專利名稱：一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備領(lǐng)域的觸摸屏，具體提供了一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法。
背景技術(shù)：
四線電阻模擬量技術(shù)的兩層透明金屬層工作時(shí)每層均增加5V恒定電壓一個(gè)豎直方向，一個(gè)水平方向?？偣残杷母娎|。其特點(diǎn)是高解析度，高速傳輸反應(yīng)。表面硬度處理，減少擦傷、刮傷及防化學(xué)處理。具有光面及霧面處理。一次校正，穩(wěn)定性高，永不漂移。傳統(tǒng)的四線電阻屏在非常多的便攜式設(shè)備上得到了非常廣泛的應(yīng)用，如各種儀器儀表、工控設(shè)備和手機(jī)上，且目前仍在大量應(yīng)用中，有著非常廣闊的應(yīng)用范圍。電阻屏的優(yōu)點(diǎn)還體現(xiàn)在能更承受更高的分辨率、承受更惡劣點(diǎn)的環(huán)境，以及可以精確到一個(gè)像素點(diǎn)的操作。在工控設(shè)備上，電阻屏仍然是不二之選?，F(xiàn)有技術(shù)的電阻屏大多不支持多點(diǎn)接觸，便捷性和擴(kuò)展性不高，即使出現(xiàn)可支持多點(diǎn)接觸的電阻屏，其性能和穩(wěn)定性尚待驗(yàn)證，技術(shù)并不成熟。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種方便實(shí)用的四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法。本發(fā)明的技術(shù)方案是按以下方式實(shí)現(xiàn)的，該一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法，其中X+、X-和Y+、Y-標(biāo)示觸摸屏上層導(dǎo)電工作面、下層導(dǎo)電工作面，手指在電阻屏上進(jìn)行兩點(diǎn)觸摸，兩觸點(diǎn)之間具有時(shí)間差，其具體實(shí)現(xiàn)步驟包括
1)、首先實(shí)現(xiàn)第一觸點(diǎn)的X軸坐標(biāo)確定上層導(dǎo)電工作面左側(cè)X-作為0V,下層導(dǎo)電工作面右側(cè)X+作為Vref，下層頂側(cè)Y+作為采樣處，當(dāng)?shù)谝挥|點(diǎn)點(diǎn)擊操作時(shí)，上下層導(dǎo)電工作面短路，此時(shí)在下層Y+上進(jìn)行采樣，可以獲得電壓值Vx，根據(jù)Vx和Vref的比較，獲取第一觸點(diǎn)X軸的點(diǎn)擊位置；
2)、實(shí)現(xiàn)第一觸點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)確定下層導(dǎo)電工作面Y-作為0V，下層導(dǎo)電工作面頂側(cè)Y+作為Vref，上層X(jué)+作為采樣處，當(dāng)?shù)谝挥|點(diǎn)擊操作時(shí)，上下層短路，此時(shí)在采樣處獲得的電壓值Vy，根據(jù)Vy和Vref的比較，獲取第一觸點(diǎn)Y軸的點(diǎn)擊位置；
3)、根據(jù)步驟I)的方法實(shí)現(xiàn)第二觸點(diǎn)的X軸坐標(biāo)確定；
4)、根據(jù)步驟2)的方法實(shí)現(xiàn)第二觸點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)確定。所述第一觸點(diǎn)、第二觸點(diǎn)的坐標(biāo)由采樣芯片采樣，采樣的信息再傳遞給控制芯片。所述的采樣芯片是指AD芯片。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比所產(chǎn)生的有益效果是
本發(fā)明的一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法在傳統(tǒng)的四線電阻屏上實(shí)現(xiàn)了類似電容屏兩點(diǎn)觸摸的使用效果，提高了使用者的操作便捷性，擴(kuò)展了基于四線電阻屏應(yīng)用的豐富性，給基于電阻屏的應(yīng)用帶來(lái)了極大的便捷性和擴(kuò)展性，具有很好的推廣使用價(jià)值。


附圖I是本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)原理示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法作以下詳細(xì)說(shuō)明。為了在傳統(tǒng)的四線電阻屏上實(shí)現(xiàn)了類似電容屏兩點(diǎn)觸摸的使用效果，如附圖I所示，現(xiàn)提供一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法，其中x+、x-和Y+、Y-標(biāo)示觸摸屏上層導(dǎo)電工作面、下層導(dǎo)電工作面，手指在電阻屏上進(jìn)行兩點(diǎn)觸摸，兩觸點(diǎn)之間具有時(shí)間差，其具 體實(shí)現(xiàn)步驟包括
1)、首先實(shí)現(xiàn)第一觸點(diǎn)的X軸坐標(biāo)確定上層導(dǎo)電工作面左側(cè)X-作為0V,下層導(dǎo)電工作面右側(cè)X+作為Vref，下層頂側(cè)Y+作為采樣處，當(dāng)?shù)谝挥|點(diǎn)點(diǎn)擊操作時(shí)，上下層導(dǎo)電工作面短路，此時(shí)在下層Y+上進(jìn)行采樣，可以獲得電壓值Vxl，Vxl的計(jì)算公式為Vxl=(Rl/(Rl+R2))*Vref，其中Rl為X-與第一觸點(diǎn)之間產(chǎn)生的電阻，R2為X+與第一觸點(diǎn)之間產(chǎn)生的分段電阻，根據(jù)Vxl和Vref的比較，獲取第一觸點(diǎn)X軸的點(diǎn)擊位置；
2)、實(shí)現(xiàn)第一觸點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)確定下層導(dǎo)電工作面Y-作為0V，下層導(dǎo)電工作面頂側(cè)Y+作為Vref，上層X(jué)+作為采樣處，當(dāng)?shù)谝挥|點(diǎn)擊操作時(shí)，上下層短路，此時(shí)在采樣處獲得的電壓值Vyl，根據(jù)Vyl和Vref的比較，獲取第一觸點(diǎn)Y軸的點(diǎn)擊位置；
3)、根據(jù)步驟I)的方法實(shí)現(xiàn)第二觸點(diǎn)的X軸坐標(biāo)確定，這時(shí)由于第二觸點(diǎn)按下時(shí)，R2部分電阻發(fā)生變化，由于下層頂側(cè)采樣的存在，相當(dāng)于R4這部分電阻被短路，只剩下R3這部分電阻。這時(shí)根據(jù)公式Vx2=(Rl/(Rl+R3))*Vref計(jì)算出Vx2，其中R3為X+與第二觸點(diǎn)之間產(chǎn)生的分段電阻，R4為第一觸點(diǎn)與第二觸點(diǎn)之間產(chǎn)生的分段電阻，根據(jù)Vx2與Vref的比較，獲取第二觸點(diǎn)X軸的電機(jī)位置；
4)、同樣根據(jù)步驟2)的方法實(shí)現(xiàn)第二觸點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)確定。第一觸點(diǎn)與第二觸點(diǎn)之間的坐標(biāo)位置差可以反饋給應(yīng)用程序，由應(yīng)用程序來(lái)執(zhí)行相應(yīng)的操作。四線電阻屏的應(yīng)用一般采用兩種方式，一種是通過(guò)專門的AD芯片來(lái)采樣，具體的采樣過(guò)程，可以放在應(yīng)用程序中，針對(duì)有操作系統(tǒng)的應(yīng)用，本方法可以放在底層硬件設(shè)備驅(qū)動(dòng)中完成，然后將獲取到的值傳遞給控制芯片；另外一種則是控制芯片自帶四線電阻屏接口，可以方便的連接四線電阻屏。
權(quán)利要求
1.一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于其中x+、x-和γ+、γ-標(biāo)示觸摸屏上層導(dǎo)電工作面、下層導(dǎo)電工作面，手指在電阻屏上進(jìn)行兩點(diǎn)觸摸，兩觸點(diǎn)之間具有時(shí)間差，其具體實(shí)現(xiàn)步驟包括 1)、首先實(shí)現(xiàn)第一觸點(diǎn)的X軸坐標(biāo)確定上層導(dǎo)電工作面左側(cè)X-作為OV,下層導(dǎo)電工作面右側(cè)X+作為Vref，下層頂側(cè)Y+作為采樣處，當(dāng)?shù)谝挥|點(diǎn)點(diǎn)擊操作時(shí)，上下層導(dǎo)電工作面短路，此時(shí)在下層Y+上進(jìn)行采樣，可以獲得電壓值Vx，根據(jù)Vx和Vref的比較，獲取第一觸點(diǎn)X軸的點(diǎn)擊位置； 2)、實(shí)現(xiàn)第一觸點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)確定下層導(dǎo)電工作面Y-作為0V，下層導(dǎo)電工作面頂側(cè)Y+作為Vref，上層X(jué)+作為采樣處，當(dāng)?shù)谝挥|點(diǎn)擊操作時(shí)，上下層短路，此時(shí)在采樣處獲得的電壓值Vy，根據(jù)Vy和Vref的比較，獲取第一觸點(diǎn)Y軸的點(diǎn)擊位置； 3)、根據(jù)步驟I)的方法實(shí)現(xiàn)第二觸點(diǎn)的X軸坐標(biāo)確定； 4)、根據(jù)步驟2)的方法實(shí)現(xiàn)第二觸點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)確定。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于所述第一觸點(diǎn)、第二觸點(diǎn)的坐標(biāo)由采樣芯片采樣，采樣的信息再傳遞給控制芯片。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于所述的采樣芯片是指AD芯片。
全文摘要
本發(fā)明提供一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法，其實(shí)現(xiàn)步驟是根據(jù)兩觸點(diǎn)之間形成的時(shí)間差，先后確定出第一觸點(diǎn)的坐標(biāo)軸，第二觸點(diǎn)的坐標(biāo)軸，然后將采集到的坐標(biāo)軸信息發(fā)送給控制芯片處理。該一種四線電阻屏的兩點(diǎn)觸摸的實(shí)現(xiàn)方法和現(xiàn)有技術(shù)相比，在傳統(tǒng)的四線電阻屏上實(shí)現(xiàn)了類似電容屏兩點(diǎn)觸摸的使用效果，提高了使用者的操作便捷性。
文檔編號(hào)G06F3/045GK102629179SQ20121006661
公開(kāi)日2012年8月8日 申請(qǐng)日期2012年3月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月14日
發(fā)明者張健 申請(qǐng)人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司