專利名稱:系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法及裝置,尤其是一種能夠?qū)C及服務(wù)器系統(tǒng)進行溫度和電壓同時進行的系統(tǒng)級內(nèi)存測試裝置。屬于電子技術(shù)領(lǐng)域。
目前還沒有規(guī)范、完善的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試平臺,不能自動對溫度和電壓兩種環(huán)境條件同步調(diào)試,不能構(gòu)建評價系統(tǒng)級內(nèi)存性能的4極限點(CORNER)測試條件。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法及裝置,其結(jié)構(gòu)簡單,成本較低,并且拉偏電壓的大功率電源穩(wěn)定、可靠性好。
本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法,主控機對被測對象的操作環(huán)境溫度和電壓進行控制,同時讀取測試信息。
主控機通過開關(guān)電路實現(xiàn)遠程自動開啟或關(guān)閉被測試對象。
所述的被測對象至少包括被測主板和裝設(shè)在該主板上的內(nèi)存及相應(yīng)的內(nèi)存測試軟件。
所述的主控機通過控制高低溫老化箱實現(xiàn)環(huán)境溫度的控制,被測對象的供電電壓的控制是通過大功率程控電源實現(xiàn)的;主控機通過開關(guān)電路實現(xiàn)遠程自動開啟或關(guān)閉被測試主板。
一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,它至少包括主控機、高低溫老化箱、大功率電源和設(shè)置在被測對象上的電壓監(jiān)測端;其中,該主控機與高低溫老化箱連接并通信,控制該高低溫老化箱的拉偏溫度或停機;該主控機與大功率電源連接,控制該大功率電源向被測對象提供測試需要的拉偏電壓;該主控機與被測對象連接,獲取該被測對象反饋的電壓數(shù)據(jù),并控制該被測對象的開啟或關(guān)閉;該被測對象至少包括被測主板及裝設(shè)在該主板上的內(nèi)存裝置,該被測對象放置在高低溫老化箱內(nèi),并與大功率電源連接以獲得供電。
它還包括用于顯示測試數(shù)據(jù)的示波器,主控機與該示波器連接并向該示波器傳送顯示數(shù)據(jù)。
所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡與設(shè)置在高低溫老化箱內(nèi)的溫度傳感器連接,獲取該高低溫老化箱的溫度變化數(shù)據(jù)。
所述的主控機通過串行通信接口與高低溫老化箱通信,并控制該高低溫老化箱溫度的改變或停機。所述的高低溫老化箱的溫度變化范圍為-40℃~100℃。
所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡連接到被測對象的電壓監(jiān)控端,實時采集被測對象工作電壓的變化信息。
所述的主控機通過數(shù)字輸入輸出信號連接到該被測對象的開關(guān)控制端,控制該被測對象的開或關(guān)。
所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡和數(shù)模轉(zhuǎn)換(D/A)卡與大功率電源連接;其中,該大功率電源的輸出電壓通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡將電壓信號傳送給主控機,主控機對大功率電源的調(diào)節(jié)信號通過數(shù)模轉(zhuǎn)換(D/A)卡傳送到大功率電源。
所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡與被測對象的溫度傳感器連接,采集該被測對象的溫度傳感器傳送的溫度信息。
本發(fā)明主要應(yīng)用在內(nèi)存測試領(lǐng)域,它包括對內(nèi)存運行環(huán)境因素的主要組成部分(溫度、電壓)進行改變,為系統(tǒng)提供最嚴格的系統(tǒng)運行環(huán)境,進而驗證內(nèi)存和系統(tǒng)的兼容性能。
通過本測試方法測試的系統(tǒng),能夠在0℃-55℃的溫度條件和3.0V-3.6V的電壓條件的變化環(huán)境下正常運行。計算機系統(tǒng)集成廠商和動態(tài)可隨機訪問存儲器(Dynamic Random Access Memory,簡稱DRAM)生產(chǎn)廠商可以通過本系統(tǒng)對采用或者生產(chǎn)的內(nèi)存產(chǎn)品與選擇的主板進行相對意義上的性能評測,這樣就能使用戶能夠采用性能價格比最優(yōu)的系統(tǒng),作為有效的測試工具,運用本發(fā)明測試內(nèi)存必然將大大提高計算機系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性。
圖2為本發(fā)明溫度測試部分的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本發(fā)明大功率程控電源部分的結(jié)構(gòu)框圖。
圖4為本發(fā)明電源部分電路原理圖。
參見
圖1和圖2,主控機對環(huán)境測試平臺進行自動控制,本發(fā)明的環(huán)境測試平臺由大功率驅(qū)動電源和高低溫老化箱共同組成,被測機器的內(nèi)存連接本發(fā)明的采集點,內(nèi)存測試程序采用的是WinMTA內(nèi)存測試軟件或WinPIE程序,通過運行此程序,可測待測試內(nèi)存能否穩(wěn)定、正常工作。其中,主控服務(wù)器承擔測試平臺的全部控制功能。控制環(huán)境測試平臺,實現(xiàn)自動測試功能。高低溫老化箱主要承擔溫度拉偏功能,是環(huán)境測試平臺的重要組成部分。大功率驅(qū)動電源向安放在高低溫老化箱內(nèi)的主板系統(tǒng)供電,并提供測試需要的拉偏電源。具體地,本實施例以2℃/M的速度,實現(xiàn)0℃-65℃的溫度拉偏,同時還可實現(xiàn)3.3V電壓的±6%的電壓拉偏。
另外,本發(fā)明還設(shè)置一示波器,用于承擔信號參數(shù)測試部分;不間斷電源(UPS)為測試裝置的穩(wěn)定供電電壓。
本發(fā)明中主控機和高低溫老化箱通過串口進行自動通訊;高低溫老化箱的溫度變化范圍為-40℃~100℃。該高低溫老化箱實施由主控機設(shè)置好的標準溫度變化。
高低溫老化箱內(nèi)設(shè)有溫度傳感器,用于監(jiān)視高低溫老化箱是否處于正常工作狀態(tài),采集溫控箱內(nèi)的溫度信息,它和A/D轉(zhuǎn)換卡連接,以電壓的形式反饋給A/D轉(zhuǎn)換卡,通過A/D轉(zhuǎn)換卡將溫度信息傳送給主控機,由主控機根據(jù)反饋信息進行操作。A/D轉(zhuǎn)換卡則對溫度傳感器采集的溫度信息進行模數(shù)轉(zhuǎn)換。
被測試對象為裝設(shè)有內(nèi)存的被測試主板。由于該被測試主板是放在高低溫老化箱內(nèi),隨著高低溫老化箱內(nèi)的溫度的改變,被測試系統(tǒng)的溫度也隨之變化。所以也就考驗了被測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和兼容性。
參見圖3,主控機通過D/A轉(zhuǎn)換卡控制大功率程控電源,輸出可調(diào)內(nèi)存供電電壓信號;通過A/D轉(zhuǎn)換卡監(jiān)視大功率程控電源和被測試主板,觀測電壓供給狀況是否正常。如果不正常,及時關(guān)閉被測試主板,避免導(dǎo)致硬件損壞。其中,D/A轉(zhuǎn)換卡用于進行數(shù)模轉(zhuǎn)換,傳送主控機的所有控制信息;A/D轉(zhuǎn)換卡用于進行模數(shù)轉(zhuǎn)換,將被測試主板的電壓、溫度信息反饋給主控機,大功率程控電源和被測試主板的運行狀況信息也通過該A/D轉(zhuǎn)換卡傳送給主控機。
參見圖2、3,其中,主控機和大功率驅(qū)動電源通過A/D卡、D/A卡進行通訊。主控機通過A/D卡采集系統(tǒng)的運行狀態(tài)信息,觀測系統(tǒng)是否處于正常的運行狀態(tài)。通過采集回來的電壓信息判斷系統(tǒng)是否處于正常的供電狀態(tài),通過采集回來的溫度信息判斷高低溫老化箱是否處于正常的工作狀態(tài)。根據(jù)采集回來的溫度、電壓信息通過D/A發(fā)出系統(tǒng)的控制信息,調(diào)整系統(tǒng)的供電電壓按照4CORNER條件運行,為整個系統(tǒng)提供嚴格的環(huán)境測試條件。
主控機和高低溫老化箱通過串口進行通訊,高低溫老化箱的智能控制器支持串口通訊,主控機可以通過串口對高低溫老化箱進行遠程開啟和關(guān)閉操作,對其進行初始化設(shè)置,對其溫度的變化軌跡進行設(shè)定,使其溫度的拉偏曲線按照4CORNER條件運行。同時通過串口采集高低溫老化箱的運行狀態(tài)信息觀測高低溫老化箱是否按照設(shè)定的4CORNER條件運行,及時地根據(jù)采集回來的故障信息發(fā)出系統(tǒng)的補救措施,同時記錄系統(tǒng)的故障信息方便測試人員在測試完畢后觀測測試曲線,判斷故障原因,進行事后故障分析。
參見圖4,大功率程控電源用于按照正常的時序,提供主板上電、下電所需的全部信號以滿足被測試系統(tǒng)在最大測試配置條件下的功率需求。
其中,主板供電電源的信號至少包括電源啟動好PWR-GD、常供電源5VSB、低使能PS-ON、電源地COM-GND、+3.3VDC、+5VDC、+12VDC、-12VDC。
其中,電源啟動好PWR-GD由供電端置高,表示+3.3VDC和+5VDC輸出大于電源的低電平。一旦該信號置高,表示變流器中存儲了足夠的能量,能保證電源可持續(xù)地在標準范圍內(nèi)操作;反之,當+3.3VDC或+5VDC電壓低于低門限時,或者當供電端被移開一段時間,電源啟動好PWR-GD信號被置低。
低使能PS-ON為低電平時則打開電源,否則關(guān)斷電源。
常供電源5VSB用于在電源關(guān)斷時提供電能。
大功率程控電源在電路板上,除3.3V和低使能PS-ON外,其它信號都采用直通連接。板上精簡3.3V的走線長度,使其在調(diào)壓板上的延時在ns級。相對于主板上的上電信號POWER_ON有效至+3.3V上電之間的時間,+3.3V上電與+5V上電之間的時間,上電信號POWER_ON信號有效至+3.3V下電之間的時間,不會對主板正常工作造成影響。
本發(fā)明通過改變內(nèi)存的工作環(huán)境,來檢驗內(nèi)存和被測試系統(tǒng)的兼容性和穩(wěn)定性。溫度和電壓是影響內(nèi)存和系統(tǒng)正常工作的最主要環(huán)境因素,本測試系統(tǒng)僅對影響系統(tǒng)性能的這兩種主要因素進行了測試。
本系統(tǒng)的特色是,智能測試,可以處于72小時無人監(jiān)控狀態(tài),能夠自動生成測試報告,自動監(jiān)測被測試系統(tǒng)的供電電壓和溫控箱是否正常工作。
最后所應(yīng)說明的是,以上實施例僅用以說明而并非限制本發(fā)明所描述的技術(shù)方案;因此,盡管本說明書參照上述的實施例對本發(fā)明已進行了詳細的說明,但是,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解,仍然可以對本發(fā)明進行修改或者等同地替換;而一切不脫離本發(fā)明的精神和范圍的技術(shù)方案及其改進,其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。
權(quán)利要求
1.一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法,其特征在于主控機對被測對象的操作環(huán)境(溫度和電壓)進行控制,同時讀取被測試對象的運行狀態(tài)信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法,其特征在于主控機通過開關(guān)電路實現(xiàn)遠程自動開啟或關(guān)閉被測試對象。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法,其特征在于所述的被測對象至少包括被測主板和裝設(shè)在該主板上的內(nèi)存。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法,其特征在于所述的主控機通過控制高低溫老化箱實現(xiàn)環(huán)境溫度的控制,對被測對象的供電電壓的控制是通過大功率程控電源實現(xiàn)的;主控機通過開關(guān)電路實現(xiàn)遠程自動開啟或關(guān)閉被測試主板。
5.一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于它至少包括一主控機、高低溫老化箱、大功率電源和設(shè)置在被測對象上的電壓監(jiān)測端;其中,該主控機與高低溫老化箱連接并通信,設(shè)置控制該高低溫老化箱的拉偏溫度和開啟/關(guān)閉狀態(tài);該主控機與大功率電源連接,控制該大功率電源向被測對象提供測試需要的拉偏電壓;該主控機與被測對象連接,獲取該被測對象反饋的電壓數(shù)據(jù),并控制該被測對象的開啟或關(guān)閉;該被測對象至少包括被測主板及裝設(shè)在該主板上的內(nèi)存裝置,該被測對象放置在高低溫老化箱內(nèi),并與大功率電源連接以獲得供電。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于它還包括用于顯示測試數(shù)據(jù)的示波器,主控機與該示波器連接并向該示波器傳送顯示數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡與設(shè)置在高低溫老化箱內(nèi)的溫度傳感器連接,獲取該高低溫老化箱的溫度變化數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的主控機通過串行通信接口與高低溫老化箱通信,并控制該高低溫老化箱溫度的改變或停機。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或7或8所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的高低溫老化箱的溫度變化范圍為-40℃~100℃。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡連接到被測對象的電壓監(jiān)控端,實時采集被測對象工作電壓的變化信息。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的主控機通過數(shù)字輸入輸出信號連接到該被測對象的開關(guān)控制端,控制該被測對象的開或關(guān)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡和數(shù)模轉(zhuǎn)換(D/A)卡與大功率電源連接;其中,該大功率電源的輸出電壓通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡將電壓信號傳送給主控機,主控機對大功率電源的調(diào)節(jié)信號通過數(shù)模轉(zhuǎn)換(D/A)卡傳送到大功率電源。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試裝置,其特征在于所述的主控機通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)卡與被測對象的溫度傳感器連接,采集該被測對象的溫度傳感器傳送的溫度信息。
全文摘要
一種系統(tǒng)級內(nèi)存環(huán)境測試的方法及裝置,主控機控制被測對象操作環(huán)境的溫度和電壓,讀取測試信息;該裝置包括主控機、高低溫老化箱、大功率電源和設(shè)置在被測對象上的電壓監(jiān)測端;該主控機與高低溫老化箱連接并通信,控制該高低溫老化箱的拉偏溫度或停機;該主控機與大功率電源連接,控制該大功率電源向被測對象提供測試需要的拉偏電壓;該主控機與被測對象連接,獲取該被測對象反饋的電壓數(shù)據(jù),并控制該被測對象的開啟或關(guān)閉;該被測對象至少包括被測主板及裝設(shè)在該主板上的內(nèi)存裝置,該被測對象放置在高低溫老化箱內(nèi),并與大功率電源連接以獲得供電;本發(fā)明對內(nèi)存運行環(huán)境進行改變,提供了嚴格的運行環(huán)境,驗證了內(nèi)存和系統(tǒng)的兼容性能。
文檔編號G06F11/36GK1464398SQ0212086
公開日2003年12月31日 申請日期2002年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月6日
發(fā)明者吳雪麗, 吳婧 申請人:聯(lián)想(北京)有限公司