專利名稱：開關(guān)機測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種開關(guān)機測試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
開關(guān)機(ON-OFF)測試是檢驗待測設(shè)備性能情況的一項重要測試，目前主要都是測試人員進行手動測試，這樣容易導(dǎo)致無法知道什么時候會開機或關(guān)機失敗，也無法隨時使用三用電表量測電壓來判斷是否有開機成功。此外，一般情況下，待測設(shè)備的 SPEC (Standard Performance Evaluation Corporation，系統(tǒng)性能評估測試)都要求 0N-0FF—千次、一萬次，導(dǎo)致測試費時費力，且由于人為因素，容易出錯。同時由于使用固定的開機與關(guān)機時間來對待測設(shè)備進行開關(guān)機測試，無法準(zhǔn)確全面的了解待測設(shè)備在何時開機或關(guān)機失敗。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種開關(guān)機測試方法，通過自動化的測試方式，以及隨機選擇開機與關(guān)機時間對待測電源裝置進行測試，準(zhǔn)確全面的進行開關(guān)機測試。此外，還有必要提供一種開關(guān)機測試系統(tǒng)，通過自動化的測試方式，以及隨機選擇開機與關(guān)機時間對待測電源裝置進行測試，準(zhǔn)確全面的進行開關(guān)機測試。一種開關(guān)機測試方法，應(yīng)用于計算機中，所述的計算機通過通用接口總線GPIB分別與直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置相連接，所述的直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置均與待測電源裝置相連接。該方法包括設(shè)置步驟預(yù)設(shè)為待測電源裝置提供的負(fù)載與電壓、測試次數(shù)、開機與關(guān)機時間的范圍以及初始化已測試次數(shù)為零；控制步驟在開機與關(guān)機時間的范圍中隨機選擇一個數(shù)字作為開機與關(guān)機時間，以及控制已測試次數(shù)加一；開機步驟根據(jù)所述設(shè)置的負(fù)載與電壓以及所選擇的開機時間，控制所述的待測電源裝置開機，并持續(xù)所選擇的開機時間；讀取步驟在持續(xù)開機時間內(nèi)實時控制電壓量測裝置量測所述待測電源裝置的工作電壓值，并讀取量測到的工作電壓值； 關(guān)機步驟當(dāng)待測電源裝置開機持續(xù)了所選擇的開機時間，且所讀取的工作電壓值不為零時，控制所述的待測電源裝置關(guān)機，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間。一種開關(guān)機測試系統(tǒng)，運行于計算機中，所述的計算機通過通用接口總線GPIB分別與直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置相連接，所述的直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置均與待測電源裝置相連接。該系統(tǒng)包括設(shè)置模塊，用于預(yù)設(shè)為待測電源裝置提供的負(fù)載與電壓，并預(yù)設(shè)測試次數(shù)，開機與關(guān)機時間的范圍，以及初始化已測試次數(shù)為零；控制模塊，用于在開機與關(guān)機時間的范圍中隨機選擇一個數(shù)字作為開機與關(guān)機時間，以及控制已測試次數(shù)加一；所述的控制模塊，還用于根據(jù)所述設(shè)置的負(fù)載與電壓以及所選擇的開機時間，控制所述的待測電源裝置開機，并持續(xù)所選擇的開機時間；所述的控制模塊，還用于在持續(xù)開機時間內(nèi)控制電壓量測裝置實時量測所述待測電源裝置的工作電壓值，并讀取量測到的工作電壓值；所述的控制模塊，還用于當(dāng)待測電源裝置開機持續(xù)了所選擇的開機時間，且所讀取的工作電壓值不為零時，控制所述的待測電源裝置關(guān)機，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明所述的開關(guān)機測試系統(tǒng)及方法，通過自動化的測試方式， 以及隨機選擇開機與關(guān)機時間對待測電源裝置進行測試，準(zhǔn)確全面的進行開關(guān)機測試，提高了測試效率。此外，當(dāng)測試待測電源裝置的開機性能時，如果開機失敗，則自動關(guān)閉電源供應(yīng)裝置以及直流電子負(fù)載，結(jié)束測試流程，這樣可以準(zhǔn)確了解在何時開機或關(guān)機失敗。


圖1是本發(fā)明開關(guān)機測試系統(tǒng)較佳實施例的架構(gòu)示意圖。圖2是本發(fā)明開關(guān)機測試系統(tǒng)較佳實施例的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明開關(guān)機測試方法較佳實施例的流程圖。主要元件符號說明
權(quán)利要求
1.一種開關(guān)機測試方法，應(yīng)用于計算機中，所述的計算機通過通用接口總線GPIB分別與直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置相連接，所述的直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置均與待測電源裝置相連接，其特征在于，該方法包括設(shè)置步驟預(yù)設(shè)為待測電源裝置提供的負(fù)載與電壓、測試次數(shù)、開機與關(guān)機時間的范圍以及初始化已測試次數(shù)為零；控制步驟在開機與關(guān)機時間的范圍中隨機選擇一個數(shù)字作為開機與關(guān)機時間，以及控制已測試次數(shù)加一；開機步驟根據(jù)所述設(shè)置的負(fù)載與電壓以及所選擇的開機時間，控制所述的待測電源裝置開機，并持續(xù)所選擇的開機時間；讀取步驟在持續(xù)開機時間內(nèi)實時控制電壓量測裝置量測所述待測電源裝置的工作電壓值，并讀取量測到的工作電壓值；關(guān)機步驟當(dāng)待測電源裝置開機持續(xù)了所選擇的開機時間，且所讀取的工作電壓值不為零時，控制所述的待測電源裝置關(guān)機，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間。
2.如權(quán)利要求1所述的開關(guān)機測試方法，其特征在于，該方法還包括顯示步驟在計算機的顯示單元上顯示上述的已測試次數(shù)與此次所選擇的開機與關(guān)機時間。
3.如權(quán)利要求1所述的開關(guān)機測試方法，其特征在于，所述的開機步驟是通過GPIB控制直流電子負(fù)載為待測電源裝置提供設(shè)置的負(fù)載，控制電源供應(yīng)裝置為待測電源裝置提供所設(shè)置的電壓，并持續(xù)所選擇的開機時間來實現(xiàn)的；以及所述的關(guān)機步驟是通過GPIB控制直流電子負(fù)載為待測電源裝置提供的負(fù)載為零，控制電源供應(yīng)裝置為待測電源裝置提供的電壓為零，從而關(guān)閉直流電子負(fù)載與電源供應(yīng)裝置，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間來實現(xiàn)的。
4.如權(quán)利要求3所述的開關(guān)機測試方法，其特征在于，該方法還包括步驟在待測電源裝置持續(xù)開機的過程中，當(dāng)所讀取的工作電壓為零時，關(guān)閉所述的直流電子負(fù)載與電源供應(yīng)裝置，并記錄此次測試結(jié)果為測試失敗，結(jié)束流程；以及在待測電源裝置持續(xù)關(guān)機的過程中，當(dāng)所讀取的工作電壓值不為零時，記錄此次測試結(jié)果為測試失敗，結(jié)束流程。
5.如權(quán)利要求1所述的開關(guān)機測試方法，其特征在于，該方法還包括當(dāng)待測電源裝置關(guān)機持續(xù)了所選擇的關(guān)機時間，且所讀取的工作電壓值為零時，記錄此次測試結(jié)果為測試成功，并判斷已測試次數(shù)是否達到所設(shè)置的測試次數(shù)；及若已測試次數(shù)達到所設(shè)置的測試次數(shù)，則流程結(jié)束；或若已測試次數(shù)沒有達到所設(shè)置的測試次數(shù)，則返回控制步驟，繼續(xù)下一次測試。
6.一種開關(guān)機測試系統(tǒng)，運行于計算機中，所述的計算機通過通用接口總線GPIB分別與直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置相連接，所述的直流電子負(fù)載、電源供應(yīng)裝置以及電壓量測裝置均與待測電源裝置相連接，其特征在于，該系統(tǒng)包括設(shè)置模塊，用于預(yù)設(shè)為待測電源裝置提供的負(fù)載與電壓，并預(yù)設(shè)測試次數(shù)，開機與關(guān)機時間的范圍，以及初始化已測試次數(shù)為零；控制模塊，用于在開機與關(guān)機時間的范圍中隨機選擇一個數(shù)字作為開機與關(guān)機時間， 以及控制已測試次數(shù)加一；所述的控制模塊，還用于根據(jù)所述設(shè)置的負(fù)載與電壓以及所選擇的開機時間，控制所述的待測電源裝置開機，并持續(xù)所選擇的開機時間；所述的控制模塊，還用于在持續(xù)開機時間內(nèi)控制電壓量測裝置實時量測所述待測電源裝置的工作電壓值，并讀取量測到的工作電壓值；所述的控制模塊，還用于當(dāng)待測電源裝置開機持續(xù)了所選擇的開機時間，且所讀取的工作電壓值不為零時，控制所述的待測電源裝置關(guān)機，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間。
7.如權(quán)利要求6所述的開關(guān)機測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括顯示模塊，用于在計算機的顯示單元上顯示上述的已測試次數(shù)與此次所選擇的開機與關(guān)機時間。
8.如權(quán)利要求6所述的開關(guān)機測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的控制模塊是通過GPIB控制直流電子負(fù)載為待測電源裝置提供設(shè)置的負(fù)載，控制電源供應(yīng)裝置為待測電源裝置提供所設(shè)置的電壓，并持續(xù)所選擇的開機時間，來控制待測電源裝置開機以及持續(xù)所選擇的開機時間；以及通過GPIB控制直流電子負(fù)載為待測電源裝置提供的負(fù)載為零，控制電源供應(yīng)裝置為待測電源裝置提供的電壓為零，從而關(guān)閉直流電子負(fù)載與電源供應(yīng)裝置，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間，來控制待測電源裝置關(guān)機以及持續(xù)所選擇的關(guān)機時間。
9.如權(quán)利要求8所述的開關(guān)機測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的控制模塊還用于在待測電源裝置持續(xù)開機的過程中，當(dāng)所讀取的工作電壓為零時，關(guān)閉所述的直流電子負(fù)載與電源供應(yīng)裝置，結(jié)束開關(guān)機測試流程。
10.如權(quán)利要求6所述的開關(guān)機測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括記錄模塊，用于在待測電源裝置持續(xù)開機的過程中，當(dāng)所讀取的工作電壓為零，或在待測電源裝置持續(xù)關(guān)機的過程中，當(dāng)所讀取的工作電壓不為零時，記錄此次測試結(jié)果為測試失敗，以及當(dāng)待測電源裝置關(guān)機持續(xù)了所選擇的關(guān)機時間，且在該持續(xù)關(guān)機時間內(nèi)所讀取的工作電壓值為零時記錄此次結(jié)果為測試成功；判斷模塊，用于當(dāng)記錄此次測試結(jié)果為測試成功時，判斷已測試次數(shù)是否達到所設(shè)置的測試次數(shù)，若沒有達到所設(shè)置的測試次數(shù)，則繼續(xù)下一次測試，若達到所設(shè)置的測試次數(shù)，則開關(guān)機測試結(jié)束。
全文摘要
一種開關(guān)機測試系統(tǒng)及方法，該方法包括預(yù)設(shè)開機與關(guān)機時間的范圍、測試次數(shù)以及初始化已測試次數(shù)；在開機與關(guān)機時間的范圍中隨機選擇一個數(shù)字作為開機與關(guān)機時間，以及控制已測試次數(shù)加一；控制所述的待測電源裝置開機，并持續(xù)所選擇的開機時間；在持續(xù)開機時間內(nèi)實時控制電壓量測裝置量測所述待測電源裝置的工作電壓值，并讀取量測到的工作電壓值；當(dāng)待測電源裝置開機持續(xù)了所選擇的開機時間，且所讀取的工作電壓值不為零時，控制所述的待測電源裝置關(guān)機，并持續(xù)所選擇的關(guān)機時間。利用本發(fā)明能夠更加自動化以及有效的進行開關(guān)機測試。
文檔編號G06F11/22GK102479120SQ20101055321
公開日2012年5月30日 申請日期2010年11月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月22日
發(fā)明者李偉銘 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司