專利名稱：鍵控板測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電器的鍵控板測試裝置，具體用于生產(chǎn)線上鍵控板的大批量檢測。
背景技術(shù)：
鍵控板是用戶通過按按鍵向電器中的CPU發(fā)出指令的電路板，如圖1所示，當(dāng)不同的鍵閉合時(shí)，由于與每個(gè)鍵串聯(lián)的電阻阻值不同，按鍵閉合的狀態(tài)下與R1分壓后得到的電壓也就不同，CPU根據(jù)檢測到鍵控板a點(diǎn)電壓的高低分辨出哪個(gè)鍵被按下。目前，工廠在生產(chǎn)此類鍵控板時(shí)，檢測工位使用的設(shè)備往往是與鍵控板相配的電器，如圖1所示，電器的CPU通過不斷讀取a點(diǎn)電壓，識(shí)別哪個(gè)鍵被按下或沒有任何鍵被按下。在有鍵被按下的情況下顯示部件將可以看出反應(yīng)，根據(jù)反應(yīng)是否正確判斷鍵控板是否合格。比如電視機(jī)的鍵控板用電視機(jī)檢驗(yàn)，通過按每個(gè)鍵觀察屏幕的反映判斷鍵控板是否合格?，F(xiàn)有鍵控板測試方法的缺點(diǎn)是1、使用與之相配的電器作為測試設(shè)備成本較貴，一種鍵控板對(duì)應(yīng)一種測試設(shè)備；2、按鍵控板按鍵時(shí)電器的反應(yīng)速度往往較慢，降低了測試速度；3、電器在按按鍵后顯示的界面往往不適合用于測試，這樣在測試人員疲勞的情況下容易引起誤測。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是針對(duì)以上問題提出一種價(jià)格低廉、測試精確、反映快速的鍵控板測試裝置，降低生產(chǎn)成本，提高測試速度。
本發(fā)明的次一目的是提出一種適合于測試各種鍵控板的通用的測試裝置。
本發(fā)明的又一目的是提出一種以聲音和視覺顯示測試結(jié)果的通用的測試裝置。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種鍵控板測試裝置包括放大單元1、A/D轉(zhuǎn)換單元2和信號(hào)處理單元3，所述放大單元1的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點(diǎn)，輸出端接A/D轉(zhuǎn)換單元2的輸入端，所述A/D轉(zhuǎn)換單元2的輸出端接信號(hào)處理單元3，所述信號(hào)處理單元3中有電壓處理程序，用于將測試a點(diǎn)電壓的測試結(jié)果記錄或和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較并判斷。
其中，信號(hào)處理單元3包括用于運(yùn)算的微處理器5和用于存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的存儲(chǔ)器6，所述存儲(chǔ)器6與微處理器5相連。
為適用于各種機(jī)型的鍵控板的測試，本發(fā)明還包括用于控制微處理器5進(jìn)入測試模式或?qū)W習(xí)模式的模式控制單元11和學(xué)習(xí)單元7，所述學(xué)習(xí)單元7的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點(diǎn)，輸出端與微處理器5相連。
特別的，為了便于識(shí)別測試結(jié)果，本發(fā)明還包括測試結(jié)果提示單元8，用于接收信號(hào)處理單元3的處理結(jié)果信號(hào)并以聲音和視覺顯示。
本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明的原理是利用不同鍵被按下時(shí)a點(diǎn)的分壓不同，通過設(shè)定不同鍵的電壓范圍作為標(biāo)準(zhǔn)，將a點(diǎn)的電壓與標(biāo)準(zhǔn)比較來判斷是否合格。本發(fā)明還設(shè)計(jì)了聲音提示和視覺提示，對(duì)于符合規(guī)格的鍵，測試裝置就會(huì)發(fā)出對(duì)應(yīng)的聲音并在顯示屏上顯示，對(duì)于不符合規(guī)格的鍵，測試裝置不發(fā)出任何聲音。與現(xiàn)有鍵控板測試方法即依靠人眼去檢測判斷相比，本發(fā)明依靠儀器測試要準(zhǔn)確的多，工作效率大大提高，通過聲音和視覺的雙重提示，減少了人為出錯(cuò)的幾率，減輕了工作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。本發(fā)明還包含有學(xué)習(xí)功能，針對(duì)于一種新機(jī)型的鍵控板，本發(fā)明通過選擇先進(jìn)入學(xué)習(xí)模式，測試每個(gè)鍵的分壓并保存作為標(biāo)準(zhǔn)，之后再進(jìn)入測試模式。從而使該測試儀可以適用于各種機(jī)型的鍵控板的測試，與現(xiàn)有的機(jī)型不兼容的檢測電器相比，操作簡單，成本低。
本發(fā)明的特征及優(yōu)點(diǎn)將通過實(shí)施例結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說明。


圖1表示鍵控板的現(xiàn)有測試方案；圖2表示本發(fā)明的電路方框圖；圖3表示本發(fā)明的電路圖；圖4表示本發(fā)明的測試模式流程圖；圖5表示本發(fā)明的學(xué)習(xí)模式流程圖。
具體實(shí)施例方式
如圖1所示為本發(fā)明的電路方框圖，包括放大單元1、A/D轉(zhuǎn)換單元2和信號(hào)處理單元3，所述放大單元1的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點(diǎn)，輸出端接A/D轉(zhuǎn)換單元2的輸入端，所述A/D轉(zhuǎn)換單元2的輸出端接信號(hào)處理單元3，所述信號(hào)處理單元3中有電壓處理程序，用于將測試a點(diǎn)電壓的測試結(jié)果記錄或和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較并判斷。
所述放大單元1可以是包含有三極管的放大電路，也可以是包含有運(yùn)算放大器的放大電路。
所述信號(hào)處理單元3可以是計(jì)算機(jī)，也可以是包含單獨(dú)一個(gè)微處理器5或者包含有一個(gè)微處理器5和一個(gè)存儲(chǔ)器6。
如圖1所示為本發(fā)明的一種最佳實(shí)施方式，放大單元1為包含有運(yùn)算放大器的放大電路，其輸入端用于連接鍵控板4的測試a點(diǎn)，將a點(diǎn)電壓信號(hào)放大后輸出至A/D轉(zhuǎn)換器2進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，A/D轉(zhuǎn)換器2的輸出端與微處理器5相連。存儲(chǔ)器6通過I2C總線與微處理器5相連，用于在微處理器5和存儲(chǔ)器6之間進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀和寫，電阻R14和電阻R15分別為存儲(chǔ)器6的SCL腳和SDA腳的上拉電阻。還包括測試結(jié)果提示單元8，用于接收微處理器5的處理結(jié)果信號(hào)并以聲音和視覺顯示，界面的具體形式如同電子琴，識(shí)別到第一個(gè)鍵則發(fā)出第一個(gè)音階“do”的音符，識(shí)別到第二個(gè)鍵則發(fā)出第二個(gè)音階“re”的音符，下面識(shí)別到的第三個(gè)、第四個(gè)......鍵依次發(fā)出“mi”、“fa”、“sol”、“l(fā)a”、“xi”的音符，并顯示在液晶屏上。如果與鍵串聯(lián)的電阻發(fā)生插錯(cuò)或漏插等故障將不發(fā)出任何聲音，如果所有鍵都測試合格最后發(fā)出鍵控板測試合格的提示聲，并顯示于顯示屏上。待測鍵控板如果所有按鍵都未被按下，則a點(diǎn)輸出5V，每個(gè)按鍵都串一個(gè)不同阻值的電阻，如果SW1被按下，則a點(diǎn)輸出的電壓是5V經(jīng)R1、R2的分壓，如果SW2被按下，則a點(diǎn)電壓是5V經(jīng)R1、R3的分壓。由于R2、R3、R4、R5、R6、R7、R16的阻值各不相同，因此按下不同的鍵a點(diǎn)電壓都不同，由于A/D轉(zhuǎn)換器2的輸入電阻不夠高，從鍵控板過來的電壓(a點(diǎn))必須先進(jìn)入包含有運(yùn)算放大器的放大電路中緩沖，再輸給A/D轉(zhuǎn)換器2，轉(zhuǎn)換結(jié)果通過數(shù)據(jù)線送到微處理器5的數(shù)據(jù)口，微處理器5再根據(jù)接收到的數(shù)據(jù)判斷是否在某個(gè)鍵的電壓區(qū)間內(nèi)，并將測試結(jié)果從P1.3腳傳輸給測試結(jié)果提示單元8，測試結(jié)果提示單元8包括有用于驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器發(fā)聲的功放電路和液晶顯示模塊9。如果在SW1鍵的電壓區(qū)間內(nèi)，揚(yáng)聲器則發(fā)出“do”的音符，如果在SW2的電壓區(qū)間內(nèi)則發(fā)出“re”的音符，依次SW3對(duì)應(yīng)“mi”、SW4對(duì)應(yīng)“fa”、SW5對(duì)應(yīng)“sol”、SW6對(duì)應(yīng)“l(fā)a”、SW7對(duì)應(yīng)“xi”，液晶顯示屏同時(shí)顯示識(shí)別到的鍵號(hào)，如果不在任何區(qū)間內(nèi)則不發(fā)聲。微處理器5不斷地取鍵控板的a點(diǎn)電壓、區(qū)間判斷、發(fā)聲、取電壓、區(qū)間判斷、發(fā)聲的循環(huán)中，這樣鍵控板測試儀就如同電子琴，按下某鍵則發(fā)出對(duì)應(yīng)的音符，松鍵則停止發(fā)聲。如果所有鍵都識(shí)別到則發(fā)出合格的提示聲。本實(shí)施例還包括一個(gè)用于控制微處理器5進(jìn)入測試模式或?qū)W習(xí)模式的模式控制單元11和學(xué)習(xí)單元7，模式控制單元11包括串聯(lián)在地和5V直流電源之間的開關(guān)S1和電阻R16，微處理器5的P3.3腳串聯(lián)開關(guān)S1后接地，當(dāng)開關(guān)S1打開時(shí)，微處理器5的P3.3腳通過上拉電阻R16接5V直流電源，當(dāng)開關(guān)S1閉合時(shí)，微處理器5的P3.3腳接地，開關(guān)S1的每一次閉合，就向微處理器5輸入一個(gè)下降的脈沖沿，微處理器5每探測到一個(gè)下降沿，工作模式就變換一次，即由測試模式變換為學(xué)習(xí)模式或由學(xué)習(xí)模式變換為測試模式。學(xué)習(xí)單元7為包含有比較器10的電路，比較器10的輸入正端用于連接鍵控板4的測試a點(diǎn)，通過一個(gè)限流電阻R9接測試a點(diǎn)，輸入負(fù)端通過限流電阻R10接變阻器R8的滑動(dòng)端，變阻器R8串接在12V標(biāo)準(zhǔn)電壓和地之間，通過變阻器R8分壓，將比較器10的基準(zhǔn)電壓設(shè)在4.9V。比較器10的輸出端通過電阻R11和R12分壓后輸出至微處理器5。如圖4、5所示，當(dāng)待測鍵控板有任意鍵被按下，a點(diǎn)都輸出低于4.9V的電壓，比較器10的1腳輸出低電平，反之，沒有鍵被按下則a點(diǎn)輸出5V，比較器10的1腳輸出高電平，經(jīng)電阻R11、R12分壓輸給微處理器5的P3.2腳。在學(xué)習(xí)狀態(tài)下當(dāng)微處理器5的P3.2每檢測到一次高電平到低電平的跳變，微處理器5就認(rèn)為有一個(gè)鍵按下，于是通過放大單元、A/D轉(zhuǎn)換器取a點(diǎn)電壓，再加上容許正負(fù)偏差。得到該鍵的電壓區(qū)間，然后通過微處理器5的P3.0、P3.1口保存于存儲(chǔ)器6中。存儲(chǔ)器6為電擦除存儲(chǔ)器，掉電后學(xué)習(xí)狀態(tài)下保存的電壓區(qū)間數(shù)據(jù)不會(huì)丟失。
本發(fā)明提高了測試速度，降低了誤測率，只使用一個(gè)鍵控板測試裝置能測試所有型號(hào)電視機(jī)的鍵控板，大大降低了測試成本。
權(quán)利要求
1.一種鍵控板測試裝置，包括放大單元(1)、A/D轉(zhuǎn)換單元(2)和信號(hào)處理單元(3)，其特征在于所述放大單元(1)的輸入端用于連接鍵控板(4)的測試點(diǎn)(a)，輸出端接A/D轉(zhuǎn)換單元(2)的輸入端，所述A/D轉(zhuǎn)換單元(2)的輸出端接信號(hào)處理單元(3)，所述信號(hào)處理單元(3)中有電壓處理程序，用于將測試點(diǎn)(a)的電壓的測試結(jié)果記錄或和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較并判斷。
2.如權(quán)利要求1所述的鍵控板測試裝置，其特征在于所述信號(hào)處理單元(3)包括用于運(yùn)算的微處理器(5)。
3.如權(quán)利要求2所述的鍵控板測試裝置，其特征在于所述信號(hào)處理單元(3)還包括用于存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的存儲(chǔ)器(6)，所述存儲(chǔ)器(6)與微處理器(5)相連。
4.如權(quán)利要求2或3所述的鍵控板測試裝置，其特征在于還包括用于控制微處理器(5)進(jìn)入測試模式或?qū)W習(xí)模式的模式控制單元(11)和學(xué)習(xí)單元(7)，所述學(xué)習(xí)單元(7)的輸入端用于連接鍵控板(4)的測試點(diǎn)(a)，輸出端與微處理器(5)相連。
5.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的鍵控板測試裝置，其特征在于還包括測試結(jié)果提示單元(8)，用于接收信號(hào)處理單元(3)的處理結(jié)果信號(hào)并以聲音和視覺顯示。
6.如權(quán)利要求4所述的鍵控板測試裝置，其特征在于還包括測試結(jié)果提示單元(8)，用于接收信號(hào)處理單元(3)的處理結(jié)果信號(hào)并以聲音和視覺顯示。
7.如權(quán)利要求1所述的鍵控板測試裝置，其特征在于放大單元(1)為包含有三極管的放大電路。
8.如權(quán)利要求1所述的鍵控板測試裝置，其特征在于放大單元(1)為包含有運(yùn)算放大器的放大電路。
9.如權(quán)利要求4所述的鍵控板測試裝置，其特征在于學(xué)習(xí)單元(7)為包含有比較器的電路，比較器的輸入正端用于響應(yīng)模式選擇信號(hào)，輸入負(fù)端接設(shè)定基準(zhǔn)電壓，輸出端接微處理器(5)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種鍵控板測試裝置，包括放大單元1、A/D轉(zhuǎn)換單元2和信號(hào)處理單元3，所述放大單元1的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點(diǎn)，輸出端接A/D轉(zhuǎn)換單元2的輸入端，所述A/D轉(zhuǎn)換單元2的輸出端接信號(hào)處理單元3，所述信號(hào)處理單元3中有電壓處理程序，用于將測試a點(diǎn)電壓的測試結(jié)果記錄或和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較并判斷。本發(fā)明提高了測試速度，降低了誤測率，只使用一個(gè)鍵控板測試裝置能測試所有型號(hào)電視機(jī)的鍵控板，大大降低了測試成本。
文檔編號(hào)G06F3/023GK1611958SQ200310110828
公開日2005年5月4日 申請(qǐng)日期2003年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月27日
發(fā)明者卓成鈺, 楊軍治, 居興國 申請(qǐng)人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司