專利名稱：電容式觸摸屏掃描線電容測試電路、方法及觸摸屏的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電容式觸摸屏掃描線電容測試方法，尤其是指該方法以及其對應(yīng) 的觸摸屏。
背景技術(shù)：
目前，判斷電容式觸摸屏是否合格一般需要測試掃描線是否導(dǎo)通、阻抗大小和電 容值大小，而為了節(jié)約測試成本，測試觸摸屏的步驟一般均在成型前就完成各種測試步驟。 而在現(xiàn)階段，觸摸屏上ITO在蝕刻后僅僅能測試出其導(dǎo)通和阻抗，雖然在觸摸屏成型前通 過導(dǎo)通和阻抗的測試可以排除一部分不良品流入下一工藝步驟中，但是由于沒有任何測試 掃描線電容值的方法，所以導(dǎo)致只能在觸摸屏成型后，通過手指的操作流暢度來判斷是否 是合格產(chǎn)品。
故此，電容式觸摸屏掃描線電容的測試方法一直都是業(yè)界亟待解決的問題，由于 電容值的異?？赡苤苯訉?dǎo)致很多功能的異常，影響操作性，所以如果測試出各條掃描線上 的電容值，就可以判斷觸摸屏是否合格。而由于外界環(huán)境的干擾，觸摸屏上掃描線上的電容 值也會受其影響，所以目前偵測出的電容值均是包括外界噪聲影響的電容值，這種影響必 須控制在一定的范圍內(nèi)才不會影響其操作性能，否則觸摸屏就很有可能不能正常工作。如 常見的單指或者雙指畫線性度，如果電容超過范圍的話就會出現(xiàn)鋸齒，導(dǎo)致平滑度很差，更 嚴(yán)重者就會導(dǎo)致無法畫線。如此以來檢測出的觸摸屏如果是不合格品也只能作為報(bào)廢品， 正是由于沒有測試掃描線電容值的原因才最終導(dǎo)致這種結(jié)果。
因此，我們希望可以提供一種新的不但可以測試掃描線上電容的大小、又可以節(jié) 約成本的測試方法。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)際所要解決的技術(shù)問題是如何提供一種測試電容式觸摸屏掃描線電容 大小的方法。
為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，本發(fā)明提供了一種電容式觸摸屏掃描線電容的測試 電路，包括掃描線上的待測電容和外接可調(diào)電容以及兩個耦合電容，其連接方法如下首 先，將所述待測電容與其中一個耦合電容并聯(lián)形成一電路；其次，將所述外接電容與另一個 耦合電容并聯(lián)又形成一電路；最后，將上述兩個電路并聯(lián)后經(jīng)比較器比較后輸出。
本發(fā)明所述的電容式觸摸屏掃描線電容測試電路和方法以及觸摸屏，不但克服了 傳統(tǒng)不能測試電容從而不能判斷觸摸屏是否是良品的缺點(diǎn)，而且該測試方法可以在觸摸屏 成型前完成測試，及時調(diào)整生產(chǎn)工藝降低產(chǎn)品的不良率，節(jié)約了成本，而且提高了產(chǎn)品的良 率。


圖1是本發(fā)明電容觸摸屏掃描線測試的電路連接圖；3
圖2是本發(fā)明電容觸摸屏掃描線測試的方法流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
本發(fā)明所述的觸摸屏包括一觸摸區(qū)，外接電容Cadj以及觸控芯片。所述觸摸區(qū) 用于提供觸摸的區(qū)域，用戶的手指可以在其上進(jìn)行操作，觸摸區(qū)上設(shè)有若干掃描線，分別連 接到觸控芯片對應(yīng)的引腳上；所述外接電容Cadj是一種外接電路的可調(diào)節(jié)電容；所述觸控 芯片用于計(jì)算電容值的大小。請參考圖1所述為觸摸屏上任意一根掃描線的電容Cx和外 接可調(diào)電容Cadj的連接示意圖，觸摸屏上任意一根待測掃描線的電容Cx和外接可調(diào)電容 Cadj經(jīng)并聯(lián)后，其一端連接信號輸出，如激勵源或信號發(fā)生器；另一端經(jīng)比較器10比較后 輸出結(jié)果。其中，所述電容Cx和耦合電容Cl相并聯(lián)形成一電路，所述外接電容Cadj和耦 合電容C2并聯(lián)形成一電路，然后再將上述兩個電路并聯(lián)后經(jīng)比較器10比較后輸出結(jié)果。
請參考圖2所示，本發(fā)明所述的電容式觸摸屏掃描線電容測試方法中，首先需要 確定觸摸屏上有任意一條待測掃描線處于斷開狀態(tài)，也就是使待測掃描線與所述觸控區(qū)斷 開，此時保持其它掃描線與所述觸控芯片的相應(yīng)引腳相連接；其次，將待測掃描線的電容 Cx按照上述圖1的連接方式連接，即將待測電容Cx與耦合電容Cl并聯(lián)，實(shí)際上是將Cl的 一端與比較器10的一個輸入端相連接，另一端接地；再將外接Cadj與耦合電容C2并聯(lián)，實(shí) 際上是將C2的一端與比較器10的另一個輸入端相連接，另一端接地；然后調(diào)節(jié)外接可調(diào)電 容Cadj，直到偵測出比較器10輸出值與其它掃描線匹配，即判斷輸出值是否在一個門檻值 內(nèi)，若在所述門檻值內(nèi)，則認(rèn)為該條待測掃描線的電容值可接受；若不在所述門檻值內(nèi)，則 認(rèn)為該條待測掃描線的電容值不能接受。
上述門檻值是指一個和其它掃描線電容值相近的一個數(shù)值，其具體數(shù)值可以根據(jù) 經(jīng)驗(yàn)值確定，且耦合電容Cl和C2分別影響待測電容Cx和外接電容Cadj。而當(dāng)上述待測掃 描線的電容值不在該門檻值時，可以調(diào)節(jié)外接電容Cadj的大小直到輸出值在所述門檻值 之內(nèi)為止。如此以來，通過調(diào)節(jié)外接電容Cadj的大小就可以得出與其它掃描線的偏差，對 于工程端來說，知道了偏差的大小，那就能夠通過工藝來嘗試改善，從而為后續(xù)改進(jìn)提供了 ■石出。
本發(fā)明所述的電容式觸摸屏掃描線的測試方法，只要觸摸屏上一旦形成掃描線就 可以測試，所以在ITO蝕刻在玻璃后就用來可以測試，故此如果發(fā)現(xiàn)不良品，可以及時記 錄、調(diào)整，從而保證了觸摸屏的質(zhì)量；而且在觸摸屏成型前的調(diào)整也可以降低產(chǎn)品的不良 率，最終節(jié)約了成本。
權(quán)利要求
1.一種電容式觸摸屏掃描線電容的測試電路，包括掃描線上的待測電容和外接可調(diào)電 容以及兩個耦合電容，其連接方法如下首先，將所述待測電容與其中一個耦合電容并聯(lián)形成一電路；其次，將所述外接電容與另一個耦合電容并聯(lián)又形成一電路；最后，將上述兩個電路并聯(lián)后經(jīng)比較器比較后輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述耦合電容的一端與比較器的一個輸入 端相連接，另一端接地。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述兩個電路并聯(lián)后的輸入端是信號端。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述耦合電容分別影響與其并聯(lián)的待測電 容或者外接電容。
5.一種采用權(quán)利要求1所述的電容式觸摸屏掃描線電容的測試方法，其步驟如下首先，確定待測掃描線與所述觸控芯片斷開；其次，調(diào)節(jié)外接電容的大??；最后，偵測經(jīng)比較器輸出后的輸出值與觸摸屏上其它掃描線的電容值是否匹配。
6.如權(quán)利要求5所述的測試方法，其特征在于所述比較器輸出后的輸出值是否與其 它掃描線匹配是指輸出值是否在一個預(yù)設(shè)門檻值內(nèi)。
7.如權(quán)利要求5或6所述的測試方法，其特征在于所述輸出值若在所述門檻值內(nèi)，則 認(rèn)為待測掃描線的電容值可接受。
8.如權(quán)利要求5或6所述的測試方法，其特征在于若不在所述門檻值內(nèi)，則調(diào)節(jié)外接 電容使其輸出值在門檻值之內(nèi)為止。
9.一種采用權(quán)利要求1所述的測試掃描線電容的電容式觸摸屏，其包括觸摸區(qū)和觸控 芯片和外接電容，所述觸摸區(qū)上掃描線分別連接到觸控芯片的相應(yīng)引腳上，其特征在于所 述待測掃描線與觸控芯片引腳斷開，且所述外接電容的一端連接到觸控芯片的輸入端，另 一端連接到待測掃描線上。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于所述外接電容是一種外接電路的可調(diào)節(jié)電
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電容式觸摸屏掃描線電容測試電路和方法以及觸摸屏，其利用待測電容與外界電容并聯(lián)再經(jīng)比較器輸出的方式實(shí)現(xiàn)測試電容的目的。本發(fā)明所述的電容式觸摸屏掃描線電容測試電路和方法以及觸摸屏，不但克服了傳統(tǒng)不能測試電容從而不能判斷觸摸屏是否是良品的缺點(diǎn)，而且該測試方法可以在觸摸屏成型前完成測試，及時調(diào)整從而將不良品轉(zhuǎn)換成良品，節(jié)約了成本，而且提高了產(chǎn)品的良率。
文檔編號G06F3/044GK102033673SQ201110000260
公開日2011年4月27日 申請日期2011年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月4日
發(fā)明者卞維軍, 孟得全 申請人:蘇州瀚瑞微電子有限公司