測(cè)試功能的電子裝置,其特征在于,該電子裝置包括: 一第二通訊單元,用于與一測(cè)試控制端之間進(jìn)行通訊,接收該測(cè)試控制端發(fā)送的測(cè)試文件; 一測(cè)試模塊,用于根據(jù)接收的測(cè)試文件控制電子裝置運(yùn)行該測(cè)試文件以對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試; 一測(cè)試結(jié)果輸出模塊,用于控制電子裝置將測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的具有測(cè)試功能的電子裝置,其特征在于,所述電子裝置還包括一測(cè)試文件獲取模組,用于控制該電子裝置向所述測(cè)試控制端發(fā)送一獲取測(cè)試該電子裝置的所有測(cè)試文件的獲取指令。
3.—種測(cè)試方法,其特征在于,該測(cè)試方法包括步驟: SI,電子裝置從一測(cè)試控制端上獲取測(cè)試該電子裝置所需的所有測(cè)試文件; S2,電子裝置根據(jù)該測(cè)試文件對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試 S3,電子裝置將測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出供測(cè)試控制端從該電子裝置的頁(yè)面上詢問(wèn)測(cè)試結(jié)果。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟SI之前還包括步驟:電子裝置向測(cè)試控制端發(fā)送一用于獲取測(cè)試該電子裝置的所有測(cè)試文件的獲取指令。
5.一種測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,該測(cè)試系統(tǒng)包括: 一測(cè)試文件獲取模塊,用于控制電子裝置向測(cè)試控制端發(fā)送一獲取測(cè)試該電子裝置的所有測(cè)試文件的獲取指令; 一測(cè)試文件發(fā)送模組,用于根據(jù)所述獲取指令控制所述測(cè)試控制端向電子裝置發(fā)送該電子裝置測(cè)試所需的所有測(cè)試文件; 一測(cè)試模塊,用于根據(jù)接收的測(cè)試文件控制電子裝置運(yùn)行該測(cè)試文件以對(duì)該電子裝置進(jìn)行測(cè)試; 一測(cè)試結(jié)果輸出模塊,用于將該電子裝置的測(cè)試結(jié)果以頁(yè)面的形式輸出; 一輪詢模組,用于控制所述測(cè)試控制端輪流地從每個(gè)電子裝置上詢問(wèn)所述電子裝置的測(cè)試結(jié)果。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,該測(cè)試文件獲取模塊、該測(cè)試模塊以及該測(cè)試結(jié)果輸出模塊運(yùn)行于該電子裝置上;該測(cè)試文件發(fā)送模組和該輪詢模組運(yùn)行于該測(cè)試控制纟而上。
7.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,該測(cè)試文件獲取模塊、該測(cè)試模塊以及該測(cè)試結(jié)果輸出模塊為安裝在該電子裝置上的硬件單元,該測(cè)試文件發(fā)送模組和該輪詢模組為安裝在該電子裝置上的硬件單元。
【文檔編號(hào)】G06F11/22GK104133745SQ201310155521
【公開(kāi)日】2014年11月5日 申請(qǐng)日期:2013年4月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月30日
【發(fā)明者】王光建 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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