專利名稱：一種高速傳輸事件檢測(cè)方法及電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)檢測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種高速傳輸事件檢測(cè)方法及電路。
背景技術(shù)：
高速傳輸事件檢測(cè)器被廣泛應(yīng)用在通用串行總線(USB，Universal Series Bus) 接收設(shè)備中，用于對(duì)輸入U(xiǎn)SB接收設(shè)備的數(shù)據(jù)進(jìn)行靜噪處理。高速傳輸事件檢測(cè)器根據(jù)檢測(cè)USB接口上的差分信號(hào)電壓的幅度，判斷出USB接口上的差分信號(hào)線上傳輸?shù)男盘?hào)是噪聲還是有效數(shù)據(jù)。當(dāng)差分信號(hào)電壓的幅度小于最小接收幅度時(shí)，高速傳輸事件檢測(cè)器關(guān)閉或者屏蔽差分?jǐn)?shù)據(jù)接收器，防止噪聲經(jīng)過接收器轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)邏輯信號(hào)進(jìn)入后續(xù)電路；當(dāng)差分信號(hào)電壓的幅度大于最小接收幅度時(shí)，高速傳輸事件檢測(cè)器判斷出差分信號(hào)線上傳輸?shù)氖怯行?shù)據(jù)，則高速傳輸事件檢測(cè)器允許該差分信號(hào)輸入到接收器?，F(xiàn)有技術(shù)中高速傳輸事件檢測(cè)器包括2個(gè)差分放大器和2個(gè)比較器。其中，一個(gè)差分放大器差分放大輸入的參考高電壓信號(hào)和輸入的參考低電壓信號(hào)，輸出一個(gè)放大的參考高電壓信號(hào)和一個(gè)放大的參考低電壓信號(hào)；另一差分放大器差分放大輸入的差分信號(hào)， 輸出放大的差分信號(hào)；一個(gè)比較器對(duì)輸入的差分信號(hào)和放大的參考高電壓信號(hào)進(jìn)行比較， 當(dāng)差分信號(hào)分別都低于放大的參考高電壓信號(hào)時(shí)，該比較器輸出為高；另一個(gè)比較器對(duì)輸入的差分信號(hào)和放大的參考低電壓信號(hào)進(jìn)行比較，當(dāng)差分信號(hào)分別都高于放大的參考低電壓信號(hào)時(shí)，該比較器輸出為高；兩個(gè)比較器的輸出都為高時(shí)，該檢測(cè)器檢測(cè)到的差分信號(hào)是有效信號(hào)，否則為噪聲。通過對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的研究發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)中比較器對(duì)輸入的差分信號(hào)中的每個(gè)信號(hào)的電壓都與放大的參考高電壓(或者放大的參考低電壓)進(jìn)行比較，每個(gè)比較器中需要分別進(jìn)行兩次比較，降低了比較器的處理速度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種高速傳輸事件檢測(cè)方法及電路，可以提高檢測(cè)速度。本發(fā)明實(shí)施例提供一種高速傳輸事件檢測(cè)電路，包括第一電壓電流轉(zhuǎn)換器，用于將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，其中，所述差分電流信號(hào)包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào)；第二電壓電流轉(zhuǎn)換器，用于將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，所述參考差分電流信號(hào)包括正參考電流信號(hào)和負(fù)參考電流信號(hào)；其中，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器和第二電壓電流轉(zhuǎn)換器具有相同的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)和相同的輸出差分電流的共模值；第一比較器，用于比較所述正電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大?。坏诙容^器，用于比較所述負(fù)電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大??；輸出電路，用于當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第一電壓值，所述第一電壓值表示所述輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)。本發(fā)明實(shí)施例還提供一種高速傳輸事件檢測(cè)方法，包括將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，其中，所述差分電流信號(hào)包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào)；將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，所述參考差分電流信號(hào)包括 正參考電流信號(hào)和負(fù)參考電流信號(hào)；其中，輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，與輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，具有相同的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)和相同的輸出差分電流的共模值；比較所述正電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大??；比較所述負(fù)電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大小；當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第一電壓值，所述第一電壓值表示輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)的電壓。本發(fā)明實(shí)施例中通過由于第一、二電壓電流轉(zhuǎn)換器可以將輸入的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為電流信號(hào)，且輸出的電流信號(hào)的電流值與輸入的差分電壓信號(hào)的正信號(hào)的電壓和負(fù)信號(hào)的電壓的差值具有線性關(guān)系，從而將輸入的差分電壓信號(hào)的正、負(fù)信號(hào)的電壓差是否大于輸入的參考電壓值的判斷，轉(zhuǎn)化為輸出的電流信號(hào)的電流值是否大于輸出參考電流信號(hào)的電流值，每個(gè)比較器中僅僅需要比較一次，從而在同等比較器電路條件下，提高了比較器的處理信號(hào)的速度。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)電路示意圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)電路的電路圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)電路相應(yīng)檢測(cè)點(diǎn)處的波形圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供一種高速傳輸事件檢測(cè)方法的流程簡(jiǎn)圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明實(shí)施例提供一種高速傳輸事件檢測(cè)方法及電路。以下分別進(jìn)行詳細(xì)說明。如圖1所示為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)電路示意圖，包括第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1，第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2，第一比較器3，第二比較器4，和輸出電路5，其中，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1和第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2結(jié)構(gòu)相同。其中，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1，用于將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)， 其中，所述差分電流信號(hào)包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào)；其中，如圖1所示的，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1輸出的正電流信號(hào)可以輸入到第一比較器3的反相輸入端，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1輸出的負(fù)電流信號(hào)可以輸入到第二比較器4
5的反相輸入端。第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2，用于將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，所述參考差分電流信號(hào)包括正參考電流信號(hào)和負(fù)參考電流信號(hào)；其中，如圖1所示的，第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2輸出的正參考電流信號(hào)，或者是負(fù)參考電流信號(hào)，分別輸入到第一、二比較器的同相輸入端。第一電壓電流轉(zhuǎn)換器和第二電壓電流轉(zhuǎn)換器具有相同的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)和相同的輸出差分電流的共模值。還需要說明的是，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器，具體根據(jù)差分電壓信號(hào)的正負(fù)電壓信號(hào)的電壓差值與轉(zhuǎn)換后的差分電流信號(hào)具有線性關(guān)系，將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，且，第二電壓電流轉(zhuǎn)換器，具體可以是根據(jù)輸入的參考電壓信號(hào)與接地信號(hào)的電壓差值與轉(zhuǎn)換后的參考差分電流信號(hào)具有線性關(guān)系，將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)。若第一、二電壓電流轉(zhuǎn)換器對(duì)電壓和電流轉(zhuǎn)換采用非線性關(guān)系，也是可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的。第一比較器3，用于比較所述正電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大 第二比較器4，用于比較所述負(fù)電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大輸出電路5，用于當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出輸出第一電壓值，所述第一電壓值表示輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)的電壓。需要理解的是，當(dāng)?shù)谝槐容^器3、第二比較器4中的比較結(jié)果是其它情況時(shí)，輸出電路5中輸出表示輸入的差分電壓信號(hào)是噪聲的電壓。輸出電路5中輸出的表示輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)的電壓，可以是高電壓，從而控制USB接收設(shè)備屏蔽噪聲，接收有效信號(hào)。本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)電路，由于第一、二電壓電流轉(zhuǎn)換器可以將輸入的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為電流信號(hào)，且輸出的電流信號(hào)(包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào))的電流值與輸入的差分電壓信號(hào)的正信號(hào)的電壓和負(fù)信號(hào)的電壓的差值具有線性關(guān)系，從而將輸入的差分電壓信號(hào)的正、負(fù)信號(hào)的電壓差是否大于輸入的參考電壓值的判斷，轉(zhuǎn)化為輸出的電流信號(hào)(包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào))的電流值是否大于輸出參考電流信號(hào)的電流值，每個(gè)比較器中僅僅需要比較一次，從而在同等比較器電路條件下，提高了比較器的處理信號(hào)的速度。進(jìn)一步，輸出電路5還用于當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值不小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值不小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第二電壓值，所述第二電壓值表示所述輸入的差分電壓信號(hào)是噪聲；圖1所示的高速傳輸事件檢測(cè)電路還包括過濾電路6的輸入端與輸出電路5輸出端連接，用于用于當(dāng)輸出的相鄰兩個(gè)第一電壓值的時(shí)間間隔小于等于時(shí)間段Vt時(shí)，將該時(shí)間間隔內(nèi)輸出的第二電壓值轉(zhuǎn)換為第一電壓值輸出，其中，所述時(shí)間段Vt為有效差分信號(hào)的翻轉(zhuǎn)用時(shí)。過濾電路的具體可以用于當(dāng)輸入的差分電壓信號(hào)從高變到低時(shí)，輸出的時(shí)間延長(zhǎng)時(shí)間Td后變低，當(dāng)輸入的電壓從低變到高時(shí)，輸出電壓為高；其中，時(shí)間Td大于差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)時(shí)間Tc。需要理解的是，設(shè)置Td的值稍大于差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)時(shí)間Tc的原因是忽略差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)時(shí)間，當(dāng)差分信號(hào)在非翻轉(zhuǎn)時(shí)間被檢測(cè)出為有效信號(hào)，則該差分信號(hào)在翻轉(zhuǎn)時(shí)間內(nèi)也被認(rèn)定是有效數(shù)據(jù)。后續(xù)實(shí)施例中會(huì)詳細(xì)說明。如圖2所示為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種高速傳輸事件檢測(cè)電路，該電路與圖1 提供的電路相似，都包括第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1，第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2，第一比較器3，第二比較器4，和輸出電路5;也可以包括過濾電路6。圖2提供的檢測(cè)電路是更具體的一種實(shí)現(xiàn)電路。其中，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1包括金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體(MOS，Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)管M1、M2、M3、M4、M5、M12、M22，其中，Ml、 M2、M3是P型MOSFET管(簡(jiǎn)稱PMOS管)，M4、M5、M12、M22是N型MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管(簡(jiǎn)稱NMOS管)。PMOS管Ml的源極與電源VDD連接，PMOS管Ml的漏極分別與PMOS管M2、M3 的源極連接，PMOS管M2、M3的漏極分別對(duì)應(yīng)的與NMOS管M4、M5的漏、柵極連接，NMOS管M4 和Ml2連接成電流鏡，NMOS管M5和M22連接成電流鏡。差分電壓信號(hào)中正電壓信號(hào)D+和負(fù)電壓信號(hào)D-分別從PMOS管M2、M3的柵極輸入該第一電壓電流轉(zhuǎn)換器，正輸出電流Idp 經(jīng)NMOS管M4鏡像到NMOS管M12的漏極，負(fù)輸出電流Idm經(jīng)NMOS管M5鏡像到NMOS管M22 的漏極。通過選擇適當(dāng)?shù)钠秒妷篵iasl輸入到PMOS管M1，使得第一電壓電流轉(zhuǎn)換器可以控制對(duì)輸入的差分電壓信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換，通過第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1處理后的差分電壓信號(hào) D+、D-對(duì)應(yīng)的差分輸出電流可以用下式(1)、⑵表示Idp = I cv+gm* (Vdp-Vdm) (1)Idm = I cv+gm* (Vdm-Vdp) (2)其中，gm為電壓電流轉(zhuǎn)換器的跨導(dǎo)，也可以稱為電壓電流轉(zhuǎn)換器的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)，由PMOS管M2、M3的物理參數(shù)尺寸確定。Icv為電壓電流轉(zhuǎn)換器輸出差分電流的共模值，即PMOS管Ml電流的二分之一。第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2包括屮]\ )3管116、]\17、]\18，匪05管119、]\110、]\111、]\121，偏置電壓輸入到PMOS管M6的柵極，PMOS管M6的源極與電源連接，PMOS管M6的漏極分別與PMOS 管M7、M8的源極連接，PMOS管M7、M8的漏極分別對(duì)應(yīng)的與NMOS管M9、M10的漏、柵極連接， PMOS管M8的柵極接地，PMOS管M7的柵極用于輸入所述參考電壓信號(hào)；PMOS管M10、Mil、 NMOS管M21組成的電流鏡，將流過NMOS管MlO的正參考電流信號(hào)分別鏡像到NMOS管Ml 1、 M21的漏極。則通過第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2轉(zhuǎn)換輸出的參考電流信號(hào)如下式(3)所示Iref = I cv+gm* (Vref-O)(3)其中，第二電壓電流轉(zhuǎn)換器的輸入端輸入的電壓信號(hào)分別為參考電壓信號(hào)Vref 和接地信號(hào)。第一比較器3 包括屮]\ )5管機(jī)3、]\114、]\115、]\116、]\117、]\118，NMOS 管 M19、M20，PMOS t=M13、M14、M15、M16、M17、M18的源極接電源，PMOS管M15的漏、柵極和PMOS管Ml3的漏極、PMOS管M14的柵極、PMOS管M18的柵極相連，作為比較器的同相輸入端，PMOS管M16的漏、柵極和PMOS管M14的漏極、PMOS管M13的柵極、PMOS管M17的柵極相連，作為比較器的反相輸入端，匪OS管M19的漏、柵極和PMOS管M17的漏極、匪OS管M20的柵極相連，匪OS管M19、M20的源極接地，PMOS管M18的漏極和NMOS管M20的漏極連接作為第一比較器的輸出端。PMOS管M13和M14構(gòu)成正反饋結(jié)構(gòu)，用于加快第一比較器3翻轉(zhuǎn)速度。PMOS管M18 的漏極和NMOS管M20的漏極連接作為第一比較器的輸出端，與輸出電路的輸入端連接。第二比較器 4 包括PMOS 管 M23、M24、M25、]\C6、M27、M28，和 NMOS 管似9、M30。需要說明的是第二比較器4與第一比較器3中的電路結(jié)構(gòu)是相同的，且對(duì)應(yīng)的MOS晶體場(chǎng)效應(yīng)管尺寸相同，具體說明可以參考第一比較器3的說明。第二比較器4的輸入端輸入的電流信號(hào)與第一比較器3的輸入端輸入電流信號(hào)是不同的，第二比較器4輸入端輸入的是差分電流信號(hào)的負(fù)電流信號(hào)，第一比較器3輸入端輸入的是差分電流信號(hào)的正電流信號(hào)。輸出電路5具有可以是與非門電路，對(duì)第一比較器3輸出為低(即參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí))，和第二比較器4輸出為低(即參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí))，進(jìn)行與非運(yùn)算，輸出為高電壓，使得該高速傳輸事件檢測(cè)電路判斷出差分電壓信號(hào)為有效信號(hào)，否則為噪聲信號(hào)，從而控制USB接收設(shè)備接收數(shù)據(jù)。進(jìn)一步，由于輸入的高速傳輸事件檢測(cè)電路的差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)，導(dǎo)致在信號(hào)翻轉(zhuǎn)的一段時(shí)間里，檢測(cè)電路會(huì)將這段時(shí)間輸入的信號(hào)判斷為噪聲。在USB協(xié)議中規(guī)定，差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)時(shí)長(zhǎng)不得超過2納秒(ns)。為了避免這樣的誤判，該高速傳輸事件檢測(cè)電路還可以包括過濾電路6。仍然參照?qǐng)D2，該過濾電路6可以包括三個(gè)反相器11、12和13，PMOS管M31，NMOS 管M32，電容Cl，和電流源Iss。反相器Il的輸入端與輸出電路5的輸出端連接，反相器Il 的輸出端分別與PMOS管M31和NMOS管32的柵極連接，PMOS管M31的源極與電源VDD連接，PMOS管M31的漏極與NMOS管M32的漏極連接，NMOS管M32的源極經(jīng)電流源Iss到地， 電容Cl的一端與NMOS管M32的漏極連接，一端接地，NMOS管M32的漏極還與反相器12的輸入端連接，反相器12的輸出端與反相器13的輸入端連接，反相器13的輸出端為過濾電路6的輸出端(SQ_0UT)。當(dāng)反相器Il的輸入端(Z)輸入為高電壓時(shí)，PMOS管M31導(dǎo)通，電流經(jīng)過PMOS管M31對(duì)電容Cl充電，PMOS管M31的導(dǎo)通電阻足夠小，使得12的輸入端(CX) 的電壓立即上升為高。當(dāng)輸入Z的電壓從高到低時(shí)，NMOS管M32導(dǎo)通，電容Cl經(jīng)過NMOS管 M32和電流源Iss到地放電，放電時(shí)間Td由電容Cl的容值和電流源Iss的電流大小決定， 當(dāng)CX處的電壓下降到反相器12的翻轉(zhuǎn)閾值Vt時(shí)，12輸出為高，反相器13的輸出端SQ_ OUT輸出的低電壓。為了保證差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)的這段時(shí)間內(nèi)，不會(huì)影響SQ_0UT的輸出結(jié)果，可以控制電容Cl的放電時(shí)間，使得在差分電壓信號(hào)翻轉(zhuǎn)的這段時(shí)間，CX的電壓仍然大于反相器12的翻轉(zhuǎn)閾值Vt。其中，電容的充放電特性由下式⑷表示Cl*(VDD-Vt) = Iss*Td(4)令電容的放電時(shí)間Td大于差分電壓信號(hào)的翻轉(zhuǎn)時(shí)間Tc (Td > Tc)，即 [Cl* (VDD-Vt)/Iss] > Tc，則電路具有所需要的過濾特性。為了更清楚了理解圖2中所說明的電路，參考圖3中所示的波形圖。圖3㈧所示為輸入高速傳輸事件檢測(cè)電路的電壓信號(hào)的波形圖，輸入的參考電壓信號(hào)的電壓值小于差分電壓信號(hào)的正向電壓與負(fù)向電壓的電壓差的絕對(duì)值(即Vref < |Vdp-Vdm|)。圖3(B)為第一電壓電流轉(zhuǎn)換器1輸出的差分電流信號(hào)波形圖，和第二電壓電流轉(zhuǎn)換器2輸出的參考電流信號(hào)波形圖。如3(C)所示的為第一、二比較器的輸出波形圖，如果Vdp-Vdml > Vref，則根據(jù)式(1)至(3)的推導(dǎo)，可知Idp > Iref，則第一比較器輸出端 (CP_DP)輸出為低電壓，若Idm > Iref，則第二比較器輸出端(CP_DM)輸出為低電壓。圖3(D)為輸出電路5輸出端(Z)輸出電壓的波形圖。輸出電路5中對(duì)輸入的信號(hào)作與非運(yùn)算，從圖3(C)可以容易理解圖3(D)的波形。圖3(E)為12的輸入端(CX)輸入電壓的波形圖，當(dāng)反相器Il的輸入端⑵輸入為高電壓時(shí)，M31導(dǎo)通，電流經(jīng)過M31對(duì)Cl充電，M31的導(dǎo)通電阻足夠小，使得12的輸入端(CX)的電壓立即上升為高。當(dāng)輸入Z的電壓從高到低時(shí)，M32導(dǎo)通，放電時(shí)間Td可以控制在Tc時(shí)間內(nèi)，電壓還未下降到低于反相器12 的翻轉(zhuǎn)閾值Vt，從而可以過濾差分電壓信號(hào)翻轉(zhuǎn)對(duì)檢測(cè)電路的影響。如圖3(F)為檢測(cè)電路的輸出端(SQ_0UT)輸出波形圖，電壓為高表示檢測(cè)到的差分電壓信號(hào)為有效信號(hào)，電壓為低表示檢測(cè)到為噪聲。如圖4所示為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)方法，該方法包括步驟401 將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，其中，所述差分電流信號(hào)包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào)；步驟402 將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，所述參考差分電流信號(hào)包括正參考電流信號(hào)和負(fù)參考電流信號(hào)；其中，輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，與輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，具有相同的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)和相同的輸出差分電流的共模值；步驟403 比較所述正電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大??；比較所述負(fù)電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大小；步驟404:當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第一電壓值，第一電壓值表示輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)的電壓。其中，當(dāng)步驟403中的比較結(jié)果式其它情況時(shí)，該方法還可以包括步驟405 當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值不小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值不小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第二電壓值，第二電壓值表示所述輸入的差分電壓信號(hào)是噪聲。本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)方法，將輸入的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為電流信號(hào)，且輸出的電流信號(hào)(包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào))的電流值與輸入的差分電壓信號(hào)的正信號(hào)的電壓和負(fù)信號(hào)的電壓的差值具有線性關(guān)系，從而將輸入的差分電壓信號(hào)的正、負(fù)信號(hào)的電壓差是否大于輸入的參考電壓值的判斷，轉(zhuǎn)化為輸出的電流信號(hào)(包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào))的電流值是否大于輸出參考電流信號(hào)的電流值，每個(gè)比較器中僅僅需要比較一次，從而在同等比較器電路條件下，提高了比較器的處理信號(hào)的速度。進(jìn)一步，該方法還可以包括步驟406 當(dāng)輸出的相鄰兩個(gè)第一電壓值的時(shí)間間隔小于等于時(shí)間段Vt時(shí)，將該時(shí)間間隔內(nèi)輸出的第二電壓值轉(zhuǎn)換為第一電壓值輸出，其中，所述時(shí)間段Vt為有效差分信號(hào)的翻轉(zhuǎn)用時(shí)。對(duì)于圖4提供的一種高速傳輸事件檢測(cè)方法的詳細(xì)說明也可以參考圖1至圖3中關(guān)于一種高速傳輸事件檢測(cè)電路中的說明，此處不重述。以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及設(shè)備；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，包括第一電壓電流轉(zhuǎn)換器，用于將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，其中，所述差分電流信號(hào)包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào)；第二電壓電流轉(zhuǎn)換器，用于將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，所述參考差分電流信號(hào)包括正參考電流信號(hào)和負(fù)參考電流信號(hào)；其中，第一電壓電流轉(zhuǎn)換器和第二電壓電流轉(zhuǎn)換器具有相同的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)和相同的輸出差分電流的共模值；第一比較器，用于比較所述正電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大小；第二比較器，用于比較所述負(fù)電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大?。惠敵鲭娐?，用于當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第一電壓值，所述第一電壓值表示所述輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述輸出電路還用于當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值不小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值不小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第二電壓值，所述第二電壓值表示所述輸入的差分電壓信號(hào)是噪聲；所述高速傳輸事件檢測(cè)電路還包括過濾電路，用于當(dāng)輸出的相鄰兩個(gè)第一電壓值的時(shí)間間隔小于等于時(shí)間段Vt時(shí)，將該時(shí)間間隔內(nèi)輸出的第二電壓值轉(zhuǎn)換為第一電壓值輸出，其中，所述時(shí)間段Vt為有效差分信號(hào)的翻轉(zhuǎn)用時(shí)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述第一電壓電流轉(zhuǎn)換器具體包括PM0S管M1、M2、M3，NMOS管M4、M5、M12、M22，偏置電壓輸入到PMOS管Ml的柵極，PMOS管Ml的源極與電源連接，PMOS管Ml的漏極分別與PMOS管M2、M3的源極連接， PMOS管M2、M3的漏極分別對(duì)應(yīng)的與NMOS管M4、M5的漏、柵極連接，PMOS管M2、M3的柵極用于輸入所述差分電壓信號(hào)，NMOS管M4、Ml2連接成電流鏡，NMOS管M5、M22連接成電流鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述第二電壓電流轉(zhuǎn)換器具體包括PM0S管M6、M7、M8，NM0S管M9、M10、M11、M21，偏置電壓輸入到PMOS管M6的柵極，PMOS管M6的源極與電源連接，PMOS管M6的漏極分別與PMOS管M7、M8的源極連接， PMOS管M7、M8的漏極分別對(duì)應(yīng)的與NMOS管M9、MlO的漏、柵極連接，PMOS管M8的柵極接地，PMOS管M7的柵極用于輸入所述參考電壓信號(hào)；PMOS管MlO、Mil、NMOS管M21組成的電流鏡，將流過NMOS管MlO的正參考電流信號(hào)分別鏡像到NMOS管Mil、M21的漏極。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述第一比較器具體包括=PMOS 管 M13、M14、M15、M16、M17、M18, NMOS 管 M19、M20, PMOS 管 M13、M14、M15、M16、 M17、M18的源極接電源，PMOS管M15的漏、柵極和PMOS管M13的漏極、PMOS管M14的柵極、 PMOS管M18的柵極相連，作為比較器的同相輸入端，PMOS管M 16的漏、柵極和PMOS管M14 的漏極、PMOS管M13的柵極、PMOS管M17的柵極相連，作為比較器的反相輸入端，NMOS管 M19的漏、柵極和PMOS管M17的漏極、匪OS管M20的柵極相連，匪OS管M19、M20的源極接地，PMOS管M18的漏極和NMOS管M20的漏極連接作為第一比較器的輸出端。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述第二比較器與所述第一比較器的結(jié)構(gòu)相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述輸出電路具體包括與非門電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高速傳輸事件檢測(cè)電路，其特征在于，所述過濾電路具體包括三個(gè)反相器II、12和13，PMOS管M31，NMOS管M32，電容Cl和電流源；其中，反相器Il 的輸入端與所述輸出電路的輸出端連接，反相器Il的輸出端分別與PMOS管M31和NMOS管 M32的柵極連接，PMOS管M31的源極與電源連接，PMOS管M31的漏極與NMOS管M32的漏極連接，NMOS管M32的源極經(jīng)電流源到地，電容Cl的一端與NMOS管M32的漏極連接，一端接地，NMOS管M32的漏極還與反相器12的輸入端連接，反相器12的輸出端與反相器13的輸入端連接，反相器13的輸出端為所述過濾電路的輸出端。
9.一種高速傳輸事件檢測(cè)方法，其特征在于，包括將輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，其中，所述差分電流信號(hào)包括正電流信號(hào)和負(fù)電流信號(hào)；將輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，所述參考差分電流信號(hào)包括正參考電流信號(hào)和負(fù)參考電流信號(hào)；其中，輸入的差分電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為差分電流信號(hào)，與輸入的參考電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為參考差分電流信號(hào)，具有相同的電壓電流轉(zhuǎn)換系數(shù)和相同的輸出差分電流的共模值；比較所述正電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大??；比較所述負(fù)電流信號(hào)和所述正參考電流信號(hào)的電流值的大??；當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第一電壓值，所述第一電壓值表示輸入的差分電壓信號(hào)是有效信號(hào)的電壓。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法還包括當(dāng)正參考電流信號(hào)的電流值不小于正電流信號(hào)的電流值時(shí)，或者正參考電流信號(hào)的電流值不小于負(fù)電流信號(hào)的電流值時(shí)，輸出第二電壓值，所述第二電壓值表示所述輸入的差分電壓信號(hào)是噪聲；當(dāng)輸出的相鄰兩個(gè)第一電壓值的時(shí)間間隔小于等于時(shí)間段Vt時(shí)，將該時(shí)間間隔內(nèi)輸出的第二電壓值轉(zhuǎn)換為第一電壓值輸出，其中，所述時(shí)間段Vt為有效差分信號(hào)的翻轉(zhuǎn)用時(shí)。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種高速傳輸事件檢測(cè)方法及電路，本發(fā)明實(shí)施例中通過由于第一、二電壓電流轉(zhuǎn)換器可以將輸入的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為電流信號(hào)，將輸入的差分電壓信號(hào)的正、負(fù)信號(hào)的電壓差是否大于輸入的參考電壓值的判斷，轉(zhuǎn)化為輸出的電流信號(hào)的電流值是否大于輸出參考電流信號(hào)的電流值，每個(gè)比較器中僅僅需要比較一次，從而在同等比較器電路條件下，提高了比較器的處理信號(hào)的速度。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102384999SQ20101026851
公開日2012年3月21日 申請(qǐng)日期2010年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月30日
發(fā)明者劉俊秀, 周顯文, 方尚俠, 石嶺 申請(qǐng)人:深圳艾科創(chuàng)新微電子有限公司