一種低壓電器的老化測試控制器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種以單片機(jī)為CPU核心的老化控制器，尤其涉及一種低壓電器產(chǎn)品加載老化控制器。
【背景技術(shù)】
[0002]老化試驗主要是指針對橡膠、塑料產(chǎn)品、電器絕緣材料及其他材料進(jìn)行的熱氧老化試驗；或者針對電子零配件、塑化產(chǎn)品的換氣老化試驗。
[0003]電子產(chǎn)品，不管是原件、部件、整機(jī)、設(shè)備都要進(jìn)行老化和測試。老化和測試不是一個概念。先老化后測試，電子產(chǎn)品(所有的產(chǎn)品都這樣)通過生產(chǎn)制造后，形成了完整的產(chǎn)品。已經(jīng)可以發(fā)揮使用價值了，但使用以后會發(fā)現(xiàn)會有這樣或那樣的毛病，又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大多數(shù)就發(fā)生在剛開始的幾小時和幾十個小時之內(nèi)，后來干脆就規(guī)定電子產(chǎn)品的老化和測試，仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀況，這個過程由產(chǎn)品的制造者來完成，通過老化測試把有問題的產(chǎn)品在留在工廠，沒有問題的產(chǎn)品給用戶，以保證賣給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問題少的，這就是老化測試的意義。分為元器件老化和整機(jī)老化，尤其是新產(chǎn)品。在考核新的元器件和整機(jī)的性能，老化指標(biāo)更高。
[0004]所謂低壓電氣產(chǎn)品老化，就是在一定環(huán)境的前提條件下，讓低壓電氣產(chǎn)品連續(xù)工作若干個小時，然后再檢測產(chǎn)品的性能是否仍符合要求。通過老化可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在制造過程中存在的潛在缺陷，把故障消滅在出廠之前。
[0005]當(dāng)前低壓電氣產(chǎn)品老化，主要依靠的是PLC或時間繼電器構(gòu)成的系統(tǒng)驅(qū)動接觸器，實現(xiàn)老化電源的控制驅(qū)動與分?jǐn)?，使用時間繼電器控制精度受到限制，且觸點壽命受到時間繼電器觸點壽命影響，長時間工作不可靠。使用PLC來控制老化過程，由于無針對低壓電器老化的專門PLC，故成本較高。
[0006]當(dāng)前針對LED的老化控制新技術(shù)較多，例如ZL201210428801.9提出一種利用溫度控制模式對所述被測試模塊進(jìn)行溫度控制的老化方法，專門針對單顆LED的老化溫度進(jìn)行控制，其缺點在于溫度控制并非所有低壓老化試驗所必須的參數(shù)，加大了成本，且其老化電路電流載荷設(shè)計過小，因此不利于推廣至低壓電器的通用老化試驗。又例如ZL201310252849.3，提供了一種LED的產(chǎn)品老化控制器，并提供了一種LED的產(chǎn)品老化控制方法:通過CPU總控模塊控制沖擊執(zhí)行模塊交替進(jìn)行穩(wěn)定老化、沖擊老化，以加速產(chǎn)品的老化速度，縮短產(chǎn)品的老化時間。其缺點在于要求包含沖擊執(zhí)行模塊，限制了客戶對負(fù)載不同條件的靈活使用，同時要求CPU總控模塊的輸出端與沖擊執(zhí)行模塊連接，同時與沖擊控制器模塊連接并雙向控制，結(jié)構(gòu)復(fù)雜。并且該設(shè)計利用電源控制模塊控制CPU總控模塊的工作時間，結(jié)構(gòu)不合理且控制精度低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本實用新型目的在于提供了一種結(jié)構(gòu)合理，控制精度高，功能齊全，并且成本較低的低壓電器的老化測試控制器
[0008]如圖1中虛線框內(nèi)所示，本實用新型低壓電器的老化測試控制器，其結(jié)構(gòu)包括5部分:
[0009]1.CPU控制器模塊
[0010]2.控制顯示模塊
[0011]3.電源模塊
[0012]4.老化參數(shù)設(shè)置模塊
[0013]5.老化驅(qū)動通道模塊
[0014]所述的電源模塊分別與CPU控制模塊、控制顯示模塊、老化參數(shù)設(shè)置模塊、老化驅(qū)動模塊連接，提供工作電源；老化參數(shù)設(shè)置模塊的輸出端與CPU控制模塊連接，用于設(shè)置老化參數(shù).’CPU控制模塊與控制顯示模塊連接，用于推送參數(shù)顯示；并且CPU控制模塊輸出端與老化驅(qū)動模塊連接，用于控制輸出多個通道的驅(qū)動信號。
[0015]所述CPU控制模塊為一單片機(jī)微處理器，承擔(dān)老化測試的老化模式控制、老化輸出驅(qū)動控制、老化計時、老化計次、顯示驅(qū)動的全部控制任務(wù)。
[0016]所述老化驅(qū)動模塊的輸出端為固態(tài)繼電器輸出，可以輸出驅(qū)動信號至接觸器及其他類型的老化執(zhí)行模塊等，根據(jù)CPU控制模塊的驅(qū)動指令執(zhí)行低壓電器產(chǎn)品的直通穩(wěn)定驅(qū)動老化、脈沖驅(qū)動老化或交替脈沖驅(qū)動老化程序。其設(shè)計結(jié)構(gòu)可以為有觸點或無觸點結(jié)構(gòu)，例如圖2中的原理圖即為一例無觸點應(yīng)用設(shè)計結(jié)構(gòu)。
[0017]本實用新型的低壓電器產(chǎn)品加載老化控制器，以單片機(jī)為CPU核心，通過CPU控制模塊控制低壓電器的老化測試開始至結(jié)束的全過程，按參數(shù)設(shè)置執(zhí)行穩(wěn)定老化、脈沖老化或交替老化，以加速低壓電器產(chǎn)品的老化速度；可靈活搭配多種接觸器或老化執(zhí)行模塊，現(xiàn)場允許客戶自定義老化模式，提供多種帶載老化試驗。本實用新型結(jié)構(gòu)合理、控制精度高，而且成本低。
【附圖說明】
[0018]圖1為本實用新型低壓電器的老化測試控制器結(jié)構(gòu)流程圖；
[0019]圖2為本實用新型實施例的電路圖；
[0020]圖3為本實用新型實施例的產(chǎn)品功能面板。
【具體實施方式】
[0021]本實用新型設(shè)計的實施方式如圖1，虛線中部分為本設(shè)計的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示例，包括CPU控制器模塊、控制顯示模塊、電源模塊、老化參數(shù)設(shè)置模塊、老化驅(qū)動通道模塊5部分；5個部分的信號驅(qū)動關(guān)系及其方向如圖1所示。本設(shè)計的外部連接包括設(shè)計的工作電源輸入及驅(qū)動輸出，其中驅(qū)動輸出信號用于連接一個或多個執(zhí)行老化的接觸器或繼電器等用以控制供電主電路到老化試驗產(chǎn)品的電路通斷。
[0022]本設(shè)計的老化驅(qū)動通道模塊可以為有觸點或無觸點結(jié)構(gòu)，例如圖2中的原理圖即為一例無觸點應(yīng)用設(shè)計結(jié)構(gòu)。
[0023]參看圖3，本公司LAD-1型低壓電器老化測試產(chǎn)品中的功能面板。按參數(shù)設(shè)置執(zhí)行穩(wěn)定老化、脈沖老化或交替老化，以加速低壓電器產(chǎn)品的老化速度；可靈活搭配多種接觸器或老化執(zhí)行模塊，并允許客戶自定義老化模式，
[0024]本實用新型可應(yīng)用在LED，24V電源，UPS，燈具，傳感器，計算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等等。
【主權(quán)項】
1.一種低壓電器的老化測試控制器，其特征在于:其結(jié)構(gòu)包括CPU控制器模塊、控制顯示模塊、電源模塊、老化參數(shù)設(shè)置模塊和老化驅(qū)動通道模塊；所述電源模塊與所述CPU控制模塊，控制顯示模塊，老化參數(shù)設(shè)置模塊，老化驅(qū)動模塊連接，提供工作電源；所述老化參數(shù)設(shè)置模塊的輸出端與所述CPU控制模塊連接，用于設(shè)置老化參數(shù)；所述CPU控制模塊與所述控制顯示模塊連接，用于推送參數(shù)顯示；所述CPU控制模塊與所述老化驅(qū)動模塊連接，用于控制輸出多個通道的驅(qū)動信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低壓電器的老化測試控制器，其特征在于:所述老化驅(qū)動模塊，包含一個及一個以上的驅(qū)動信號輸出通道，與客戶提供的老化執(zhí)行模塊或接觸器相連接。
【專利摘要】本實用新型提供了一種低壓電器的老化測試控制器，其結(jié)構(gòu)包括：CPU控制器模塊、控制顯示模塊、電源模塊、老化參數(shù)設(shè)置模塊和老化驅(qū)動通道模塊。本實用新型的低壓電器的老化測試控制器可通過CPU控制模塊控制低壓電器的老化測試開始至結(jié)束的全過程，按參數(shù)設(shè)置執(zhí)行穩(wěn)定老化、脈沖老化或交替老化，以加速低壓電器產(chǎn)品的老化速度。
【IPC分類】G05B23-02
【公開號】CN204374762
【申請?zhí)枴緾N201420750355
【發(fā)明人】李華嵩, 李悅榮
【申請人】江門市新會區(qū)炎泰電子有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2014年12月2日