總數(shù)據(jù)版圖中的rom代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,將1存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,得到總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各個存儲單元的解碼值;將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果。本發(fā)明還公開了一種總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng)。本發(fā)明,進行一次文本比較,就可以準確驗證總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形是否正確,整個過程可以完全自動化,快速方便。
【專利說明】總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法及系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種半導體物理版圖數(shù)據(jù)處理技術,特別涉及總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法及系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]ROM (Read-Only Memory,只讀存儲器)所存儲的信息,在正常情況下只能讀取,不能隨意改變。它所存儲的信息是在特殊條件下生成的,即使停電其存儲信息也不會丟失,是一種非揮發(fā)性的存儲器,適用于存儲固定不變的程序和數(shù)據(jù)。ROM代碼(ROM Code)是ROM所要存儲的信息內容。
[0003]ROM代碼數(shù)據(jù)處理流程,是把客戶所提供的ROM代碼數(shù)據(jù)(通常為16進制數(shù)據(jù))變成物理圖形的過程,ROM存貯單元類型可以是Code P (離子注入型)、Metal切換(金屬切換型)、Diffusion切換(擴散層切換)或其他形式。
[0004]ROM代碼數(shù)據(jù)圖形生成后,需要和主數(shù)據(jù)圖形合并后形成總數(shù)據(jù)版圖,由于可能發(fā)生忘記合并ROM代碼數(shù)據(jù)圖形、合并其他的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形等情形,在形成總數(shù)據(jù)版圖后需要對總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的進行校驗;
[0005]現(xiàn)有的對總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的進行校驗的方法是,在顯示的總版圖上通過目視觀看ROM代碼圖形是否存在差錯,這樣做只是隨機挑選總版圖上的ROM代碼圖形的幾個點看一下,并不能保證總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形完全正確。
【發(fā)明內容】
[0006]本發(fā)明要解決的技術問題是快速、準確驗證總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形是否正確。
[0007]為解決上述技術問題,本發(fā)明提供了一種總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形對應于M行存儲單元,每一行對應于N個存儲單元,M、N為正整數(shù),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法包括以下步驟:
[0008]一.1=l, j=l ;
[0009]二、將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形,同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,如果總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形為I存儲狀態(tài)數(shù)據(jù)圖形,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為1,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為O ;
[0010]三.j自增I;如果j小于等于N,則進行步驟二,否則進行步驟四;
[0011]四.1自增1,如果i小于等于M,則j賦值為1,進行步驟二,否則進行步驟五;
[0012]五.輸出總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值。
[0013]較佳的,步驟五之后,將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果;[0014]如果相應各存儲單元的解碼值同原始值都一致,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形正確,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形錯誤。
[0015]較佳的,N等于8。
[0016]為解決上述技術問題,本發(fā)明還提供了一種總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形對應于M行存儲單元,每一行對應于N個存儲單元,M、N為正整數(shù),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng),包括一解碼模塊、一驗證比較模塊;
[0017]所述解碼模塊,工作過程如下:
[0018]一.1=l, j=l ;
[0019]二、將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形,同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,如果總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形為I存儲狀態(tài)數(shù)據(jù)圖形,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為1,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為O ;
[0020]三.j自增I ;如果j小于等于N,則進行步驟二,否則進行步驟四;
[0021]四.1自增1,如果i小于等于M,則j賦值為1,進行步驟二,否則進行步驟五;
[0022]五.輸出總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值;
[0023]所述驗證比較模塊,用于將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果;
[0024]如果相應各存儲單元的解碼值同原始值都一致,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形正確,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形錯誤。
[0025]本發(fā)明的總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法及系統(tǒng),將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,得到總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各個存儲單元的解碼值;將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果;進行一次文本比較,就可以準確驗證總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形是否正確,整個過程可以完全自動化,快速方便。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]為了更清楚地說明本發(fā)明的技術方案,下面對本發(fā)明所需要使用的附圖作簡單的介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0027]圖1是總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的一行示意圖;
[0028]圖2是存儲單元數(shù)據(jù)圖形布爾與運算示意圖;
[0029]圖3是本發(fā)明的總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法一實施例示意圖。【具體實施方式】
[0030]下面將結合附圖,對本發(fā)明中的技術方案進行清楚、完整的描述,顯然,所描述的實施例是本發(fā)明的一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0031]實施例一
[0032]ROM代碼數(shù)據(jù)圖形和主數(shù)據(jù)圖形合并后形成總數(shù)據(jù)版圖。
[0033]總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形對應于M行存儲單元,每一行對應于N個存儲單元,圖1所示為一行對應于8個存儲單元,N、M為正整數(shù),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,如圖3所示,包括以下步驟:
[0034]一.1=l,j=l;
[0035]二、將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形,同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,如果總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形為I存儲狀態(tài)數(shù)據(jù)圖形,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為1,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為0,如圖2所示;
[0036]三.j自增I ;如果j小于等于N,則進行步驟二,否則進行步驟四;
[0037]四.1自增1,如果i小于等于M,則j賦值為1,進行步驟二 ;否則進行步驟五;
[0038]五.輸出總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值;
[0039]六.將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果;
[0040]如果相應各存儲單元的解碼值同原始值都一致,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形正確,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形錯誤。
[0041]實施例二
[0042]總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形對應于M行存儲單元,每一行對應于N個存儲單元,M、N為正整數(shù),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng),包括一解碼模塊、一驗證比較模塊;
[0043]所述解碼模塊,工作過程如下:
[0044]一.1=l,j=l;
[0045]二、將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形,同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,如果總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形為I存儲狀態(tài)數(shù)據(jù)圖形,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為1,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為O ;
[0046]三.j自增I ;如果j小于等于N,則進行步驟二,否則進行步驟四;
[0047]四.1自增1,如果i小于等于M,則j賦值為1,進行步驟二,否則進行步驟五;
[0048]五.輸出總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值;
[0049]所述驗證比較模塊,用于將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果;
[0050]如果相應各存儲單元的解碼值同原始值都一致,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形正確,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形錯誤。
[0051]較佳的,N等于8。[0052]本發(fā)明的總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法及系統(tǒng),將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,得到總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各個存儲單元的解碼值;將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果;進行一次文本比較,就可以準確驗證總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形是否正確,整個過程可以完全自動化,快速方便。
[0053]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內,所做的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發(fā)明保護的范圍之內。
【權利要求】
1.一種總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形對應于M行存儲單元,每一行對應于N個存儲單元,M、N為正整數(shù),其特征在于,總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法包括以下步驟:
一.1=l, j=l ; 二.將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形,同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,如果總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形為I存儲狀態(tài)數(shù)據(jù)圖形,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為1,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為O ; 三.j自增I;如果j小于等于N,則進行步驟二,否則進行步驟四; 四.1自增1,如果i小于等于M,則j賦值為1,進行步驟二,否則進行步驟五; 五.輸出總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值。
2.根據(jù)權利要求1所述的總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,其特征在于, 步驟五之后,將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果; 如果相應各存儲單元的解碼值同原始值都一致,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形正確,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形錯誤。
3.根據(jù)權利要求1所述·的總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,其特征在于,N等于8。
4.一種總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng),總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形對應于M行存儲單元,每一行對應于N個存儲單元,M、N為正整數(shù),其特征在于, 總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗系統(tǒng),包括一解碼模塊、一驗證比較模塊; 所述解碼模塊,工作過程如下:
一.1=l, j=l ; 二.將I存儲狀態(tài)的數(shù)據(jù)圖形,同總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形進行布爾與運算,如果總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的對應于第j行第i個存儲單元的數(shù)據(jù)圖形為I存儲狀態(tài)數(shù)據(jù)圖形,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為1,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的第j行第i列存儲單元的解碼值為O ; 三.j自增I;如果j小于等于N,則進行步驟二,否則進行步驟四; 四.1自增1,如果i小于等于M,則j賦值為1,進行步驟二,否則進行步驟五; 五.輸出總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值; 所述驗證比較模塊,用于將總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的各存儲單元的解碼值,同樣本ROM代碼數(shù)據(jù)中的相應各存儲單元的原始值分別比較,得到驗證結果; 如果相應各存儲單元的解碼值同原始值都一致,則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形正確,否則總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形錯誤。
5.根據(jù)權利要求4所述的總數(shù)據(jù)版圖中的ROM代碼數(shù)據(jù)圖形的校驗方法,其特征在于,N等于8。
【文檔編號】G06F17/50GK103853866SQ201210525187
【公開日】2014年6月11日 申請日期:2012年12月7日 優(yōu)先權日:2012年12月7日
【發(fā)明者】張興洲, 倪凌云, 孫長江 申請人:上海華虹宏力半導體制造有限公司