專利名稱：可調(diào)式缺陷定級的定量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明為一種缺陷定級的定量方法，尤指一種可調(diào)式測試面板缺陷定級的定量方法。
背景技術(shù)：
在顯示器制造過中度量與檢測扮演重要的角色，現(xiàn)今各級制造廠商欲利用自動檢測系統(tǒng)取代或者加強(qiáng)傳統(tǒng)憑視覺的檢測方法。已有些廠商開發(fā)出或者正在開發(fā)一種標(biāo)準(zhǔn)(測試方法及評估準(zhǔn)則)，主要針對自動檢測系統(tǒng)中的亮度不平均性缺陷，稱之為平板顯示器的“Mura缺陷”檢測法。Mura缺陷檢測是針對顯示器組件，子系統(tǒng)以及各種關(guān)于顯示器技術(shù)的一項重要議題。顯示系統(tǒng)組件諸如微型顯示器，擴(kuò)散膜，偏光板，背光模塊，玻璃基板以及增亮膜也必須通過檢測來確定那些在最終的顯示系統(tǒng)中造成Mura異化的缺陷。
根據(jù)視訊電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(VESA)的平板顯示器測量標(biāo)準(zhǔn)將Mura缺陷定義為“當(dāng)顯示屏以一個恒定的灰度值顯示時，可看到顯示器像素區(qū)域的不完美。Mura缺陷是以低對比度、亮度不均的區(qū)域方式出現(xiàn)，一般比單個像素要大?！蓖瑯拥?，在國際半導(dǎo)體設(shè)備和材料協(xié)會(SEMI)所定義Mura缺陷是根據(jù)亮度不均性。
在現(xiàn)有專利文獻(xiàn)中，如美國專利號第5754678“基板檢測裝置及方法(Substrate inspection apparatus and method)”揭露一種自動化基板檢測裝置及方法，請參考圖1所示為基板檢測方法流程圖，包括捉取于一影像偵測裝置的一基板定位(S100)，限制由于背景調(diào)整的強(qiáng)度變動(S102)，比較由四個像素所組成的第一像素內(nèi)的第一個像素及由四個像素所組成的第二個像素內(nèi)的第一個像素(S104)，比較由四個像素所組成的第一像素內(nèi)的第二個像素及由四個像素所組成的第二個像素內(nèi)的第二個像素(S106)，決定檢測基板上的子像素(S108)。
又，如美國專利號第5917935“云紋(Mura)檢測裝置及方法(Muradetection apparatus and method)”揭露一種自動化檢測缺陷的方法及裝置，該方法是針對在基板上檢測云紋型式及檢測裝置，其中該基板包括液晶平面顯示器、主動矩陣顯示器以及其它類似的顯示器。請參考圖2所示為基板云紋檢測方法流程圖，是包括取得一基板的原始影像(S200)，從原始影像中產(chǎn)生多個子取樣影像(S202)，執(zhí)行每一影像的缺陷特定過濾(S204)，以每一影像的門限建立每一個點(diǎn)(BLOB)(S206)，藉由每一點(diǎn)分析決定云紋(mura)缺陷(S208)，特征化云紋的缺陷(S210)，選擇性后處理去決定線云紋缺陷(S212)。
然而，各廠商在云紋檢測上所遭遇的困難(1)難以定性；(2)難以定量；(3)云紋圖形出現(xiàn)的重復(fù)性低；(4)云紋檢測與角度、背景圖形有相當(dāng)大的關(guān)系；(5)不同客戶要求不同，甚至同一客戶不同時間要求不一的問題。

發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題以及現(xiàn)有技術(shù)忽略提升現(xiàn)存以人眼檢測效率的可能性及優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明提出一種可調(diào)式缺陷定級的定量方法以架構(gòu)在人眼視覺模型的人因基礎(chǔ)，并輔以一可調(diào)式裝置以達(dá)到量化云紋的目的。
人眼偵測物體的閥限因物體大小、物體與背景亮度對比及背景亮度有所變化。視覺研究領(lǐng)域上常用視覺恰辨差(Just Noticeable Difference)來定義偵測閥限。
為了達(dá)成上述量化云紋目的，本發(fā)明提供一種可調(diào)式缺陷定級的定量方法，包括取得至少一測試面板的前置作業(yè)；檢測至少一測試面板的至少一缺陷程度；將所述的缺陷程度經(jīng)由一調(diào)整轉(zhuǎn)換動作以產(chǎn)生至少一辨識(Opticaldensity)數(shù)值；轉(zhuǎn)換所述的辨識數(shù)值為至少一視覺恰辨差(Just NoticeableDifference)；及匯集所述的視覺恰辨差以制作至少一可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的基板檢測方法流程圖；圖2為現(xiàn)有技術(shù)的基板云紋檢測方法流程圖；圖3為本發(fā)明的可調(diào)式缺陷定級的定量方法流程圖；及圖4為本發(fā)明的可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值方法流程圖。
具體實(shí)施例方式
為了進(jìn)一步說明本發(fā)明為達(dá)成既定目的所采取的技術(shù)、方法及功效，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，相信本發(fā)明的目的、特征與特點(diǎn)，當(dāng)可由此得一深入且具體的了解，然而所附圖式僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。
本發(fā)明以架構(gòu)在人眼視覺模型的人因基礎(chǔ)，并輔以一可調(diào)式裝置以達(dá)到量化云紋的目的。
請參考圖3，為本發(fā)明的可調(diào)式缺陷定級的定量方法流程圖，包括取得至少一測試面板的前置作業(yè)(S300)，其中所述的測試面板為液晶面板、陰極射線管電視面板、電漿面板或其它類型的測試面板。檢測至少一測試面板的至少一缺陷程度(S302)，將所述的缺陷程度經(jīng)由一調(diào)整轉(zhuǎn)換動作以產(chǎn)生至少一辨識數(shù)值(S304)，其中該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作是由一可調(diào)式裝置所達(dá)成的，該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作包含調(diào)整穿透時間或穿透強(qiáng)度，例如LCD眼鏡具有可改變穿透率的特性，所以可作為該可調(diào)式裝置的一實(shí)施例，又該可調(diào)式裝置亦可為機(jī)械式、空間式或時間式，透過該可調(diào)式裝置可將整個亮度(人眼可見波段的波長)降低，其中所述的辨識數(shù)值為光衰減率，其光衰減率的數(shù)學(xué)式為D＝log1/T，D為光衰減率(Optical Density)，而T為光穿透率。
轉(zhuǎn)換所述的辨識數(shù)值為至少一視覺恰辨差(S306)，其所述的視覺恰辨差為辨識模糊不清狀態(tài)時，依觀看者能夠看到某一事物與不能看到同事物所換算出的比率，來定義出一切換門閥值(thresholds)，匯集所述的視覺恰辨差以制作至少一可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值(S308)。
光衰減率與視覺恰辨差轉(zhuǎn)換的模型可表達(dá)如下的公式δ(JND)＝k*Dn上述的公式中的k，n為調(diào)變參數(shù)，D為光衰減率，其公式的實(shí)質(zhì)意義為利用調(diào)變光衰減率可得到視覺恰辨差(JND)改變量，以達(dá)到量化缺陷的目標(biāo)。
請參考圖4為本發(fā)明的可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值方法流程圖，包括取得至少一測試面板的前置作業(yè)(S400)，其中所述的測試面板為液晶面板、陰極射線管電視面板、電漿面板或其它類型的測試面板。檢測至少一測試面板的至少一缺陷程度(S402)，將所述的缺陷程度經(jīng)由一調(diào)整轉(zhuǎn)換動作以產(chǎn)生至少一辨識數(shù)值(S404)，其中該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作是由一可調(diào)式裝置所達(dá)成的，該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作包含調(diào)整穿透時間或穿透強(qiáng)度，例如LCD眼鏡具有可改變穿透率的特性，所以可作為該可調(diào)式裝置的一實(shí)施例，又該可調(diào)式裝置亦可為機(jī)械式、空間式或時間式，透過該可調(diào)式裝置可將整個亮度(人眼可見波段的波長)降低，其中所述的辨識數(shù)值為光衰減率。降低該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作的一穿透強(qiáng)度(S406)，藉由該穿透強(qiáng)度而獲得至少一可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值(S408)。
本發(fā)明可解決現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，并且將本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)作比較如下1.可利用本發(fā)明將辨識數(shù)值與視覺恰辨差進(jìn)行量化連結(jié)；2.可利用本發(fā)明將辨識數(shù)值與面板等級間關(guān)系進(jìn)行客觀量化，而不會隨時間、客戶而移轉(zhuǎn)；3.本發(fā)明已將不同亮度背景考量進(jìn)來；4.在判斷云紋(mura)有無明顯邊界時，本發(fā)明可將兩類型的云紋同時進(jìn)行判定；5.對于云紋大小并無限制；6.本發(fā)明在判別云紋的時間較現(xiàn)有技術(shù)快。
本發(fā)明確能藉上述所揭露的技術(shù)，提供一種迥然不同于現(xiàn)有的設(shè)計，堪能提高整體的使用價值。
上述所揭露的圖式、說明，僅為本發(fā)明的實(shí)施例而已，凡精于此項技藝者當(dāng)可依據(jù)上述的說明作其它種種的改良，而這些改變?nèi)詫儆诒景l(fā)明的發(fā)明精神及以下界定的專利范圍中。
權(quán)利要求
1.一種可調(diào)式缺陷定級的定量方法，包括檢測至少一測試面板的至少一缺陷程度；將所述的缺陷程度經(jīng)由一調(diào)整轉(zhuǎn)換動作以產(chǎn)生至少一辨識數(shù)值；轉(zhuǎn)換所述的辨識數(shù)值為至少一視覺恰辨差；及匯集所述的視覺恰辨差以制作至少一可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)式缺陷定級的定量方法，其中該檢測至少一測試面板的步驟前，進(jìn)一步包含取得至少一測試面板的前置作業(yè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)式缺陷定級的定量方法，其中所述的測試面板為液晶面板或其它顯示器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)式缺陷定級的定量方法，其中該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作是由一可調(diào)式裝置所達(dá)成的。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可調(diào)式缺陷定級的定量方法，其中該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作包含調(diào)整穿透時間或穿透強(qiáng)度。
6.一種可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值方法，包括檢測至少一測試面板的至少一缺陷程度；將所述的缺陷程度經(jīng)由一調(diào)整轉(zhuǎn)換動作以產(chǎn)生至少一辨識數(shù)值；降低該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作的一穿透強(qiáng)度；及藉由該穿透強(qiáng)度而獲得至少一可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值方法，其中該檢測至少一測試面板的步驟前，進(jìn)一步包含取得至少一測試面板的前置作業(yè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值方法，其中所述的測試面板為液晶面板或其它顯示器。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的可調(diào)式缺陷定級的定量數(shù)值方法，其中該調(diào)整轉(zhuǎn)換動作是由一可調(diào)式裝置所達(dá)成的。
全文摘要
本發(fā)明為一種可調(diào)式缺陷定級的定量方法，用以解決在云紋檢測上所遭遇的困難，以及現(xiàn)有忽略提升現(xiàn)存以人眼檢測效率的可能性及優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明提出一種可調(diào)式缺陷定級的定量方法以架構(gòu)在人眼視覺模型的人因基礎(chǔ)，并輔以一可調(diào)式裝置以達(dá)到量化云紋的目的。
文檔編號G06F17/10GK1900700SQ20051008509
公開日2007年1月24日 申請日期2005年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月20日
發(fā)明者溫照華, 范綱政, 黃國忠, 郭升宗, 黃光永 申請人:臺灣薄膜電晶體液晶顯示器產(chǎn)業(yè)協(xié)會, 中華映管股份有限公司, 友達(dá)光電股份有限公司, 廣輝電子股份有限公司, 瀚宇彩晶股份有限公司, 奇美電子股份有限公司, 財團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院, 統(tǒng)寶光電股份有限公司