專(zhuān)利名稱(chēng)：電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法和裝置以及電容式觸控設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸控設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法和裝置以及電容式觸控設(shè)備。
背景技術(shù)：
電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方案，包括自電容式和互電容式兩種。自電容式檢測(cè)方案是檢測(cè)觸控設(shè)備中的電極對(duì)地電容的大小，即，檢測(cè)電路通過(guò)電極發(fā)出掃描信號(hào)，并從同一電極接收反饋信號(hào)，根據(jù)反饋信號(hào)的大小來(lái)計(jì)算對(duì)地電容的大小。如果當(dāng)前電極上發(fā)生了觸摸事件，由于人體和地之間電容很大，人體可以接近等效于一個(gè)大地，則當(dāng)前電極對(duì)地電容會(huì)增大；如圖1所示，Cp表示當(dāng)前電極的初始對(duì)地電容,Cf表示當(dāng)前電極對(duì)人體的電容,則當(dāng)前的對(duì)地電容為Cp和Cf的并聯(lián)。因此，檢測(cè)電路如果檢測(cè)出對(duì)地電容增加，就可以判定當(dāng)前電極發(fā)生了觸摸；進(jìn)一步根據(jù)各電極對(duì)地電容的變化，可以計(jì)算出發(fā)生觸摸的具體位置。互電容檢測(cè)方案是通過(guò)一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)，同時(shí)通過(guò)另一個(gè)電極接收掃描信號(hào)，進(jìn)而計(jì)算兩個(gè)電極之間電容的大小或變化。圖2示出了一種常見(jiàn)的觸摸屏結(jié)構(gòu)，其X軸方向包括T1、T2….T16等電極，Y軸方向RU R2…RlO等電極。假設(shè)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)，Τ13, Τ14, Τ15以及R3, R4, R5的對(duì)地電容發(fā)生了變化，則，通過(guò)Τ13，Τ14, Τ15 上電容變化大小，可以得出觸摸位置的X軸坐標(biāo)，通過(guò)R3，R4, R5上電容變化大小，可以得出Y軸坐標(biāo)?，F(xiàn)有技術(shù)中比較常用的方案是，檢測(cè)電路通過(guò)開(kāi)關(guān)切換，分時(shí)檢測(cè)觸控設(shè)備上的各個(gè)電極的對(duì)地電容，當(dāng)前未掃描的電極接地或懸空。當(dāng)有質(zhì)量較差的充電器接到觸控設(shè)備所在的系統(tǒng)時(shí)，系統(tǒng)地相對(duì)于真正大地會(huì)出現(xiàn)噪聲，即通常所說(shuō)的電源干擾，檢測(cè)電路以系統(tǒng)地為參考看到的人體就是一個(gè)噪聲源，噪聲通過(guò)人體與電極之間的電容耦合到檢測(cè)電路上,此時(shí),檢測(cè)電路檢測(cè)到的電容值是不準(zhǔn)確的。由于現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)各個(gè)電極的檢測(cè)是分時(shí)處理的，則，不同的電極在檢測(cè)時(shí)的電源干擾是不相關(guān)的，那么，在計(jì)算觸摸位置時(shí)，電源干擾就無(wú)法被消除，導(dǎo)致計(jì)算到的觸摸位置就會(huì)不準(zhǔn)確，與實(shí)際觸摸位置不同。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法和裝置以及電容式觸控設(shè)備，以解決現(xiàn)有觸控設(shè)備因電源干擾而導(dǎo)致的檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題。本發(fā)明第一方面提供一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法，包括:依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。本發(fā)明第二方面提供一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)裝置，包括:第一檢測(cè)模塊，用于依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。本發(fā)明第三方面提供一種電容式觸控設(shè)備，包括:如上所述的裝置。本發(fā)明實(shí)施例采用將觸摸設(shè)備的電極分為多個(gè)組，每個(gè)組的多個(gè)電極同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)方案，則，在有電源干擾的情況下，同一組內(nèi)多個(gè)電極的檢測(cè)結(jié)果中的電源干擾成分是相關(guān)的，有確定的關(guān)聯(lián)關(guān)系，那么，在后續(xù)計(jì)算中就可以通過(guò)一定的算法消除電源干擾，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸位置。


圖1是有觸摸事件時(shí)檢測(cè)對(duì)地電容的示意圖；圖2是一種常見(jiàn)的觸摸屏結(jié)構(gòu)的示意圖；圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法的示意圖；圖4是一種電容觸摸屏結(jié)構(gòu)的示意圖；圖5是多點(diǎn)觸控的示意圖；圖6是互電容掃描技術(shù)的原理圖；圖7是本發(fā)明實(shí)施例提供的電容式觸控設(shè)備檢測(cè)裝置的示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明實(shí)施例提供一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法和裝置以及電容式觸控設(shè)備，可以消除電源干擾帶來(lái)的影響，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸位置。本發(fā)明實(shí)施例還提供相應(yīng)的裝置。以下結(jié)合附圖分別進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。實(shí)施例一、請(qǐng)參考圖3，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法，包括:110、依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)。本實(shí)施例中，將觸控設(shè)備的各個(gè)維度上的電極劃分為若干組，以便按組進(jìn)行檢測(cè)。以圖4所示的電容屏結(jié)構(gòu)為例，該設(shè)備中包括兩個(gè)維度排布的電極，在第一維度即X軸方向上有16條電極，分別用T1、T2….T16標(biāo)識(shí)；在第二維度即Y軸方向上有10條電極，分別用Rl、I^hRIO 標(biāo)識(shí)。一種實(shí)施方式中，可以將X軸方向上的16條電極劃分為以下幾組:第一組包括Tl至Τ6，第二組包括Τ5至Τ10，第三組包括T9至Τ14，第四組包括Τ13至Τ16 ;可以將Y軸方向上的10條電極劃分為以下幾組:第五 組包括Rl至R6，第六組包括R6至R10。上述的分組方式中，每一維度上相鄰的兩組之間的一個(gè)或若干電極同時(shí)被包括在兩個(gè)組中。當(dāng)然，其他實(shí)施方式中也可以有其它的分組方式，本文不再一一贅述。本實(shí)施方式中，按照上述確定的分組進(jìn)行檢測(cè)，在一個(gè)時(shí)段內(nèi)，驅(qū)動(dòng)一組電極所包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；在下一個(gè)時(shí)段，驅(qū)動(dòng)下一組電極所包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；直到檢測(cè)完畢。所述的檢測(cè)采用自電容檢測(cè)方案，包括:驅(qū)動(dòng)一組電極發(fā)出掃描信號(hào)，并通過(guò)該組電極接收反饋信號(hào)。
120、根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。假設(shè)觸摸發(fā)生在T4電極和R8電極相交之處，則，X軸方向上的若干組電極依次檢測(cè)完畢后，可以發(fā)現(xiàn)T4電極的對(duì)地電容變化最大，同時(shí)其兩側(cè)的電極T3至T5的對(duì)地電容也會(huì)變化，則可以根據(jù)T3、T4和T5的電容變化計(jì)算出觸摸位置在X軸方向上的坐標(biāo)數(shù)據(jù)，例如T4。同理，可以根據(jù)R7、R8和R9的電容變化計(jì)算出觸摸位置在Y軸方向上的坐標(biāo)數(shù)據(jù)，例如，R8。進(jìn)而就可以確定觸摸位置發(fā)生的T4，R8位置。上述檢測(cè)方案中，由于電極T3、T4和T5屬于同一個(gè)電極組，是同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)的，貝U，在有電源干擾的情況下，電源干擾成分在T3、T4和T5的檢測(cè)數(shù)據(jù)中是相關(guān)的，因此，在計(jì)算X軸坐標(biāo)數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)一種常規(guī)的計(jì)算方法消除該電源干擾成分的影響，從而計(jì)算出準(zhǔn)確的X軸坐標(biāo)數(shù)據(jù)。同理，電極R7、R8和R9也屬于同一個(gè)電極組，也可以根據(jù)常規(guī)的計(jì)算方法消除該電源干擾成分的影響，從而計(jì)算出準(zhǔn)確的Y軸坐標(biāo)數(shù)據(jù)。下面，對(duì)上述如何消除電源干擾的原理進(jìn)一步進(jìn)行描述:沒(méi)有電源干擾的情況下，發(fā)生觸摸時(shí)，坐標(biāo)計(jì)算的依據(jù)是各電極檢測(cè)得到的數(shù)據(jù)變化量，其大小與人體和各電極形成的電容成正比，假定各電極的變化量為Al、A2、A3……An。有電源干擾的情況下，檢測(cè)電路以系統(tǒng)地為參考，這時(shí)人體相當(dāng)于一個(gè)噪聲源，噪聲通過(guò)人體和各電極的電容耦合到電極上。在本實(shí)施例提出的一組電極同時(shí)檢測(cè)的情況下，由于噪聲源相同，其幅度也與人體和電極的電容成正比，則可以得出，噪聲大小與觸摸引起的變化量成正比，假定比·例系數(shù)為k，噪聲引起的變化量為kAl、kA2、kA3……kAn，其中k會(huì)隨時(shí)間而變化?？梢?jiàn)，雖然施加到各電極上的電源噪聲干擾成分并不相等，但是，同一時(shí)間施加到各個(gè)電極的干擾與人體觸摸引起的變化量的比例卻是相同的，因此，可以按照一定的算法抵消電源干擾對(duì)各個(gè)電極的影響。綜上，上述將電極分組進(jìn)行檢測(cè)的方案，可以保證觸摸位置的電極及其鄰近的至少一個(gè)電極是同時(shí)檢測(cè)的，這幾個(gè)電極的電源干擾噪聲是相關(guān)的，因此，可以通過(guò)一定的計(jì)算方法克服電源干擾的影響，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸位置。優(yōu)選的，為了保證觸摸位置的電極和其兩側(cè)的各一個(gè)電極可以同時(shí)檢測(cè)，以便進(jìn)一步提高抗干擾能力，在分組時(shí)，優(yōu)選將每個(gè)組的最邊緣的一個(gè)或多個(gè)電極同時(shí)分到相鄰的另一個(gè)組中，使各組的邊緣電極重復(fù)掃描。當(dāng)然，為了節(jié)省電極或者減少掃描次數(shù)，各組的邊緣電極也可以不必重復(fù)掃描，這樣可以減少檢測(cè)電路，但是，會(huì)降低這些邊緣電極所在區(qū)域的抗干擾能力。一種實(shí)施方式中，驅(qū)動(dòng)一組電極進(jìn)行檢測(cè)包括:驅(qū)動(dòng)該組電極發(fā)出掃描信號(hào)，并通過(guò)該組電極接收反饋信號(hào)，同時(shí)，還驅(qū)動(dòng)除該組電極以外的所有其它電極發(fā)出相同的掃描信號(hào)，但所述的其它電極不接收反饋信號(hào)。例如圖4所示，在驅(qū)動(dòng)第五組電極Rl至R6發(fā)出掃描信號(hào)的同時(shí)，可以驅(qū)動(dòng)其它所有電極發(fā)出相同的掃描信號(hào)，但是，僅通過(guò)第五組電極Rl至R6接收反饋信號(hào)，其它電極并不接收反饋信號(hào)。采用該種掃描方式，一方面不會(huì)干擾第五組電極Rl至R6進(jìn)行的檢測(cè)，另一方面會(huì)使整個(gè)觸摸設(shè)備上各個(gè)電極的掃描波形一致，在觸摸設(shè)備表面有水珠等異物的情況下，可以避免水珠等的干擾。避免水珠干擾的原理為:在各個(gè)電極的掃描波形一致的情況下，當(dāng)前掃描電極和水珠處電極的電壓同時(shí)變化，因此，不會(huì)對(duì)對(duì)地電容的測(cè)量產(chǎn)生影響。本實(shí)施方式的檢測(cè)方案，可以稱(chēng)為全屏共模掃描方案。在觸控設(shè)備支持多點(diǎn)觸控的情況下，步驟120確定的一組觸摸位置可能包括兩個(gè)以上。請(qǐng)參考圖5，假設(shè)實(shí)際觸摸發(fā)生在T4，R8和Τ13，R3這兩個(gè)位置，則上述的檢測(cè)方案可以檢測(cè)到Τ4，Τ13以及R3，R8的對(duì)地電容變化最大，則確定的可能觸摸位置可能是T4，R8和T13，R3這兩個(gè)點(diǎn)，也可能是T4，R3和T13，R8這兩個(gè)點(diǎn)，還可能是上述的四個(gè)點(diǎn)。這種檢測(cè)到的觸摸位置與實(shí)際的觸摸位置不符合，存在虛假觸摸位置的問(wèn)題，稱(chēng)為“鬼點(diǎn)”問(wèn)題。一種實(shí)施方式中，為了解決“鬼點(diǎn)”問(wèn)題，在步驟120確定的一組可能的觸摸位置包括兩個(gè)以上的情況下，所述方法還可以包括以下步驟:130、采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)，確定另一組可能的觸摸位置，將獲得的兩組可能的觸摸位置進(jìn)行比較，排除虛假的觸摸位置，確定準(zhǔn)確的觸摸位置?；ル娙輶呙杓夹g(shù)可以驅(qū)動(dòng)一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)，同時(shí)通過(guò)另一個(gè)電極接收掃描信號(hào)，通過(guò)接收到的信號(hào)計(jì)算兩個(gè)電極之間電容的大小或變化。該種互電容掃描技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)真正的多點(diǎn)觸摸控制。本實(shí)施方式中，上述采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)包括:驅(qū)動(dòng)第一維度上的全部電極依次發(fā)出掃描信號(hào)，并在第一維度上任一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)第二維度上的N組電極依次接收掃描信號(hào)，其中，第二維度上的任一組電極包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)接收掃描信號(hào)。當(dāng)然，第二維度上的所有電極也可以不用分組，而是作為一組，在任一個(gè)第一維度電極發(fā)出掃描信號(hào)時(shí)，同時(shí)接收該掃描信號(hào)。下面以圖6為例對(duì)上述互電容掃描做進(jìn)一步介紹，圖中Y軸方向上的電極T1-T9依次發(fā)出掃描信號(hào)，保證同一時(shí)段只有一個(gè)Y軸電極發(fā)出掃描信號(hào)。X軸電極如前文所述被劃分為若干組，圖中僅不出了第一組電極R1-R6。當(dāng)Y軸某電極發(fā)出掃描信號(hào)的時(shí)段內(nèi)，X軸各組電極依次接收掃描信號(hào)，但同一組包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)接收掃描信號(hào)，例如電極Tl發(fā)出掃描信號(hào)時(shí)，第一組電極R1-R6同時(shí)接收掃描信號(hào),檢測(cè)得到電極Tl和電極R1-R6之間的6個(gè)電容Cl.1，C1.2，-Cl.6ο這樣，檢測(cè)完畢可以得到q*p個(gè)電容，其中q和P分別表示X軸和Y軸方向上電極的數(shù)量。假設(shè)實(shí)際觸摸發(fā)生在T4，R8和T13，R3這兩個(gè)位置，則可以測(cè)得C4.8和C13.3這兩個(gè)電容發(fā)生了較大變化，從而可以確定T4，R8和T13，R3為觸摸位置。最后，將步驟120和130分別采用兩個(gè)技術(shù)確定的兩組可能的觸摸位置進(jìn)行比較，就可以排除虛假的觸摸位置如T4，R3和T13，R8，確定準(zhǔn)確的觸摸位置如T4，R8和T13，R3?？梢?jiàn)，本實(shí)施方式通過(guò)采用互電容掃描技術(shù)重復(fù)檢測(cè)，可以解決“鬼點(diǎn)”問(wèn)題，進(jìn)而確定出準(zhǔn)確的觸摸位置。綜上，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法，該方法采用將觸摸設(shè)備的多個(gè)維度上的電極都分為多個(gè)組，每個(gè)組的多個(gè)電極同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)方案，則，在有電源干擾的情況下，同一組內(nèi)多個(gè)電極的檢測(cè)結(jié)果中的電源干擾成分是相關(guān)的，在后續(xù)計(jì)算中就可以通過(guò)一定的算法消除電源干擾，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸位置。進(jìn)一步的，在一組電極進(jìn)行檢測(cè)的同時(shí)，驅(qū)動(dòng)其它所有電極同時(shí)發(fā)出相同的掃描信號(hào)但不進(jìn)行檢測(cè)，可以克服水珠干擾的問(wèn)題。更進(jìn)一步的，在確定的一組可能的觸摸位置包括兩個(gè)以上時(shí)，采用互電容掃描技術(shù)重復(fù)檢測(cè)，可以解決“鬼點(diǎn)”問(wèn)題。實(shí)施例二、

請(qǐng)參考圖7，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)裝置，包括:第一檢測(cè)模塊210，用于依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；
計(jì)算模塊220，用于根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。其中，所述第一檢測(cè)模塊210具體可以用于驅(qū)動(dòng)一組電極發(fā)出掃描信號(hào)，并通過(guò)發(fā)出掃描信號(hào)的該組電極接收反饋信號(hào)；同時(shí)，還驅(qū)動(dòng)除該組電極以外的所有其它電極發(fā)出相同的掃描信號(hào)。該第一 i檢測(cè)模塊210可以包括:用于驅(qū)動(dòng)一組電極發(fā)出掃描信號(hào)的掃描單元；以及，用于通過(guò)發(fā)出掃描信號(hào)的該組驅(qū)動(dòng)電極接收反饋信號(hào)的接收單元。一種實(shí)施方式中，所述裝置還可以包括:第二檢測(cè)模塊230 ;本方式中，所述第二檢測(cè)模塊230，采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)；所述計(jì)算模塊220，還用于根據(jù)第二檢測(cè)模塊的檢測(cè)結(jié)果確定另一組可能的觸摸位置，將根據(jù)第一和第二檢測(cè)模塊獲得的兩組可能的觸摸位置進(jìn)行比較，排除虛假的觸摸位置，確定準(zhǔn)確的觸摸位置。其中，所述第二檢測(cè)模塊230具體可以用于驅(qū)動(dòng)第一維度上的全部電極依次發(fā)出掃描信號(hào)，并在第一維度上的任一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)第二維度上的N組電極依次接收掃描信號(hào)，其中，第二維度上的任一組電極包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)接收掃描信號(hào)。該第二檢測(cè)模塊230可以包括:用于驅(qū)動(dòng)一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)的掃描單元，；用于通過(guò)一組電極接收掃描信號(hào)的接收單元。以上對(duì)本實(shí)施例提供的電容式觸控設(shè)備檢測(cè)裝置進(jìn)行了簡(jiǎn)單說(shuō)明，更詳細(xì)的說(shuō)明請(qǐng)參考實(shí)施例一中記載的內(nèi)容。在所述電容式·觸控設(shè)備檢測(cè)裝置的基礎(chǔ)上，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種包括該裝置的觸控設(shè)備。綜上，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸控設(shè)備及其檢測(cè)裝置，該裝置將觸摸設(shè)備的多個(gè)維度上的電極都分為多個(gè)組，每個(gè)組的多個(gè)電極同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)，則，在有電源干擾的情況下，同一組內(nèi)多個(gè)電極的檢測(cè)結(jié)果中的電源干擾成分是相關(guān)的，在后續(xù)計(jì)算中就可以通過(guò)一定的算法消除電源干擾，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸位置。進(jìn)一步的，在一組電極進(jìn)行檢測(cè)的同時(shí)，該裝置可以驅(qū)動(dòng)其它所有電極同時(shí)發(fā)出相同的掃描信號(hào)但不進(jìn)行檢測(cè)，以此可以克服水珠干擾的問(wèn)題。更進(jìn)一步的，在確定的一組可能的觸摸位置包括兩個(gè)以上，該裝置可以采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)，以此可以解決“鬼點(diǎn)”問(wèn)題。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實(shí)施例的各種方法中的全部或部分步驟可以通過(guò)硬件來(lái)完成，也可以通過(guò)程序指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，該程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括:只讀存儲(chǔ)器、隨機(jī)讀取存儲(chǔ)器、磁盤(pán)或光盤(pán)等。以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法和裝置以及電容式觸控設(shè)備進(jìn)行了詳細(xì)介紹，但以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想，不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法，其特征在于，包括: 依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)； 根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)包括: 驅(qū)動(dòng)一組電極發(fā)出掃描信號(hào)，并通過(guò)該組電極接收反饋信號(hào)；同時(shí)，還驅(qū)動(dòng)除該組電極以外的所有其它電極發(fā)出相同的掃描信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，如果確定的一組可能的觸摸位置包括兩個(gè)以上，則所述方法還包括: 采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)，確定另一組可能的觸摸位置； 將獲得的兩組可能的觸摸位置進(jìn)行比較，排除虛假的觸摸位置，確定準(zhǔn)確的觸摸位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述的采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)包括: 驅(qū)動(dòng)第一維度上的全部電極依次發(fā)出掃描信號(hào)，并在第一維度上任一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)第二維度上的N組電極依次接收掃描信號(hào)，其中，第二維度上的任一組電極包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)接收掃描信號(hào)。
5.一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)裝置，其特征在于，包括: 第一檢測(cè)模塊，用于依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)； 計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于: 所述第一檢測(cè)模塊具體用于驅(qū)動(dòng)一組電極發(fā)出掃描信號(hào)，并通過(guò)發(fā)出掃描信號(hào)的該組電極接收反饋信號(hào)；同時(shí)，還驅(qū)動(dòng)除該組電極以外的所有其它電極發(fā)出相同的掃描信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的裝置，其特征在于，還包括: 第二檢測(cè)模塊，用于采用互電容掃描技術(shù)再次進(jìn)行檢測(cè)； 所述計(jì)算模塊，還用于根據(jù)第二檢測(cè)模塊的檢測(cè)結(jié)果確定另一組可能的觸摸位置，將獲得的兩組可能的觸摸位置進(jìn)行比較，排除虛假的觸摸位置，確定準(zhǔn)確的觸摸位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于: 所述第二檢測(cè)模塊具體用于驅(qū)動(dòng)第一維度上的全部電極依次發(fā)出掃描信號(hào)，并在第一維度上的任一個(gè)電極發(fā)出掃描信號(hào)的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)第二維度上的N組電極依次接收掃描信號(hào)，其中，第二維度上的任一組電極包括的兩個(gè)以上電極同時(shí)接收掃描信號(hào)。
9.一種電容式觸控設(shè)備，其特征在于，包括:如權(quán)利要求5至8中任一所述的裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種電容式觸控設(shè)備檢測(cè)方法，包括依次驅(qū)動(dòng)第一維度上的M組電極和第二維度上的N組電極進(jìn)行檢測(cè)，其中，M和N均為自然數(shù)，任一組電極所包括的兩個(gè)以上電極均同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；根據(jù)所述第一和第二維度上各組電極的檢測(cè)結(jié)果，分別計(jì)算觸摸位置的第一和第二維度坐標(biāo)數(shù)據(jù)，確定一組可能的觸摸位置。本發(fā)明實(shí)施例還提供相應(yīng)的裝置。本發(fā)明技術(shù)方案可以消除電源干擾，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸位置。
文檔編號(hào)G06F3/044GK103226424SQ20131013405
公開(kāi)日2013年7月31日 申請(qǐng)日期2013年4月17日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月17日
發(fā)明者莫良華, 劉衛(wèi)平 申請(qǐng)人:敦泰科技有限公司