專利名稱：一種背板測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種背板測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
電子技術(shù)中，將用于連接多個(gè)電路板以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)功能的基體電路板稱為背板，它 是提供集成、轉(zhuǎn)換功能的印制電路板，是印制電路板制造業(yè)中頗具專業(yè)化性質(zhì)的產(chǎn)品。與一 般的核心功能電路板不同，背板通常不需要具備強(qiáng)大的運(yùn)算、處理功能，但要求它能夠承載 設(shè)不同的功能模塊，因此背板上的電路網(wǎng)絡(luò)和連接器件密集，且其電磁兼容性能有特殊的 要求。由于背板上的電路密集而繁雜，為保證產(chǎn)品的質(zhì)量、降低產(chǎn)品的故障率，在生產(chǎn)、維護(hù) 過(guò)程中進(jìn)行背板測(cè)試是非常必要的檢測(cè)手段。背板測(cè)試的任務(wù)是測(cè)試背板上各個(gè)端子的網(wǎng) 絡(luò)關(guān)系，確定其間的短路、斷路阻抗情況是否處于“正?！睜顟B(tài)，以查找電路缺陷、判斷產(chǎn)品 質(zhì)量。在現(xiàn)有技術(shù)中，外觀測(cè)試法是常用的背板測(cè)試手段之一，該方法通過(guò)人工目測(cè)，從 外觀上判斷電路的開(kāi)斷以及連接器是否安裝正確；但是，外觀測(cè)試法的測(cè)試效率低、故障檢 出率低、對(duì)測(cè)試員工要求較高、工作強(qiáng)度大，對(duì)于電路比較復(fù)雜的背板更是顯得力不從心， 不適合大批量生產(chǎn)的檢測(cè)。因此，依靠計(jì)算機(jī)設(shè)備控制測(cè)試儀器進(jìn)行的自動(dòng)化測(cè)試方法也 被廣泛的應(yīng)用于生產(chǎn)和維護(hù)的背板測(cè)試中，其中最常用的就是飛針測(cè)試法。飛針測(cè)試法是 利用4支獨(dú)立控制的探針移動(dòng)到待測(cè)背板的端子上進(jìn)行測(cè)試，其具體測(cè)試流程是將1支 探針移動(dòng)到背板中的某一指定端子上，另3支探針依次其它各端子與該指定端子之間的開(kāi) 路/短路情況，進(jìn)而獲知該指定端子的電路網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)；然后，以背板中另一端子作為新的指 定端子，利用同樣的方法測(cè)試其它各端子與新的指定端子之間的電路網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)……如此依 次進(jìn)行，直至測(cè)試獲知背板中所有端子的電路網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)，即完成測(cè)試。飛針測(cè)試法的最大好 處就是，測(cè)試由計(jì)算機(jī)和飛針測(cè)試機(jī)自動(dòng)完成，人工干預(yù)少；并且針對(duì)每一個(gè)指定的端子都 采用全面覆蓋測(cè)試的方式，測(cè)試其與其它所有端子之間的開(kāi)路/短路關(guān)系，漏檢率低。但同 時(shí)，由于飛針測(cè)試機(jī)僅有4支探針，計(jì)算機(jī)每發(fā)送一次測(cè)試指令最多只能測(cè)得指定端子與 其他3個(gè)端子之間的電連接關(guān)系，因此測(cè)試一個(gè)指定端子與其它各個(gè)端子之間的電路網(wǎng)絡(luò) 狀態(tài)通常需要計(jì)算機(jī)反復(fù)的發(fā)送多次測(cè)試指令，測(cè)試控制過(guò)程復(fù)雜，不僅為計(jì)算機(jī)控制程 序的編寫(xiě)帶來(lái)困難，還在一定程度上影響了計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率；并且飛針測(cè)試法采用針對(duì) 每個(gè)指定端子均采用全面覆蓋的測(cè)試方式，導(dǎo)致整過(guò)測(cè)試過(guò)程存在兩兩端子之間多次重復(fù) 測(cè)試的情況，背板測(cè)試時(shí)間比較長(zhǎng)，難以滿足大批量測(cè)試的需求。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試控制過(guò)程簡(jiǎn)單，測(cè)試 效率較高，適合大批量測(cè)試的需求的背板測(cè)試方法。本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種背板測(cè)試方法，其特征在于由計(jì)算機(jī)發(fā)送測(cè)試 指令，測(cè)試控制模塊根據(jù)控制指令，控制連接于待測(cè)背板各個(gè)端子上的接口適配器進(jìn)行測(cè)試；具體包括如下步驟a)計(jì)算機(jī)采集多種型號(hào)的背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，用采集的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān) 系表建立標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)；b)測(cè)試控制模塊控制各個(gè)接口適配器進(jìn)行初始化，將待測(cè)背板中各個(gè)端子設(shè)置為 初始電平；c)計(jì)算機(jī)指定待測(cè)背板中的一個(gè)端子為主測(cè)試端子，發(fā)送測(cè)試指令；d)測(cè)試控制模塊接收測(cè)試指令，控制接口適配器進(jìn)行測(cè)試；接口適配器將主測(cè)試 端子設(shè)置為測(cè)試電平，并對(duì)待測(cè)背板中除主測(cè)試端子以及已確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子以外 的其它各個(gè)端子進(jìn)行電平測(cè)試，將各電平測(cè)試結(jié)果一并發(fā)送至測(cè)試控制模塊；測(cè)試控制模 塊再對(duì)電平測(cè)試結(jié)果進(jìn)行解析處理，得到主測(cè)試端子與其它端子之間的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信 息，并將此電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息傳送至計(jì)算機(jī)；e)計(jì)算機(jī)累積存儲(chǔ)所收到的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，并從中分析待測(cè)背板中是否存在 未確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子；若存在，指定一個(gè)未確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子為新的測(cè)試端 子，再次發(fā)送測(cè)試指令，重復(fù)步驟d)；若不存在，則執(zhí)行步驟f)；f)計(jì)算機(jī)將累積存儲(chǔ)的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息整合處理為待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系 表，并從標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中調(diào)用與待測(cè)背板的型號(hào)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，將待測(cè)背板 的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表與其對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表進(jìn)行對(duì)比分析處理，得出分析結(jié)果。進(jìn)一步地，建立分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)，將步驟f)所得的分析結(jié)果儲(chǔ)存在分析結(jié)果數(shù)據(jù) 庫(kù)中。所述步驟a)中標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表的采集可通過(guò)手工錄入的方式獲得，還可通 過(guò)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)背板的測(cè)試數(shù)據(jù)獲得。相比現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明具有下述優(yōu)點(diǎn)(1)采用了避免重復(fù)測(cè)試的過(guò)程控制模式，簡(jiǎn)化了測(cè)試控制過(guò)程；(2)計(jì)算機(jī)每發(fā)送一次測(cè)試指令后便能夠測(cè)試得到待測(cè)背板中的一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)的 測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)一步縮短了背板測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率，適合大批量測(cè)試的需求；(3)本發(fā)明方法成本低，并且可采用“學(xué)習(xí)”的方式向標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中錄入不同型號(hào) 的背板標(biāo)準(zhǔn)信息，可大大減少解決編程的時(shí)間和復(fù)雜度，使得測(cè)試系統(tǒng)具備更好的自適應(yīng)。


圖1為本發(fā)明方法所采用的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖2為H001型背板的電路網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)一步說(shuō)明如下圖1是本發(fā)明方法所采用的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。該測(cè)試系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、測(cè)試 控制模塊和接口適配器；測(cè)試控制模塊分別與計(jì)算機(jī)和多個(gè)接口適配器連接；多個(gè)接口適 配器連接于背板的不同槽位中，每個(gè)槽位對(duì)應(yīng)一定數(shù)量的端子，從而由這多個(gè)接口適配器 連接到背板的各個(gè)端子上。計(jì)算機(jī)中采集、存儲(chǔ)有背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，并發(fā)送測(cè)試 指令，對(duì)測(cè)試所得的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表與背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表進(jìn)行對(duì)比分析處理得到分析結(jié)果，并存儲(chǔ)分析結(jié)果數(shù)據(jù)以作備錄；測(cè)試控制模塊用于收測(cè)試指令，并根據(jù)測(cè)試指令 控制接口適配器對(duì)待測(cè)背板上各個(gè)端子的電平信號(hào)測(cè)試過(guò)程，并將各個(gè)端子的電平信號(hào)測(cè) 試結(jié)果解析處理為電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，發(fā)送至計(jì)算機(jī)進(jìn)行整合和分析處理；接口適配器用 于測(cè)試待測(cè)背板上各個(gè)端子的電平信號(hào)，并發(fā)送至測(cè)試控制模塊進(jìn)行解析處理。所有測(cè)試 指令都由作為人機(jī)交互界面的計(jì)算機(jī)發(fā)出，送給測(cè)試控制模塊，再由測(cè)試控制模塊控制接 口適配器進(jìn)行測(cè)試；接口板適配器獲取所有端子的信號(hào)電平狀態(tài)并傳送給測(cè)試控制模塊， 測(cè)試控制模塊將信息解析處理為待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，并發(fā)回計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)對(duì) 測(cè)試所得的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息進(jìn)行整合處理，得到待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，并將之與 待測(cè)背板相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表進(jìn)行對(duì)比分析，得出分析結(jié)果。計(jì)算機(jī)主要包括硬件部分和軟件部分。計(jì)算機(jī)的硬件部分實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)的具體功 能，包括必要的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)電路及存儲(chǔ)設(shè)備，在存儲(chǔ)設(shè)備中建立標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)和分析結(jié)果數(shù) 據(jù)庫(kù)，分別作為背板測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元和分析結(jié)果數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元。標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù) 先存儲(chǔ)了多種型號(hào)背板的相關(guān)參數(shù)及其標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)；背板的相關(guān)參數(shù)包括背板的型號(hào)、端子 總數(shù)及端子序號(hào)、槽位數(shù)量及槽位序號(hào)、各個(gè)槽位中對(duì)應(yīng)的端子數(shù)量等參數(shù)信息；背板的標(biāo) 準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以是與背板型號(hào)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表或者標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)圖等，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù) 中記錄了表征背板上各個(gè)端子之間標(biāo)準(zhǔn)電連接關(guān)系的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息。計(jì)算機(jī)的軟 件部分提供人機(jī)交互界面，它包括數(shù)據(jù)采集模塊、設(shè)置模塊、測(cè)試模塊和分析模塊；其中，數(shù) 據(jù)采集模塊負(fù)責(zé)多種型號(hào)背板的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及其相關(guān)參數(shù)的采集工作，將采集到的數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中；設(shè)置模塊實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)置功能，對(duì)待測(cè)背板的型號(hào)、端子總數(shù)及端子序號(hào)、 槽位數(shù)量及槽位序號(hào)、各個(gè)槽位中對(duì)應(yīng)的端子數(shù)量等參數(shù)進(jìn)行設(shè)置；測(cè)試模塊發(fā)送含有設(shè) 置參數(shù)的測(cè)試指令，并且監(jiān)控整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試進(jìn)程；分析模塊接收測(cè)試所得的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān) 系信息，將其整合處理為待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，并根據(jù)所設(shè)置的背板類型從標(biāo)準(zhǔn)數(shù) 據(jù)庫(kù)中提取相應(yīng)型號(hào)的背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，對(duì)待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表與標(biāo)準(zhǔn) 電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表進(jìn)行對(duì)比分析，然后將分析結(jié)果數(shù)據(jù)發(fā)送至人機(jī)交互界面顯示輸出，并將 分析結(jié)果數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存入分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)中。接口適配器是一個(gè)數(shù)字化接口單元，集成有電平測(cè)試模塊和端子連接器。其中，電 平測(cè)試模塊采用的可編程邏輯器件PLD實(shí)現(xiàn)，如XC3S1000型可編程邏輯芯片；端子連接器 即為多端口連接器件，其端口位置與背板槽位中的端子位置相匹配。PLD的部分I/O 口作為 數(shù)據(jù)通信端口通過(guò)以太網(wǎng)連接到測(cè)試控制模塊，以實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸；部分I/O 口作為 測(cè)試端口，通過(guò)端子連接器連接到背板的端子上，每個(gè)作為測(cè)試端口的I/O 口都是雙向I/O 接口，可以三態(tài)輸出，對(duì)端子進(jìn)行電平測(cè)試。待測(cè)背板的每個(gè)槽位對(duì)應(yīng)連接一個(gè)接口適配器 進(jìn)行測(cè)試，各個(gè)接口適配器的電平測(cè)試模塊可為其所在槽位的各個(gè)端子分別編制一個(gè)端口 地址，用來(lái)識(shí)別槽位中不同的端子所對(duì)應(yīng)的電平信號(hào)。各個(gè)接口適配器通過(guò)串行數(shù)據(jù)總線 或以太網(wǎng)與測(cè)試控制模塊進(jìn)行通信連接，保證較高的數(shù)據(jù)傳輸速率，以便各個(gè)接口適配器 分別將其電平測(cè)試結(jié)果一并發(fā)送至測(cè)試控制模塊。測(cè)試控制模塊是背板端子測(cè)試過(guò)程的控制器，主要用于解讀、執(zhí)行計(jì)算機(jī)指令，以 及對(duì)接口適配器回傳的測(cè)試信息進(jìn)行解析處理，可采用可編程邏輯器件PLD實(shí)現(xiàn)。測(cè)試控 制模塊根據(jù)計(jì)算機(jī)的設(shè)置進(jìn)行測(cè)試準(zhǔn)備工作，主要是根據(jù)設(shè)置的槽位數(shù)量及槽位序號(hào)參數(shù) 為連接于待測(cè)背板各個(gè)槽位上的接口適配器分別編制一個(gè)通道地址，以便根據(jù)通道地址和
5各接口適配器編制的端口地址，結(jié)合設(shè)置的端子總數(shù)及端子序號(hào)、槽位數(shù)量及槽位序號(hào)、各 個(gè)槽位中對(duì)應(yīng)的端子數(shù)量，通過(guò)解析處理得到各個(gè)端子在待測(cè)背板上的端子序號(hào)。在進(jìn)行 測(cè)試準(zhǔn)備工作的同時(shí)，測(cè)試控制模塊控制接口適配器完成初始化，將接口適配器連接的各 端子通過(guò)上拉電阻置為初始電平；完成初始化后，測(cè)試控制模塊會(huì)返回一個(gè)準(zhǔn)備就緒信號(hào) 給計(jì)算機(jī)，通知計(jì)算機(jī)可以啟動(dòng)測(cè)試進(jìn)程。在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試控制模塊接收測(cè)試指令，控 制接口適配器進(jìn)行測(cè)試，并對(duì)接口適配器發(fā)送來(lái)的各個(gè)端子的電平測(cè)試結(jié)果進(jìn)行識(shí)別解析 處理，識(shí)別出每一次測(cè)試中哪些端子在同一電路網(wǎng)絡(luò)中，進(jìn)而解析出一條電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信 息，作為待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表的組成元素。測(cè)試控制模塊通過(guò)串行數(shù)據(jù)總線或以太 網(wǎng)與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信連接，接收計(jì)算機(jī)發(fā)送的測(cè)試指令，完成測(cè)試控制和測(cè)試結(jié)果解析后， 再測(cè)試所得的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息發(fā)送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行整合及對(duì)比分析處理。下面以一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)施例來(lái)說(shuō)明本發(fā)明方法的具體測(cè)試過(guò)程實(shí)施例如圖2所示，待測(cè)的H001型背板上只有2個(gè)槽位，每個(gè)槽位中有6個(gè)端子，整個(gè) H001型背板共12個(gè)端子，包含5個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)。從圖2中能夠看到，如果按照先從上至下、再 從右至左的順序排列H001型背板的端子序號(hào)，其第1和2號(hào)端子連接于同一電路網(wǎng)絡(luò)，第3 和9號(hào)端子連接于同一電路網(wǎng)絡(luò)，第4、5、7和8號(hào)端子連接于同一電路網(wǎng)絡(luò)，第6、10和11 號(hào)端子連接于同一電路網(wǎng)絡(luò)；第12號(hào)端子是孤立端子，其自身構(gòu)成一電路網(wǎng)絡(luò)。測(cè)試過(guò)程按照以下步驟進(jìn)行首先利用計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)采集模塊，采集H001型背板的相關(guān)參數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)。H001 型背板的相關(guān)參數(shù)中，型號(hào)即為“H001”;端子總數(shù)12個(gè)，按照先從上至下、再?gòu)挠抑磷蟮捻?序排列的端子序號(hào)分別為第1 12號(hào)端子；槽位共2個(gè)，從右至左分別為1號(hào)槽位和2號(hào) 槽位，每個(gè)槽位中各6個(gè)端子。再根據(jù)H001型背板的電路連接關(guān)系，得到其標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò) 關(guān)系表，形如表1所示表 1 采集到的H001型背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表存儲(chǔ)到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中。然后，工作人員通過(guò)計(jì)算機(jī)的人機(jī)交互界面進(jìn)行設(shè)置，待測(cè)的背板型號(hào)為H001 型，端子序號(hào)按照先從上至下、再?gòu)挠抑磷蟮捻樞蚍謩e為第1 12號(hào)端子，共2個(gè)槽位，每 個(gè)槽位中有6個(gè)端子。設(shè)置完成后，計(jì)算機(jī)即將上述設(shè)置參數(shù)連同準(zhǔn)備測(cè)試指令一起發(fā)送給測(cè)試控制模塊；測(cè)試控制模塊根據(jù)設(shè)置參數(shù)編制通道地址，將連接在1號(hào)槽位的接口適配器編址 為通道1、連接在2號(hào)槽位的接口適配器編址為通道2，而兩個(gè)接口適配器各自為其所在槽 位的6個(gè)端子分別編制端口地址為端口 1 6，從而，若以“通道-端口”的形式對(duì)背板上各 個(gè)端子進(jìn)行編址，HOOl型背板上的第1 12號(hào)端子被分別編址為1. 1,1. 2、…、1. 6以及 2. 1,2. 2、…、2. 6 ；同時(shí)，測(cè)試控制模塊根據(jù)準(zhǔn)備測(cè)試指令對(duì)兩個(gè)接口適配器進(jìn)行初始化，控 制其進(jìn)入測(cè)試準(zhǔn)備狀態(tài)，此時(shí)，各端子通過(guò)上拉電阻都被置為高電平(即初始電平為高電 平)；完成初始化后，測(cè)試控制模塊會(huì)返回一個(gè)準(zhǔn)備就緒信號(hào)給計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)收到準(zhǔn)備就緒信號(hào)，即逐次發(fā)送測(cè)試指令，獲取背板上各個(gè)端子之間的電 路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息；每次發(fā)送測(cè)試指令后，計(jì)算機(jī)等待獲取該次的測(cè)試數(shù)據(jù)，并分析所有已獲 取測(cè)試數(shù)據(jù)中已確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子，再發(fā)送下一次測(cè)試指令，并在下一次的測(cè)試指 令中指示不再對(duì)已確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子進(jìn)行重復(fù)測(cè)試。具體到本實(shí)施例中計(jì)算機(jī)發(fā) 送第1次測(cè)試指令，指示對(duì)HOOl型背板的第1號(hào)端子進(jìn)行測(cè)試，即進(jìn)入測(cè)試等待狀態(tài)；根據(jù) 第1次測(cè)試指令，測(cè)試控制模塊以低電平為測(cè)試電平，先控制通道1所對(duì)應(yīng)接口適配器的端 口 1(即端子1. 1)為低電平，將除端子1. 1以外的其它端子的電平設(shè)置為輸入測(cè)試狀態(tài)，讓 接口適配器測(cè)試除端子1.1以外的各端子的電平狀態(tài)；兩塊接口適配器將測(cè)試所得的各電 平測(cè)試結(jié)果一并傳送給測(cè)試控制模塊，此次測(cè)得只有端子1. 1和1. 2為低電平，其它端子均 為高電平；測(cè)試控制模塊獲取上述電平測(cè)試結(jié)果后，將端子1. 1 端子2. 6通 過(guò)端子序號(hào)解 析為HOOl型背板的第1 12號(hào)端子，同時(shí)通過(guò)對(duì)電平測(cè)試結(jié)果的解析，確定第1、2號(hào)端子 在同一電路網(wǎng)絡(luò)中，并形成第1條電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息“電路網(wǎng)絡(luò)1# :1、2”，將此測(cè)試所得的 電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息作為第1次測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至計(jì)算機(jī)，完成一個(gè)測(cè)試周期。計(jì)算機(jī) 獲取第1次測(cè)試數(shù)據(jù)后，將其臨時(shí)保存下來(lái)，并分析獲知除第1、2號(hào)端子的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系已 經(jīng)確定以外，其它端子的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系都還未確定，需要繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。因此，計(jì)算機(jī)再發(fā) 送第2次測(cè)試指令，由于第1、2號(hào)端子的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系已經(jīng)確定，因此不再對(duì)第2號(hào)端子進(jìn) 行重復(fù)測(cè)試，第2次測(cè)試指令直接指示對(duì)第3號(hào)端子進(jìn)行測(cè)試；根據(jù)第2次測(cè)試指令，測(cè)試 控制模塊控制端子1. 3為低電平，將除端子1. 1,1. 2和1. 3以外的其它9端子設(shè)置為輸入 測(cè)試狀態(tài)，測(cè)試這9個(gè)端子的電平狀態(tài)，此次測(cè)得只有端子1. 3和2. 3為低電平，其它端子 均為高電平；測(cè)試控制模塊獲取上述電平測(cè)試結(jié)果后，通過(guò)解析確定第3、9號(hào)端子在同一 電路網(wǎng)絡(luò)中，并形成第2條電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息“電路網(wǎng)絡(luò)2# :3、9”，將此測(cè)試所得的電路網(wǎng) 絡(luò)關(guān)系信息作為第2次測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)獲取第2次測(cè)試數(shù)據(jù)后，再次 將其臨時(shí)保存下來(lái)，并分析前2次測(cè)試數(shù)據(jù)獲知第1、2、3、9號(hào)端子的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系已經(jīng)確 定。接著，計(jì)算機(jī)發(fā)送第3次測(cè)試指令……；重復(fù)這樣的測(cè)試步驟，計(jì)算機(jī)每發(fā)送一次測(cè)試 指令后，都能夠測(cè)試得到HOOl型背板中的一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，因此只需要 進(jìn)行5個(gè)測(cè)試周期，計(jì)算機(jī)即可確定HOOl型背板上的全部12個(gè)端子之間的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系。計(jì)算機(jī)對(duì)測(cè)試所得的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息進(jìn)行整合處理，得到背板的測(cè)試電路網(wǎng)絡(luò) 關(guān)系表，形如表2所示表2 計(jì)算機(jī)從標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中調(diào)用HOOl型背板所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，將HOOl 型背板的測(cè)試電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表與標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表進(jìn)行對(duì)比分析處理；對(duì)比時(shí)，計(jì)算機(jī) 將表2和表1中的網(wǎng)絡(luò)關(guān)系數(shù)據(jù)逐一對(duì)比，若對(duì)比結(jié)果完全相同，即判定所測(cè)試的HOOl型 背板正常；若發(fā)現(xiàn)表2與表1中相同的電路網(wǎng)絡(luò)中的端子序號(hào)有所不同，即可判定所測(cè)試 的HOOl型背板上相應(yīng)電路網(wǎng)絡(luò)出現(xiàn)故障；得出對(duì)比分析結(jié)果后，將其顯示在人機(jī)交互界面 上，并存儲(chǔ)于分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)中以作備錄。操作人員只需瀏覽得出的分析結(jié)果數(shù)據(jù)，即可辨 別所測(cè)試的HOOl型背板是否存在短/斷路缺陷以及那些端子存在短/斷路缺陷。從這個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)例可以看到，本發(fā)明方法在測(cè)試過(guò)程中采用了避免重復(fù)測(cè)試的過(guò) 程控制模式，并且計(jì)算機(jī)每發(fā)送一次測(cè)試指令后便能夠測(cè)試得到待測(cè)背板中的一個(gè)電路網(wǎng) 絡(luò)的測(cè)試數(shù)據(jù)。也就是說(shuō)，如果實(shí)際測(cè)試的待測(cè)背板中存在η個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)，計(jì)算機(jī)只需發(fā)送 η次測(cè)試指令即可完成測(cè)試，避免了測(cè)試一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)卻需要反復(fù)發(fā)送多次測(cè)試指令，簡(jiǎn)化 了測(cè)試控制過(guò)程，提高了計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率；同時(shí)，避免了對(duì)已測(cè)端子的重復(fù)測(cè)試，進(jìn)一步 縮短了背板測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率。具體到本實(shí)施例，采用本發(fā)明方法測(cè)試HOOl型背 板，由于HOOl型背板中存在5個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)，計(jì)算機(jī)僅需要發(fā)送5次測(cè)試指令便能完成測(cè)試。 若采用現(xiàn)有技術(shù)中的飛針測(cè)試法，由于HOOl型背板中存在12個(gè)端子，用4根探針進(jìn)行全面 覆蓋測(cè)試，第1次需要測(cè)試11個(gè)端子，即需要發(fā)送4次測(cè)試指令；第2次需要測(cè)試10個(gè)端 子，也需要發(fā)送4次測(cè)試指令；第3次需要測(cè)試9個(gè)端子，即需要發(fā)送3次測(cè)試指令；…… 由此測(cè)試所有12個(gè)端子，計(jì)算機(jī)總共需要發(fā)送25次測(cè)試指令。把計(jì)算機(jī)發(fā)送一次測(cè)試指 令到接收到此次測(cè)試指令的測(cè)試數(shù)據(jù)看做一次測(cè)試周期，在數(shù)據(jù)量如此小的情況下，并不 會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸?shù)难訒r(shí)，因此以每次測(cè)試周期耗時(shí)0. Ols計(jì)算，本發(fā)明方法比飛針測(cè)試法 的測(cè)試時(shí)間縮短了 4/5。在實(shí)際工業(yè)應(yīng)用中，需要測(cè)試的背板上端子密集程度以及端子數(shù)量遠(yuǎn)不止如此， 針對(duì)端子數(shù)量巨大、電路網(wǎng)絡(luò)密集的背板，采用本方法測(cè)試取得的功效更為顯著。例如，本 公司的Μ3050型背板有21790個(gè)端子，平均計(jì)算每個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)中含有5個(gè)端子，電路網(wǎng)絡(luò)數(shù) 達(dá)4358個(gè)。采用本發(fā)明方法測(cè)試Μ3050型背板，由于避免了同一電路網(wǎng)絡(luò)種各個(gè)端子的重 復(fù)測(cè)試，因此整個(gè)測(cè)試過(guò)程計(jì)算機(jī)僅需發(fā)送4358次測(cè)試指令。雖然前期每個(gè)測(cè)試周期的數(shù) 據(jù)量較大，但由于采用了多個(gè)接口適配器同時(shí)采集背板上各個(gè)端子的電平信息，并通過(guò)串 行數(shù)據(jù)總線或以太網(wǎng)將一個(gè)測(cè)試周期中的數(shù)據(jù)一并傳輸至測(cè)試控制模塊，數(shù)據(jù)傳輸延時(shí)并 不會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)試進(jìn)度；同時(shí)，測(cè)試過(guò)程排除了已確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子，使得中、后期測(cè)試周期的數(shù)據(jù)量大大減少，避免了數(shù)據(jù)傳輸延時(shí)的影響。實(shí)際操作中，采用本發(fā)明方法測(cè) 試M3050型背板，接口適配器與測(cè)試控制模塊之間通過(guò)IOOM以太網(wǎng)進(jìn)行通信連接計(jì)算數(shù)據(jù) 傳輸延時(shí)在內(nèi)，平均每次測(cè)試周期的耗時(shí)也不超過(guò)0. 05s, 4358次測(cè)試周期共耗時(shí)4分鐘左 右，測(cè)試效率非常高。然而，若采用飛針測(cè)試法測(cè)試M3050型背板，用4根探針進(jìn)行全面覆 蓋測(cè)試，總共需要經(jīng)歷7900多萬(wàn)次測(cè)試周期，即使每次測(cè)試周期耗時(shí)0. 01s，也需要測(cè)試近 220個(gè)小時(shí)，這在實(shí)際工程中是無(wú)法接受的。并且飛針測(cè)試機(jī)的價(jià)格昂貴，與采用飛針測(cè)試 法相比，采用本發(fā)明方法的測(cè)試成本更低。標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)的不同類型背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，可通過(guò)人工手動(dòng)錄入 的方式，針對(duì)不同的背板類型逐一錄入各個(gè)端子的在背板中的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，得 到多個(gè)類型背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表。雖然人工手動(dòng)錄入效率較低，但一勞永逸，前期錄 入的數(shù)據(jù)在以后的測(cè)試過(guò)程中可反復(fù)使用，為一種背板測(cè)試方法的測(cè)試應(yīng)用提供了數(shù)據(jù)基 礎(chǔ)?；诒景l(fā)明方法的特點(diǎn)，背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表還可采用“學(xué)習(xí)”的方式獲得即利 用本發(fā)明的背板測(cè)試方法，測(cè)試不同類型的標(biāo)準(zhǔn)背板進(jìn)行測(cè)試據(jù)，以此測(cè)試所得的電路網(wǎng) 絡(luò)關(guān)系表作為相應(yīng)型號(hào)背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，存儲(chǔ)到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中備用。由“學(xué)習(xí)” 方式向標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中錄入標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表的效率就得以大幅度提高，可大大減少解決 編程的時(shí)間和復(fù)雜度，減輕了操作人員的工作量，使得測(cè)試系統(tǒng)具備更好的自適應(yīng)。
最后說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較 佳實(shí) 施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技 術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本 發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求
一種背板測(cè)試方法，其特征在于，由計(jì)算機(jī)發(fā)送測(cè)試指令，測(cè)試控制模塊根據(jù)控制指令，控制連接于待測(cè)背板各個(gè)端子上的接口適配器進(jìn)行測(cè)試；具體包括如下步驟a)計(jì)算機(jī)采集多種型號(hào)的背板的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，用采集的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表建立標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)；b)測(cè)試控制模塊控制各個(gè)接口適配器進(jìn)行初始化，將待測(cè)背板中各個(gè)端子設(shè)置為初始電平；c)計(jì)算機(jī)指定待測(cè)背板中的一個(gè)端子為主測(cè)試端子，發(fā)送測(cè)試指令；d)測(cè)試控制模塊接收測(cè)試指令，控制接口適配器進(jìn)行測(cè)試；接口適配器將主測(cè)試端子設(shè)置為測(cè)試電平，并對(duì)待測(cè)背板中除主測(cè)試端子以及已確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子以外的其它各個(gè)端子進(jìn)行電平測(cè)試，將各電平測(cè)試結(jié)果一并發(fā)送至測(cè)試控制模塊；測(cè)試控制模塊再對(duì)電平測(cè)試結(jié)果進(jìn)行解析處理，得到主測(cè)試端子與其它端子之間的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，并將此電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息傳送至計(jì)算機(jī)；e)計(jì)算機(jī)累積存儲(chǔ)所收到的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息，并從中分析待測(cè)背板中是否存在未確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子；若存在，指定一個(gè)未確定電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系的端子為新的測(cè)試端子，再次發(fā)送測(cè)試指令，重復(fù)步驟d)；若不存在，則執(zhí)行步驟f)；f)計(jì)算機(jī)將累積存儲(chǔ)的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系信息整合處理為待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，并從標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中調(diào)用與待測(cè)背板的型號(hào)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表，將待測(cè)背板的電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表與其對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng)絡(luò)關(guān)系表進(jìn)行對(duì)比分析處理，得出分析結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的背板測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟f)之后還包括建立 分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)，將步驟f)所得的分析結(jié)果儲(chǔ)存在分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的背板測(cè)試方法，其特征在于所述步驟a)中標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng) 絡(luò)關(guān)系表的采集通過(guò)手工錄入的方式獲得。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的背板測(cè)試方法，其特征在于所述步驟a)中標(biāo)準(zhǔn)電路網(wǎng) 絡(luò)關(guān)系表的采集通過(guò)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)背板的測(cè)試數(shù)據(jù)獲得。
全文摘要
本發(fā)明提供一種背板測(cè)試方法，由計(jì)算機(jī)發(fā)送測(cè)試指令，測(cè)試控制模塊根據(jù)控制指令，控制連接于待測(cè)背板各個(gè)端子上的接口適配器進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明方法在測(cè)試過(guò)程中采用了避免重復(fù)測(cè)試的過(guò)程控制模式，計(jì)算機(jī)每發(fā)送一次測(cè)試指令后便能夠測(cè)試得到待測(cè)背板中的一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試數(shù)據(jù)，簡(jiǎn)化了測(cè)試控制過(guò)程，提高了計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率，同時(shí)避免了對(duì)已測(cè)端子的重復(fù)測(cè)試，進(jìn)一步縮短了背板測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率，適合大批量測(cè)試的需求。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101859266SQ20101016234
公開(kāi)日2010年10月13日 申請(qǐng)日期2010年4月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月30日
發(fā)明者劉國(guó) 申請(qǐng)人:和記奧普泰通信技術(shù)有限公司