專利名稱：可防止誤觸觸控面板的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明提供一種可防止誤觸觸控面板的方法，尤其涉及一種可防止誤觸矩陣式多 點觸控面板的方法。
背景技術(shù)：
先前一般人機界面多點觸控有許多技術(shù)可應(yīng)用，其中常用技術(shù)如矩陣式多點觸 控，例如投射式電容觸控(Projected Capacitive Touch)最常被應(yīng)用，投射式電容觸控裝 置可經(jīng)由人手指、觸控筆、人手握導體等等方式操作。一般在中大尺寸屏幕書寫習慣上， 手掌背會放在被書寫物體上，例如在電阻式多點觸控面板上書寫時有一種避免手掌誤觸 (Palm Rejection)技術(shù)因此被廣泛應(yīng)用，但在投射式電容觸控面板上，當手持書寫工具輸 入中大尺寸投射式電容觸控面板時，手掌背無法放在觸控面板上同時書寫，比較不符合人 體工程學。先前當手握輸入裝置在矩陣式多點觸控面板上書寫時，如果手掌背直接接觸矩陣 式多點觸控面板，此時矩陣式多點觸控面板的軟件會將接觸面積視為多小點坐標群體輸 入，當手指或觸控筆再輸入時，矩陣式多點觸控面板無法辨別手指或電容筆輸入，因此在矩 陣式多點觸控面板用手掌放在面板上做書輸入或書寫動作時會有誤動作產(chǎn)生，因此在電阻 式多點觸控面板便衍生出避免手掌誤觸的技術(shù)。請參閱圖1及圖2，圖1及圖2為一先前電阻式多點觸控面板10的示意圖。電阻 式多點觸控面板10包含一聚酯(PET)層12，一第一氧化銦錫(ITO)層14，一第二氧化銦錫 層16，一玻璃層18，多個點狀絕緣體(dot spacer) 20，多個樹脂(resin) 22，用以分隔第一 氧化銦錫層14及一第二氧化銦錫層16，并提供多個點狀絕緣體20于第一氧化銦錫層14及 一第二氧化銦錫層16之間的空間。電阻式多點觸控面板10的工作原理為通過導通第一氧化銦錫層14及一第二氧 化銦錫層16來觸動觸控面板10，由于點狀絕緣體20為絕緣體，如果多個點狀絕緣體20彼 此之間間隔太遠，則會使手指或觸控筆輕易的觸動觸控面板10，而提升觸控面板10的靈敏 度。為了避免手掌誤觸，先前技術(shù)是縮短點狀絕緣體20彼此之間的距離，然而這樣的作法 卻造成多個點狀絕緣體20彼此之間太靠近，使得手指或觸控筆難以觸動觸控面板10，而降 低了觸控面板10的靈敏度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施例提供一種可防止誤觸觸控面板的方法，包含逐一掃描一觸控面板 的多個區(qū)域以檢測該多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域，檢測該多個被觸動的區(qū)域的相鄰關(guān)系 以決定多個區(qū)塊，排除該多個區(qū)塊中不符合一預定范圍的區(qū)塊，及根據(jù)該多個區(qū)塊中符合 該預定范圍的區(qū)塊產(chǎn)生一目前坐標。


圖1及圖2為一先前電阻式多點觸控面板的示意圖。
圖3為本發(fā)明避免手掌誤觸觸控面板的方法的一實施例的流程圖。
圖4為圖1觸控面板被手指及手掌背觸動的示意圖。
圖5為第-一種投射式電容觸控面板的示意圖。
圖6及圖7為第二種投射式電容觸控面板的示意圖。
主要元件符號說明
10電阻式多點觸控面板12 聚酯層
14第一氧化銦錫層16 第二氧化銦錫層
18玻璃層20 點狀絕緣體
22樹脂24 第一區(qū)塊
26第二區(qū)塊52、58投射式電容觸控面板
28、30、32.>34、36、38、40區(qū)域
42,44,46.、48、50步驟
54,56氧化銦錫60 第一導電電極
62第一絕緣層64 第二導電電極
66第二導電電極68、72X方向電極
70,74Y方向電極
具體實施例方式本發(fā)明實施例的矩陣式多點觸控裝置具有避免手掌誤觸功能，當使用者在多點觸 控同時，不會因大面積導體(如手掌或手肘)接觸而造成操作上誤動作。請參閱圖3及圖4，圖3為本發(fā)明避免手掌誤觸觸控面板10的方法的一實施例的 流程圖，圖4為觸控面板10被手指及手掌背觸動的示意圖，其中被手指觸動的區(qū)塊為第一 區(qū)塊24，被手掌背觸動的區(qū)塊為第二區(qū)塊26。避免手掌誤觸觸控面板10的方法包含下列 步驟步驟42 逐一掃描觸控面板10的多個區(qū)域28、30、32、34、36、38、40，以檢測多個區(qū) 域28中多個被觸動的區(qū)域32、34、36、38 ；步驟44 檢測多個被觸動的區(qū)域32、34、36、38的相鄰關(guān)系以決定多個區(qū)塊24、26 ；步驟46 排除多個區(qū)塊24、26中不符合一預定范圍的區(qū)塊26 ；步驟48 根據(jù)多個區(qū)塊24、26中符合該預定范圍的區(qū)塊24產(chǎn)生一目前坐標；步驟50 傳送目前坐標至主機。 在步驟42中，每一區(qū)域為X方向電極68及Y方向電極70的一交會點或多個交會 點，在每一區(qū)域為X方向電極68及Y方向電極70的多個交會點的情況下，交會點的數(shù)目僅 可為一個小數(shù)目，以使步驟44能夠正確地檢測多個被觸動的區(qū)域的相鄰關(guān)系。在步驟44 中，第一區(qū)塊24內(nèi)的區(qū)域(如32、34)均被觸動，第二區(qū)塊26內(nèi)的區(qū)域(如36、38)均被觸 動，然而第一區(qū)塊24及第二區(qū)塊26之間的區(qū)域(如40)沒有被觸動，因此便能判定第一區(qū) 塊24內(nèi)的區(qū)域(如32、34)屬同一區(qū)塊，第二區(qū)塊26內(nèi)的區(qū)域(如36、38)屬同一區(qū)塊，且 第一區(qū)塊24及第二區(qū)塊26并不相鄰而屬相異的區(qū)塊。
在確立第一區(qū)塊24內(nèi)的區(qū)域(如32、34)屬同一區(qū)塊，第二區(qū)塊26內(nèi)的區(qū)域(如 36,38)屬同一區(qū)塊后，步驟44便能根據(jù)第一區(qū)塊24及第二區(qū)塊26的尺寸判斷區(qū)塊24、 26被手指或手掌背觸動；如果區(qū)塊24、26的尺寸太大，則代表其系被手掌背觸動；如果區(qū)塊 24,26的尺寸在該預定范圍內(nèi)，則代表其被手指觸動。舉例來說，在第一種實施例中，可定義若任一區(qū)塊24、26的X軸方向的長度超過5 個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，或Y軸方向的長度超過5個X方向電極68及 Y方向電極70的交會點，則將其視為被手掌背觸動而需排除；而若任一區(qū)塊24、26的X軸 方向的長度不超過5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，且Y軸方向的長度不超 過5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，則將其視為被手指觸動。由于第二區(qū)塊 26在X軸方向的長度是超過5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，因此不論第二 區(qū)塊26在Y軸方向的長度為何，步驟46會排除第二區(qū)塊26 ；由于第一區(qū)塊24在X軸方向 的長度不超過5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，Y軸方向的長度不超過5個X 方向電極68及Y方向電極70的交會點，且第一區(qū)塊24為唯一符合預定范圍的區(qū)塊，因此 步驟48會根據(jù)第一區(qū)塊24的位置產(chǎn)生目前坐標。在第二種實施例中，可定義若任一區(qū)塊24、26的X軸方向的長度不小于5個X方 向電極68及Y方向電極70的交會點，或Y軸方向的長度超過5個X方向電極68及Y方向 電極70的交會點，則將其視為被手掌背觸動而需排除；而若任一區(qū)塊24、26的X軸方向的 長度小于5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，且Y軸方向的長度不超過5個X 方向電極68及Y方向電極70的交會點，則將其視為被手指觸動。由于第二區(qū)塊26在X軸 方向的長度不小于5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，因此不論第二區(qū)塊26在 Y軸方向的長度為何，步驟46會排除第二區(qū)塊26 ；由于第一區(qū)塊24在X軸方向的長度小于 5個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，Y軸方向的長度不超過5個X方向電極68 及Y方向電極70的交會點，且第一區(qū)塊24為唯一符合預定范圍的區(qū)塊，因此步驟48會根 據(jù)第一區(qū)塊24的位置產(chǎn)生目前坐標。在第三種實施例中，同樣以圖4為例，只是第二區(qū)塊26不再視為被手掌背觸動的 區(qū)塊。在此實施例中，可定義若任一區(qū)塊24、26的X軸方向的長度不小于11個X方向電極 68及Y方向電極70的交會點，或Y軸方向的長度不小于11個X方向電極68及Y方向電極 70的交會點，則將其視為被手掌背觸動而需排除；而若任一區(qū)塊24、26的X軸方向的長度 小于11個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，且Y軸方向的長度小于11個X方向 電極68及Y方向電極70的交會點，則將其視為被手指觸動。由于二區(qū)塊24、26在X軸方 向的長度均小于11個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，Y軸方向的長度均小于11 個X方向電極68及Y方向電極70的交會點，因此均符合視為被手指觸動的判斷條件。此 時，步驟48會判斷二區(qū)塊24、26中哪一區(qū)塊對應(yīng)的坐標較接近前次坐標，如果第一區(qū)塊24 對應(yīng)的坐標較接近前次坐標，則根據(jù)第一區(qū)塊24的位置產(chǎn)生目前坐標；如果第二區(qū)塊26對 應(yīng)的坐標較接近前次坐標，則根據(jù)第二區(qū)塊26的位置產(chǎn)生目前坐標。以上實施例以電阻式多點觸控面板10為例，但本發(fā)明可應(yīng)用于其他任何種類的 矩陣式多點觸控面板。舉例來說，請參閱圖5，圖5為第一種投射式電容觸控面板52的示意 圖。投射式電容觸控面板52包含多個X方向電極72及多個Y方向電極74，每一 X方向電 極72具有多個串聯(lián)的氧化銦錫(ITO) 54，每一 Y方向電極74亦具有多個串聯(lián)的氧化銦錫56，氧化銦錫54與氧化銦錫56之間具有一電容值，該電容值會因被手指、觸動筆或手掌背 觸動而改變，因此便可通過執(zhí)行圖3的方法來檢測投射式電容觸控面板52被觸動的區(qū)域， 并排除區(qū)域范圍過大的區(qū)塊，來產(chǎn)生目前坐標。圖6及圖7為第二種投射式電容觸控面板58的示意圖。投射式電容觸控面板58 包含一第一導電電極60，一第一絕緣層62，一第二導電電極64及一第二絕緣層66。第一導 電電極60及第二導電電極66之間具有一電容值，該電容值會因被手指、觸動筆或手掌背觸 動而改變，因此便可通過執(zhí)行圖3的方法來檢測投射式電容觸控面板58被觸動的區(qū)域，并 排除區(qū)域范圍過大的區(qū)塊，來產(chǎn)生目前坐標。相較于先前技術(shù)，本發(fā)明的實施例通過檢測多個被觸動的區(qū)域的相鄰關(guān)系以決定 多個區(qū)塊，并排除多個區(qū)塊中尺寸過大的區(qū)塊，以根據(jù)被手指或觸動筆觸動的區(qū)塊來產(chǎn)生 目前坐標，因此不會為了避免手掌誤觸，而降低了觸控面板的靈敏度。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求書所做的均等變化與修 飾，均應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
一種可防止誤觸觸控面板的方法，包含逐一掃描一觸控面板的多個區(qū)域以檢測該多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域；檢測該多個被觸動的區(qū)域的相鄰關(guān)系以決定多個區(qū)塊；排除該多個區(qū)塊中不符合一預定范圍的區(qū)塊；及根據(jù)該多個區(qū)塊中符合該預定范圍的區(qū)塊產(chǎn)生一目前坐標。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包含將該目前坐標傳送至一主機。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中根據(jù)該多個區(qū)塊中符合該預定范圍的區(qū)塊產(chǎn)生該目 前坐標包含若該多個區(qū)塊中有至少二區(qū)塊符合該預定范圍，則將該至少二區(qū)塊中最接近前 次坐標的區(qū)塊轉(zhuǎn)換成該目前坐標。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該預定范圍具有一第一預定長度及一第二預定長度。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中排除該多個區(qū)塊中不符合該預定范圍的區(qū)塊為排除 該多個區(qū)塊中第一軸向的長度超過該第一預定長度或第二軸向的長度超過該第二預定長 度的區(qū)塊，及根據(jù)該多個區(qū)塊中符合該預定范圍的區(qū)塊產(chǎn)生該目前坐標為根據(jù)該多個區(qū)塊 中第一軸向的長度不大于該第一預定長度且第二軸向的長度不大于該第二預定長度的區(qū) 塊產(chǎn)生該目前坐標。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，其中排除該多個區(qū)塊中不符合該預定范圍的區(qū)塊為排除 該多個區(qū)塊中第一軸向的長度不小于該第一預定長度或第二軸向的長度超過該第二預定 長度的區(qū)塊，及根據(jù)該多個區(qū)塊中符合該預定范圍的區(qū)塊產(chǎn)生該目前坐標為根據(jù)該多個區(qū) 塊中第一軸向的長度小于該第一預定長度且第二軸向的長度不大于該第二預定長度的區(qū) 塊產(chǎn)生該目前坐標。
7.如權(quán)利要求4所述的方法，其中排除該多個區(qū)塊中不符合該預定范圍的區(qū)塊為排除 該多個區(qū)塊中第一軸向的長度不小于該第一預定長度或第二軸向的長度不小于該第二預 定長度的區(qū)塊，及根據(jù)該多個區(qū)塊中符合該預定范圍的區(qū)塊產(chǎn)生該目前坐標為根據(jù)該多個 區(qū)塊中第一軸向的長度小于該第一預定長度且第二軸向的長度小于該第二預定長度的區(qū) 塊產(chǎn)生該目前坐標。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中逐一掃描該觸控面板的多個區(qū)域以檢測該多個區(qū)域 中多個被觸動的區(qū)域為逐一掃描一矩陣式多點觸控面板的多個區(qū)域以檢測該多個區(qū)域中 多個被觸動的區(qū)域。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中逐一掃描該矩陣式多點觸控面板的多個區(qū)域以檢測 該多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域為逐一掃描一投射式電容觸控面板的多個區(qū)域以檢測該 多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域。
10.如權(quán)利要求8所述的方法，其中逐一掃描該矩陣式多點觸控面板的多個區(qū)域以檢 測該多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域為逐一掃描一電阻式多點觸控面板的多個區(qū)域以檢測 該多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域。
全文摘要
可防止誤觸觸控面板的方法。為了避免手掌誤觸一觸控面板，首先逐一掃描該觸控面板的多個區(qū)域以檢測該多個區(qū)域中多個被觸動的區(qū)域，并檢測該多個被觸動的區(qū)域的相鄰關(guān)系以決定多個區(qū)塊。如果該多個區(qū)塊中具有大尺寸的區(qū)塊，則排除該大尺寸的區(qū)塊，并根據(jù)尺寸較小而有可能為手指或觸控筆觸動的區(qū)塊產(chǎn)生一目前坐標。
文檔編號G06F3/041GK101901068SQ20091020282
公開日2010年12月1日 申請日期2009年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月26日
發(fā)明者吳政格, 吳明聰 申請人:宇辰光電股份有限公司