專利名稱：多片適配卡測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種電子裝置的測(cè)試方法，且特別是有關(guān)于一種多片適配卡測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
計(jì)算機(jī)是現(xiàn)代科技中，影響人類生活至巨的一項(xiàng)重要發(fā)明。為使計(jì)算機(jī)中各組件可以正常運(yùn)作與溝通，計(jì)算機(jī)中安插在電路板上的各種適配卡需要進(jìn)行許多測(cè)試，以期這些適配卡可以無(wú)誤地執(zhí)行各種功能。然而，在對(duì)適配卡進(jìn)行測(cè)試時(shí)，往往只能對(duì)單一插槽上的適配卡進(jìn)行熱插拔，在面對(duì)多個(gè)適配卡需同時(shí)測(cè)試時(shí)，由于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)對(duì)于插槽的辨識(shí)方式與使用者操作直接目視的方式并不相同，直接進(jìn)行熱插拔將造成錯(cuò)誤的情形。必需重新開(kāi)關(guān)機(jī)以進(jìn)行不同批適配卡的測(cè)試，對(duì)時(shí)間、人力成本來(lái)說(shuō)，都是不小的負(fù)擔(dān)。因此，如何設(shè)計(jì)一個(gè)新的多片適配卡測(cè)試方法，以提升測(cè)試的效率，乃為此一業(yè)界亟待解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種多片適配卡測(cè)試方法，以提升測(cè)試的效率。本發(fā)明的一實(shí)施方式是在提供一種多片適配卡測(cè)試方法，包含下列步驟使計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的主機(jī)板的多個(gè)個(gè)裝置插槽上插入多個(gè)待測(cè)適配卡；將計(jì)算機(jī)系統(tǒng)開(kāi)機(jī)以啟動(dòng)操作系統(tǒng)；對(duì)待測(cè)適配卡對(duì)應(yīng)裝置插槽的映像表進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的多個(gè)參數(shù)；對(duì)待測(cè)適配卡分別進(jìn)行啟動(dòng)流程以及測(cè)試流程；當(dāng)待測(cè)適配卡其中一部分完成測(cè)試流程，對(duì)待測(cè)適配卡的該部分進(jìn)行關(guān)閉流程以及移除程序，以將待測(cè)適配卡的該部分自對(duì)應(yīng)的裝置插槽移除；以及插入其它待測(cè)適配卡于已移除的該部分對(duì)應(yīng)的裝置插槽以分別執(zhí)行啟動(dòng)流程、測(cè)試流程、關(guān)閉流程以及移除程序。依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，當(dāng)其它待測(cè)適配卡與相對(duì)應(yīng)的待測(cè)適配卡的該部分為不同， 對(duì)映射表再次進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的參數(shù)。依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例，其中裝置插槽為快速外圍裝置組件互連插槽 (Peripheral Component Interconnect Express ；PCIE)0依據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施例，其中映射表的參數(shù)包含總線編號(hào)參數(shù)、裝置編號(hào)參數(shù)以及功能參數(shù)。依據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例，其中映像表儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的韌體中。依據(jù)本發(fā)明更具有的一實(shí)施例，其中啟動(dòng)流程還包含下列步驟根據(jù)映像表進(jìn)行裝置插槽的連接開(kāi)啟動(dòng)作；進(jìn)行裝置插槽的電源開(kāi)啟動(dòng)作；以及進(jìn)行該組待測(cè)適配卡的驅(qū)動(dòng)功能開(kāi)啟動(dòng)作。關(guān)閉流程還包含下列步驟進(jìn)行該組待測(cè)適配卡的驅(qū)動(dòng)功能關(guān)閉動(dòng)作； 根據(jù)映像表進(jìn)行裝置插槽的連接關(guān)閉動(dòng)作；以及進(jìn)行裝置插槽的電源關(guān)閉動(dòng)作。依據(jù)本發(fā)明再具有的一實(shí)施例，其中該多個(gè)待測(cè)適配卡包含網(wǎng)絡(luò)卡、磁盤(pán)陣列卡或顯示卡。該多個(gè)待測(cè)適配卡包含單一種類或多個(gè)種類的多個(gè)待測(cè)適配卡。
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應(yīng)用本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于鎖住適配卡的參數(shù)后，可通過(guò)不需關(guān)閉并重新開(kāi)啟計(jì)算機(jī)系統(tǒng)電源的熱插拔方式，同時(shí)對(duì)一組適配卡進(jìn)行測(cè)試，并可直接將整組適配卡進(jìn)行更換，節(jié)省時(shí)間及治具成本，而輕易地達(dá)到上述的目的。


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，所附附圖的說(shuō)明如下圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的示意圖；以及圖2為本發(fā)明一實(shí)施例中，多片適配卡測(cè)試方法的流程圖。主要組件符號(hào)說(shuō)明1:計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10:中央處理器12、14:總線切換芯片120、122、124 裝置插槽140、142、144、146 裝置插槽 201-206 步驟
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D1。圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的示意圖。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1 包含位于主機(jī)板(未繪示)上的中央處理器10、總線切換芯片12及14，以及位于總線切換芯片12上的裝置插槽120、122及124與位于總線切換芯片14上的裝置插槽140、142、144 及 146。在一實(shí)施例中，總線切換芯片12及14為快速外圍裝置組件互連切換(PCIe switch)芯片。而裝置插槽120、122、124、140、142、144及146為快速外圍裝置組件互連插槽，可分別用以連接快速外圍裝置組件互連接口的適配卡(未繪示)。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D2。圖2為本發(fā)明一實(shí)施例中，多片適配卡測(cè)試方法的流程圖。多片適配卡測(cè)試方法可用以同時(shí)測(cè)試多片適配卡，包含下列步驟。于步驟201，使計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的主機(jī)板的多個(gè)個(gè)裝置插槽120、122、124、140、142、 144及146上插入一組待測(cè)適配卡。待測(cè)適配卡可以是網(wǎng)絡(luò)卡、磁盤(pán)陣列卡或是顯示卡。其中，一組待測(cè)適配卡中，可以包含單種適配卡，例如全為網(wǎng)絡(luò)卡，或是可以包含多個(gè)種適配卡，例如包含網(wǎng)絡(luò)卡、磁盤(pán)陣列卡或是顯示卡的組合。接著于步驟202，將計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1開(kāi)機(jī)以啟動(dòng)操作系統(tǒng)。中央處理器10將對(duì)所有的裝置插槽掃瞄一遍，以獲得各待測(cè)適配卡的相關(guān)參數(shù)。以圖1中的實(shí)施方式為例，中央處理器10將先進(jìn)行縱深再進(jìn)行橫向的掃瞄。因此，總線切換芯片12將被定義屬于總線一，其下的裝置插槽120、122、IM將被定義屬于總線二，總線切換芯片14將被定義屬于總線三， 其下的裝置插槽140、142、144及146將被定義屬于總線四。接著于步驟203，對(duì)該組待測(cè)適配卡對(duì)應(yīng)裝置插槽120、122、124、140、142、144及 146的映射表(未繪示)進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的多個(gè)參數(shù)。于一實(shí)施例中，映像表是儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的韌體(未繪示)中，用以記錄包含總線編號(hào)參數(shù)(bus)、裝置編號(hào)參數(shù)(dev)以及功能參數(shù)(fun)。舉例來(lái)說(shuō)，裝置插槽120、122、1M所記錄于映像表中的總線編號(hào)參數(shù)、裝置編號(hào)參數(shù)以及功能參數(shù)分別為0:8:0)、(2:9:0)及(2:10:0)，而裝置插槽140、142、144及146所記錄于映像表中的總線編號(hào)參數(shù)、裝置編號(hào)參數(shù)以及功能參數(shù)分別為0:8:0)、(4:9:0), (4:10:0)及0:4:0)。由于中央處理器1在掃瞄時(shí)的辨識(shí)方式與使用者目視所觀察到的位置并不相同，直接進(jìn)行熱插拔將容易造成誤拔的情形。因此，將上述的參數(shù)鎖住，將可確定各待測(cè)適配卡與各裝置插槽間的相對(duì)關(guān)系位置。于步驟204，對(duì)待測(cè)適配卡進(jìn)行啟動(dòng)流程以及測(cè)試流程。在一實(shí)施例中，啟動(dòng)流程一開(kāi)始先根據(jù)映像表中所記錄的相對(duì)關(guān)系位置進(jìn)行裝置插槽的連接開(kāi)啟動(dòng)作。接著，對(duì)裝置插槽進(jìn)行電源開(kāi)啟動(dòng)作，以提供電源給適配卡。于一實(shí)施例中裝置插槽可由12伏特或3 伏特電源進(jìn)行電源供應(yīng)。最后，進(jìn)行待測(cè)適配卡的驅(qū)動(dòng)功能開(kāi)啟動(dòng)作，以使待測(cè)適配卡可以根據(jù)中央處理器1的指令運(yùn)作。而對(duì)于不同種類的待測(cè)適配卡，可進(jìn)行不同的測(cè)試流程。舉例來(lái)說(shuō)，對(duì)于網(wǎng)絡(luò)卡可進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)臏y(cè)試，而對(duì)顯示卡，則可進(jìn)行畫(huà)面顯示的測(cè)試。由于不同的待測(cè)適配卡的測(cè)試流程所需耗費(fèi)的時(shí)間不一，因此在步驟205，當(dāng)待測(cè)適配卡其中一部分完成測(cè)試流程時(shí)，對(duì)待測(cè)適配卡進(jìn)行關(guān)閉流程以及移除程序。在一實(shí)施例中，關(guān)閉流程一開(kāi)始先進(jìn)行待測(cè)適配卡的驅(qū)動(dòng)功能關(guān)閉動(dòng)作，并再根據(jù)映像表中所記錄的相對(duì)關(guān)系位置進(jìn)行裝置插槽的連接關(guān)閉動(dòng)作，以及進(jìn)行裝置插槽的電源關(guān)閉動(dòng)作。移除程序則將待測(cè)適配卡的該部分自對(duì)應(yīng)的裝置插槽移除。于步驟206，插入其它待測(cè)適配卡于已移除的該部分對(duì)應(yīng)的裝置插槽，并判斷這些后續(xù)插入的待測(cè)適配卡與其裝置插槽上原先插入的待測(cè)適配卡是否為相同的待測(cè)適配卡。 舉例來(lái)說(shuō)，如果原先插入裝置插槽120的為A廠商的網(wǎng)絡(luò)卡，而在移除后所插入裝置插槽 120的為B廠商的網(wǎng)絡(luò)卡，則會(huì)判斷為不相同的待測(cè)適配卡。當(dāng)判斷為不相同時(shí)，則必需再次執(zhí)行步驟203，以對(duì)映射表重新設(shè)定。而當(dāng)判斷為相同類型的待測(cè)適配卡時(shí)，則可以不需再次設(shè)定，而以原先的映像表，直接執(zhí)行步驟204至206的流程，完成后續(xù)插入的待測(cè)適配卡的測(cè)試，以達(dá)到以熱插拔方式同時(shí)對(duì)多片適配卡進(jìn)行測(cè)試的功效。應(yīng)用本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于鎖住適配卡的參數(shù)后，可通過(guò)不需關(guān)閉并重新開(kāi)啟計(jì)算機(jī)系統(tǒng)電源的熱插拔方式，可持續(xù)對(duì)多片適配卡進(jìn)行測(cè)試，節(jié)省時(shí)間及治具成本。雖然本發(fā)明已以實(shí)施方式揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求書(shū)所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，包含下列步驟使一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的一主機(jī)板的多個(gè)裝置插槽上插入多個(gè)待測(cè)適配卡；將該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)開(kāi)機(jī)以啟動(dòng)一操作系統(tǒng)；對(duì)該多個(gè)待測(cè)適配卡對(duì)應(yīng)該多個(gè)裝置插槽的一映像表進(jìn)行設(shè)定，以鎖住該映射表中的多個(gè)參數(shù)；對(duì)該多個(gè)待測(cè)適配卡分別進(jìn)行一啟動(dòng)流程以及一測(cè)試流程；當(dāng)該多個(gè)待測(cè)適配卡其中一部分完成該測(cè)試流程，對(duì)該多個(gè)待測(cè)適配卡的該部分進(jìn)行一關(guān)閉流程以及一移除程序，以將該多個(gè)待測(cè)適配卡的該部分自對(duì)應(yīng)的該多個(gè)裝置插槽移除；以及插入至少一其它待測(cè)適配卡于已移除的該部分對(duì)應(yīng)的該多個(gè)裝置插槽以分別執(zhí)行該啟動(dòng)流程、該測(cè)試流程、該關(guān)閉流程以及該移除程序。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，當(dāng)該其它待測(cè)適配卡與相對(duì)應(yīng)的該多個(gè)待測(cè)適配卡的該部分為不同，對(duì)該映射表再次進(jìn)行設(shè)定，以鎖住該映射表中的該多個(gè)參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該裝置插槽為一快速外圍裝置組件互連插槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該映射表的該多個(gè)參數(shù)包含一總線編號(hào)參數(shù)、一裝置編號(hào)參數(shù)以及一功能參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該映像表儲(chǔ)存于該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的一韌體中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該啟動(dòng)流程還包含下列步驟根據(jù)該映像表進(jìn)行該裝置插槽的一連接開(kāi)啟動(dòng)作；進(jìn)行該裝置插槽的一電源開(kāi)啟動(dòng)作；以及進(jìn)行該多個(gè)待測(cè)適配卡的一驅(qū)動(dòng)功能開(kāi)啟動(dòng)作。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該關(guān)閉流程還包含下列步驟進(jìn)行該多個(gè)待測(cè)適配卡的該部分的一驅(qū)動(dòng)功能關(guān)閉動(dòng)作；根據(jù)該映像表進(jìn)行該裝置插槽的一連接關(guān)閉動(dòng)作；以及進(jìn)行該裝置插槽的一電源關(guān)閉動(dòng)作。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該多個(gè)待測(cè)適配卡包含一網(wǎng)絡(luò)卡、一磁盤(pán)陣列卡或一顯示卡。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該多個(gè)待測(cè)適配卡包含單一種類的多個(gè)待測(cè)適配卡。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測(cè)試方法，其特征在于，該多個(gè)待測(cè)適配卡包含多個(gè)種類的多個(gè)待測(cè)適配卡。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種多片適配卡測(cè)試方法，包含下列步驟使計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的主機(jī)板的多個(gè)裝置插槽上插入多個(gè)待測(cè)適配卡；將計(jì)算機(jī)系統(tǒng)開(kāi)機(jī)以啟動(dòng)操作系統(tǒng)；對(duì)待測(cè)適配卡對(duì)應(yīng)裝置插槽的映像表進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的多個(gè)參數(shù)；對(duì)待測(cè)適配卡分別進(jìn)行啟動(dòng)流程以及測(cè)試流程；當(dāng)待測(cè)適配卡其中一部分完成測(cè)試流程，對(duì)待測(cè)適配卡的該部分進(jìn)行關(guān)閉流程以及移除程序，以將待測(cè)適配卡的該部分自對(duì)應(yīng)的裝置插槽移除；以及插入其它待測(cè)適配卡于已移除的該部分對(duì)應(yīng)的裝置插槽以分別執(zhí)行啟動(dòng)流程、測(cè)試流程、關(guān)閉流程以及移除程序。
文檔編號(hào)G06F11/22GK102455959SQ201010518698
公開(kāi)日2012年5月16日 申請(qǐng)日期2010年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月18日
發(fā)明者宋建福, 金志仁 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司