觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置，該方法包括：偵測(cè)多條第一感測(cè)軸線以及多條第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)；偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小和位置；判斷出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)；建立一門限值，其中該門限值＝該最大電容信號(hào)×一彈性參數(shù)＋該最小電容信號(hào)×(1–該彈性參數(shù))，該彈性參數(shù)為介于0到1之間的常數(shù)；以及判斷大于該門限值的該些候選觸控點(diǎn)為真實(shí)觸控點(diǎn)。
【專利說(shuō)明】觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及觸控面板的設(shè)計(jì)技術(shù)，尤其涉及一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來(lái),一般用于觸控裝置的電容式觸控面板(Capacitance Touch Panel),主要是以玻璃基板組成，并在玻璃基板上鍍有一組依序排列并垂直布置的多條第一感測(cè)軸線與一組依序排列并水平布置的第二感測(cè)軸線。其中該些第一感測(cè)軸線與該些第二感測(cè)軸線所交越的位置在該玻璃基板上形成多個(gè)交會(huì)點(diǎn)。
[0003]當(dāng)使用者以手指觸摸觸控面板時(shí)，會(huì)在其所觸摸的觸控點(diǎn)上改變第一感測(cè)軸線與第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)；再用一觸控裝置內(nèi)的電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器(Charge SensingDriver)來(lái)感測(cè)上述第一感測(cè)軸線與第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，以確定觸控面板是否被用戶觸摸，觸控裝置并根據(jù)用戶在觸控面板上觸摸的運(yùn)動(dòng)方式來(lái)決定用戶欲觸發(fā)的指令。
[0004]一種使用自容式(Self Mode)的電容式觸控面板，其具有單點(diǎn)觸控的特性，亦即可于觸控面板上提供單點(diǎn)感測(cè)的功能，但是用于支持多點(diǎn)觸控的觸控面板時(shí)，卻在判斷觸控點(diǎn)位置易有產(chǎn)生鬼點(diǎn)(Ghost Point)的問(wèn)題。
[0005]請(qǐng)參閱圖1，為現(xiàn)有的鬼點(diǎn)形成的示意圖。觸控面板900具有位在橫軸上的第一感測(cè)軸線，分別為Xl及X2 ;與位在縱軸上的第二感測(cè)軸線，分別為Yl及Y2。當(dāng)使用者同時(shí)以兩指觸碰觸控面板900時(shí)，兩觸控點(diǎn)會(huì)分別于第一感測(cè)軸線(XI及X2)以及第二感測(cè)軸線(Yl及Y2)各產(chǎn)生兩波峰，交會(huì)計(jì)算后則會(huì)產(chǎn)生四個(gè)候選觸控點(diǎn)，其中兩個(gè)為真實(shí)觸控點(diǎn)Al及A4，其余兩個(gè)則為假性觸控點(diǎn)A2及A3，即所謂的鬼點(diǎn)，因此容易造成觸控點(diǎn)位置的誤判。若更進(jìn)一步于三點(diǎn)觸控的情形下，就會(huì)衍生出六個(gè)假性觸控點(diǎn)，這也說(shuō)明了在更多觸控點(diǎn)的情形下，真實(shí)觸控點(diǎn)位置的誤判也更為嚴(yán)重。
[0006]另一種技術(shù)為互容式(Mutual Mode)的感測(cè)方式，具有多點(diǎn)觸控的特性，表示可以在觸控面板上提供一個(gè)以上的觸控點(diǎn)于觸控面板。如圖2所示，為使用互容式的觸控面板。觸控面板800上垂直布置的第一感測(cè)軸線，分別為X1、X2及X3 ;與水平布置的第二感測(cè)軸線，分別為Y1、Y2及Υ3。因?yàn)榛ト菔降挠|控點(diǎn)偵測(cè)方式是采取類似TFT-1XD顯示器的主動(dòng)掃描方式，例如，掃描縱軸上的第二感測(cè)軸線Yl時(shí)，依序偵測(cè)橫軸上的第一感測(cè)軸線Χ1、Χ2及Χ3的電容信號(hào)，便可得到真實(shí)觸控點(diǎn)Β2 ;再掃描縱軸上的感測(cè)軸線Υ2時(shí)，再依序偵測(cè)橫軸上的感測(cè)軸線Χ1、Χ2及Χ3的電容信號(hào)，便可得到真實(shí)觸控點(diǎn)BI ;最后再掃描縱軸上的感測(cè)軸線Υ3時(shí)，再依序偵測(cè)橫軸上的感測(cè)軸線X1、Χ2及Χ3的電容信號(hào)，發(fā)現(xiàn)并無(wú)任何觸控點(diǎn)。
[0007]如此一來(lái)便不會(huì)有因?yàn)樽匀菔礁袦y(cè)的方式而造成的鬼點(diǎn)現(xiàn)象，然而，由于需要對(duì)第一感測(cè)軸線以及第二感測(cè)軸線以依序掃描的方式個(gè)別進(jìn)行電容信號(hào)大小的偵測(cè)，使得電容式觸控面板在偵測(cè)多點(diǎn)觸控的接觸點(diǎn)時(shí)相當(dāng)?shù)暮馁M(fèi)時(shí)間，因此互容偵測(cè)技術(shù)并不適用于含有大量橫軸/縱軸感應(yīng)線的電容式觸控面板。[0008]此外，電容式觸控面板主要的缺點(diǎn)在于對(duì)環(huán)境敏感度高，因此當(dāng)環(huán)境因素，例如溫度、濕度或環(huán)境電場(chǎng)改變時(shí)，都會(huì)造成電容式觸控面板的信號(hào)漂移或產(chǎn)生噪聲，直接影響電容式觸控面板的準(zhǔn)確度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置，以解決前述的問(wèn)題。
[0010]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，該觸控面板具有依序排列的多條第一感測(cè)軸線以及依序排列的多條第二感測(cè)軸線，且該些第一感測(cè)軸線交越于該些第二感測(cè)軸線，其中多點(diǎn)觸控的位置判斷方法包括下列步驟:偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)；偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小和位置；判斷出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)；建立一門限值，其中該門限值=該最大電容信號(hào)X —彈性參數(shù)+該最小電容信號(hào)X (1-該彈性參數(shù))，該彈性參數(shù)為介于O到I之間的常數(shù)；以及判斷電信號(hào)號(hào)大于該門限值的該些候選觸控點(diǎn)為真實(shí)觸控點(diǎn)。
[0011]其中:其中該彈性參數(shù)為介于0.25到0.75之間的常數(shù)。該彈性參數(shù)為0.5。
[0012]更包括下列步驟:偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)高于一預(yù)設(shè)數(shù)值時(shí)，得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)。
[0013]更包括下列步驟:判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量，是否大于或等于4。
[0014]一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷裝置，該觸控面板具有依序排列的多條第一感測(cè)軸線以及依序排列的多條第二感測(cè)軸線，且該些第一感測(cè)軸線交越于該些第二感測(cè)軸線，其中該位置判斷裝置包括:一自容式偵測(cè)模塊，電性連接該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線，用以偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，并找出多個(gè)候選觸控點(diǎn)；一互容式偵測(cè)模塊，電性連接該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線，用以偵測(cè)該些多個(gè)候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小及位置；一取樣模塊，電性連接該互容式偵測(cè)模塊，用以從該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)中，找出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)；一計(jì)算模塊，電性連接該取樣模塊，并依據(jù)該最大電容信號(hào)以及該最小電容信號(hào)得到一門限值，其中該門限值=該最大電容信號(hào)X —彈性參數(shù)+該最小電容信號(hào)X (1-該彈性參數(shù))，該彈性參數(shù)為介于O到I之間的常數(shù)；以及一比較模塊，電性連接該計(jì)算模塊以及該互容式偵測(cè)模塊，用以比較該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)是否大于該門限值，以判斷該些觸控點(diǎn)的位置。
[0015]其中:該彈性參數(shù)為介于0.25到0.75之間的常數(shù)。該彈性參數(shù)為0.5。
[0016]所述的該自容式偵測(cè)模塊判斷該些第一感測(cè)軸線及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，是否高于一預(yù)設(shè)數(shù)值。該自容式偵測(cè)模塊用以判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量，是否大于或等于4。
[0017]本發(fā)明的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置的效果在于，在使用觸控面板時(shí)，偵測(cè)觸控面板上的觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小，得到一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)，再利用一公式計(jì)算得到一門限值。只要大于該門限值的觸控點(diǎn)的電容信號(hào)，就判定為實(shí)際的觸控點(diǎn)。因此可用以取得兩點(diǎn)以上的觸控點(diǎn)的位置，以提升觸控面板的準(zhǔn)確性并避免鬼點(diǎn)產(chǎn)生之疑慮。因?yàn)槊看斡?jì)算的訊算不同而得出的門限值也會(huì)有所不同，因此可降低觸控面板因受環(huán)境因素(例如溫度、濕度或環(huán)境電場(chǎng)改變)影響而造成的誤判，進(jìn)而提升觸控面板的精確度。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1為現(xiàn)有的鬼點(diǎn)形成的示意圖。
[0019]圖2為使用互容式的觸控面板。
[0020]圖3為本發(fā)明實(shí)施例的電容式觸控面板示意圖。
[0021 ] 圖4為電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器之電路示意圖。
[0022]圖5為本發(fā)明實(shí)施例的電容式觸控面板部分示意圖。
[0023]圖6為本發(fā)明之位置判斷裝置之裝置架構(gòu)圖。
[0024]圖7為本發(fā)明多點(diǎn)觸控的位置判斷方法流程圖。
[0025]【主要組件符號(hào)說(shuō)明】
100:觸控面板200:位置判斷裝置
210:電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器 211 計(jì)數(shù)器 220:自容式偵測(cè)模塊 230:互容式偵測(cè)模塊 240:取樣模塊250:計(jì)算模塊
260:比較模塊800:觸控面板
900:觸控面板
A1、A2、A3、A4、B1、B2、P1、P2、P3、P4:觸控點(diǎn)
Cs:觸碰電容
Co:輸出電容
OPl:比較器
R:電阻
Sffl:第一開關(guān)
SW2:第二開關(guān)
SW3:第三開關(guān)
Vdd:電源
Vref:參考電壓
X、X1、X2、X3:第一感測(cè)軸線
Y、Y1、Y2、Y3:第二感測(cè)軸線
S200~S210:步驟。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面結(jié)合附圖及本發(fā)明的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的方法及其裝置作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0027]請(qǐng)參閱圖3，為本發(fā)明實(shí)施例的電容式觸控面板示意圖。觸控面板100具有一位置判斷裝置200、多條第一感測(cè)軸線X以及多條第二感測(cè)軸線Y ;該些第一感測(cè)軸線X依序排列并垂直布置；該些第二感測(cè)軸線Y依序排列并水平布置；且該些第一感測(cè)軸線X交越于該些第二感測(cè)軸線Y。位置判斷裝置200用以電性連接該些第一感測(cè)軸線X以及該些第二感測(cè)軸線Y。
[0028]位置判斷裝置200用來(lái)感測(cè)上述第一感測(cè)軸線X與第二感測(cè)軸線Y的電容信號(hào)大小，以確定是否被使用者以手指所觸摸，并根據(jù)使用者觸摸的運(yùn)動(dòng)方式來(lái)決定用戶欲觸發(fā)的指令。
[0029]位置判斷裝置200會(huì)將各個(gè)第一感測(cè)軸線X以及第二感測(cè)軸線Y的電容信號(hào)大小記錄到位置判斷裝置200內(nèi)的內(nèi)存當(dāng)中，但這個(gè)記錄數(shù)據(jù)并不是以單純的電容值來(lái)儲(chǔ)存，而是透過(guò)位置判斷裝置200內(nèi)部的電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器(Charge Sensing Driver),將偵測(cè)到電容值轉(zhuǎn)變?yōu)橛?jì)數(shù)器的計(jì)算次數(shù)，作為判斷觸控面板100電容信號(hào)的表示依據(jù)。
[0030]圖4為電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器之電路示意圖。電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器210包括第一開關(guān)SWl、第二開關(guān)SW2、第三開關(guān)SW3、輸出電容Co、一電阻R、一比較器OPl以及一計(jì)數(shù)器211。
[0031]圖4的電路示意圖中我們可以看到觸碰電容Cs，該觸碰電容Cs表示觸控面板上某條感測(cè)軸線的電容值。電容感應(yīng)驅(qū)動(dòng)器210的動(dòng)作為導(dǎo)通第一開關(guān)SWl并截止第二開關(guān)SW2，使電源Vdd先對(duì)觸碰電容Cs充電。之后再截止第一開關(guān)SWl并導(dǎo)通第二開關(guān)SW2，使觸碰電容Cs對(duì)輸出電容Co放電，讓輸出電容Co的端點(diǎn)電壓與觸碰電容Cs的端點(diǎn)電壓達(dá)到一致，實(shí)現(xiàn)記錄觸碰電容Cs電容值的目的。
[0032]比較器OPl的一端與輸出電容Co的端點(diǎn)電壓電性連接,而另一端則是接上一個(gè)參考電壓Vref，當(dāng)輸出電容Co的端點(diǎn)電壓的值大于或等于參考電壓Vref時(shí)，比較器OPl就會(huì)輸出一高電壓信號(hào)，使計(jì)數(shù)器211開始作計(jì)數(shù)的動(dòng)作，且第三開關(guān)SW3導(dǎo)通。第三開關(guān)Sff3的導(dǎo)通，使輸出電容Co藉由電阻R進(jìn)行放電，一直到輸出電容Co的端電壓小于參考電壓Vref。重復(fù)以上的動(dòng)作，位置判斷裝置200本身在固定的時(shí)間內(nèi)，便會(huì)依據(jù)觸控面板上的第一感測(cè)軸線X以及多條第二感測(cè)軸線Y得到不同的充放電次數(shù)。當(dāng)Cs變大時(shí)，計(jì)數(shù)器211的計(jì)算次數(shù)變多；相反的，Cs變小時(shí)，計(jì)數(shù)器211的計(jì)算次數(shù)會(huì)變少，我們便是透過(guò)這樣的機(jī)制與數(shù)值，來(lái)判斷投射電容式觸控面板有無(wú)被手指或?qū)щ娢矬w接觸而產(chǎn)生電容信號(hào)的變化。下文所提到的電容信號(hào)表示計(jì)數(shù)器211的計(jì)算次數(shù)，而不是電容本身的電容值或電壓值。
[0033]為方便說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，請(qǐng)參閱圖5，為本發(fā)明實(shí)施例的電容式觸控面板部分示意圖。觸控面板100只顯示具有依序排列的多條第一感測(cè)軸線X1、X2及X3 ;以及依序排列的多條第二感測(cè)軸線Y1、Y2及Υ3。且該些第一感測(cè)軸線Χ1、Χ2及Χ3交越于該些第二感測(cè)軸線Υ1、Υ2及Υ3。
[0034]請(qǐng)參閱圖6，為本發(fā)明之位置判斷裝置之裝置架構(gòu)圖。位置判斷裝置200包括:一自容式偵測(cè)模塊220、一互容式偵測(cè)模塊230、一取樣模塊240、一計(jì)算模塊250以及一比較模塊260。
[0035]請(qǐng)同時(shí)參閱圖5及圖6。自容式偵測(cè)模塊220電性連接觸控面板100上的該些第一感測(cè)軸線X1、Χ2及Χ3以及該些第二感測(cè)軸線Yl、Υ2及Υ3，用以偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線Χ1、Χ2及Χ3以及該些第二感測(cè)軸線Υ1、Υ2及Υ3上的電容信號(hào)大小。假設(shè)使用者在觸控面板100上做觸摸動(dòng)作，將會(huì)產(chǎn)生兩個(gè)真實(shí)觸控點(diǎn)Pl及Ρ4，和兩個(gè)假性觸控點(diǎn)Ρ2及Ρ3。
[0036]自容式偵測(cè)模塊220偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線Χ1、Χ2及Χ3及該些第二感測(cè)軸線Yl、Υ2及Υ3的電容信號(hào)大小，是否高于一預(yù)設(shè)數(shù)值(例如該預(yù)設(shè)數(shù)值為70，但會(huì)因?yàn)殡娐返脑O(shè)計(jì)及零件的選用不同，而設(shè)計(jì)不同的預(yù)設(shè)數(shù)值，因此不以此為限)，并找出多個(gè)候選觸控點(diǎn)。自容式偵測(cè)模塊220偵測(cè)觸控面板100每一觸控點(diǎn)，并將高于預(yù)設(shè)數(shù)值的觸控點(diǎn)判斷為候選觸控點(diǎn)，之后會(huì)再判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量，是否大于或等于4，以確定觸控面板100上是否有兩點(diǎn)以上的觸控點(diǎn)。在本發(fā)明實(shí)例中，假設(shè)用戶觸碰觸控面板100上的觸控點(diǎn)Pl及P4時(shí)，在第一感測(cè)軸線Xl及X2以及第二感測(cè)軸線(Yl及Y2)各產(chǎn)生兩波峰，經(jīng)過(guò)交會(huì)計(jì)算后則會(huì)產(chǎn)生四個(gè)候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4。自容式偵測(cè)模塊220判斷出候選觸控點(diǎn)的數(shù)量大于或等于4，就發(fā)出一信號(hào)給互容式偵測(cè)模塊230，表示觸控面板100上為多點(diǎn)觸控的使用情況。
[0037]互容式偵測(cè)模塊230電性連接觸控面板100上的該些第一感測(cè)軸線X1、X2及X3以及該些第二感測(cè)軸線Y1、Y2及Υ3，用以偵測(cè)該些多個(gè)候選觸控點(diǎn)Ρ1、Ρ2、Ρ3及Ρ4的電容信號(hào)大小，并記錄該些候選觸控點(diǎn)Ρ1、Ρ2、Ρ3及Ρ4的電容信號(hào)大小及位置。
[0038]因?yàn)樽匀菔絺蓽y(cè)模塊220已判斷出4個(gè)候選觸控點(diǎn)Ρ1、Ρ2、Ρ3及Ρ4，所以互容式偵測(cè)模塊230只偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)Ρ1、Ρ2、Ρ3及Ρ4。偵測(cè)方式為，先掃描第二感測(cè)軸線Υ1，再依序的偵測(cè)第一感測(cè)軸線Xl及Χ2，就可得到候選觸控點(diǎn)Ρ3及Ρ4的電容信號(hào)，并記錄候選觸控點(diǎn)Ρ3及Ρ4的電容信號(hào)大小及位置。之后再掃描第二感測(cè)軸線Υ2，再依序的偵測(cè)第一感測(cè)軸線Xl及Χ2，就可得到候選觸控點(diǎn)Pl及Ρ2的電容信號(hào)，并記錄候選觸控點(diǎn)Pl及Ρ2的電容信號(hào)大小及位置。將候選觸控點(diǎn)Pl及Ρ2的電容信號(hào)大小傳到取樣模塊240。
[0039]第一感測(cè)軸線Χ3及第二感測(cè)軸線Υ3上沒(méi)有任何觸控點(diǎn)，因此互容式偵測(cè)模塊230就不須要掃描第一感測(cè)軸線Χ3及第二感測(cè)軸線Υ3，而耗費(fèi)過(guò)多的掃描時(shí)間在沒(méi)有觸控點(diǎn)的感測(cè)軸在線。
[0040]取樣模塊240電性連接該互容式偵測(cè)模塊230，用以從該些候選觸控點(diǎn)Ρ1、Ρ2、Ρ3及Ρ4的電容信號(hào)中，找出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)。
[0041 ] 計(jì)算模塊250電性連接該取樣模塊240，并接收取樣模塊240所找出的最大電容信號(hào)以及最小電容信號(hào)。該最大電容信號(hào)以及該最小電容信號(hào)依據(jù)計(jì)算模塊250內(nèi)的一計(jì)算公式得到一門限值(threshold value)。在本發(fā)明實(shí)施例中該公式為:
門限值=最大電容信號(hào)X彈性參數(shù)+最小電容信號(hào)X (1-彈性參數(shù))；其中該彈性參數(shù)可為O到I之間的常數(shù)；較佳地，該彈性參數(shù)為介于0.25到0.75之間的常數(shù)；最佳地，該彈性參數(shù)可為0.5的常數(shù)。
[0042]比較模塊260電性連接該互容式偵測(cè)模塊230以及該計(jì)算模塊250。用以比較該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)是否大于該門限值，以判斷實(shí)際在該觸控面板100上觸控點(diǎn)的位置。在本發(fā)明實(shí)施例中，比較模塊260判斷該些候選觸控點(diǎn)Pl及P4為真實(shí)觸控點(diǎn)，其他的該些候選觸控點(diǎn)P2及P3為假性觸控點(diǎn)。
[0043]圖7為本發(fā)明多點(diǎn)觸控的位置判斷方法流程圖。為一種應(yīng)用于一觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，請(qǐng)同時(shí)參閱圖5及圖6。為一種應(yīng)用于一觸控面板100的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，該觸控面板100具有依序排列的多條第一感測(cè)軸線Xl、X2及X3以及依序排列的多條第二感測(cè)軸線X1、X2及X3，且該些第一感測(cè)軸線X1、X2及X3交越于該些第二感測(cè)軸線X1、X2及X3，其中多點(diǎn)觸控的位置判斷方法包括下列步驟:
步驟S200，偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線X1、X2及X3以及該些第二感測(cè)軸線Y1、Y2及Υ3上的電容信號(hào)，得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)。于本步驟中，自容式偵測(cè)模塊220判斷該些第一感測(cè)軸線X1、X2及X3及該些第二感測(cè)軸線Yl、Y2及Y3的電容信號(hào)大小，是否高于一預(yù)設(shè)數(shù)值(例如該預(yù)設(shè)數(shù)值為70，但會(huì)因?yàn)殡娐返脑O(shè)計(jì)及零件的選用不同，而設(shè)計(jì)不同的預(yù)設(shè)數(shù)值，因此不以此為限)，并經(jīng)過(guò)比較后得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)。在本發(fā)明實(shí)例中，自容式偵測(cè)模塊220判斷出四個(gè)候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4。
[0044]步驟S202，判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量，是否大于或等于4。于本步驟中，自容式偵測(cè)模塊220判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量是否大于或等于4，當(dāng)候選觸控點(diǎn)的數(shù)量大于或等于4時(shí)，表示觸控面板100上至少有兩個(gè)位置被觸摸，就進(jìn)行步驟S204 ;當(dāng)候選觸控點(diǎn)的數(shù)量小于4時(shí)，表示觸控面板100上只有一位置被觸摸，就回到步驟S200。在本發(fā)明實(shí)例中，自容式偵測(cè)模塊220判斷出有4個(gè)候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4，就進(jìn)行步驟S204。
[0045]步驟S204，偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小和位置。于本步驟中，互容式偵測(cè)模塊230進(jìn)行偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小和位置。在本發(fā)明實(shí)例中，互容式偵測(cè)模塊230各別偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4的電容信號(hào)大小，并記錄該些候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4的電容信號(hào)大小及對(duì)應(yīng)該些候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4的位置。
[0046]步驟S206，判斷出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)。于本步驟中，取樣模塊240依據(jù)互容式偵測(cè)模塊230內(nèi)所記錄的該些電容信號(hào)，判斷出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)。在本發(fā)明實(shí)例中，取樣模塊240由該些候選觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4的電容信號(hào)中判斷出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)。
[0047]步驟S208,建立一門限值(threshold value)。于本步驟中，計(jì)算模塊250設(shè)定一公式及一彈性參數(shù)，該彈性參數(shù)可介于O到I之間的常數(shù)；較佳地，該彈性參數(shù)為介于0.25到0.75之間的常數(shù)；最佳地，該彈性參數(shù)可為0.5的常數(shù)；將該彈性參數(shù)、該最大電容信號(hào)以及該最小電容信號(hào)帶入該公式，以得到該門限值。在本發(fā)明實(shí)施例中該公式為:
門限值=最大電容信號(hào)X彈性參數(shù)+最小電容信號(hào)X (1-彈性參數(shù))。
[0048]步驟S210，判斷電容信號(hào)大于該門限值的候選觸控點(diǎn)為真實(shí)觸控點(diǎn)。于本步驟中，比較模塊260各別判斷該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)是否大于門限值，大于門限值的候選觸控點(diǎn)為真實(shí)觸控點(diǎn)；小于門限值的候選觸控點(diǎn)為假性觸控點(diǎn)。本發(fā)明實(shí)施例中，真實(shí)觸控點(diǎn)Pl及P4的電容信號(hào)大于門限值，假性觸控點(diǎn)P2及P3小于門限值。
[0049]下面將以假設(shè)情況說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施方式:
第一情況，請(qǐng)同時(shí)參閱圖5。假設(shè):彈性參數(shù)為0.5、觸控點(diǎn)Pl的電容信號(hào)為140、觸控點(diǎn)P2的電容信號(hào)為20、觸控點(diǎn)P3的電容信號(hào)為30及觸控點(diǎn)P4的電容信號(hào)為150。
[0050]由步驟S206得到最大電容信號(hào)為150 ;最小電容信號(hào)為20。
[0051]由步驟S208，將最大電容信號(hào)、最小電容信號(hào)及彈性參數(shù)代入公式:門限值=最大電容信號(hào)X彈性參數(shù)十最小電容信號(hào)X (1-彈性參數(shù))；
門限值=150X 0.5 + 20X (1- 0.5)；
門限值=85。
[0052]由步驟S210，將觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4的電容信號(hào)作和門限值作比較:觸控點(diǎn)Pl及P4大于門限值為真實(shí)觸控點(diǎn)；觸控點(diǎn)P2及P3小于門限值為假性觸控點(diǎn)。
[0053]第二情況，請(qǐng)同時(shí)參閱圖5。假設(shè):彈性參數(shù)為0.5、觸控點(diǎn)Pl的電容信號(hào)為130、觸控點(diǎn)P2的電容信號(hào)為10、觸控點(diǎn)P3的電容信號(hào)為20及觸控點(diǎn)P4的電容信號(hào)為140。(發(fā)明人提供的數(shù)據(jù)與第一情況相同，因此本所將P1、P2、P3及P4的數(shù)值改為130、10、20及 140)
由步驟S206得到最大電容信號(hào)為140 ;最小電容信號(hào)為10。
[0054]由步驟S208，將最大電容信號(hào)、最小電容信號(hào)及彈性參數(shù)代入公式:門限值=最大電容信號(hào)X彈性參數(shù)十最小電容信號(hào)X (1-彈性參數(shù))；
門限值=140X 0.5 + IOX (1- 0.5)；
門限值=75。
[0055]由步驟S210，將觸控點(diǎn)P1、P2、P3及P4的電容信號(hào)和門限值作比較:觸控點(diǎn)Pl及P4大于門限值為真實(shí)觸控點(diǎn)；觸控點(diǎn)P2及P3小于門限值為假性觸控點(diǎn)。
[0056]由上述第一情況及第二情況得知，門限值會(huì)依據(jù)不同的電容信號(hào)大小，會(huì)有不同的結(jié)果。
[0057]由上述可知，本發(fā)明的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法及其裝置的效果在于，在使用觸控面板時(shí)，偵測(cè)觸控面板上的觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小，得到一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)，再利用一公式計(jì)算得到一門限值。只要大于該門限值的觸控點(diǎn)的電容信號(hào)，就判定為實(shí)際的觸控點(diǎn)。因此可用以取得兩點(diǎn)以上之觸控點(diǎn)的位置，以提升觸控面板的準(zhǔn)確性并避免鬼點(diǎn)產(chǎn)生之疑慮。因?yàn)槊看斡?jì)算的電容信號(hào)大小不同而得出的門限值也會(huì)有所不同，因此可降低觸控面板因受環(huán)境因素(例如溫度、濕度或環(huán)境電場(chǎng)改變)影響而造成的誤判，進(jìn)而提升觸控面板的精確度。
[0058]以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，該觸控面板具有依序排列的多條第一感測(cè)軸線以及依序排列的多條第二感測(cè)軸線，且該些第一感測(cè)軸線交越于該些第二感測(cè)軸線，其特征在于，該多點(diǎn)觸控的位置判斷方法包括: 偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)； 偵測(cè)該些候選觸控點(diǎn)，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小和位置； 判斷出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)； 建立一門限值，其中該門限值=該最大電容信號(hào)X —彈性參數(shù)+該最小電容信號(hào)X (1-該彈性參數(shù))，該彈性參數(shù)為介于O到I之間的常數(shù)；以及判斷電容信號(hào)大于該門限值的該些候選觸控點(diǎn)為真實(shí)觸控點(diǎn)。
2.如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，其特征在于，其中該彈性參數(shù)為介于0.25到0.75之間的常數(shù)。
3.如權(quán)利要求2所述的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，其特征在于，其中該彈性參數(shù)為0.5。
4.如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，其特征在于，其中更包括下列步驟:偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)高于一預(yù)設(shè)數(shù)值時(shí)，得到多個(gè)候選觸控點(diǎn)。
5.如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控的位置判斷方法，其特征在于，其中更包括下列步驟:判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量，是否大于或等于4。
6.一種觸控面板的多點(diǎn)觸控的位置判斷裝置，該觸控面板具有依序排列的多條第一感測(cè)軸線以及依序排列的多條第二感測(cè)軸線，且該些第一感測(cè)軸線交越于該些第二感測(cè)軸線，其特征在于，該位置判斷裝置包括: 一自容式偵測(cè)模塊，電性連接該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線，用以偵測(cè)該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，并找出多個(gè)候選觸控點(diǎn)； 一互容式偵測(cè)模塊，電性連接該些第一感測(cè)軸線以及該些第二感測(cè)軸線，用以偵測(cè)該些多個(gè)候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)，并記錄該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)大小及位置； 一取樣模塊，電性連接該互容式偵測(cè)模塊，用以從該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)中，找出一最大電容信號(hào)以及一最小電容信號(hào)； 一計(jì)算模塊，電性連接該取樣模塊，并依據(jù)該最大電容信號(hào)以及該最小電容信號(hào)得到一門限值，其中該門限值=該最大電容信號(hào)X —彈性參數(shù)+該最小電容信號(hào)X (1-該彈性參數(shù))，該彈性參數(shù)為介于O到I之間的常數(shù)；以及 一比較模塊，電性連接該計(jì)算模塊以及該互容式偵測(cè)模塊，用以比較該些候選觸控點(diǎn)的電容信號(hào)是否大于該門限值，以判斷該些觸控點(diǎn)的位置。
7.如權(quán)利要求6所述多點(diǎn)觸控的位置判斷裝置，其特征在于，該彈性參數(shù)為介于0.25到0.75之間的常數(shù)。
8.如權(quán)利要求7所述多點(diǎn)觸控的位置判斷裝置，其中該彈性參數(shù)為0.5。
9.如權(quán)利要求6所述多點(diǎn)觸控的位置判斷裝置，其特征在于，所述的該自容式偵測(cè)模塊判斷該些第一感測(cè)軸線及該些第二感測(cè)軸線的電容信號(hào)，是否高于一預(yù)設(shè)數(shù)值。
10.如權(quán)利要求6所述多點(diǎn)觸控的位置判斷裝置，其特征在于，其中該自容式偵測(cè)模塊用以判斷該些候選觸控點(diǎn)的數(shù)量，是否大于或等于4。
【文檔編號(hào)】G06F3/044GK103793115SQ201210423394
【公開日】2014年5月14日 申請(qǐng)日期:2012年10月30日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月30日
【發(fā)明者】鍾潤(rùn)世, 陳純熙, 黃建翔, 蔡昆華 申請(qǐng)人:瀚宇彩晶股份有限公司