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觸控點偵測方法

文檔序號:6378648閱讀:126來源:國知局
專利名稱:觸控點偵測方法
觸控點偵測方法技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種觸控點偵測方法,且特別是有關(guān)于一種非數(shù)值運算類型的觸控點偵測方法。
背景技術(shù)
觸控面板的設計原理是在面板上設計多個感測單元,且當感測單元被以特定的方式觸碰時會產(chǎn)生物理變化。舉例來說,當使用光照方式來進行感測時,一旦有物品靠近觸控面,則感測單元所接收到的光通量就可能有所改變;若使用按壓方式來進行感測,則當物品按壓到觸控面時,感測單元就可能產(chǎn)生形變,或者會因為感測單元與觸控面之間的相對距離改變而造成電容量產(chǎn)生變化。在發(fā)現(xiàn)感測單元有物理量變化的時候,這些物理量變化通常會被轉(zhuǎn)換為電子信號而傳遞到處理器進行對應的計算;甚至進一步利用算法,將觸碰的面積信息提供給后端模塊進行與使用者互動方式的設計。
然而,無論是物理量變化本身、對于物理量變化的偵測以及在電子信號傳遞的過程中,都有可能產(chǎn)生各類的噪聲而影響到觸碰面積的判斷,甚至可能造成誤報觸碰點的狀況。有鑒于此,采用差動(differential)來消除噪聲的方式就因應而生。在利用差動來消除噪聲的過程中,會把相鄰的感測單元的輸出信號兩兩相減,借此將共模(common)噪聲去除,因此可以排除共模噪聲所造成的影響。然而,在某些特定的情況,差動技術(shù)并無法有效地消除噪聲的影響。例如,在使用內(nèi)嵌式(in-cell)感測單元的觸控面板時,隨著感測單元的排列方式、畫面的顯示內(nèi)容以及像素驅(qū)動時的極性設計等因素的變化,對于內(nèi)嵌式感測單元的輸出信號都會產(chǎn)生不同的影響。
如圖IA與圖IB所示,圖IA為差動信號的示意圖,圖IB則是由圖IA的差動信號還原而得的感測信號的示意圖。其中,整體差動信號X與整體感測信號S分別包含η個差動信號與η個感測信號,與Xn分別表示第O個、第a個、第b個與第η個差動信號, 而Sa、Sb與Sn分別表示第O個、第a個、第b個與第η個感測信號。整體差動信號X與整體感測信號S之間的關(guān)系滿足以下公式
Sy=Sy-1+Xy
因此,在整體差動信號X本身沒有噪聲干擾的時候,可以還原正確的整體感測信號S。然而,一旦在整體差動信號X中出現(xiàn)了噪聲,則還原的整體感測信號S就會出現(xiàn)問題。 請參考圖IC與圖1D,圖IC顯示在差動信號Xa之前出現(xiàn)了一個突波噪聲?;谝陨瞎?, 這個整體差動信號中的突波噪聲會使得整體感測信號S如圖ID所示在感測信號Sa之前就被向上抬升。假若被抬升的值大于判斷是否為觸碰點時所使用的臨界值,則觸碰點的判斷結(jié)果就會失敗。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種觸控點偵測方法,包括提供包含了第一數(shù)量的預設電位特征的電位特征預設組合,偵測得多個感測單元的多個感測電位特征,判斷按照依一個特定方向3排列的多個感測單元的感測電位特征的排列結(jié)果,最后根據(jù)感測電位特征排列結(jié)果與前述電位特征預設組合之間的關(guān)系的判斷結(jié)果以設定觸控點偵測的結(jié)果。其中,在判斷按照某一個特定方向排列的感測單元的感測電位特征的排列結(jié)果時,先在特定方向上依序取得與感測單元之一及所取感測單元之后的連續(xù)多個感測單元相對應、總數(shù)共為第二數(shù)量的感測電位特征,之后判斷這些感測電位特征與前述電位特征預設組合中位于相對應位置的預設電位特征是否相符。接下來,在此特定方向上,從此次所取的感測單元中的第一個往后計數(shù)第三數(shù)量后開始,重復進行前述的感測電位特征取得及判斷是否相符的操作,直到取得此特定方向上排列的所有需進行判斷的感測單元的感測電位特征為止。最后根據(jù)前述判斷感測單元的感測電位特征排列結(jié)果以設定觸控點偵測的結(jié)果。其中,前述的第一數(shù)量大于第二數(shù)量。
上述的觸控點偵測方法,其中該些感測電位特征包括對應的該感測單元的感測電位與一特定電位之間的大小關(guān)系。
上述的觸控點偵測方法,其中該特定電位為一接地電位。
上述的觸控點偵測方法,其中該特定電位為一噪聲電位。
上述的觸控點偵測方法,其中根據(jù)判斷該些感測單元的該第二數(shù)量感測電位特征排列結(jié)果而設定觸控點偵測的結(jié)果,包括若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測電位特征與該電位特征預設組合中位于相對應位置的該些預設電位特征為相符的次數(shù)不小于一預設門坎值, 則判斷連續(xù)相符之處所對應的該些感測單元受到觸碰;以及若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測電位特征與該電位特征預設組合中位于相對應位置的該些預設電位特征為相符的次數(shù)小于該預設門坎值,則判斷連續(xù)相符之處所對應的該些感測單元未受到觸碰。
上述的觸控點偵測方法,其中當判斷連續(xù)相符之處所對應的該些感測單元未受到觸碰時,更將判斷連續(xù)相符之處所對應的一部分輸出信號的電位設定為一特定電位。
上述的觸控點偵測方法,其中該特定電位為一接地電位。
上述的觸控點偵測方法,其中該特定電位為一噪聲電位。
上述的觸控點偵測方法,其中更包括根據(jù)判斷該些感測單元的該第二數(shù)量感測電位特征排列結(jié)果而決定是否調(diào)整一輸出信號中的一部分的電位。
本發(fā)明因使用非數(shù)值方式來進行觸控點的判斷,所以不會受到突波噪聲的影響而可以進行準確的觸控點偵測。
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例, 并配合所附附圖,作詳細說明如下。


圖IA為差動信號的示意圖IB為由圖IA的差動信號還原而得的感測信號的示意圖IC為含有噪聲的差動信號的示意圖ID為由圖IB的差動信號還原而得的感測信號的示意圖2為實施本發(fā)明一實施例時所用的觸控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖3A與圖3B為根據(jù)本發(fā)明一實施例的施行步驟流程圖4為連續(xù)多筆差動信號排列而成的信號波形圖5Α為根據(jù)本發(fā)明一實施例的電位特征預設組合中的一部分的示意圖5Β為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的電位特征預設組合中的一部分的示意圖。
其中,附圖標記
20 觸控面板23 感測芯片
25 信號處理模塊200、202、206、208 :像素
210、212、216、218 :感測單元220,222 :讀取線
230:差動放大器232:增益器
234:模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器250:特征查找模塊
252:信號產(chǎn)生模塊400:箭頭方向
410:虛線方框
S30CTS316 :本發(fā)明一實施例的施行步驟
S0、:sa、Sb、Sn:感測信號動信號具體實施方式
為了使此一技術(shù)領(lǐng)域者能快速明白本案的優(yōu)點及相關(guān)設計理念,以下將以內(nèi)嵌式 (in-cell)觸控面板為例來進行說明。然,本案所提供的技術(shù)并非只能運用于內(nèi)嵌式觸控面板中,此點合當知悉。
請參考圖2,其為實施本發(fā)明的實施例時所用的觸控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。在此實施例中,觸控系統(tǒng)主要包含了內(nèi)嵌式觸控面板20,感測芯片23以及信號處理模塊25。在內(nèi)嵌式觸控面板20之中設置了多個像素200、202、206與208,而在每個像素旁則分別設置了一個對應的感測單元210、212、216與218。此外,以多個感測單元為一組,此組感測單元所產(chǎn)生的感測結(jié)果會同時被提供到一條讀取在線而作為讀取數(shù)據(jù)。例如,感測單元210、212、 216與218所產(chǎn)生的感測數(shù)據(jù)就會同時被提供到讀取線220上以作為讀取數(shù)據(jù);類似的,讀取線222也會電性耦接到另一組對應的感測單元,并借此取得該組對應的感測單元所提供的感測結(jié)果而作為另一讀取數(shù)據(jù)。在此,所謂的讀取數(shù)據(jù)可能包含電流或電位等常用的電子量測對象,或者其它可以用來傳遞相關(guān)信息的載體。
前述的讀取數(shù)據(jù)會透過讀取線220與222而被傳送到感測芯片23上。如圖2所示,感測芯片23包括了差動放大器230、增益器232以及模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器234。差動放大器230的兩個輸入端分別電性耦接至連續(xù)設置的兩條讀取線220與222,借此達到下式的功
Xn = Dn+1-Dn
其中,Xn表示為第η個差動信號,Dn與Dn+1則分別表示第η條讀取線與第η+1條讀取在線傳遞的讀取數(shù)據(jù)。
由于在觸碰時的物理變化量會以觸碰點中央較大而四周較小,因此在沿著特定方向掃描時,會先碰到物理變化量較小的點,隨后物理變化量會越來越大直到觸碰的中心點到達物理變化量最大,接下來物理變化量才會開始減少,直到最后會再度回復到如差動信號波形前段一般維持在某一個特定電位上的狀況。因此,由各讀取數(shù)據(jù)所組合成的讀取信號也會產(chǎn)生由小而大的變化,其波形的形狀會形成如圖IB所示般的常態(tài)分布狀況。而隨著電路的設計不同,前述由小而大的變化可能是由絕對值由小而大的正值變化,也可能是絕對值由小而大的負值變化;換言之,常態(tài)分布可能是一個有著波峰的波形,也可能是一個有著波谷的波形。
差動放大器230把從輸入端接收到的讀取數(shù)據(jù)進行減法運算,進而得到對應的一個差動信號。此差動信號在經(jīng)過增益器232的放大之后,會再經(jīng)過模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器234 的轉(zhuǎn)換而成為一個輸出至信號處理模塊25使用的電子信號。從模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器234輸出電子信號至處理模塊25的時候可以采用各種方式,例如印刷式電路或無線傳輸?shù)?。為了說明上的方便,被提供到信號處理模塊25的電子信號在后續(xù)將被稱為感測電位特征。雖然在此實施例中的感測電位特征是經(jīng)由差動放大后而得的,但實際上只要是能夠供應至信號處理模塊25進行非數(shù)值性的操作的信號,都可以是適合的感測電位特征。
在信號處理模塊25之中,特征查找模塊250會把其中所儲存的多個預設電位特征與所接收到的感測電位特征進行比對,最后再以比對所得的結(jié)果提供給信號產(chǎn)生模塊252 以產(chǎn)生對應的感測信號。
接著請一并參考圖3A與圖3B。圖3A與圖3B為根據(jù)本發(fā)明實施例的施行步驟流程圖。在本實施例中,會準備一組電位特征預設組合以提供給圖2中的特征查找模塊250 使用,而電位特征預設組合里面則包括了總數(shù)為第一數(shù)量的預設電位特征(步驟S300)。在另一方面(時間點并沒有特別限制,可以在步驟S300之后、之前或約略同時),觸控面板20 會被驅(qū)動以從某一個特定的方向?qū)Ω袦y單元進行掃瞄,以借此取得對應的多個感測電位特征(步驟S302)。這個特定方向一般來說是依照圖2中的感測單元210、212···216到218的排列方向,以使所有的讀取線220與222等能夠在一次的掃瞄中各提供一筆讀取數(shù)據(jù)。所提供的多筆讀取數(shù)據(jù)將透過感測芯片23的處理而變成對應的多筆感測電位特征。這些感測電位特征可以如圖2所示般,是可依照靈敏度調(diào)整或選擇由任兩筆鄰近的讀取數(shù)據(jù)所形成的差動信號的電位,也可以是由每一筆讀取數(shù)據(jù)經(jīng)過其它處理所得到的相應的電位。
請一并參照圖4,其為連續(xù)多筆差動信號排列而成的整體差動信號波形圖。單就整體差動信號的波形本身而言,可以發(fā)現(xiàn)在波形前段是維持在某一個特定的電位上,這代表著位于此處的連續(xù)兩條讀取在線的讀取數(shù)據(jù)之間并沒有值的差異,也就是說此處并沒有感應到任何觸碰狀況。接下來,整體差動信號波形上下變化的區(qū)域則代表或許有觸碰狀況被感應到。
對應于上述的狀況,由于數(shù)據(jù)信號為常態(tài)分布,因此在數(shù)據(jù)信號的波形落在拐點的時候,差動信號的變化率會有一個最大值出現(xiàn),因此整體差動信號的波形在一開始碰到物理變化量較小的點的時候會開始上升,并在變化率最大的時候到達整體差動信號的波形的波峰,之后開始下降直到到達觸碰中心點(也就是物理變化量最大的地方)的時候回到整體差動信號的波形的拐點;接下來,從觸碰中心點開始,整體差動信號的波形會因為物理變化量逐漸減少而開始隨之降低,并同樣在變化率最大的時候到達整體差動信號的波形的波谷,之后開始上升(因為物理變化量的變化率降低)直到最后回到特定電位上,而此處就是開始感測不到物理變化量之處。因此,整體差動信號的波形會呈現(xiàn)為一個正弦波,而其中的特定電位則可以是某一個預先設定好的電位,也可以是將多余直流噪聲濾除后的噪聲電位。或者,在另一種電路設計方法中,由于正負號取值的不同,整體差動信號的波形將會呈現(xiàn)為一個余弦波。然而,這只是表示上的不同,對于此案技術(shù)并不會造成無法適用的影響。
在圖4所示的波形中,透過前述的步驟S302所取得的感測電位特征就是之前提過的差動信號。而在取得這些差動信號之后,就會在步驟S304從這些差動信號中取得位于特定位置上,且總數(shù)量達到第二數(shù)量的差動信號來預備進行后續(xù)的比對操作。更詳細地說,如圖4所示,所取得的所有差動信號組成了一個完整的整體差動信號的波形,而步驟S304所要取得的總數(shù)為第二數(shù)量的差動信號,就如同圖4中的虛線方框410所標示的部分一樣,僅為完整差動信號波形中特定的一部分。一般來說,可以從波形的最前端,也就是穩(wěn)定維持在特定電位上的部分開始取,并沿著箭頭400所指的方向逐步移動所選取的部分,直到選取完波形的全部內(nèi)容為止。而一個虛線方框410中所取的XcTXn共η+1個差動信號,就是前述的第二數(shù)量的差動信號。應注意的是,此處的XcTXn表示的僅是虛線方框410中的前后關(guān)系,并不是代表整個觸控面板中的第O筆到第η筆的差動信號的值。
在步驟S304取得位于特定位置、數(shù)量為第二數(shù)量的感測電位特征之后,流程即進入步驟S306以把所取得的第二數(shù)量的感測電位特征與電位特征預設組合中相對應于此特定位置、同樣為第二數(shù)量的預設電位特征來相比較。請一并參照圖5Α,其為根據(jù)本發(fā)明實施例的電位特征預設組合中的一部分。在此實施例中,電位特征預設組合以“ + ”與來表達。這可以視為是提供了差動信號的正負符號為電位特征預設組合中的內(nèi)容,也可以視為是提供了差動信號與特定電位(在此為零電位)之間的差值的正負符號為電位特征預設組合中的內(nèi)容。請一并參照圖4與圖5Α,在本實施例中,當圖4的虛線方框410整個進入到波形的上升段,也就是所選取的差動信號都為“ + ”的時候,在電位特征預設組合中所對應的為狀態(tài)t=0 ;而在虛線方框410涵蓋到波形的后半段的時候,則其狀態(tài)將視符號的多寡而在電位特征預設組合中對應到不同的狀態(tài)t=l與t=p等等。
另一方面,由于讀取信號實際上可為具有波谷的常態(tài)分布,因此圖4的波形會以反轉(zhuǎn)的方式存在,也就是波形一開始維持穩(wěn)定于特定電位,接下來會呈現(xiàn)先下降后上升的狀況,最后再維持穩(wěn)定在同一個特定電位。在這種情形下,適用的電位特征預設組合將使用如圖5B所示的內(nèi)容。或者,在另一個實施例中,可以將圖5A與圖5B結(jié)合在一起成為一個電位特征預設組合,這樣就可以同時適用于不同的波形比對。
在進行步驟S306進行比對的時候,可以簡單按照虛線方框410所選取的差動信號的正負值來判斷是否與電位特征預設組合中的哪一個狀態(tài)相同?;蛘?,在另一個實施例中,一旦發(fā)現(xiàn)所選取的差動信號的正負值排列順序與特征預設組合中的狀態(tài)t=l所包含的預設電位特征的排列順序相同的時候,后續(xù)的比對就不再把虛線方框所選取的差動信號的正負值的排列順序與狀態(tài)t=0所包含的預設電位特征的排列順序進行比對。假若步驟S306 的比對發(fā)現(xiàn)兩者之間沒有相同的排列方式,則流程直接進入步驟S310以確認此次掃瞄得到的感測電位特征是否都已經(jīng)被比對過;相反地,一旦步驟S306的比對發(fā)現(xiàn)兩者相同,則會在步驟S308把比對符合的數(shù)量進行計數(shù),并接下來確認此次掃瞄得到的感測電位特征是否都已經(jīng)被比對過(步驟S310)。
如果在步驟S310中發(fā)現(xiàn)還沒有把所有掃瞄得到的感測電位特征進行比對,則流程回到步驟S304以取得其它的感測電位特征并進行下一次的比對。如果在步驟S310中發(fā)現(xiàn)已經(jīng)把所有掃瞄得到的感測電位特征比對完畢,則流程進入步驟S312以判斷在步驟 S308中計算完畢的符合數(shù)量是否能夠超過預先設定的一個門坎值。假若符合數(shù)量超過預先設定的門坎值,則判斷出現(xiàn)觸碰點(步驟S314),之后將感測信號轉(zhuǎn)換為觸碰坐標,并且顯示于顯示裝置(圖未示)上;相對的,假若符合數(shù)量沒有超過預先設定的門坎值,則判斷沒有出現(xiàn)觸碰點,或者判斷出現(xiàn)的突波僅為噪聲(步驟S316)。換句話說,若判斷掃瞄所得的感測電位特征與電位特征預設組合出現(xiàn)連續(xù)相符的次數(shù)不小于前述的門坎值,則判斷連續(xù)相符之處所對應的感測單元受到觸碰;而若判斷掃瞄所得的感測電位特征與電位特征預設組合出現(xiàn)連續(xù)相符的次數(shù)小于前述的門坎值,則判斷連續(xù)相符之處所對應的感測單元沒有受到觸碰。之后將符合數(shù)量重置(reset)準備下一次的特征比對。
上述是以單觸碰點為例,但上述例子也可以運用于多點觸碰的狀況。在多點觸碰的時候,每一次從穩(wěn)定持續(xù)的特定電位進入到圖5A或圖5B中的任何一個狀態(tài)的時候,就可以視為是一個可能觸碰點的起始處。其它的判斷方式基本上都相同,可以由此技術(shù)領(lǐng)域者加以簡單變化而成。例如,在步驟S308處的符合數(shù)量會在觸碰點的起始處進行重置,借此計算每一個可能觸碰點的存在;而且不同的可能觸碰點的符合數(shù)量可以各自獨立存在,也可以前者被后者取代,并佐以另一種記錄方式紀錄每一個可能的觸碰點的判斷結(jié)果。或者, 在另一種方法中,每一個可能觸碰點的符合數(shù)量可以在每一個可能觸碰點的最終判斷時進行重置,如此可以依據(jù)每一可能觸碰點的起始點與結(jié)束點簡單地進一步找出每一個可能觸碰點的觸控面積。
此外還有許多可以變動的部分。舉例來說,為了節(jié)省時間,可以在遇到波形沒有保持在特定電位上的時候才開始比對的操作。在另一個例子中,可以使用感測單元的感測電位,也就是前述的讀取數(shù)據(jù),與某一個預設電位(例如接地電位)之間的大小關(guān)系來作為感測電位特征。
應注意的是,每次由圖4虛線方框410所框取的感測電位特征的數(shù)量(前述的第二數(shù)量)是可以改變的,其數(shù)量可以視觸碰裝置的靈敏度設計需求而定。圖5A與圖5B中每一狀態(tài)的預設電位特征的數(shù)量基本應該與第二數(shù)量相當,但考慮到有多個狀態(tài)存在,因此整個電位特征預設組合中的預設電位特征的數(shù)量(前述的第一數(shù)量)會大于前述的第二數(shù)量。而虛線方框410—次移動所跨越的感測電位特征的數(shù)量(后稱第三數(shù)量)也可以視需要而進行對應的調(diào)整,但此第三數(shù)量應小于第二數(shù)量才不會有沒被比對到的感測電位特征被遺漏下來。
上述方法可以依階段而被分別設計于圖2的觸控面板20、感測芯片23與信號處理模塊25。尤其,在圖2所示的實施例的信號處理模塊25之中,特征查找模塊250會把所儲存的預設電位特征與所接收到的感測電位特征進行比對,最后再以比對所得的結(jié)果提供給信號產(chǎn)生模塊252以產(chǎn)生對應的感測信號。在這一個階段中,信號產(chǎn)生模塊252可以依照圖3的步驟S312飛316的判斷結(jié)果,把由讀取數(shù)據(jù)組合而成的感測信號中對應于非觸碰點的部分的電位進行調(diào)整。舉例來說,由于噪聲的部分可能會因為前述的操作步驟而被判定為非觸碰點,所以這些噪聲的部分在最后被整合為感測信號并作為信號產(chǎn)生模塊252的輸出的時候就可以被直接調(diào)整為O電位,借此還可以更進一步降低后續(xù)處理感測信號時所可能產(chǎn)生的錯誤結(jié)果。
綜上所述,本發(fā)明利用電位正負的關(guān)系而非電位的值來作為觸碰點是否存在的判斷依據(jù),加上觸碰點附近的信號群聚效果,所以在隔離短暫噪聲的方面比之前所使用的技術(shù)有更好的效果。
本發(fā)明實施例揭露一種信號判斷方法可應用于觸碰裝置例如是PDA,個人移動裝置,顯示觸碰裝置等,或者是其它需要作判斷的信號,并不局限其應用范圍。8
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上,然其并非用以限定本發(fā)明,任何本領(lǐng)域技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當可作些許的更動與潤飾,因此本發(fā)明的保護范圍當視權(quán)利要求書為準。
權(quán)利要求
1.一種觸控點偵測方法,其特征在于,包括提供一電位特征預設組合,該電位特征預設組合包含一第一數(shù)量的多個預設電位特征;偵測得多個感測單元的多個感測電位特征;判斷該多個感測電位特征中依一特定方向排列的多個連續(xù)感測單元的感測電位特征排列結(jié)果,包括在該特定方向上依序取得該多個連續(xù)感測單元相對應的一第二數(shù)量的感測電位特征, 其中該第一數(shù)量大于該第二數(shù)量;判斷該第二數(shù)量的感測電位特征與該電位特征預設組合中位于相對應位置的該些預設電位特征是否相符;以及依照該特定方向,從此次所取的該些傳感器感測單元中的第一個往后一第三數(shù)量開始,重復進行前述的感測電位特征取得及判斷是否相符的操作,直到取得該特定方向上排列的所有需進行判斷的該些感測單元的感測電位特征為止;以及根據(jù)判斷該些感測單元的該第二數(shù)量感測電位特征排列結(jié)果而設定觸控點偵測的結(jié)果O
2.如權(quán)利要求I所述的觸控點偵測方法,其特征在于,該些感測電位特征包括對應的該感測單元的感測電位與一特定電位之間的大小關(guān)系。
3.如權(quán)利要求2所述的觸控點偵測方法,其特征在于,該特定電位為一接地電位。
4.如權(quán)利要求2所述的觸控點偵測方法,其特征在于,該特定電位為一噪聲電位。
5.如權(quán)利要求I所述的觸控點偵測方法,其特征在于,根據(jù)判斷該些感測單元的該第二數(shù)量感測電位特征排列結(jié)果而設定觸控點偵測的結(jié)果,包括若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測電位特征與該電位特征預設組合中位于相對應位置的該些預設電位特征為相符的次數(shù)不小于一預設門坎值,則判斷連續(xù)相符之處所對應的該些感測單元受到觸碰;以及若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測電位特征與該電位特征預設組合中位于相對應位置的該些預設電位特征為相符的次數(shù)小于該預設門坎值,則判斷連續(xù)相符之處所對應的該些感測單元未受到觸碰。
6.如權(quán)利要求5所述的觸控點偵測方法,其特征在于,當判斷連續(xù)相符之處所對應的該些感測單元未受到觸碰時,更將判斷連續(xù)相符之處所對應的一部分輸出信號的電位設定為一特定電位。
7.如權(quán)利要求6所述的觸控點偵測方法,其特征在于,該特定電位為一接地電位。
8.如權(quán)利要求6所述的觸控點偵測方法,其特征在于,該特定電位為一噪聲電位。
9.如權(quán)利要求I所述的觸控點偵測方法,其特征在于,更包括根據(jù)判斷該些感測單元的該第二數(shù)量感測電位特征排列結(jié)果而決定是否調(diào)整一輸出信號中的一部分的電位。
全文摘要
一種觸控點偵測方法,其提供內(nèi)有第一數(shù)量的預設電位特征的一組電位特征預設組合,并判斷依某一特定方向排列的多個感測單元的感測電位特征排列結(jié)果,再根據(jù)判斷這些感測單元的感測電位特征排列結(jié)果而設定觸控點偵測的結(jié)果。
文檔編號G06F3/041GK102915150SQ20121038477
公開日2013年2月6日 申請日期2012年10月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月21日
發(fā)明者康育齊, 吳永智 申請人:友達光電股份有限公司
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