專利名稱：可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種硬盤測(cè)試方法，尤其涉及一種可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方 法。
背景技術(shù)：
硬盤為計(jì)算機(jī)的主要部件，其性能的好壞直接影響整個(gè)計(jì)算機(jī)的性能，因此 硬盤的性能測(cè)試是決定硬盤性能好壞的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在可擴(kuò)展固件接口(Extensible FirmwareInterface,EFI)出現(xiàn)以前，主機(jī)板生產(chǎn)商對(duì)主機(jī)板讀寫硬盤性能的測(cè)試主要是在 DOS下或者Windows或者Linux下進(jìn)行，在這些操作系統(tǒng)下進(jìn)行測(cè)試，需要對(duì)測(cè)試時(shí)間進(jìn)行 一定的限制，而且在進(jìn)行硬盤的塊設(shè)備的讀寫測(cè)試時(shí)，需要避開操作系統(tǒng)所在的區(qū)域進(jìn)行， 增加了測(cè)試難度，降低了測(cè)試效率。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，實(shí)現(xiàn)在EFI 下對(duì)硬盤性能的測(cè)試。一種可擴(kuò)展固件接口下硬盤的測(cè)試方法，該方法包括(a)獲取硬盤設(shè)備樹中所 有可擴(kuò)展固件接口能夠識(shí)別的設(shè)備路徑；(b)根據(jù)所獲取的設(shè)備路徑獲取所述設(shè)備路徑所 對(duì)應(yīng)的句柄；(c)查找每一個(gè)設(shè)備路徑所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)，并獲取所述父結(jié)點(diǎn)信息中的句 柄；(d)判斷步驟(b)所獲取的句柄中是否存在與步驟(c)所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄 相同的句柄，若步驟(b)所獲取的句柄中存在與步驟(C)所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄相 同的句柄，則進(jìn)入步驟(e)，若步驟(b)所獲取的句柄中不存與步驟(c)所獲取的父結(jié)點(diǎn)信 息中的句柄相同的句柄，則進(jìn)入步驟(f) ； (e)獲取所述相同句柄所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)信息中 的句柄，并轉(zhuǎn)至步驟(d) ； (f)查看最終得到的句柄數(shù)量，該句柄數(shù)量即為待測(cè)硬盤的數(shù)量； 及(g)根據(jù)最終得到的句柄找到對(duì)應(yīng)的設(shè)備路徑，所述設(shè)備路徑即為待測(cè)硬盤的型號(hào)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，利用EFI的特性，實(shí)現(xiàn) 在短時(shí)間內(nèi)主機(jī)板讀寫硬盤性能的測(cè)試，提高工作效率。


圖1是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境圖。圖2是待測(cè)硬盤3的設(shè)備樹的示意圖。圖3是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤信息的測(cè)試方法較佳實(shí)施例的流程圖。圖4是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤塊設(shè)備的測(cè)試方法較佳實(shí)施例的流程圖。圖5是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤文件系統(tǒng)空閑空間讀寫的測(cè)試方法較佳 實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境 圖。硬盤性能測(cè)試系統(tǒng)100運(yùn)行于存儲(chǔ)設(shè)備1中，該存儲(chǔ)設(shè)備1可以為U盤，移動(dòng)硬盤等。 該存儲(chǔ)設(shè)備ι通過USB接口連接于主機(jī)2，該主機(jī)2通過讀取該存儲(chǔ)設(shè)備1中的硬盤性能 測(cè)試系統(tǒng)100對(duì)待測(cè)硬盤3進(jìn)行測(cè)試。本較佳實(shí)施例中，該待測(cè)硬盤3可以為一個(gè)，也可 以為多個(gè)。每個(gè)待測(cè)硬盤3包括多個(gè)塊設(shè)備及文件系統(tǒng)，每個(gè)塊設(shè)備是可獨(dú)立讀寫的。每 個(gè)待測(cè)硬盤3分別可用一個(gè)設(shè)備樹來表示，設(shè)備樹的根結(jié)點(diǎn)表示該待測(cè)硬盤3，葉子結(jié)點(diǎn)表 示該待測(cè)硬盤3的塊設(shè)備及文件系統(tǒng)。本較佳實(shí)施例中，每個(gè)待測(cè)硬盤3至少包括2個(gè)格 式化后的分區(qū)，假設(shè)格式化的分區(qū)分別為分區(qū)C和分區(qū)D，其中分區(qū)C為文件配置表(File Allocation Table 32，F(xiàn)AT32)系統(tǒng)，分區(qū) D 為 New Technology File System(NTFS 系統(tǒng))。 所述FAT32系統(tǒng)用于測(cè)試硬盤文件系統(tǒng)的讀寫性能及塊設(shè)備的讀寫性能，所述NTFS系統(tǒng)用 于測(cè)試塊設(shè)備的讀寫性能。本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試包括三個(gè)部分的測(cè)試待 測(cè)硬盤3信息的測(cè)試，待測(cè)硬盤3的塊設(shè)備的測(cè)試及待測(cè)硬盤3的文件系統(tǒng)的測(cè)試。如圖2所示為待測(cè)硬盤3的設(shè)備樹的示意圖。該設(shè)備樹的每個(gè)葉子結(jié)點(diǎn)表 示一個(gè)塊設(shè)備或者一個(gè)文件系統(tǒng)，每個(gè)結(jié)點(diǎn)信息包括設(shè)備路徑(Device path)和句柄 (Handle)，該設(shè)備路徑表示該塊設(shè)備或者文件系統(tǒng)的路徑，句柄表示該設(shè)備路徑對(duì)應(yīng)的句 柄。如圖2所示的設(shè)備樹中包括兩個(gè)待測(cè)硬盤，該兩個(gè)待測(cè)硬盤的型號(hào)分別為=Hitachi HDT725025VLA380和ST380215AS，本發(fā)明通過該設(shè)備樹找出每個(gè)待測(cè)硬盤3中的所有塊設(shè) 備和文件系統(tǒng)，再通過這些塊設(shè)備和文件系統(tǒng)查找到該待測(cè)硬盤3的信息，該待測(cè)硬盤3 的信息包括待測(cè)硬盤3的數(shù)量，每個(gè)待測(cè)硬盤3的廠商，接口類型及固件(firmware)版本 等。例如標(biāo)注201所指向的結(jié)點(diǎn)信息為[170]FAT File System，該結(jié)點(diǎn)表示的是文件 系統(tǒng)，其中，“FAT FileSystem”表示該結(jié)點(diǎn)的設(shè)備路徑，“170”表示該設(shè)備路徑所對(duì)應(yīng)的 句柄。標(biāo)注 202 所指向的結(jié)點(diǎn)信息為[171]PciRoot (0x0) /Pci (OxlF, 0x5) /ATA(Primary, Master, 0x0) /HD (2，MBR, 0xl9EFDlA8,0xl40249A, 0xC80343F)，該結(jié)點(diǎn)表示的是塊設(shè)備，其 中，“PciRoot (OxO)/Pci (OxlF,0x5)/ATA(Primary, Master,0x0)/HD(2，MBR,0xl9EFDlA8, 0xl40249A, 0xC80343F)，，表示該結(jié)點(diǎn)的設(shè)備路徑，“ 171 ”表示該設(shè)備路徑所對(duì)應(yīng)的句柄。如圖3所示，是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤信息的測(cè)試方法較佳實(shí)施例的流程圖。步驟S30，硬盤性能測(cè)試系統(tǒng)100獲取設(shè)備樹中所有EFI能夠識(shí)別的設(shè)備路徑。如 圖2所示，EFI能夠識(shí)別的設(shè)備路徑包括標(biāo)注201、202、203、204、301、302、303所對(duì)應(yīng)的結(jié) 點(diǎn)信息中的設(shè)備路徑。步驟S31，根據(jù)所獲取的設(shè)備路徑獲取該設(shè)備路徑所對(duì)應(yīng)的句柄。步驟S32，查找所獲取的設(shè)備路徑所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)，并獲取該父結(jié)點(diǎn)信息中的句 柄。例如，如圖2所示，標(biāo)注203指向的結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)的句柄為171，標(biāo)注204指向的結(jié)點(diǎn)的 父結(jié)點(diǎn)的句柄為171，標(biāo)注303指向的結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)的句柄為175。步驟S33，判斷步驟S31所獲取的句柄中是否存在與所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句 柄相同的句柄。若步驟S31所獲取的句柄中存在與所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄相同的句 柄，則進(jìn)入步驟S34。若步驟S31所獲取的句柄中不存在與所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄相 同的句柄，則進(jìn)入步驟S35。步驟S34，獲取所述相同句柄所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄，并轉(zhuǎn)至步驟S33。
5例如圖2中，標(biāo)注203和標(biāo)注204所指向的結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)的句柄為171，與步驟S31中獲取的標(biāo)注202所指向結(jié)點(diǎn)的句柄相同，及標(biāo)注303所指向的結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)的句柄為175，與步 驟S31中獲取的標(biāo)注302所指向結(jié)點(diǎn)的句柄相同，則再繼續(xù)查找句柄171及句柄175所在 結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄，得到的句柄為16E及16F，轉(zhuǎn)至步驟S33，步驟S31所獲取的句 柄中不存在該句柄16E及16F，則進(jìn)入步驟S35。步驟S35，查看最終得到的句柄數(shù)量，該句柄數(shù)量即為待測(cè)硬盤3的數(shù)量。如圖2 所示，最終得到的句柄為16E與16F，即待測(cè)硬盤3的數(shù)量為2。步驟S36，根據(jù)該最終得到的句柄找到對(duì)應(yīng)的設(shè)備路徑，該設(shè)備路徑即為該待測(cè)硬 盤3的型號(hào)，從該型號(hào)中獲取該待測(cè)硬盤3的信息。例如，句柄16E為一個(gè)待測(cè)硬盤3的句 柄，該句柄對(duì)應(yīng)的設(shè)備路徑為Hitachi HDT725025VLA380，即為該待測(cè)硬盤3的型號(hào)，從該 型號(hào)中可得知該待測(cè)硬盤3的信息為廠商Hitachi，容量大小250G，接口類型為SATAII 8M。如圖4所示，是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤塊設(shè)備的測(cè)試方法較佳實(shí)施例的 流程圖。步驟S40，將EFI下識(shí)別的待測(cè)硬盤3的每個(gè)塊設(shè)備分成多個(gè)小塊，該小塊的數(shù)量 可由測(cè)試人員自行設(shè)置，本較佳實(shí)施例中，每個(gè)小塊可以同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，也可以按照先后順 序進(jìn)行測(cè)試，該先后順序可由測(cè)試人員自行設(shè)定。每個(gè)小塊的大小必須是512字節(jié)的整數(shù) 倍。例如，假設(shè)每個(gè)塊設(shè)備大小為TotalSize MB，每個(gè)塊設(shè)備被分成N個(gè)小塊，則每個(gè)小塊 的大小為 TotalSize*1024*1024/N 字節(jié)。步驟S41，于每個(gè)小塊中劃分一個(gè)測(cè)試空間，該測(cè)試空間用于小塊的讀寫測(cè)試。該 測(cè)試空間的大小必須是512字節(jié)的整數(shù)倍。本較佳實(shí)施例中，該測(cè)試空間為每個(gè)小塊的最 前面的字節(jié)。例如，若一個(gè)小塊的大小為10MB，該小塊的測(cè)試空間為1M，則該小塊的測(cè)試空 間為該小塊的最前面的1024字節(jié)。若分成的小塊數(shù)量大，測(cè)試的字節(jié)大，則測(cè)試的時(shí)間長(zhǎng)， 待測(cè)硬盤3的測(cè)試面較大。若分成的小塊數(shù)量小，測(cè)試的字節(jié)小，則測(cè)試的時(shí)間短，待測(cè)硬 盤3的測(cè)試面較小。若每個(gè)小塊的測(cè)試空間等于每個(gè)小塊的大小，則表示測(cè)試整個(gè)待測(cè)硬
3 ο步驟S42，將每個(gè)測(cè)試空間內(nèi)原本存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到該測(cè)試空間所在小塊的緩沖 區(qū)內(nèi)，該緩沖區(qū)即為該小塊的內(nèi)存。步驟S43，往測(cè)試空間內(nèi)寫入測(cè)試數(shù)據(jù)。步驟S44，讀出測(cè)試空間內(nèi)的數(shù)據(jù)。步驟S45，判斷該讀出的數(shù)據(jù)是否與寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)相同。若相同，進(jìn)入步驟S46。 若不相同，進(jìn)入步驟S47。步驟S46，提示該小塊讀寫測(cè)試成功，并將存儲(chǔ)到緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)恢復(fù)存儲(chǔ)到該測(cè)試 空間內(nèi)。步驟S47，提示該小塊讀寫測(cè)試失敗。如圖5所示，是本發(fā)明可擴(kuò)展固件接口下的硬盤文件系統(tǒng)空閑空間讀寫的測(cè)試方 法較佳實(shí)施例的流程圖。步驟S50，列舉出待測(cè)硬盤3在EFI下支持的所有文件系統(tǒng)分區(qū)。本較佳實(shí)施例 中，可根據(jù)設(shè)備樹得出該待測(cè)硬盤3在EFI下支持的文件系統(tǒng)分區(qū)。所述文件系統(tǒng)分區(qū)可以同時(shí)測(cè)試，也可以按照先后順序測(cè)試，該先后順序可以由測(cè)試人員自行設(shè)定。步驟S51，將標(biāo)準(zhǔn)文件復(fù)制到每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)的空閑空間內(nèi)，該標(biāo)準(zhǔn)文件可復(fù)制 多份以填滿該文件系統(tǒng)分區(qū)的空閑空間。該標(biāo)準(zhǔn)文件包括標(biāo)準(zhǔn)文件的內(nèi)容及該標(biāo)準(zhǔn)文件的 屬性，該標(biāo)準(zhǔn)文件的屬性包括該標(biāo)準(zhǔn)文件的大小，EFI下復(fù)制該標(biāo)準(zhǔn)文件所需要的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間寸。步驟S52，讀出每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)內(nèi)的文件。步驟S53，比較讀出的文件與復(fù)制到每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)文件是否相同。若 相同，則進(jìn)入步驟S54。若不相同，則進(jìn)入步驟S56。步驟S54，判斷讀出文件的時(shí)間是否正常。根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)文件屬性中的該標(biāo)準(zhǔn)文件 在EFI下復(fù)制的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間來判斷讀出該文件的時(shí)間是否正常。若讀出文件的時(shí)間正常，進(jìn) 入步驟S55。若讀出文件的時(shí)間不正常，進(jìn)入步驟S56。步驟S55，提示用戶該文件系統(tǒng)分區(qū)測(cè)試成功。步驟S56，提示用戶該文件系統(tǒng)分區(qū)測(cè)試失敗。最后所應(yīng)說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參 照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明 的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
一種可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括步驟(a)獲取硬盤設(shè)備樹中所有可擴(kuò)展固件接口能夠識(shí)別的設(shè)備路徑；(b)根據(jù)所獲取的設(shè)備路徑獲取所述設(shè)備路徑所對(duì)應(yīng)的句柄；(c)查找每一個(gè)設(shè)備路徑所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)，并獲取所述父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄；(d)判斷步驟(b)所獲取的句柄中是否存在與步驟(c)所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄相同的句柄，若步驟(b)所獲取的句柄中存在與步驟(c)所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄相同的句柄，則進(jìn)入步驟(e)，若步驟(b)所獲取的句柄中不存與步驟(c)所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄相同的句柄，則進(jìn)入步驟(f)；(e)獲取所述相同句柄所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄，并轉(zhuǎn)至步驟(d)；(f)查看最終得到的句柄數(shù)量，該句柄數(shù)量即為待測(cè)硬盤的數(shù)量；及(g)根據(jù)最終得到的句柄找到對(duì)應(yīng)的設(shè)備路徑，所述設(shè)備路徑即為待測(cè)硬盤的型號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，該方法還包 括步驟從所獲取的待測(cè)硬盤的型號(hào)中得到待測(cè)硬盤的信息，該待測(cè)硬盤的信息包括廠商， 硬盤容量大小，及接口類型。
3.如權(quán)利要求1所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，所述設(shè)備樹 的每個(gè)結(jié)點(diǎn)表示一個(gè)塊設(shè)備或者一個(gè)文件系統(tǒng)。
4.如權(quán)利要求3所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，該方法還包 括塊設(shè)備的測(cè)試步驟，所述塊設(shè)備的測(cè)試步驟包括將可擴(kuò)展固件接口下識(shí)別的待測(cè)硬盤的每個(gè)塊設(shè)備分成數(shù)個(gè)小塊； 于每個(gè)小塊中劃分一個(gè)測(cè)試空間；將每個(gè)測(cè)試空間內(nèi)原本存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到測(cè)試空間所在小塊的緩沖區(qū)內(nèi)； 往測(cè)試空間內(nèi)寫入測(cè)試數(shù)據(jù)； 讀出測(cè)試空間內(nèi)的數(shù)據(jù)；當(dāng)讀出的數(shù)據(jù)與寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)相同時(shí)，提示該小塊讀寫測(cè)試成功，并將存儲(chǔ)到緩沖 區(qū)的數(shù)據(jù)恢復(fù)存儲(chǔ)到該測(cè)試空間內(nèi)；及當(dāng)讀出的數(shù)據(jù)與寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)不同時(shí)，提示該小塊讀寫測(cè)試失敗。
5.如權(quán)利要求4所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，所述每個(gè)小 塊的大小是512字節(jié)的整數(shù)倍。
6.如權(quán)利要求4所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試空 間的大小是512字節(jié)的整數(shù)倍，且該測(cè)試空間為每個(gè)小塊的最前面的字節(jié)。
7.如權(quán)利要求3所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，該方法還包 括文件系統(tǒng)空閑空間的讀寫測(cè)試步驟，所述文件系統(tǒng)空閑空間的讀寫測(cè)試步驟包括列舉出待測(cè)硬盤在可擴(kuò)展固件接口下支持的所有文件系統(tǒng)分區(qū)； 將標(biāo)準(zhǔn)文件復(fù)制到每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)的空閑空間內(nèi)； 讀出每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)內(nèi)的文件；若讀出的文件與復(fù)制到每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)文件不同，則提示該文件系統(tǒng)分區(qū) 空閑空間的讀寫測(cè)試失敗；若讀出的文件與復(fù)制到每個(gè)文件系統(tǒng)分區(qū)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)文件相同，則判斷所述讀出文件的 時(shí)間是否正常；若讀出文件的時(shí)間正常，則提示該文件系統(tǒng)分區(qū)空閑空間的讀寫測(cè)試成功；及 若讀出文件的時(shí)間不正常，則提示該文件系統(tǒng)分區(qū)空閑空間的讀寫測(cè)試失敗。
8.如權(quán)利要求7所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)文 件包括標(biāo)準(zhǔn)文件的內(nèi)容及該標(biāo)準(zhǔn)文件的屬性，該標(biāo)準(zhǔn)文件的屬性包括該標(biāo)準(zhǔn)文件的大小、 可擴(kuò)展固件接口下復(fù)制該標(biāo)準(zhǔn)文件所需要的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間。
9.如權(quán)利要求8所述的可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，其特征在于，所述讀出文 件的時(shí)間正常是指讀出該文件的時(shí)間與復(fù)制該標(biāo)準(zhǔn)文件所需要的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間一致。
全文摘要
一種可擴(kuò)展固件接口下的硬盤測(cè)試方法，包括(a)獲取設(shè)備樹中可擴(kuò)展固件接口能夠識(shí)別的設(shè)備路徑；(b)根據(jù)設(shè)備路徑獲取對(duì)應(yīng)的句柄；(c)查找設(shè)備路徑所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)及所述父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄；(d)判斷步驟(b)所獲取的句柄中是否存在與所獲取的父結(jié)點(diǎn)信息中句柄相同的句柄，若存在，則進(jìn)入步驟(e)，若不存在，則進(jìn)入步驟(f)；(e)獲取所述相同句柄所在結(jié)點(diǎn)的父結(jié)點(diǎn)信息中的句柄，并轉(zhuǎn)至步驟(d)；(f)查看最終得到的句柄數(shù)量；(g)根據(jù)最終得到的句柄找到對(duì)應(yīng)的設(shè)備路徑，該設(shè)備路徑即為該待測(cè)硬盤的型號(hào)。另外，本發(fā)明還提供一種在可擴(kuò)展固件接口下硬盤塊設(shè)備及硬盤空閑空間的讀寫測(cè)試方法。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101963931SQ20091030467
公開日2011年2月2日 申請(qǐng)日期2009年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月22日
發(fā)明者曾革新 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司