專利名稱：測(cè)試點(diǎn)定位方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，更詳細(xì)而言，涉及一種線路圖輔助設(shè)計(jì)方法，其 是與布線軟件連接以輔助該布線軟件執(zhí)行線路設(shè)計(jì)作業(yè)的方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)在利用布線軟件執(zhí)行拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的線路設(shè)計(jì)作業(yè)過程中，需要將測(cè)試點(diǎn) (Tpoint)準(zhǔn)確地放置于其所屬線路的通孔(via)位置上，否則指示燈號(hào)不會(huì)顯示線路設(shè)計(jì) 正確的指示信息。然而，現(xiàn)有的布線軟件雖然顯示線路設(shè)計(jì)正確的指示信息，仍不能確保測(cè) 試點(diǎn)已準(zhǔn)確地放置于其所屬線路的通孔位置上。主要原因在于現(xiàn)有的布線軟件只能判斷測(cè) 試點(diǎn)已置于通孔上，但卻無法判斷通孔上所設(shè)置者是否為相對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)，因此導(dǎo)致線路 設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤。為確保線路設(shè)計(jì)的正確性，必須進(jìn)一步的予以檢視，因而降低線路設(shè)計(jì)作業(yè)的 工作效率。因此，如何提供一種輔助布線方法，以避免現(xiàn)有技術(shù)所存在的種種缺失，以提高線 路圖設(shè)計(jì)的品質(zhì)及工作效率，即為本發(fā)明待解決的技術(shù)課題。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，以提高 線路圖設(shè)計(jì)品質(zhì)及工作效率。本發(fā)明的另一目的在于提供一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，以自動(dòng)歸位線路圖中產(chǎn)生位置 偏移的測(cè)試點(diǎn)。為達(dá)上述及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，用以輔助布線軟件 執(zhí)行線路圖設(shè)計(jì)作業(yè)，該方法包括預(yù)先建立一數(shù)據(jù)庫，以存儲(chǔ)該線路圖中各測(cè)試點(diǎn)與通孔 的名稱信息、坐標(biāo)位置信息以及相對(duì)應(yīng)的所屬線路信息，該些信息以預(yù)設(shè)的排列規(guī)則予以 存儲(chǔ)。其次，選擇線路圖中所布設(shè)的至少一測(cè)試點(diǎn)與通孔。接著，依據(jù)相對(duì)應(yīng)的所屬線路信 息，將被選擇的測(cè)試點(diǎn)定位至具有相同所屬線路信息的通孔的坐標(biāo)位置上。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該測(cè)試點(diǎn)定位方法，還包括判斷所選擇的測(cè)試點(diǎn)與通 孔的數(shù)量是否一致，若否，則提供一界面以重新選擇數(shù)量一致的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與 通孔，若是，則進(jìn)一步判斷單一所屬線路上的該通孔的數(shù)量是否為多，并于通孔的數(shù)量為多 時(shí)，提供另一界面以定義所選擇的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔的對(duì)應(yīng)關(guān)系。在本發(fā)明的另一實(shí)施例中，該測(cè)試點(diǎn)定位方法，還包括判斷所選擇的相同所屬線 路的測(cè)試點(diǎn)與通孔當(dāng)前的坐標(biāo)位置信息是否一致，若否，則將相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)的坐 標(biāo)位置信息修正至與通孔的坐標(biāo)位置信息相同，以令布線軟件將測(cè)試點(diǎn)定位于通孔的坐標(biāo) 位置，若是，則不修正測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置。在本發(fā)明的再一實(shí)施例中，還包括選擇線路圖中需要存儲(chǔ)名稱信息與坐標(biāo)位置 信息的各測(cè)試點(diǎn)。其次，讀取所選擇的各測(cè)試點(diǎn)的名稱信息與坐標(biāo)位置信息。接著，存儲(chǔ)名 稱信息與坐標(biāo)位置信息至數(shù)據(jù)庫中，作為各測(cè)試點(diǎn)預(yù)設(shè)的名稱信息與坐標(biāo)位置信息。于本實(shí)施例中，還包括判斷所選擇的測(cè)試點(diǎn)當(dāng)前的坐標(biāo)位置信息與其預(yù)設(shè)的坐標(biāo)位置信息是 否相同，若否，則依據(jù)預(yù)設(shè)的坐標(biāo)位置信息重新定位測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置，若是，則不修正測(cè) 試點(diǎn)的坐標(biāo)位置。相較現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，用于輔助布線軟件執(zhí)行線路圖 的設(shè)計(jì)作業(yè)，通過預(yù)先在一數(shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)與設(shè)計(jì)線路圖中相關(guān)的各測(cè)試點(diǎn)與通孔的名稱、 原始位置與其所屬線路信息數(shù)據(jù)，從而于選擇該線路圖中所布設(shè)的各該測(cè)試點(diǎn)與通孔時(shí)， 自動(dòng)將被選擇的該測(cè)試點(diǎn)定位至具有相同所屬線路信息的通孔的坐標(biāo)位置上，且于線路圖 設(shè)計(jì)過程中出現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)位置偏移的情況時(shí)，能依據(jù)該數(shù)據(jù)庫中所存儲(chǔ)的相關(guān)原始數(shù)據(jù)而自 動(dòng)針對(duì)該產(chǎn)生偏移的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行歸位處理，從而令工程師能以更快的速度，高品質(zhì)地完成 線路圖設(shè)計(jì)作業(yè)，并有效提升電路板的布線品質(zhì)與效率。


圖1為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的運(yùn)作流程示意圖；圖2為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的另一實(shí)施例的流程示意圖；圖3為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的又一實(shí)施例的流程示意圖；以及圖4為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的再一實(shí)施例的流程示意圖。主要元件符號(hào)說明Sll S13 步驟S121 S124 步驟S21 S23 步驟S3US32 步驟
具體實(shí)施例方式以下通過特定的具體實(shí)例說明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書 所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明亦可通過其他不同的具體實(shí)例 加以施行或應(yīng)用，本說明書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)亦可基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在不背離本發(fā)明的精 神下進(jìn)行各種修飾與變更。請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的基本運(yùn)作流程示意圖。在本發(fā)明中， 該測(cè)試點(diǎn)定位方法應(yīng)用于輔助布線軟件執(zhí)行線路圖的設(shè)計(jì)作業(yè)。如圖所示，本發(fā)明的測(cè)試 點(diǎn)定位方法包括以下步驟首先執(zhí)行步驟S11，預(yù)先建立一數(shù)據(jù)庫，以存儲(chǔ)該線路圖中各測(cè) 試點(diǎn)與通孔的名稱信息、坐標(biāo)位置信息以及相對(duì)應(yīng)的所屬線路信息，該些信息以預(yù)設(shè)的排 列規(guī)則予以存儲(chǔ)，在本實(shí)施例中，通過選擇線路圖中需存儲(chǔ)名稱信息、坐標(biāo)位置信息以及相 對(duì)應(yīng)的所屬線路信息的各測(cè)試點(diǎn)，以讀取所選擇的各測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)位置信息及所屬線 路信息，并加以儲(chǔ)存至數(shù)據(jù)庫中，但不以此為限，仍可依各種方式建立數(shù)據(jù)庫，以存儲(chǔ)線路 圖中各測(cè)試點(diǎn)與通孔的名稱信息、坐標(biāo)位置信息以及相對(duì)應(yīng)的所屬線路信息。接著進(jìn)行步 馬聚S12 ο在步驟S12中，選擇線路圖中所布設(shè)的至少一測(cè)試點(diǎn)與通孔。于本發(fā)明中，每一測(cè) 試點(diǎn)具有一個(gè)相對(duì)應(yīng)的所屬線路信息的通孔，而在不同的實(shí)施例中，可以僅選擇一個(gè)測(cè)試 點(diǎn)與相對(duì)應(yīng)的通孔，亦可以選擇多個(gè)測(cè)試點(diǎn)與相對(duì)應(yīng)的多個(gè)通孔。接著進(jìn)行步驟S13。
在步驟S13中，依據(jù)相對(duì)應(yīng)的所屬線路信息，將被選擇的測(cè)試點(diǎn)定位至具有相同 所屬線路信息的通孔的坐標(biāo)位置上。舉例而言，假設(shè)本實(shí)施例中，被選擇的三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的名 稱信息分別為P1、P2、P3，其當(dāng)前的坐標(biāo)位置信息分別為(X1，Y1)、(X2，Y2)、(X3J3)，而所 屬線路信息則分別為Li、L2、L3。對(duì)應(yīng)線路信息則Li、L2、L3的三個(gè)通孔的名稱信息分別 為VI、V2、V3，其坐標(biāo)位置信息分別為(XII，Yll)、(X21，Y21)、(X31，Y31)，則應(yīng)該將測(cè)試點(diǎn) P1、P2、P3 定位至通孔 V1、V2、V3 的坐標(biāo)位置(XII，Yll)、(X21，Y21)、(X31，Y31)上。需說 明者，坐標(biāo)位置信息(X1，Y1)、(Χ2，Υ2)、(Χ3，Υ3)與(XII，Yl 1)、(Χ21，Υ21)、(Χ31，Υ31)可 以為相同或不同的坐標(biāo)位置信息，本說明書僅為便于比對(duì)說明而有不同的坐標(biāo)位置信息代 號(hào)。優(yōu)選地，可進(jìn)一步判斷所選擇的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔當(dāng)前的坐標(biāo)位置信 息是否一致，若所選擇的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔當(dāng)前的坐標(biāo)位置信息不一致，則將 相同所屬線路的該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置信息修正至與通孔的坐標(biāo)位置信息相同，以令布線軟 件將該測(cè)試點(diǎn)定位于該通孔的坐標(biāo)位置，反之，則不修正測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置。請(qǐng)參閱圖2，其為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的另一實(shí)施例的流程示意圖。優(yōu)選的， 在本實(shí)施例中，在步驟S12后，還包括以下步驟。在步驟S121中，判斷所選擇的測(cè)試點(diǎn)與通 孔的數(shù)量是否一致，若否，則進(jìn)至步驟S122 ；若是，則進(jìn)至步驟S123。在步驟S122中，提供一界面以重新選擇數(shù)量一致的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通 孔。在步驟S123中，則進(jìn)一步判斷單一所屬線路上的該通孔的數(shù)量是否為多，若是，則進(jìn)至 步驟SlM;若否，則進(jìn)至步驟S13。在步驟SlM中，提供另一界面以定義所選擇的相同所屬 線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔的對(duì)應(yīng)關(guān)系。舉例而言，當(dāng)執(zhí)行步驟S12以選擇線路圖中所布設(shè)的至少一測(cè)試點(diǎn)與通孔后，若 所選擇的測(cè)試點(diǎn)有2個(gè)而通孔有3個(gè)，則提供一界面以重新選擇數(shù)量一致的相同所屬線路 的測(cè)試點(diǎn)與通孔，因?yàn)樵诒緦?shí)施例中，設(shè)定一個(gè)測(cè)試點(diǎn)應(yīng)只對(duì)應(yīng)一個(gè)通孔，故測(cè)試點(diǎn)與通孔 的數(shù)量應(yīng)該相同，若測(cè)試點(diǎn)與通孔的數(shù)量不同，即屬于選擇范圍錯(cuò)誤，故即通過步驟S122， 提供一界面以重新選擇數(shù)量一致的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔。若選擇的測(cè)試點(diǎn)與通孔數(shù)量相同，則進(jìn)一步單一所屬線路上的該通孔的數(shù)量是否 為多，承前所述，在本實(shí)施例中，每一所屬線路上應(yīng)僅有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)與相對(duì)應(yīng)的通孔，若有 任一所屬線路上有多個(gè)通孔，則表示產(chǎn)生錯(cuò)誤，故通過步驟S124，提供另一界面以重新定義 所選擇的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔的對(duì)應(yīng)關(guān)系。請(qǐng)參閱圖3，其為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的又一實(shí)施例的流程示意圖。在本實(shí)施 例中，優(yōu)選的，為防止布線軟件在執(zhí)行線路圖的設(shè)計(jì)作業(yè)過程中，已定位的測(cè)試點(diǎn)的位置發(fā) 生變動(dòng)，而需要重新定位時(shí)，必須重復(fù)執(zhí)行前述的測(cè)試點(diǎn)定位程序，故通過圖3所示的信息 建置流程，將預(yù)設(shè)的名稱信息與坐標(biāo)位置存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫中，從而簡化重新定位測(cè)試點(diǎn)位置 的流程。如圖3所示，在步驟S21中，選擇線路圖中需要存儲(chǔ)名稱信息與坐標(biāo)位置信息的測(cè) 試點(diǎn)。承前所述，可選擇線路圖中的三個(gè)測(cè)試點(diǎn)。接著進(jìn)至步驟S22。在步驟S22中，讀取所選擇的各該測(cè)試點(diǎn)的名稱信息與坐標(biāo)位置信息。于本實(shí)施 例中，所讀取出的三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的名稱信息分別為Ρ1、Ρ2、Ρ3的三個(gè)測(cè)試點(diǎn)，其當(dāng)前的坐標(biāo)位 置信息分別為(XII，Yll)、(Χ21，Υ21)、(Χ31，Υ31)。接著進(jìn)至步驟S23。
在步驟S23中，存儲(chǔ)名稱信息與坐標(biāo)位置信息至數(shù)據(jù)庫中，作為各測(cè)試點(diǎn)預(yù)設(shè)的 名稱信息與坐標(biāo)位置信息。承前所述，將三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的名稱信息P1、P2、P3與坐標(biāo)位置信息 (X11，Y11)、(X21，Y21)、(X31，Y31)存儲(chǔ)至數(shù)據(jù)庫中，以做為該三測(cè)試點(diǎn)的預(yù)設(shè)的名稱信息 與坐標(biāo)位置信息。請(qǐng)參閱圖4，其為本發(fā)明的測(cè)試點(diǎn)定位方法的再一實(shí)施例的流程示意圖。通過圖 3所示的步驟S21 S23，于數(shù)據(jù)庫中建置三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的預(yù)設(shè)的名稱信息與坐標(biāo)位置信息 后。若往后再次選擇該三個(gè)測(cè)試點(diǎn)后，則進(jìn)入步驟S31，判斷所選擇的該測(cè)試點(diǎn)當(dāng)前的坐標(biāo) 位置信息與其預(yù)設(shè)的坐標(biāo)位置信息是否相同，若否，則進(jìn)至步驟S32，亦即依據(jù)該預(yù)設(shè)的坐 標(biāo)位置信息重新定位該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置；若是，則結(jié)束流程步驟，不修正該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo) 位置。因此，本發(fā)明能夠依據(jù)所讀取的各該測(cè)試點(diǎn)的預(yù)設(shè)位置坐標(biāo)信息調(diào)整該線路圖中 各該測(cè)試點(diǎn)的位置坐標(biāo)至適當(dāng)，從而將產(chǎn)生位置坐標(biāo)偏移的測(cè)試點(diǎn)歸回原位，亦即，調(diào)整各 該測(cè)試點(diǎn)至其所屬線路的通孔位置坐標(biāo)上，使各該測(cè)試點(diǎn)更能在所設(shè)計(jì)的線路圖上發(fā)揮其 功效。綜上所述，本發(fā)明提供一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，用于輔助布線軟件執(zhí)行線路圖的設(shè) 計(jì)作業(yè)，通過預(yù)先在一數(shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)與設(shè)計(jì)線路圖中相關(guān)的各測(cè)試點(diǎn)與通孔的名稱、原始 位置與其所屬線路信息數(shù)據(jù)，從而于選擇該線路圖中所布設(shè)的各該測(cè)試點(diǎn)與通孔時(shí)，自動(dòng) 將被選擇的該測(cè)試點(diǎn)定位至具有相同所屬線路信息的通孔的坐標(biāo)位置上，且于線路圖設(shè)計(jì) 過程中出現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)位置偏移的情況時(shí)，能依據(jù)該數(shù)據(jù)庫中所存儲(chǔ)的相關(guān)原始數(shù)據(jù)而自動(dòng)針 對(duì)該產(chǎn)生偏移的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行歸位處理，從而令工程師能以更快的速度，高品質(zhì)地完成線路 圖設(shè)計(jì)作業(yè)，并有效提升電路板的布線品質(zhì)與效率。上述實(shí)施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。本領(lǐng)域 技術(shù)人員可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾與改變。因此，本發(fā)明 的權(quán)利保護(hù)范圍，應(yīng)如本發(fā)明的權(quán)利要求書所述。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，用以輔助布線軟件執(zhí)行線路圖設(shè)計(jì)作業(yè)，其特征在于，該方法 包括預(yù)先建立一數(shù)據(jù)庫，以存儲(chǔ)該線路圖中各測(cè)試點(diǎn)與通孔的名稱信息、坐標(biāo)位置信息以 及相對(duì)應(yīng)的所屬線路信息，該些信息以預(yù)設(shè)的排列規(guī)則予以存儲(chǔ)；選擇該線路圖中所布設(shè)的至少一該測(cè)試點(diǎn)與通孔；以及依據(jù)相對(duì)應(yīng)的該所屬線路信息，將被選擇的該測(cè)試點(diǎn)定位至具有相同所屬線路信息的 該通孔的坐標(biāo)位置上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試點(diǎn)定位方法，其特征在于，還包括判斷所選擇的該測(cè)試 點(diǎn)與該通孔的數(shù)量是否一致，若否，則提供一界面以重新選擇數(shù)量一致的相同所屬線路的 測(cè)試點(diǎn)與通孔，若是，則進(jìn)一步判斷單一所屬線路上的該通孔的數(shù)量是否為多，并于該通孔 的數(shù)量為多時(shí)，提供另一界面以定義所選擇的相同所屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試點(diǎn)定位方法，其特征在于，還包括判斷所選擇的相同所 屬線路的測(cè)試點(diǎn)與通孔當(dāng)前的坐標(biāo)位置信息是否一致，若否，則將相同所屬線路的該測(cè)試 點(diǎn)的坐標(biāo)位置信息修正至與該通孔的坐標(biāo)位置信息相同，以令該布線軟件將該測(cè)試點(diǎn)定位 于該通孔的坐標(biāo)位置，若是，則不修正該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的測(cè)試點(diǎn)定位方法，其特征在于，還包括選擇該線路圖中需要存儲(chǔ)該名稱信息與坐標(biāo)位置信息的各該測(cè)試點(diǎn)；讀取所選擇的各該測(cè)試點(diǎn)的名稱信息與坐標(biāo)位置信息；以及存儲(chǔ)該名稱信息與坐標(biāo)位置信息至該數(shù)據(jù)庫中，作為各該測(cè)試點(diǎn)預(yù)設(shè)的名稱信息與坐 標(biāo)位置信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試點(diǎn)定位方法，其特征在于，還包括判斷所選擇的該測(cè)試點(diǎn)當(dāng)前的坐標(biāo)位置信息與其預(yù)設(shè)的坐標(biāo)位置信息是否相同，若 否，則依據(jù)該預(yù)設(shè)的坐標(biāo)位置信息重新定位該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)位置，若是，則不修正該測(cè)試點(diǎn) 的坐標(biāo)位置。
全文摘要
一種測(cè)試點(diǎn)定位方法，用于輔助布線軟件執(zhí)行線路圖的設(shè)計(jì)作業(yè)，通過預(yù)先在一數(shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)與設(shè)計(jì)線路圖中相關(guān)的各測(cè)試點(diǎn)和通孔的名稱、原始位置及其所屬線路信息數(shù)據(jù)，從而于選擇該線路圖中所布設(shè)的各該測(cè)試點(diǎn)與通孔時(shí)，自動(dòng)將被選擇的該測(cè)試點(diǎn)定位至具有相同所屬線路信息的通孔的坐標(biāo)位置上，且于線路圖設(shè)計(jì)過程中出現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)位置偏移的情況時(shí)，能依據(jù)該數(shù)據(jù)庫中所存儲(chǔ)的相關(guān)原始數(shù)據(jù)而自動(dòng)針對(duì)該產(chǎn)生偏移的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行歸位處理，從而令工程師能以更快的速度，高品質(zhì)地完成線路圖設(shè)計(jì)作業(yè)，并有效提升電路板的布線品質(zhì)與效率。
文檔編號(hào)G06F17/50GK102043869SQ200910151290
公開日2011年5月4日 申請(qǐng)日期2009年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月9日
發(fā)明者王梅, 范文綱 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司