專利名稱：電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種觸控面板，特別是關(guān)于一種電容式近接感測(cè)暨觸控偵測(cè)裝置與方法。
背景技術(shù)：
隨著光電科技的發(fā)展，近接切換裝置已被大量運(yùn)用在不同的機(jī)器上，例如智能性手機(jī)、運(yùn)輸工具的購(gòu)票系統(tǒng)、數(shù)字照像機(jī)、遙控器與液晶屏幕等。常見的近接切換裝置 (Proximity Device)包括如近接傳感器(Proximity sensor)與角蟲控面板(touch panel) 等。其中，近接傳感器的運(yùn)作方式為當(dāng)一物體靠近傳感器的感應(yīng)范圍內(nèi)，近接傳感器在觸及該物體或不觸及物體的狀況下，經(jīng)由近接感應(yīng)的方式得知該物體接近近接傳感器所在的位置。近接傳感器將感應(yīng)所得的信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)橐浑娮佑嵦?hào)，系統(tǒng)或機(jī)器會(huì)依據(jù)該電子訊號(hào)做出適當(dāng)?shù)姆磻?yīng)，達(dá)成控制系統(tǒng)狀態(tài)的目的。觸控面板則用于觸碰坐標(biāo)的計(jì)算，如單點(diǎn)觸碰坐標(biāo)或者多點(diǎn)觸碰坐標(biāo)的計(jì)算。近接傳感器又稱近接開關(guān)(Proximity Switch)，應(yīng)用在許多液晶電視、電源開關(guān)、 家電開關(guān)、門禁系統(tǒng)、手持式遙控器與手機(jī)等，近年來(lái)，更是這些裝置與設(shè)備不可或缺的角色之一。它負(fù)責(zé)偵測(cè)物體是否靠近，以便讓控制器了解目前物體所在的位置。以家電應(yīng)用來(lái)說(shuō)，近接傳感器被大量用在燈源的控制上，只要靠近近接傳感器或碰觸近接傳感器，依據(jù)感測(cè)訊號(hào)燈源就可進(jìn)行開或關(guān)的動(dòng)作。而近接傳感器的種類及外型琳瑯滿目，為長(zhǎng)方型、四方型、圓柱型、圓孔型、溝型、多點(diǎn)型等。依其原理可分成以下4種類型電感式、電容式、光電式與磁氣式。由上可知，近接傳感器與觸控面板的應(yīng)用領(lǐng)域差異極大，分別做為切換開關(guān)與觸碰坐標(biāo)的計(jì)算。以目前的技術(shù)而言，并未有如何處理近接傳感器與觸控面板兩者的整合應(yīng)用技術(shù)。因此，如何能整合近接傳感器與觸控面板兩者，進(jìn)而讓近接傳感器的短距離空間感測(cè)功能與觸碰坐標(biāo)偵測(cè)功能整合，成為可讓電子設(shè)備大幅增加應(yīng)用功能可能性的研究方向。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上習(xí)知技術(shù)的問題，本發(fā)明提供一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，用以偵測(cè)空間中對(duì)象進(jìn)入觸控面板的感應(yīng)范圍的情形。本發(fā)明提出一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，包括以下主要組件電容式觸控面板與控制單元。其中，電容式觸控面板具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極，X軸電極與 Y軸電極用以偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生觸碰訊號(hào)。控制單元連接電容式觸控面板并具有近接偵測(cè)模式與觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生近接資料；當(dāng)執(zhí)行觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)觸碰訊號(hào)計(jì)算對(duì)象的至少一坐標(biāo)資料。本發(fā)明更提供一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，包括以下主要組件電容式觸控面板與控制單元。其中，電容式觸控面板具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極，X軸電極與 Y軸電極用以偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生觸碰訊號(hào)?？刂茊卧B接電容式觸控面板并具有近接偵測(cè)模式與觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生Z軸近接資料；當(dāng)執(zhí)行觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)觸碰訊號(hào)計(jì)算該對(duì)象的至少一坐標(biāo)資料。本發(fā)明還提供一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法，運(yùn)用于具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極的一電容式觸控面板，X軸電極與Y軸電極用以偵測(cè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生觸碰訊號(hào)，包含以下步驟提供電容式觸控面板近接偵測(cè)模式；執(zhí)行近接偵測(cè)模式；依據(jù)一工作時(shí)序，偵測(cè)對(duì)象進(jìn)入X軸電極與Y軸電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)；依據(jù)工作時(shí)序與感應(yīng)訊號(hào)，依序產(chǎn)生近接資料；及依據(jù)工作時(shí)序、X軸電極與Y軸電極所對(duì)應(yīng)的近接資料，計(jì)算對(duì)象的一 X軸移動(dòng)趨勢(shì)、一 Y軸移動(dòng)趨勢(shì)與一 Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉數(shù)個(gè)較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說(shuō)明如下


圖IA為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第一實(shí)施例；圖IB為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第一實(shí)施例中選擇近接偵測(cè)模式的示意圖；圖2為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中觸控面板電極感應(yīng)范圍于Y 軸的示意圖，其為輸出為一階近接資料的實(shí)施例；圖3A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為一階近接資料的實(shí)施例；圖;3B為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為一階近接資料的實(shí)施例；圖4A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖且輸出為一階近接資料的實(shí)施例；圖4B為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為一階近接資料的實(shí)施例；圖5A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為一階近接資料且于接近面板的實(shí)施例；圖5B為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為一階近接資料且于接近面板的實(shí)施例；圖6A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中觸控面板電極感應(yīng)范圍于 Y軸的示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例；圖6B為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中觸控面板電極感應(yīng)范圍于 X軸的示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例； 圖7A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例；
圖7B為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為多階近接資料的實(shí)施例；圖7C為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于Tl與T2 時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖7D為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于T3與T4 時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖7E為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于T5與T6 時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖8A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例；圖8B為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為多階近接資料的實(shí)施例；圖8C為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于Tl與T2 時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖8D為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于T3與T4 時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖8E為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于T5與T6 時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖9A為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第二實(shí)施例；圖9B為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第二實(shí)施例中選擇近接偵測(cè)模式的示意圖；圖9C為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第三實(shí)施例；圖9D為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第三實(shí)施例中選擇近接偵測(cè)模式的示意圖；圖IOA為運(yùn)用圖9C中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y 電極層的剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖；圖IOB為運(yùn)用圖9C中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y 電極層的剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖；圖IOC為運(yùn)用圖9D中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X 電極層的剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖；圖IOD為運(yùn)用圖9D中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X 電極層的剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖；圖IlA為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象以軌跡101經(jīng)過觸控面板17的偵測(cè)示意圖；圖IlB為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖； 圖1IC為圖1IB中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于Y軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖； 圖IlD為圖IlC中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖IlE為圖IlC中于T3與T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖IlF為圖IlC中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖IlG為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖；圖IlH為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖；圖IlI為圖IlGUlH中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于X 軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖；圖IlJ為圖IlI中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖IlK為圖IlI中于T3與T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖IlL為圖IlI中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖12A為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且采用選擇近接偵測(cè)模式；圖12B為圖12A中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于Y軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖；圖12C為圖12B中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖12D為圖12B中于T3與T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖12E為圖12B中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖12F為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖且采用選擇近接偵測(cè)模式；圖12G為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且采用選擇近接偵測(cè)模式；圖12H為圖12F、12G中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于X 軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖；圖121為圖12H中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖12J為圖12H中于T3與T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖12K為圖12H中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖；圖13為運(yùn)用本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，所偵測(cè)出的移動(dòng)趨勢(shì)，再由移動(dòng)趨勢(shì)判斷手勢(shì)的示意圖；圖14為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，一階近接偵測(cè)模式的一實(shí)施例；圖15為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，多階近接偵測(cè)模式的一實(shí)施例；圖16為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，多階近接偵測(cè)模式的另一實(shí)施例；圖17為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，選擇近接偵測(cè)模式的一實(shí)施例；及圖18為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，選擇近接偵測(cè)模式的
另一實(shí)施例。主要組件符號(hào)說(shuō)明1、3、4電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置2 物件11、12、17 觸控面板13Y軸電極14觸控偵測(cè)電路15X軸電極16近接偵測(cè)電路18控制電路19Y軸電極20-1 20-20 電極2IX軸電極22控制單元M連接板41、42、43、44、45、46、47、48、49、50 感應(yīng)范圍51、52感應(yīng)范圍53、54 重心61、62、63、64、71、72 感應(yīng)范圍81、82、83、84、85、86、87、88、89、90 感應(yīng)范圍91、92、93、94、95、96、97、98、99、100 感應(yīng)范圍101、102、103、105 軌跡Dl D5 距離D21 D22 距離P1、P2、P3、P4、P5、P6 移動(dòng)趨勢(shì)Tl T6 時(shí)序
具體實(shí)施例方式本發(fā)明運(yùn)用電容式觸控面板本身所具有的近接感應(yīng)功能，將所偵測(cè)到的近接感應(yīng)訊號(hào)輸出為近接資料，并依據(jù)近接資料計(jì)算出各個(gè)維度的移動(dòng)趨勢(shì)，再依據(jù)各個(gè)維度的移動(dòng)趨勢(shì)來(lái)計(jì)算近接空間當(dāng)中的手勢(shì)判斷，進(jìn)而輸出為控制指令。其中，本發(fā)明運(yùn)用一控制單元來(lái)實(shí)現(xiàn)觸控感測(cè)與近接感測(cè)功能，并藉由單一總線輸出代表近接感應(yīng)訊號(hào)結(jié)果的近接資料與代表觸碰坐標(biāo)的坐標(biāo)資料。電容式觸控面板主要分兩類，分別為表面電容式觸控面板與投射電容式觸控面板。投射電容式觸控面板具有可偵測(cè)多點(diǎn)觸碰的功能，然而，近年來(lái)，也有廠商將表面電容式觸控面板制作為可偵測(cè)多點(diǎn)觸碰的功能。無(wú)論何種電容式觸控面板，凡具有多點(diǎn)觸碰偵測(cè)功能的電容式觸控面板結(jié)構(gòu)，無(wú)論是單層或兩層的結(jié)構(gòu)，本發(fā)明均可運(yùn)用的。因此，以下各電容式觸控面板的實(shí)施例，僅為本發(fā)明為說(shuō)明起見所列舉者，并非用以限定本發(fā)明。首先，請(qǐng)參考圖1A，其為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第一實(shí)施例，其為以扁平三角形垂直排列于單層的實(shí)施例。電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置1包含有觸控面板11、連接板M與控制單元22。其中，觸控面板11上有三角電極 20-1 20-20，分別以三角電極20-1/20-2、三角電極20-3/20-4、三角電極20-5/20-6、三角電極20-7/20-8、三角電極20-9/20-10、三角電極20_11/20-12、三角電極20-13/20-14、三角電極20-15/20-16、三角電極20-17/20-18、三角電極20-19/20-20為Y軸配對(duì)排列。亦即，三角電極間彼此絕緣且以X軸至少兩個(gè)與一 Y軸至少兩個(gè)設(shè)置，三角電極用來(lái)偵測(cè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)訊號(hào)并用來(lái)偵測(cè)對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生觸碰訊號(hào)。控制單元22當(dāng)中包含有觸控偵測(cè)電路14、近接偵測(cè)電路16與控制電路18。控制單元22透過連接板M連接觸控面板11，并具有一近接偵測(cè)模式與一觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生近接資料；當(dāng)執(zhí)行觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)觸碰訊號(hào)計(jì)算對(duì)象的至少一坐標(biāo)資料。在控制單元22當(dāng)中，近接偵測(cè)電路16經(jīng)由連接板M連接觸控面板11，用以接收感應(yīng)訊號(hào)并產(chǎn)生近接資料；觸控偵測(cè)電路14經(jīng)由連接板M連接觸控面板11，用以接收該觸碰訊號(hào)并計(jì)算觸碰坐標(biāo)；控制電路18連接近接偵測(cè)電路16與觸控偵測(cè)電路14，用以控制近接偵測(cè)模式與觸控偵測(cè)模式的切換執(zhí)行，并將該近接資料與該觸碰坐標(biāo)傳輸出去。須注意，圖IA的近接偵測(cè)電路16、觸控偵測(cè)電路14與控制電路18的連接關(guān)系，僅為本發(fā)明為說(shuō)明起見所列舉者，并非用以限定本發(fā)明。此外，本發(fā)明亦可將可偵測(cè)多點(diǎn)觸碰坐標(biāo)的電容式觸控面板以選擇性偵測(cè)的方式來(lái)進(jìn)行近接感測(cè)控制。例如，圖IB即為選擇了圖IA當(dāng)中的三角電極20-1/20-2、三角電極 20-7/20-8、三角電極20-13/20-14、三角電極20-19/20-20作為選擇近接偵測(cè)模式的偵測(cè)電極，其余的電極不做近接偵測(cè)用。具體的作法后續(xù)將會(huì)描述。當(dāng)把電容式觸控面板當(dāng)作空間的近接偵測(cè)之用時(shí)，近接偵測(cè)電路16的偵測(cè)輸出結(jié)果有兩種，分別為一階近接資料與多階近接資料。其中一階近接資料為對(duì)象進(jìn)入電容式觸控面板的近接感應(yīng)空間后，所輸出的一位資料。多階近接資料則為依據(jù)對(duì)象的接近距離而產(chǎn)生的不同感應(yīng)量大小，可輸出多位資料，例如，二位、三位、四位…。以下，將于圖3A 5B說(shuō)明輸出一階近接資料的近接偵測(cè)，并于圖6A 8E說(shuō)明輸出多接近接資料的近接偵測(cè)，并且，皆以圖IA當(dāng)中的軌跡101與軌跡102作為實(shí)施例。其中，軌跡101為由觸控面板11的左上移動(dòng)至左下。軌跡102為由觸控面板11的左上移動(dòng)至右上。以下分別說(shuō)明。首先，請(qǐng)參考圖2，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中觸控面板電極感應(yīng)范圍于Y軸的示意圖，其為輸出為一階近接資料的實(shí)施例。圖2說(shuō)明了每個(gè)三角電極于A-A軸向看過去的電極感應(yīng)范圍，其最大感測(cè)距離為距離D1，實(shí)際感測(cè)距離當(dāng)視實(shí)際的電極設(shè)計(jì)為準(zhǔn)，且每個(gè)電極感應(yīng)范圍41 50大略相同。只要有對(duì)象進(jìn)入電極感應(yīng)范圍 41 50當(dāng)中，三角電極11即會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)訊號(hào)，而近接感測(cè)電路16即會(huì)產(chǎn)生一階近接資料。圖3A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為一階近接資料的實(shí)施例。圖3A為圖IA 中的軌跡101經(jīng)過A-A剖面的示意圖，因此，三角電極20-1、20-3、20-5、20-7、20-9、20-11、 20-13、20-15、20-17與20-19等，分別在不同的時(shí)序Tl T6偵測(cè)到對(duì)象2而產(chǎn)生感應(yīng)訊號(hào)。接著，請(qǐng)參考圖:3B，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過 Y軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為一階近接資料的實(shí)施例。由圖3A、圖 3B可計(jì)算得對(duì)象2于Y軸的移動(dòng)速度。圖;3B為圖3A的實(shí)施例中所輸出的近接資料封包示意圖，可以發(fā)現(xiàn)，在時(shí)序Tl時(shí)， 分別有三角電極20-1、20-3感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有三角電極20-1、20-3、20-5、20-7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路 16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有三角電極20-3、20-5、20-7、20-9感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有三角電極 20-9、20-11、20-13、20-15感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，分別有三角電極20-13、20-15、20-17、20-19感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，分別有三角電極20-17、20-19感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。由圖:3B的資料可知，在時(shí)序Tl T6，有負(fù)Y軸的移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生。而此移動(dòng)趨勢(shì)的速度，可以時(shí)序Tl T6當(dāng)中的封包移動(dòng)速度來(lái)計(jì)算而得。例如，取時(shí)序T2時(shí)封包的中心為三角電極20-3、20-5之間，取時(shí)序T5時(shí)封包的中心為三角電極20-15、20-17之間，即可計(jì)算得負(fù)Y軸的移動(dòng)速度。接著，由圖4A、圖4B的實(shí)施例，可計(jì)算得X軸的移動(dòng)趨勢(shì)。圖4A為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖且輸出為一階近接資料的實(shí)施例，對(duì)象以圖IA的軌跡102移動(dòng)。由于圖IA的觸控面板11當(dāng)中的三角電極皆為扁平三角電極結(jié)構(gòu)，于是，在 X軸向，僅有兩個(gè)三角電極分布。如圖4A所示，在B-B剖面，有三角電極20-1與三角電極 20-2。由圖4A可發(fā)現(xiàn)，在時(shí)序Tl T6，對(duì)象2由三角電極20-1的近接感應(yīng)范圍移動(dòng)至三角電極20-2的近接感應(yīng)范圍。于是，可以計(jì)算得X軸的移動(dòng)趨勢(shì)。接著，請(qǐng)參考圖4B，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過 X軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為一階近接資料的實(shí)施例，并以三角電極20-1 20-10的輸出資料為范例。在時(shí)序Tl時(shí)，分別有三角電極20-1、20-3、20-5、20-7 感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有三角電極20-1、20-3、20-5、20-7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有三角電極20-1、20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、20-7、20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有三角電極20-1、 20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、20-7、20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，分別有三角電極20-2、20-4、20-6、20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，分別有三角電極20-2、20-4、20-6、 20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。由圖4B的資料可知，在時(shí)序Tl T6，有正X軸的移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生。由圖2的近接偵測(cè)感應(yīng)范圍41 50可知，實(shí)際的感應(yīng)范圍會(huì)因?yàn)殡姌O的設(shè)計(jì)而有所不同。例如，以空間角θ max代表感應(yīng)范圍41 50的Z軸垂直夾角。在空間角θ max的限制下，在對(duì)象最接近面板的狀況，將有靠近對(duì)象的部分電極方能感應(yīng)，這與空間中進(jìn)入感應(yīng)范圍是相同的原理。圖5A即為說(shuō)明快觸碰到觸控面板11的對(duì)象移動(dòng)狀況，其同樣以軌跡101來(lái)做模擬，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為一階近接資料且于接近面板的實(shí)施例。由圖5A 可發(fā)現(xiàn)，由于空間角的限制，在時(shí)序Tl T6之間，只有部分的三角電極可偵測(cè)到對(duì)象。輸出封包如圖5B所示，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為一階近接資料且于接近面板的實(shí)施例。在時(shí)序Tl時(shí)，僅有三角電極20-1感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有三角電極20-1、20-3、20-5、20-7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)， 而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有三角電極20-7、20-9、 20-11、20-13感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T4 時(shí)，分別有三角電極20-11、20-13、20-15感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，分別有三角電極20-15、20-17、20-19感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，僅有三角電極20-19感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的一階近接資料。就本發(fā)明而言，使用者采用何種空間移動(dòng)軌跡來(lái)運(yùn)動(dòng)，必須經(jīng)過觸控面板11的近接偵測(cè)方能獲知。就圖5B的一階近接資料而言，同樣可看到在時(shí)序Tl T6期間，對(duì)象2 由三角電極20-1朝三角電極20-19移動(dòng)，亦即，移動(dòng)趨勢(shì)為負(fù)Y軸方向。依據(jù)近接偵測(cè)電路16所輸出的一階近接資料，控制電路18可據(jù)以計(jì)算X軸、Y軸相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)或X、Y軸平面手勢(shì)。最終，控制單元22可輸出一階近接資料，Χ、Υ軸相對(duì)坐標(biāo)，或平面手勢(shì)指令。圖3Α 5Β的實(shí)施例是采用一階近接資料來(lái)進(jìn)行空間中的二維運(yùn)動(dòng)判斷。對(duì)于三維的對(duì)象位置、移動(dòng)趨勢(shì)、移動(dòng)軌跡的判斷，則須運(yùn)用多階近接資料來(lái)進(jìn)行。運(yùn)用多階近接資料，可獲得較多的信息，相對(duì)地，其需要較復(fù)雜的運(yùn)算方能獲得所需的信息。接著，請(qǐng)參考圖6Α，其為圖IA的實(shí)施例中，電極感應(yīng)范圍于Y軸的示意圖，其為沿 A-A剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例，為了說(shuō)明起見，僅描感應(yīng)范圍61 64。 感應(yīng)范圍61 64在圖6Α中，是以不同的半徑為模擬的狀況，其說(shuō)明了進(jìn)入不同的半徑距離時(shí)，由于感應(yīng)量的大小不同，近接偵測(cè)電路16將會(huì)輸出不同的多階近接資料。不同的多階近接資料代表不同的感應(yīng)量，也代表了對(duì)象2與觸控面板11不同的空間距離。接著，請(qǐng)參考圖6Β，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中觸控面板電極感應(yīng)范圍于X軸的示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例。 由于三角電極為扁平狀的電極，因此，三角電極20-1、20-2的空間感應(yīng)范圍71、72概如圖6Β 所示。同樣地，在不同的半徑范圍內(nèi)，由于感應(yīng)量的大小不同，近接偵測(cè)電路16將會(huì)輸出不同的多階近接資料。不同的多階近接資料代表不同的感應(yīng)量，也代表了對(duì)象2與觸控面板 11不同的空間距離。以下，將于圖7Α 8Ε說(shuō)明輸出為多階近接資料的情形。請(qǐng)參考圖7Α，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例。由圖中可發(fā)現(xiàn)，在時(shí)序Tl T6的時(shí)間間隔中，對(duì)象2由靠近三角電極20-5、20-7的上方逐漸朝三角電極20-19接近。因此，其有負(fù)Y軸的移動(dòng)趨勢(shì)以及負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)。由圖中也可概略看出，對(duì)象2于時(shí)序Tl T6的時(shí)間間隔中，每個(gè)時(shí)序所進(jìn)入的近接感應(yīng)范圍不同。 實(shí)際的近接資料輸出，請(qǐng)參考圖7B，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為多階近接資料的實(shí)施例。圖7B中，在時(shí)序Tl時(shí)，三角電極20-3、20-5、20-7、20-9感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有三角電極20-5、20-7、20-9、 20-11、20-13感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T3時(shí)， 分別有三角電極20-9、20-11、20-13、20-15、20-17感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有三角電極20-11、20-13、20-15、20-17、20-19 感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，分別有三角電極20-15、20-17、20-19感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，僅有三角電極20-19感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。多階近接資料的實(shí)際數(shù)值，請(qǐng)參考圖7C 7E。圖7C為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于Tl與T2 時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Tl，三角電極20-3、20-5、20-7、20-9所代表的多階近接資料分別為1、2、2、1，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。在時(shí)序T2，三角電極20-5、20-7、20-9、 20-11,20-13所代表的多階近接資料分別為2、3、6、6、3。圖7D為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于T3與T4 時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T3，三角電極20-9、20-11、20-13、20-15、20-17所代表的多階近接資料分別為3、4、7、7、4。在時(shí)序T4，三角電極20-11、20-13、20-15、20-17、20-19 所代表的多階近接資料分別為5、7、10、10、7。圖7E為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于T5與T6 時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T5，三角電極20-15、20-17、20-19所代表的多階近接資料分別為8、12、13。在時(shí)序T6，三角電極20-19所代表的多階近接資料為13。藉由圖7C 7E的感應(yīng)量大小值，可推算出物件在Z軸的相對(duì)距離。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用此相對(duì)距離的變化，可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)與垂直移動(dòng)手勢(shì)等信息。圖8A 8E則說(shuō)明了以B-B剖面看過去的三角電極對(duì)對(duì)象2的感應(yīng)與多階近接資料的輸出結(jié)果。請(qǐng)參考圖8A，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序的偵測(cè)示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖且輸出為多階近接資料的實(shí)施例。由此圖可發(fā)現(xiàn)，在時(shí)序Tl T6過程中，對(duì)象2由空間中的左上移至右下。亦即，有產(chǎn)生正X 軸與負(fù)Y軸的移動(dòng)趨勢(shì)。請(qǐng)參考圖8B，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于不同時(shí)序所輸出的近接資料示意圖，其為輸出為多階近接資料的實(shí)施例。圖8B中，在時(shí)序Tl時(shí)，三角電極20-1、20-3、20-5、20_7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有三角電極20-1、20-3、20-5、 20-7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有三角電極20-1、20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、20-7、20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路 16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有三角電極20-1、20-2、20-3、20-4、20-5、 20-6、20-7、20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序 T5時(shí)，分別有三角電極20-1、20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、20-7、20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，有三角電極20-2、20-4、20-6、 20-8感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。由圖8B的資料改變趨勢(shì)可知，對(duì)象2采取正X軸的平行移動(dòng)方式進(jìn)行移動(dòng)。在搭配圖8A來(lái)看，對(duì)象2位于觸控面板11上方時(shí)，由于三角電極20-1、20-2兩者有感應(yīng)范圍的差異，因此，可模擬三角電極20-1、20-2分別有重心53與重心M。并藉由近接資料的大小來(lái)推算出其距離重心53、54的距離，即可取得對(duì)象2與觸控面板11相對(duì)的Z軸距離。多階近接資料的實(shí)際數(shù)值，請(qǐng)參考圖8C 8E。圖8C為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于Tl與T2 時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Tl，三角電極20-1、20-3、20-5、20-7所代表的多階近接資料分別為2、3、3、2，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。在時(shí)序T2，三角電極20-1、20-3、20-5、 20-7所代表的多階近接資料分別為4、5、5、4。圖8D為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于T3與 T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T3，三角電極20-1、20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、 20-7、20-8所代表的多階近接資料分別為4、1、5、2、5、2、4、1。在時(shí)序T4，三角電極20_1、 20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、20-7、20-8 所代表的多階近接資料分別為 3、5、4、7、4、6、3、4。 由圖8C、8D可發(fā)現(xiàn)，對(duì)象2正由靠近三角電極20-1的重心53的部分往靠近三角電極20_2 的重心M的部分，并且，有逐漸接近觸控面板11的趨勢(shì)。圖8E為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過X軸于T5與 T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T5，三角電極20-1、20-2、20-3、20-4、20-5、20-6、 20-7、20-8所代表的多階近接資料分別為1、8、2、10、2、9、1、7。在時(shí)序T6，三角電極20_2、 20-4,20-6,20-8所代表的多階近接資料為7、9、8、6。因此，由圖8B與圖8C 8E的感應(yīng)量移動(dòng)與大小值的變化，可推算出對(duì)象在Z軸的相對(duì)距離，運(yùn)用此相對(duì)距離的變化，可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)與垂直移動(dòng)手勢(shì)等信息?？偫▉?lái)說(shuō)，依據(jù)近接偵測(cè)電路16所輸出的多階近接資料，控制電路18可據(jù)以計(jì)算 X軸、Y軸、Z軸相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)或X、Y軸平面手勢(shì)或三維手勢(shì)或垂直手勢(shì)等。最終，控制單元22可輸出多階近接資料，X、Y、Z軸相對(duì)坐標(biāo)，或平面手勢(shì)指令，或垂直手勢(shì)指令、三維手勢(shì)指令。由圖IA 8E的實(shí)施例可知，本發(fā)明可運(yùn)用具有三角電極的單層電容式觸控面板來(lái)實(shí)現(xiàn)空間中的對(duì)象近接偵測(cè)，進(jìn)而取得空間中的對(duì)象近接資料、對(duì)象移動(dòng)趨勢(shì)、對(duì)象手勢(shì)等?？勺屇壳皟H有觸碰偵測(cè)功能的電容式觸控面板增加對(duì)象三維近接感測(cè)的功能，以實(shí)現(xiàn)面板的近場(chǎng)手勢(shì)控制。除了單層三角電極外，雙層的電極配置，如自電容式觸控面板或互電容式觸控面板等，運(yùn)用本發(fā)明亦可將其增加三維的近接感測(cè)功能。以下，列舉數(shù)個(gè)實(shí)施例說(shuō)明。請(qǐng)參考圖9A，其為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第二實(shí)施例。圖9A的觸控面板12所示者為一般投射電容式觸控面板常使用的鉆石結(jié)構(gòu)電極，其為以X軸電極15、Y軸電極13分別設(shè)置于兩層的結(jié)構(gòu)?？刂茊卧?2的結(jié)構(gòu)與功能則與圖 IA相同，以下不再贅述。圖9B為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第二實(shí)施例中選擇近接偵測(cè)模式的示意圖。圖9B說(shuō)明了本發(fā)明亦可將可偵測(cè)多點(diǎn)觸碰坐標(biāo)的電容式觸控面板以選擇性偵測(cè)的方式來(lái)進(jìn)行近接感測(cè)控制。例如，圖9B即為選擇了圖9A當(dāng)中的Y軸電極Y1、Y4、Y7…TOn+Ι等，X軸電極X1、X4、X7…X3m+1等電極作為選擇近接偵測(cè)模式的偵測(cè)電極，其余的電極不做近接偵測(cè)用。具體的作法后續(xù)將會(huì)描述。圖9C為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第三實(shí)施例。圖 9A的觸控面板17所示者為一般投射電容式觸控面板常使用的條形結(jié)構(gòu)電極，其為以X軸電極21、Y軸電極19分別設(shè)置于兩層的結(jié)構(gòu)?？刂茊卧?2的結(jié)構(gòu)與功能則與圖IA相同，不再贅述。圖9D為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的功能方塊圖第三實(shí)施例中選擇近接偵測(cè)模式的示意圖。圖9D說(shuō)明了本發(fā)明亦可將可偵測(cè)多點(diǎn)觸碰坐標(biāo)的電容式觸控面板以選擇性偵測(cè)的方式來(lái)進(jìn)行近接感測(cè)控制。例如，圖9D即為選擇了圖9C當(dāng)中的Y軸電極Y1、Y4、Y7…TOn+Ι等，X軸電極X1、X4、X7…X3m+1等電極作為選擇近接偵測(cè)模式的偵測(cè)電極，其余的電極不做近接偵測(cè)用。具體的作法后續(xù)將會(huì)描述。以下，將舉圖9C與圖9D為例，來(lái)做本發(fā)明的對(duì)象空間近接偵測(cè)功能的實(shí)施例。首先，請(qǐng)參考圖10A，其為運(yùn)用圖9C中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y電極層的剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖。由圖中可觀察到，感應(yīng)范圍81 90為Y軸電極于A-A剖面的感應(yīng)范圍，其最大可感應(yīng)范圍為Dl。圖IOB為運(yùn)用圖9C中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y 電極層的剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖。由圖中可觀察到，感應(yīng)范圍82為Y軸電極 Y2于B-B剖面的感應(yīng)范圍，其最大可感應(yīng)范圍為D1。不同的相對(duì)高度為D2、D3、D4、D5···， 當(dāng)對(duì)象進(jìn)入不同的感應(yīng)范圍時(shí)，近接偵測(cè)電路16即會(huì)產(chǎn)生不同的多階近接資料。圖IOC為運(yùn)用圖9D中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X 電極層的剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖。由圖中可觀察到，感應(yīng)范圍91 100為 X軸電極于B-B剖面的感應(yīng)范圍，其最大可感應(yīng)范圍為Dl。圖IOD為運(yùn)用圖9D中本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X 電極層的剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖。由圖中可觀察到，感應(yīng)范圍92為X軸電極 X2于A-A剖面的感應(yīng)范圍，其最大可感應(yīng)范圍為Dl。不同的相對(duì)高度為D2、D3、D4、D5···， 當(dāng)對(duì)象進(jìn)入不同的感應(yīng)范圍時(shí)，近接偵測(cè)電路16即會(huì)產(chǎn)生不同的多階近接資料。以下，僅列舉一移動(dòng)軌跡為例，來(lái)分別說(shuō)明本發(fā)明的全掃描式與選擇掃描式的近接偵測(cè)。其中，圖IlA IlL為全掃描式近接偵測(cè)的實(shí)施例，圖12A 1 則為選擇掃描式近接偵測(cè)的實(shí)施例。首先，請(qǐng)參考圖11A，其為運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象以軌跡103經(jīng)過觸控面板17的偵測(cè)示意圖。亦即，對(duì)象是以負(fù)Y軸且以負(fù)Z軸進(jìn)行運(yùn)動(dòng)。以下，將由圖IlB IlL說(shuō)明本發(fā)明如何取得X軸相對(duì)坐標(biāo)、Y軸相對(duì)坐標(biāo)與Z軸相對(duì)坐標(biāo)以及此一移動(dòng)趨勢(shì)。請(qǐng)參考圖11B，其為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖。由圖中可發(fā)現(xiàn)，對(duì)象2于時(shí)序Tl T6，由觸控面板17的靠近Y軸電極TO J4上方，移動(dòng)至Y軸電極的右側(cè)。由于對(duì)象2于不同時(shí)序經(jīng)過不同的電極感應(yīng)范圍，因此，將有不同的電極會(huì)因此而產(chǎn)生感應(yīng)量的變化。請(qǐng)參考圖11C，其為圖IlB中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于Y軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖。圖IlC中，在時(shí)序Tl時(shí)，Y軸電極Y2、Y3J4J5感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路 16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有Y軸電極TO、Y4、Y5、Y6、Y7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有Y軸電極Y5、 Y6、Y7、Y8、Y9感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T4 時(shí)，分別有Y軸電極Y6、Y7、Y8、Y9、Y10感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序Τ5時(shí)，分別有Y軸電極Υ8、Υ9、Υ10感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路 16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序Τ6時(shí)，僅有Y軸電極YlO感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。多階近接資料的實(shí)際數(shù)值，請(qǐng)參考圖IlD 11F。圖IlD為圖IlC中于Tl與Τ2時(shí)所輸出的近接資料示意圖。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于Tl與Τ2時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Τ1，Υ 軸電極Υ2、Υ3、W、TO所代表的多階近接資料分別為1、2、2、1，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。在時(shí)序Τ2，Y軸電極TO、Υ4、TO、Υ6、Υ7所代表的多階近接資料分別為2、3、6、6、3。圖IlE為圖IlC中于Τ3與Τ4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于Τ3與Τ4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Τ3， Y軸電極TO、Y6、Y7、Y8、Y9所代表的多階近接資料分別為3、4、7、7、4。在時(shí)序T4，Y軸電極 Y6、Y7、Y8、Y9、YlO所代表的多階近接資料分別為5、7、10、10、7。圖IlF為圖IlC中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T5，Y軸電極 Y8、Y9、YlO所代表的多階近接資料分別為8、12、13。在時(shí)序T6，Y軸電極YlO所代表的多階近接資料為13。藉由圖IlD IlF的感應(yīng)量大小值，可推算出物件在Z軸的相對(duì)距離。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用此相對(duì)距離的變化，可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)與垂直移動(dòng)手勢(shì)等信息。亦即，單從Y軸的掃描周期， 即可取得Y軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)，以及Z軸的相對(duì)坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢(shì)。至于X軸的相對(duì)坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢(shì)，則必須以X軸的掃描偵測(cè)控制取得，請(qǐng)參考圖IlG 11L。圖IlG為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖。圖IlH為運(yùn)用圖IlA 中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖。參考此兩圖可發(fā)現(xiàn)，從不同的角度來(lái)看，即可看出對(duì)象2的移動(dòng)。在圖IlG中，物件2為負(fù)Z軸的運(yùn)動(dòng)；在圖IlH中，物件2同樣為負(fù)Z軸的運(yùn)動(dòng)，并無(wú)具體的X軸運(yùn)動(dòng)。換句話說(shuō)，若對(duì)象2具有X軸運(yùn)動(dòng)，當(dāng)由圖IlG可看出端倪。當(dāng)然，可于后續(xù)的多階近接資料的輸出順序以及輸出的大小，了解對(duì)象2于X軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)，以及對(duì)象2于Z軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)。接著，請(qǐng)參考圖111，其為圖IlGUlH中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于X軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖。圖IlI中，在時(shí)序Tl時(shí)，X軸電極X1、X2、X3感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16 也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有X軸電極X1、X2、X3、X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)， 而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有X軸電極XI、X2、X3、 X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有X 軸電極X1、X2、X3、X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，分別有X軸電極XI、X2、X3、X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，有X軸電極XI、X2、X3感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16 也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。接著，請(qǐng)參考圖11J，其為圖IlI中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Tl，X軸電極X1、X2、X3所代表的多階近接資料分別為1、2、1，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。 在時(shí)序T2，X軸電極Xl、X2、X3、X4所代表的多階近接資料分別為3、5、3、2。圖IlK為圖IlI中于T3與T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T3，X軸電極 X1、X2、X3、X4所代表的多階近接資料分別為5、7、5、3，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。在時(shí)序T4， X軸電極XI、X2、X3、X4所代表的多階近接資料分別為7、9、7、4。圖IlL為圖IlI中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T5，X軸電極 X1、X2、X3、X4所代表的多階近接資料分別為9、11、9、7，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。在時(shí)序T6， X軸電極Xl、X2、X3所代表的多階近接資料分別為11、13、11。藉由圖IlI IlL的感應(yīng)量大小值，可推算出物件在Z軸的相對(duì)距離。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用此相對(duì)距離的變化，可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)與垂直移動(dòng)手勢(shì)等信息。亦即，單從X軸的掃描周期， 即可取得X軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)，以及Z軸的相對(duì)坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢(shì)。綜合圖IlA IlL的說(shuō)明，當(dāng)可明了本發(fā)明可取得在電容式觸控面板的空間感應(yīng)范圍內(nèi)，于空間中的X軸相對(duì)坐標(biāo)、Y軸相對(duì)坐標(biāo)與Z軸相對(duì)坐標(biāo)。同時(shí)，運(yùn)用不同時(shí)序所取得的多階近接資料，可計(jì)算出X軸移動(dòng)趨勢(shì)、Y軸移動(dòng)趨勢(shì)。最終，可計(jì)算得空間中的手勢(shì)，而進(jìn)行三維的手勢(shì)操控。接著，以下將以圖12A 1 來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的選擇掃描式的近接偵測(cè)方式，同樣可計(jì)算得空間中的X軸相對(duì)坐標(biāo)、Y軸相對(duì)坐標(biāo)與Z軸相對(duì)坐標(biāo)。同時(shí)，運(yùn)用不同時(shí)序所取得的多階近接資料，可計(jì)算出X軸移動(dòng)趨勢(shì)、Y軸移動(dòng)趨勢(shì)。最終，可計(jì)算得空間中的手勢(shì)，而進(jìn)行三維的手勢(shì)操控。請(qǐng)參考圖12A，其為運(yùn)用圖1IA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中Y電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖。由圖中可發(fā)現(xiàn)，由于僅有Y軸電極Yl、Y4、Y7、YlO被致能，因此，僅有此四個(gè)電極于Y軸掃描時(shí)可偵測(cè)對(duì)象的近接感應(yīng)。其中，對(duì)象2于時(shí)序Tl T6，由觸控面板17的靠近Y軸電極Y3、W上方，移動(dòng)至Y軸電極的右側(cè)，動(dòng)作同圖IlB時(shí)的情形。由于對(duì)象2于不同時(shí)序經(jīng)過不同的電極感應(yīng)范圍，因此，將有不同的電極會(huì)因此而產(chǎn)生感應(yīng)量的變化。請(qǐng)參考圖12B，其為圖12A中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于Y軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖。圖12B中，在時(shí)序Tl時(shí)，Y軸電極W感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T2時(shí)，分別有Y軸電極Y4、Y7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，僅有Y軸電極Y7感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有Y軸電極Y7、YlO感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，僅有Y軸電極YlO感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，僅有Y軸電極 YlO感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。多階近接資料的實(shí)際數(shù)值，請(qǐng)參考圖IlD 11F。圖12C為圖12B中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Tl， Y軸電極料所代表的多階近接資料分別為2，數(shù)值大者代表感應(yīng)量大。在時(shí)序T2，Y軸電極 Υ4、Υ7所代表的多階近接資料分別為3、3。圖12D為圖12Β中于Τ3與Τ4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象經(jīng)過Y軸于Τ3與Τ4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Τ3， Y軸電極Υ7所代表的多階近接資料分別為7。在時(shí)序Τ4，Y軸電極Υ7、Υ10所代表的多階近接資料分別為7、7。圖12Ε為圖12Β中于Τ5與Τ6時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Τ5，Y軸電極 YlO所代表的多階近接資料分別為13。在時(shí)序Τ6，Y軸電極YlO所代表的多階近接資料為 13。藉由圖12Α 12Ε的感應(yīng)量大小值，可推算出物件在Z軸的相對(duì)距離。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用此相對(duì)距離的變化，可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)與垂直移動(dòng)手勢(shì)等信息。亦即，單從Y軸的掃描周期， 即可取得Y軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)，以及Z軸的相對(duì)坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢(shì)。至于X軸的相對(duì)坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢(shì)，則必須以X軸的掃描偵測(cè)控制取得，請(qǐng)參考圖12F 12Κ。圖12F為運(yùn)用圖IlA中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿B-B剖面的示意圖。圖12G為運(yùn)用圖IlA 中的軌跡101于本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置的第三實(shí)施例中X電極層的偵測(cè)剖面示意圖，其為沿A-A剖面的示意圖。參考此兩圖可發(fā)現(xiàn)，從不同的角度來(lái)看，即可看出對(duì)象2的移動(dòng)。在圖12F中，物件2為負(fù)Z軸的運(yùn)動(dòng)；在圖12G中，物件2同樣為負(fù)Z軸的運(yùn)動(dòng)，并無(wú)具體的X軸運(yùn)動(dòng)。換句話說(shuō)，若對(duì)象2具有X軸運(yùn)動(dòng)，當(dāng)由圖12F可看出端倪。當(dāng)然，可于后續(xù)的多階近接資料的輸出順序以及輸出的大小，了解對(duì)象2于X軸的相對(duì)坐標(biāo)、 移動(dòng)趨勢(shì)，以及對(duì)象2于Z軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)。接著，請(qǐng)參考圖12Η，其為圖12F、12G中運(yùn)用本發(fā)明電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置中，對(duì)象于X軸在不同時(shí)序所輸出的多階近接資料示意圖。圖12Η中，在時(shí)序Tl時(shí)，X軸電極Xl感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序Τ2時(shí)，分別有X軸電極XI、Χ4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T3時(shí)，分別有X軸電極XI、X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)， 而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T4時(shí)，分別有X軸電極XI、X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T5時(shí)，分別有X軸電極 XI、X4感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。時(shí)序T6時(shí)，有X 軸電極Xl感測(cè)到感應(yīng)訊號(hào)，而近接偵測(cè)電路16也輸出對(duì)應(yīng)的多階近接資料。接著，請(qǐng)參考圖121，其為圖12H中于Tl與T2時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序Tl，X軸電極Xl所代表的多階近接資料分別為1。在時(shí)序T2，X軸電極XI、X4所代表的多階近接資料分別為3、2。圖12J為圖12H中于T3與T4時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T3，X軸電極 XI、X4所代表的多階近接資料分別為5、3。在時(shí)序T4，X軸電極XI、X4所代表的多階近接資料分別為7、4。圖12K為圖12H中于T5與T6時(shí)所輸出的近接資料示意圖。在時(shí)序T5，X軸電極 XI、X4所代表的多階近接資料分別為9、7。在時(shí)序T6，X軸電極Xl所代表的多階近接資料分別為11。藉由圖12F 12K的感應(yīng)量大小值，可推算出物件在Z軸的相對(duì)距離。亦即，以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)的平均值換算為物件與觸控面板于Z軸的相對(duì)距離。運(yùn)用此相對(duì)距離的變化，可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)與垂直移動(dòng)手勢(shì)等信息。亦即，單從X軸的掃描周期， 即可取得X軸的相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)，以及Z軸的相對(duì)坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢(shì)?？偫▉?lái)說(shuō)，依據(jù)近接偵測(cè)電路16所輸出的多階近接資料，控制電路18可據(jù)以計(jì)算 X軸、Y軸、Z軸相對(duì)坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢(shì)或X、Y軸平面手勢(shì)或三維手勢(shì)或垂直手勢(shì)等。最終，控制單元22可輸出多階近接資料，X、Y、Z軸相對(duì)坐標(biāo)，或平面手勢(shì)指令，或垂直手勢(shì)指令、三維手勢(shì)指令。綜合圖12A 12K的說(shuō)明，當(dāng)可明了本發(fā)明可取得在電容式觸控面板的空間感應(yīng)范圍內(nèi)，于空間中的X軸相對(duì)坐標(biāo)、Y軸相對(duì)坐標(biāo)與Z軸相對(duì)坐標(biāo)。同時(shí)，運(yùn)用不同時(shí)序所取得的多階近接資料，可計(jì)算出X軸移動(dòng)趨勢(shì)、Y軸移動(dòng)趨勢(shì)。最終，可計(jì)算得空間中的手勢(shì)，而進(jìn)行三維的手勢(shì)操控。亦即，以選擇掃描式的近接偵測(cè)，同樣可達(dá)到全掃描式的近接偵測(cè)所需的資料。但在X軸相對(duì)坐標(biāo)、Y軸相對(duì)坐標(biāo)的取得上，全掃描式的近接偵測(cè)分辨率可較高。由以上的實(shí)施例可知，控制單元22實(shí)際上所包含的近接偵測(cè)模式與觸碰偵測(cè)模式，其中的近接偵測(cè)模式可包含全掃描式、選擇掃描式兩種或其中之一。接下來(lái)，請(qǐng)參考圖13，其說(shuō)明了本發(fā)明如何運(yùn)用電容式觸控面板來(lái)計(jì)算得手勢(shì)的示意圖。圖13為運(yùn)用本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，所偵測(cè)出的移動(dòng)趨勢(shì)，再由移動(dòng)趨勢(shì)判斷手勢(shì)的示意圖。在不同的掃描區(qū)間的對(duì)象移動(dòng)，本發(fā)明可取得不同的掃描區(qū)間的移動(dòng)趨勢(shì)Pl P6。若近接資料為一階近接資料時(shí)，移動(dòng)趨勢(shì)Pl P6僅能判斷其為平面的移動(dòng)趨勢(shì)，進(jìn)而判斷出平面的空間移動(dòng)手勢(shì)，圖13的實(shí)施例為劃圓。若近接資料為多階近接資料時(shí)，每個(gè)移動(dòng)趨勢(shì)Pl P6將包含有X軸、Y軸與Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)信息。因此，將可判斷圖13的手勢(shì)為三維手勢(shì)。以下，將以數(shù)個(gè)流程圖說(shuō)明本發(fā)明所揭露的方法。請(qǐng)參考圖14，其為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，一階近接偵測(cè)模式的一實(shí)施例，包含以下步驟步驟110 開啟電容式觸控面板的一階近接偵測(cè)模式。步驟112 依據(jù)工作時(shí)序，分別偵測(cè)對(duì)象進(jìn)入各電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)。步驟114 依據(jù)工作時(shí)序，依據(jù)各電極所輸出的感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生一階近接資料。步驟116 依據(jù)X軸、Y軸的各電極所對(duì)應(yīng)的一階近接資料計(jì)算該對(duì)象于X軸、Y軸的移動(dòng)趨勢(shì)。步驟118 依據(jù)X軸、Y軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生一平面手勢(shì)指令。亦即，依照?qǐng)D14的步驟，最基本的可以取得X軸、Y軸的移動(dòng)趨勢(shì)，進(jìn)而可以取得空間中的平面手勢(shì)指令。此外，本實(shí)施例的方法可適用于前述的不同電容式觸控面板的電極配置。接著，請(qǐng)參考圖15，其為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，多階近接偵測(cè)模式的一實(shí)施例，包含以下步驟步驟120 開啟電容式觸控面板的近接偵測(cè)模式。步驟122 依據(jù)工作時(shí)序，分別偵測(cè)對(duì)象進(jìn)入電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)。步驟124 依據(jù)工作時(shí)序與各電極所輸出的感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生多階感應(yīng)資料。步驟126 依據(jù)多個(gè)工作時(shí)序中X軸的各電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于X軸與Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)。步驟128 依據(jù)多個(gè)工作時(shí)序中Y軸的各電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于Y軸與Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)。步驟130 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生平面手勢(shì)指令。步驟132 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生三維手勢(shì)指令。亦即，依照?qǐng)D15的步驟，最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)，進(jìn)而可以取得平面手勢(shì)指令或者空間中的三維手勢(shì)指令，此外，亦可于步驟中增加取得垂直手勢(shì)指令的步驟。此外，本實(shí)施例的方法可適用于前述的不同電容式觸控面板的電極配置。圖16為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，多階近接偵測(cè)模式的另一實(shí)施例，包含以下步驟步驟120 開啟電容式觸控面板的近接偵測(cè)模式。步驟122 依據(jù)工作時(shí)序，分別偵測(cè)對(duì)象進(jìn)入電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)。步驟124 依據(jù)工作時(shí)序與各電極所輸出的感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生多階感應(yīng)資料。步驟125 依據(jù)X軸的各電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于各時(shí)序的X軸與Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)。步驟127 依據(jù)Y軸的各電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于各時(shí)序的Y軸與Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)。步驟129 依據(jù)各時(shí)序于X軸、Y軸與Z軸的相對(duì)空間坐標(biāo)，產(chǎn)生X、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。步驟130 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生平面手勢(shì)指令。
步驟132 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生三維手勢(shì)指令。亦即，依照?qǐng)D16的步驟，最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸的相對(duì)坐標(biāo)以及對(duì)象的移動(dòng)趨勢(shì)，進(jìn)而可以取得平面手勢(shì)指令或者空間中的三維手勢(shì)指令，此外，亦可于步驟中增加取得垂直手勢(shì)指令的步驟。此外，本實(shí)施例的方法可適用于前述的不同電容式觸控面板的電極配置。圖17為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，選擇近接偵測(cè)模式的一實(shí)施例，包含以下步驟步驟140 開啟電容式觸控面板的選擇近接偵測(cè)模式。步驟142 依據(jù)工作時(shí)序，分別偵測(cè)對(duì)象進(jìn)入經(jīng)選擇的電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)。步驟144 依據(jù)工作時(shí)序與各經(jīng)選擇的電極所輸出的感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生多階感應(yīng)資料。步驟146 依據(jù)多個(gè)工作時(shí)序中X軸的各經(jīng)選擇的電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于X軸與Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)。步驟148 依據(jù)多個(gè)工作時(shí)序中Y軸的各經(jīng)選擇的電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于Y軸與Z軸的移動(dòng)趨勢(shì)。步驟150 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生平面手勢(shì)指令。步驟152 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生三維手勢(shì)指令。亦即，依照?qǐng)D17的步驟，最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸對(duì)象移動(dòng)趨勢(shì)，進(jìn)而可以取得平面手勢(shì)指令或者空間中的三維手勢(shì)指令，此外，亦可于步驟中增加取得垂直手勢(shì)指令的步驟。此外，本實(shí)施例的方法可適用于前述的不同電容式觸控面板的電極配置。圖18為本發(fā)明的電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法流程圖，選擇近接偵測(cè)模式的另一實(shí)施例，包含以下步驟步驟140 開啟電容式觸控面板的選擇近接偵測(cè)模式。步驟142 依據(jù)工作時(shí)序，分別偵測(cè)對(duì)象進(jìn)入經(jīng)選擇的電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)。步驟144 依據(jù)工作時(shí)序與各經(jīng)選擇的電極所輸出的感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生多階感應(yīng)資料。步驟145 依據(jù)X軸的各經(jīng)選擇的電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于各時(shí)序的X軸與Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)。步驟147 依據(jù)Y軸的各經(jīng)選擇的電極所對(duì)應(yīng)的多階感應(yīng)資料，計(jì)算該對(duì)象于各時(shí)序的Y軸與Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)。步驟149 依據(jù)各時(shí)序于X軸、Y軸與Z軸的相對(duì)空間坐標(biāo)，產(chǎn)生X、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。步驟150 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生平面手勢(shì)指令。步驟152 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生三維手勢(shì)指令。亦即，依照?qǐng)D18的步驟，最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸的相對(duì)坐標(biāo)以及對(duì)象的移動(dòng)趨勢(shì)，進(jìn)而可以取得平面手勢(shì)指令或者空間中的三維手勢(shì)指令，此外，亦可于步驟中增加取得垂直手勢(shì)指令的步驟。此外，本實(shí)施例的方法可適用于前述的不同電容式觸控面板的電極配置。此外，在圖16 18的實(shí)施例中，若為三角電極的觸控面板，計(jì)算對(duì)象于工作時(shí)序所對(duì)應(yīng)的Y軸坐標(biāo)，是依據(jù)相鄰的兩個(gè)電極所產(chǎn)生的感應(yīng)訊號(hào)，以重心暨三角定位法計(jì)算出Y軸坐標(biāo)。雖然本發(fā)明的較佳實(shí)施例揭露如上所述，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習(xí)相關(guān)技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的專利保護(hù)范圍須視本說(shuō)明書所附的權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，其特征在于，包含一電容式觸控面板，具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極，該些X軸電極與該些Y軸電極用以偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)該對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰訊號(hào)； 及一控制單元，連接該電容式觸控面板并具有一近接偵測(cè)模式與一觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行該近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)該感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生一近接資料；當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)該觸碰訊號(hào)計(jì)算該對(duì)象的至少一坐標(biāo)資料。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，該控制單元包含一近接偵測(cè)電路，用以接收該感應(yīng)訊號(hào)并產(chǎn)生該近接資料；一觸控偵測(cè)電路，用以接收該觸碰訊號(hào)并計(jì)算該觸碰坐標(biāo)；及一控制電路，用以控制該近接偵測(cè)模式與該觸控偵測(cè)模式的切換執(zhí)行，并將該近接資料與該觸碰坐標(biāo)傳輸出去。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于該些X軸電極與該些Y軸電極的設(shè)置是選自分別設(shè)置于不同層；位于同一層并于一X軸以平行排列，且于一Y軸以三角對(duì)稱排列。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于該近接資料為一階近接資料。
5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些X軸電極與該些Y軸電極對(duì)應(yīng)的該些近接資料計(jì)算該對(duì)象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)，或計(jì)算該對(duì)象的一 X軸移動(dòng)趨勢(shì)、一 Y軸移動(dòng)趨勢(shì)。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于該控制單元依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢(shì)與該Y軸移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生一平面手勢(shì)指令。
7.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于該近接資料為多階近接資料，該多階近接資料是依據(jù)該對(duì)象的接近距離而產(chǎn)生的不同感應(yīng)量大小。
8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些X軸電極與該些Y軸電極對(duì)應(yīng)的該些近接資料計(jì)算該對(duì)象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)、一 Z軸坐標(biāo)， 或計(jì)算該對(duì)象的一 X軸移動(dòng)趨勢(shì)、一 Y軸移動(dòng)趨勢(shì)與一 Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)包含一移動(dòng)方向與一移動(dòng)角度。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于該控制單元依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢(shì)與該Y軸移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生一平面近接手勢(shì)，該控制單元依據(jù)該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生一垂直近接手勢(shì)，該控制單元依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢(shì)、該Y軸移動(dòng)趨勢(shì)與該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生一三維近接手勢(shì)。
10.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于該控制單元包含一選擇近接偵測(cè)模式與一觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行該選擇近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)經(jīng)選擇的該些X軸電極、該Y軸電極所產(chǎn)生的該感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生該近接資料；當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)該觸碰訊號(hào)產(chǎn)生該觸碰坐標(biāo)。
11.一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置，其特征在于，包含一電容式觸控面板，具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極，該些X軸電極與該些Y軸電極用以偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)該對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰訊號(hào)； 及一控制單元，連接該電容式觸控面板并具有一近接偵測(cè)模式與一觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行該近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)該感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生一 Z軸近接資料；當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)該觸碰訊號(hào)計(jì)算該對(duì)象的至少一坐標(biāo)資料。
12.如權(quán)利要求11所述的裝置，其特征在于該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些X軸電極與該些Y軸電極對(duì)應(yīng)的該Z軸近接資料計(jì)算該對(duì)象一 Z軸坐標(biāo)或一 Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，該Z 軸移動(dòng)趨勢(shì)包含一移動(dòng)方向與一移動(dòng)角度。
13.如權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于該控制單元依據(jù)該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生一垂直近接手勢(shì)。
14.如權(quán)利要求11所述的裝置，其特征在于該控制單元包含一選擇近接偵測(cè)模式與一觸碰偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行該選擇近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)經(jīng)選擇的該些X軸電極、該Y軸電極所產(chǎn)生的該感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生該Z軸近接資料；當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)該觸碰訊號(hào)產(chǎn)生該觸碰坐標(biāo)。
15.一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法，運(yùn)用于具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極的一電容式觸控面板，該些X軸電極與該些Y軸電極用以偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)該對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰訊號(hào)，其特征在于，包含以下步驟提供該電容式觸控面板一近接偵測(cè)模式； 執(zhí)行該近接偵測(cè)模式；依據(jù)一工作時(shí)序，偵測(cè)一對(duì)象進(jìn)入該些X軸電極與該些Y軸電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的該些感應(yīng)訊號(hào)；依據(jù)該工作時(shí)序與該感應(yīng)訊號(hào)，依序產(chǎn)生一近接資料；及依據(jù)該工作時(shí)序、該些X軸電極與該些Y軸電極所對(duì)應(yīng)的該些近接資料，計(jì)算該對(duì)象的一 X軸移動(dòng)趨勢(shì)、一 Y軸移動(dòng)趨勢(shì)與一 Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，更包含以下步驟依據(jù)該近接資料，計(jì)算該對(duì)象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)、一 Z軸坐標(biāo)；及輸出該X軸坐標(biāo)、該Y軸坐標(biāo)與該Z軸坐標(biāo)。
17.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，更包含以下步驟 依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢(shì)與該Y軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生一平面手勢(shì)指令； 依據(jù)該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)產(chǎn)生一 Z軸手勢(shì)指令；及依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢(shì)、該Y移動(dòng)趨勢(shì)與該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)，產(chǎn)生一三維手勢(shì)指令。
18.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于該近接資料為多階近接資料，該多階近接資料是依據(jù)該對(duì)象的接近距離而產(chǎn)生的不同感應(yīng)量大小。
19.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于其中計(jì)算該對(duì)象的該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)的步驟，包含以下步驟依據(jù)該些X軸電極所對(duì)應(yīng)的該多階近接資料，以該些X軸電極所輸出的一最大感應(yīng)量計(jì)算一 Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)；及依據(jù)該工作時(shí)序所對(duì)應(yīng)的該Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)，計(jì)算該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。
20.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于其中計(jì)算該對(duì)象的該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)的步驟，包含以下步驟依據(jù)該些Y軸電極所對(duì)應(yīng)的該多階近接資料，以該些Y軸電極所輸出的一最大感應(yīng)量計(jì)算一 Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)；及依據(jù)該工作時(shí)序所對(duì)應(yīng)的該Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)，計(jì)算該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。
21.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于其中計(jì)算該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)的步驟，包含以下步驟依據(jù)該些X軸電極與該些Y軸電極所對(duì)應(yīng)的該多階近接資料，計(jì)算該對(duì)象于該工作時(shí)序所對(duì)應(yīng)的一 Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)；及依據(jù)該工作時(shí)序所對(duì)應(yīng)的該Z軸相對(duì)空間坐標(biāo)，計(jì)算該Z軸移動(dòng)趨勢(shì)。
22.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于其中計(jì)算該對(duì)象的該X軸移動(dòng)趨勢(shì)與該Y 軸移動(dòng)趨勢(shì)的步驟，包含以下步驟依據(jù)該些X軸電極與該些Y軸電極中輸出一最大感應(yīng)量的至少一個(gè)該X軸電極、該Y 軸電極所對(duì)應(yīng)的該坐標(biāo)，計(jì)算該對(duì)象于該工作時(shí)序中所對(duì)應(yīng)的一 X軸坐標(biāo)與一 Y軸坐標(biāo)；及依據(jù)該X坐標(biāo)與該Y軸坐標(biāo)的變化，計(jì)算該X軸移動(dòng)趨勢(shì)與該Y軸移動(dòng)趨勢(shì)。
23.如權(quán)利要求22所述的方法，其特征在于其中計(jì)算該對(duì)象于該工作時(shí)序所對(duì)應(yīng)的該Y軸坐標(biāo)，是依據(jù)相鄰的兩個(gè)該電極所產(chǎn)生的該感應(yīng)訊號(hào)，以重心暨三角定位法計(jì)算出該Y軸坐標(biāo)。
24.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于其中該近接偵測(cè)模式為一選擇近接偵測(cè)模式，當(dāng)執(zhí)行該選擇近接偵測(cè)模式時(shí)，依據(jù)經(jīng)選擇的該些X軸電極、該Y軸電極所產(chǎn)生的該感應(yīng)訊號(hào)產(chǎn)生該近接資料。
25.一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)方法，運(yùn)用于具有復(fù)數(shù)個(gè)X軸電極與Y軸電極的一電容式觸控面板，該些X軸電極與該些Y軸電極用以偵測(cè)至少一個(gè)對(duì)象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)訊號(hào)，并偵測(cè)該對(duì)象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰訊號(hào)，其特征在于，包含以下步驟提供該電容式觸控面板一近接偵測(cè)模式；執(zhí)行該近接偵測(cè)模式；依據(jù)一工作時(shí)序，偵測(cè)一對(duì)象進(jìn)入該些X軸電極與該些Y軸電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的該些感應(yīng)訊號(hào)；依據(jù)該工作時(shí)序與該感應(yīng)訊號(hào)，依序產(chǎn)生一近接資料；依據(jù)該近接資料，計(jì)算該對(duì)象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)、一 Z軸坐標(biāo)；及輸出該X軸坐標(biāo)、該Y軸坐標(biāo)與該Z軸坐標(biāo)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電容式近接感應(yīng)暨觸控偵測(cè)裝置與方法。運(yùn)用電容式觸控面板的電極的近接感應(yīng)功能，將各電極所偵測(cè)到的近接感應(yīng)訊號(hào)輸出為一階或多階近接資料，并依據(jù)一階或多階近接資料計(jì)算出各個(gè)維度的移動(dòng)趨勢(shì)。藉由不同時(shí)序的一階近接資料可得空間中的平面移動(dòng)手勢(shì)，藉由多階近接資料可取得三個(gè)維度的移動(dòng)趨勢(shì)，并計(jì)算近接空間當(dāng)中的三維手勢(shì)。
文檔編號(hào)G06F3/044GK102446042SQ20101051306
公開日2012年5月9日 申請(qǐng)日期2010年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月12日
發(fā)明者陳亦達(dá), 顏敏峰 申請(qǐng)人:誼達(dá)光電科技股份有限公司