專利名稱：主板電源兼容性測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別涉及一種主板電源兼容性測試裝置。
背景技術(shù)：
主板與電源的兼容性是衡量電子設(shè)備(如個人計算機(jī)、工作站、服務(wù)器和交換機(jī) 等)性能的重要指標(biāo)之一。為了確保電子設(shè)備的品質(zhì)，制造廠商需對主板與電源的兼容性 進(jìn)行嚴(yán)格地測試。 為了保證主板對電源的良好兼容，需采用盡可能多的電源與之進(jìn)行測試。傳統(tǒng)的 測試方法是先將一電源的電源插頭插入一主板的電源插座，按下開機(jī)鍵后，主板開機(jī)并自 動運(yùn)行相應(yīng)的測試軟件(如3DMark軟件)，以對所述電源進(jìn)行測試，測試完成后，主板關(guān)機(jī)。 測試人員從所述主板上拔下所述電源的電源插頭，并將另一電源的電源插頭插入所述主板 的電源插座，以對另一電源進(jìn)行測試。整個測試過程主要是人工手動完成，由于每次只能測 試所述主板與一種電源的兼容性，故需要反復(fù)插拔電源插頭及開關(guān)機(jī)，從而使得測試過程 繁瑣，且耗費(fèi)的人力和時間較多，進(jìn)而影響了測試效率。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種能配合主板對若干電源進(jìn)行自動測試的主板電源 兼容性測試裝置，以提高測試效率。 —種主板電源兼容性測試裝置，包括一用于連接一主板的電源插頭、若干用于分 別連接若干電源的電源插座及一微處理器，當(dāng)所述微處理器接收到所述主板發(fā)送的開機(jī)信 號時，發(fā)送一低電平控制信號開啟其中一電源，當(dāng)所述電源工作正常時，所述電源反饋一電 源正常信號給所述微處理器，并給所述主板供電，所述微處理器將接收到的電源正常信號 輸出給所述主板，使所述主板對所述電源進(jìn)行測試，測試完成后，所述主板重啟，所述微處 理器再次接收到所述主板發(fā)送的開機(jī)信號時，發(fā)送一高電平控制信號以關(guān)閉所述電源，并 再次發(fā)送一低電平控制信號開啟另一電源，以對另一電源進(jìn)行測試。 上述主板電源兼容性測試裝置利用所述電源插頭來連接所述主板及所述若干電 源插座來連接所述若干電源，并通過所述微處理器根據(jù)接收到的信號來開啟和關(guān)閉所述若 干電源，以配合所述主板完成對所述若干電源的自動測試，節(jié)省了人力和時間，提高了測試效率。


下面結(jié)合附圖及較佳實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述 圖1是本發(fā)明主板電源兼容性測試裝置較佳實施方式的示意圖。
圖2是本發(fā)明主板電源兼容性測試裝置配合主板測試第一電源及第二電源較佳
實施方式的電路圖。 圖3是本發(fā)明主板電源兼容性測試裝置配合主板測試第一電源及第二電源較佳實施方式的示意圖。
具體實施例方式
請共同參考圖1至圖3，本發(fā)明主板電源兼容性測試裝置100用于配合一主板200 完成對若干電源兼容性的自動測試，其較佳實施方式包括一用于連接所述主板200的電源 插頭110 、若干用于連接所述若干電源的電源插座、 一存儲有預(yù)定程序以根據(jù)接收到的信號 來開啟和關(guān)閉所述若干電源的微處理器130、一顯示所述微處理器130及所述若干電源能 否正常工作的顯示單元150及一通過一開關(guān)K與所述微處理器130相連的裝置電源160。 在本實施方式中，僅以所述主板電源兼容性測試裝置100配合所述主板200對一第一電源 310及一第二電源320的兼容性進(jìn)行測試為例來進(jìn)行說明。在其他實施方式中，可根據(jù)實際 需要增加電源的數(shù)目。 所述第一電源310通過所述若干電源插座中的一電源插座122與所述微處理器 130相連，所述第二電源320通過所述若干電源插座中的另一 電源插座124與所述微處理器 130相連，所述主板200通過所述電源插頭110與所述微處理器130相連，以實現(xiàn)所述第一 電源310、所述第二電源320及所述主板200與所述微處理器130之間的通訊。所述電源 插座122U24均與所述電源插頭110相連，以將所述第一電源310或第二電源320輸出的 電壓信號傳輸給所述主板200。所述顯示單元150包括三個發(fā)光二極管Dl-D3及三個電阻 Rl-R3。所述發(fā)光二極管Dl-D3的陽極分別通過所述電阻Rl-R3與所述微處理器130的引 腳Pl. l-P1.3相連，所述發(fā)光二極管Dl-D3的陰極均接地。所述開關(guān)K用于控制所述主板 電源兼容性測試裝置100的開啟和關(guān)閉，其一端與所述微處理器130的電源引腳Vcc相連， 其另一端與所述裝置電源160相連。在其他施方式中，所述發(fā)光二極管及電阻的具體數(shù)目 可根據(jù)所述電源插座的數(shù)目而進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整。 進(jìn)行測試時，先將所述電源插頭110插入所述主板200的電源插座，并將所述第一 電源310及第二電源320的電源插頭分別插入所述電源插座122、124。再閉合所述開關(guān)K， 所述裝置電源160開始為所述微處理器130供電，若發(fā)光二極管Dl發(fā)光，則表明所述微處 理器130能正常工作，反之，則證明所述微處理器130出現(xiàn)異常，需更換所述微處理器130。 待所述發(fā)光二極管Dl發(fā)光后，按下開機(jī)鍵，所述主板200上發(fā)出的開機(jī)信號PSON經(jīng)所述電 源插頭110傳送給所述微處理器130，所述微處理器130接收到所述開機(jī)信號PSON后發(fā)送 一低電平控制信號PS1給所述電源插座122，以開啟所述第一電源310。所述第一電源310 反饋一信號PG1給所述微處理器130，并開始向所述主板200供電。所述微處理器130接 收到所述信號PG1后輸出一電源正常信號PG給所述主板200，且其引腳Pl. 2發(fā)出高電平 信號，所述發(fā)光二極管D2發(fā)光，以告訴測試人員所述第一電源310正常。所述主板200接 收到所述電源正常信號PG后正式進(jìn)入開機(jī)狀態(tài)，并在開機(jī)后自動運(yùn)行相應(yīng)的測試軟件(如 3DMark軟件)，以對所述第一電源310進(jìn)行測試。 所述測試軟件運(yùn)行完后，所述主板200自動重啟，并再次發(fā)送一開機(jī)信號PSON給 所述微處理器130。所述微處理器130接收到所述開機(jī)信號PS0N后發(fā)送一高電平控制信號 PS1給所述電源插座122，以關(guān)閉所述第一電源310，并發(fā)送一低電平控制信號PS2給所述電 源插座124，以開啟所述第二電源320。所述第二電源320反饋一信號PG2給所述微處理 130，并開始向所述主板200供電。所述微處理器130接收到所述信號PG2后輸出一電源正常信號PG給所述主板200，且其引腳PI. 3發(fā)出高電平信號，所述發(fā)光二極管D3發(fā)光，以告 訴測試人員所述第二電源320正常。所述主板200接收到所述電源正常信號PG后正式進(jìn) 入開機(jī)狀態(tài)，并在開機(jī)后自動運(yùn)行所述測試軟件，以對所述第二電源310進(jìn)行測試。
上述主板電源兼容性測試裝置100利用所述電源插頭110來連接所述主板200及 所述若干電源插座來連接所述若干電源，并通過所述微處理器130根據(jù)接收到的信號來開 啟和關(guān)閉所述若干電源，以配合所述主板200來完成對所述若干電源兼容性的自動測試， 節(jié)省了人力和時間，提高了測試效率。所述測試裝置還通過所述顯示單元150來顯示測試 時所述微處理器130及所述若干電源是否正常工作，從而避免了因所述微處理器130及所 述若干電源的異常而造成的測試誤差，進(jìn)而使測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
權(quán)利要求
一種主板電源兼容性測試裝置，包括一用于連接一主板的電源插頭、若干用于分別連接若干電源的電源插座及一微處理器，當(dāng)所述微處理器接收到所述主板發(fā)送的開機(jī)信號時，發(fā)送一低電平控制信號開啟其中一電源，當(dāng)所述電源工作正常時，所述電源反饋一電源正常信號給所述微處理器，并給所述主板供電，所述微處理器將接收到的電源正常信號輸出給所述主板，使所述主板對所述電源進(jìn)行測試，測試完成后，所述主板重啟，所述微處理器再次接收到所述主板發(fā)送的開機(jī)信號時，發(fā)送一高電平控制信號以關(guān)閉所述電源，并再次發(fā)送一低電平控制信號開啟另一電源，以對另一電源進(jìn)行測試。
2. 如權(quán)利要求1所述的主板電源兼容性測試裝置，其特征在于所述微處理器還與一 顯示單元相連，所述顯示單元包括若干用于分別顯示所述微處理器及所述若干電源是否工 作正常的發(fā)光二極管。
3. 如權(quán)利要求2所述的主板電源兼容性測試裝置，其特征在于每一所述發(fā)光二極管 的陽極分別通過一電阻與所述微處理器一相應(yīng)的引腳相連，陰極接地。
4. 如權(quán)利要求1所述的主板電源兼容性測試裝置，其特征在于所述微處理器還通過 一開關(guān)與一裝置電源相連，所述裝置電源為所述微處理器供電，所述開關(guān)用于控制所述主 板電源兼容性測試裝置的開啟和關(guān)閉。
全文摘要
一種主板電源兼容性測試裝置，包括一用于連接一主板的電源插頭、若干用于分別連接若干電源的電源插座及一微處理器，當(dāng)所述微處理器接收到所述主板發(fā)送的開機(jī)信號時，發(fā)送一低電平控制信號開啟其中一電源，當(dāng)所述電源工作正常時，所述電源反饋一電源正常信號給所述微處理器，并給所述主板供電，所述微處理器將接收到的電源正常信號輸出給所述主板，使所述主板對所述電源進(jìn)行測試，測試完成后，所述主板重啟，所述微處理器再次接收到所述主板發(fā)送的開機(jī)信號時，發(fā)送一高電平控制信號以關(guān)閉所述電源，并再次發(fā)送一低電平控制信號開啟另一電源，以對另一電源進(jìn)行測試。
文檔編號G06F11/22GK101782631SQ20091030022
公開日2010年7月21日 申請日期2009年1月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月16日
發(fā)明者葉振興, 周家興, 陳曉竹 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司