SoC健康監(jiān)測(cè)的方法、裝置及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及SoC健康監(jiān)測(cè)的方法、裝置及系統(tǒng)。所述方法包括：實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)；提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù)；并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)；輸出所述SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息。本發(fā)明能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)SoC的性能狀態(tài)，以及實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)SoC的性能退化趨勢(shì)。
【專利說(shuō)明】
SoC健康監(jiān)測(cè)的方法、裝置及系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及片上系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及SoC健康監(jiān)測(cè)的方法、裝置及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]片上系統(tǒng)(System on Chip，SoC)芯片設(shè)計(jì)要求已從單純追求高性能、小面積轉(zhuǎn)為對(duì)性能、面積、功耗及可靠性的綜合要求。尤其SoC芯片在航空航天、軌道交通、核電等高可靠領(lǐng)域應(yīng)用非常廣泛，其可靠性至關(guān)重要，備受關(guān)注。傳統(tǒng)的可靠性模擬、工藝在線檢測(cè)、可靠性試驗(yàn)與失效分析等離線可靠性評(píng)價(jià)方法，無(wú)法實(shí)時(shí)對(duì)SoC壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)。這種情況下，若按照傳統(tǒng)“定時(shí)維修”的維修方式或“事后維修”的方式，將造成人力、物力、財(cái)力的巨大損失。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于此，本發(fā)明實(shí)施例提供SoC健康監(jiān)測(cè)的方法、裝置及系統(tǒng)，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)SoC的性能狀態(tài)，以及實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)SoC的性能退化趨勢(shì)。
[0004]本發(fā)明一方面提供SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，包括:
[0005]實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)；
[0006]提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)；
[0007]輸出所述SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息。
[0008]本發(fā)明另一方面提供了一種SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置，包括:
[0009]數(shù)據(jù)獲取模塊，用于實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)；
[0010]分析及預(yù)測(cè)模塊，用于提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)；
[0011]信息輸出模塊，用于輸出所述SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息。
[0012]本發(fā)明另一方面提供了一種SoC系統(tǒng)，包括:包括系統(tǒng)硬件層、系統(tǒng)內(nèi)核層、系統(tǒng)服務(wù)層以及應(yīng)用層；
[0013]所述系統(tǒng)硬件層的傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)SoC性能；
[0014]所述系統(tǒng)內(nèi)核層的操作系統(tǒng)內(nèi)核實(shí)時(shí)獲取所述系統(tǒng)硬件層的傳感器數(shù)據(jù)，并傳遞所述傳感器數(shù)據(jù)給所述系統(tǒng)服務(wù)層;所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)；
[0015]所述系統(tǒng)服務(wù)層的預(yù)測(cè)模塊提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)；
[0016]所述應(yīng)用層預(yù)設(shè)的APP輸出所述SoC系統(tǒng)的性能狀態(tài)信息以及所述性能退化趨勢(shì)
?目息O
[0017]上述技術(shù)方案，通過(guò)實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù);提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)，并輸出所述SoC系統(tǒng)的性能狀態(tài)信息以及所述性能退化趨勢(shì)信息。本發(fā)明上述實(shí)施例的方案，能夠?yàn)橛脩籼峁㏒oC的實(shí)時(shí)健康監(jiān)測(cè)及實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)信息。
【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1為一實(shí)施例的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法的示意性流程圖；
[0019]圖2為一SoC健康監(jiān)測(cè)的方法的具體應(yīng)用場(chǎng)景圖；
[0020]圖3為一實(shí)施例的SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0022]圖1為一實(shí)施例的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法的示意性流程圖；如圖1所示，本實(shí)施例中的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法包括步驟:
[0023]Sll，實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)；，
[0024]優(yōu)選的，所述可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)包括TDDB(time dependent dielectricbreakdown，經(jīng)時(shí)擊穿)退化傳感器數(shù)據(jù)、HCI(hot carrier inject1n，熱載流子注入)退化傳感器數(shù)據(jù)、BTI(bias temperature instability，偏置溫度不穩(wěn)定性)退化傳感器數(shù)據(jù)。
[0025]需要說(shuō)明的是，本發(fā)明中監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器可包括許多種，上述僅列出了其中的一部分，其他任何可在SoC片上實(shí)現(xiàn)的傳感器均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0026]S12，提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)；
[0027]優(yōu)選的，可利用Gabor變換算法或快速傅里葉變換算法，提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù)。其中，Gabor變換屬于加窗傅立葉變換，Gabor函數(shù)可以在頻域不同尺度、不同方向上提取相關(guān)的特征。另外Gabor函數(shù)與人眼的生物作用相仿，所以經(jīng)常用作紋理識(shí)別上，并取得了較好的效果?？焖俑道锶~變換算法(fast Fouriertransform)，簡(jiǎn)稱FFT，采用這種算法能使計(jì)算機(jī)計(jì)算離散傅里葉變換所需要的乘法次數(shù)大為減少，特別是被變換的抽樣點(diǎn)數(shù)N越多，F(xiàn)FT算法計(jì)算量的節(jié)省就越顯著。需要說(shuō)明的是，提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù)的方法不限于這里具體的兩種，其他可提取特征數(shù)據(jù)的方法同樣適用。
[0028]本發(fā)明實(shí)施例中預(yù)測(cè)性能退化趨勢(shì)的算法可包括許多種預(yù)測(cè)算法，本發(fā)明對(duì)此不作特別限定。
[0029]S13，輸出所述性能狀態(tài)以及所述性能退化趨勢(shì)。
[0030]將得到的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息發(fā)送給應(yīng)用層，以通過(guò)應(yīng)用層的對(duì)應(yīng)APP輸出所述性能狀態(tài)以及所述性能退化趨勢(shì)。例如預(yù)先設(shè)置了健康監(jiān)測(cè)及預(yù)警APP，通過(guò)該APP的顯示界面輸出所述性能狀態(tài)以及所述性能退化趨勢(shì)，便于用戶實(shí)時(shí)查看SoC健康狀況和可靠性退化趨勢(shì)。
[0031]需要說(shuō)明的是，當(dāng)S12中得到的SoC的性能狀態(tài)或者性能退化趨勢(shì)超出各自對(duì)應(yīng)的閾值，還可輸出對(duì)應(yīng)的預(yù)警提示，例如通過(guò)健康監(jiān)測(cè)及預(yù)警APP輸出預(yù)設(shè)的預(yù)警提示信息，便于用戶及時(shí)進(jìn)行檢修，防止引發(fā)更嚴(yán)重的問(wèn)題。
[0032]圖2為本發(fā)明一實(shí)施例的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法的具體應(yīng)用場(chǎng)景圖；如圖2所示，該SoC 100系統(tǒng)由系統(tǒng)硬件層200、系統(tǒng)內(nèi)核層300、系統(tǒng)服務(wù)層400、應(yīng)用層500構(gòu)成。所述系統(tǒng)硬件層200包括功能電路210、傳感器220，其中傳感器220主要包括可靠性退化傳感器227、溫度傳感器226、噪聲傳感器225、電流傳感器224，其中可靠性退化傳感器227主要包括TDDB退化傳感器223、HCI退化傳感器222、BTI退化傳感器221。所述系統(tǒng)內(nèi)核層300包括操作系統(tǒng)內(nèi)核310、傳感器驅(qū)動(dòng)程序320。所述系統(tǒng)服務(wù)層400包括應(yīng)用接口 410、預(yù)測(cè)模型420。所述應(yīng)用層500包括若干APPji^nAPPl 510、APP2 520、健康監(jiān)測(cè)及預(yù)警APP 530。
[0033]所述SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，需預(yù)先進(jìn)行傳感器硬件設(shè)計(jì)、傳感器驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì)、預(yù)測(cè)模型構(gòu)建、健康監(jiān)測(cè)及預(yù)警APP設(shè)計(jì)等。
[0034]其中，所述傳感器硬件設(shè)計(jì)，主要包括可靠性退化傳感器227、溫度傳感器226、噪聲傳感器225、電流傳感器224。其中可靠性退化傳感器227主要包括TDDB退化傳感器223、HCI退化傳感器222、BTI退化傳感器221。傳感器與功能電路210—起構(gòu)成SoC的系統(tǒng)硬件層200；
[0035]所述傳感器驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì)，主要結(jié)合操作系統(tǒng)內(nèi)核310，針對(duì)傳感器進(jìn)行驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì)。
[0036]所述預(yù)測(cè)模型構(gòu)建，主要根據(jù)操作系統(tǒng)內(nèi)核310提供的接口獲取傳感器數(shù)據(jù)，針對(duì)傳感器數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取，據(jù)此運(yùn)用算法對(duì)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析與預(yù)測(cè)。所述預(yù)測(cè)模型與應(yīng)用接口 410—起構(gòu)成SoC的系統(tǒng)服務(wù)層400。
[0037]所述健康監(jiān)測(cè)及預(yù)警APP設(shè)計(jì)，主要基于系統(tǒng)服務(wù)層400所提供的預(yù)測(cè)模型420、應(yīng)用接口 410設(shè)計(jì)，為用戶提供SoC的實(shí)時(shí)健康監(jiān)測(cè)及實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)信息。
[0038]如圖2所述的應(yīng)用場(chǎng)景，其工作原理為:在SoC100的系統(tǒng)硬件層200中所設(shè)計(jì)的傳感器硬件實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)SoC性能，所述系統(tǒng)內(nèi)核層300的傳感器驅(qū)動(dòng)程序320實(shí)時(shí)讀取所述系統(tǒng)硬件層200的傳感器數(shù)據(jù);所述操作系統(tǒng)內(nèi)核310通過(guò)對(duì)應(yīng)的接口實(shí)時(shí)獲取所述傳感器驅(qū)動(dòng)程序320讀取到的傳感器數(shù)據(jù)，并傳遞給所述系統(tǒng)服務(wù)層400的預(yù)測(cè)模塊420;在所述預(yù)測(cè)模型420中進(jìn)行特征提取，并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)，在SoC 100的應(yīng)用層500中的健康監(jiān)測(cè)及預(yù)警APP 530中顯示所獲得預(yù)測(cè)結(jié)果，為用戶提供SoC的實(shí)時(shí)健康監(jiān)測(cè)及實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)信息。
[0039]需要說(shuō)明的是，對(duì)于前述的各方法實(shí)施例，為了簡(jiǎn)便描述，將其都表述為一系列的動(dòng)作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉，本發(fā)明并不受所描述的動(dòng)作順序的限制，因?yàn)橐罁?jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其它順序或者同時(shí)進(jìn)行。
[0040]基于與上述實(shí)施例中的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法相同的思想，本發(fā)明還提供SoC健康監(jiān)測(cè)的系統(tǒng)，該系統(tǒng)可用于執(zhí)行上述SoC健康監(jiān)測(cè)的方法。為了便于說(shuō)明，SoC健康監(jiān)測(cè)的系統(tǒng)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖中，僅僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，圖示結(jié)構(gòu)并不構(gòu)成對(duì)系統(tǒng)的限定，可以包括比圖示更多或更少的部件，或者組合某些部件，或者不同的部件布置。
[0041 ]圖3為本發(fā)明一實(shí)施例的SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖，本實(shí)施例的SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置包括:數(shù)據(jù)獲取模塊10、分析及預(yù)測(cè)模塊20以及信息輸出模塊30，各模塊詳述如下:
[0042]所述數(shù)據(jù)獲取模塊10，用于實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)；
[0043]優(yōu)選的，所述可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)包括TDDB退化傳感器數(shù)據(jù)、HCI退化傳感器數(shù)據(jù)、BTI退化傳感器數(shù)據(jù)。
[0044]所述分析及預(yù)測(cè)模塊20，用于提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)；
[0045]所述信息輸出模塊30，用于輸出所述SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息。
[0046]需要說(shuō)明的是，上述示例的SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置的實(shí)施方式中，各模塊/單元之間的信息交互、執(zhí)行過(guò)程等內(nèi)容，由于與本發(fā)明前述方法實(shí)施例基于同一構(gòu)思，其帶來(lái)的技術(shù)效果與本發(fā)明前述方法實(shí)施例相同，具體內(nèi)容可參見本發(fā)明方法實(shí)施例中的敘述，此處不再贅述。
[0047]此外，上述示例的SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置的實(shí)施方式中，各功能模塊的邏輯劃分僅是舉例說(shuō)明，實(shí)際應(yīng)用中可以根據(jù)需要，例如出于相應(yīng)硬件的配置要求或者軟件的實(shí)現(xiàn)的便利考慮，將上述功能分配由不同的功能模塊完成，即將所述SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)劃分成不同的功能模塊，以完成以上描述的全部或者部分功能。其中各功能模既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。
[0048]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用。所述程序在執(zhí)行時(shí)，可執(zhí)行如上述各方法的實(shí)施例的全部或部分步驟。其中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-OnlyMemory，ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random Access Memory，RAM)等。
[0049]在上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒(méi)有詳述的部分，可以參見其它實(shí)施例的相關(guān)描述?？梢岳斫?，其中所使用的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等在本文中用于區(qū)分對(duì)象，但這些對(duì)象不受這些術(shù)語(yǔ)限制。
[0050]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，不能理解為對(duì)本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，其特征在于，包括: 實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)； 提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)； 輸出所述SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，其特征在于，所述輸出SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息的步驟包括: 將得到的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息發(fā)送給應(yīng)用層，以通過(guò)應(yīng)用層的對(duì)應(yīng)APP輸出所述性能狀態(tài)以及所述性能退化趨勢(shì)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，其特征在于， 所述可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)包括TDDB退化傳感器數(shù)據(jù)、HCI退化傳感器數(shù)據(jù)、BTI退化傳感器數(shù)據(jù)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，其特征在于，提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù)的步驟包括: 利用Gabor變換算法或快速傅里葉變換算法，提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù)。5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一所述的SoC健康監(jiān)測(cè)的方法，其特征在于，所述實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC的傳感器數(shù)據(jù)的步驟包括: 通過(guò)預(yù)設(shè)的傳感器驅(qū)動(dòng)程序?qū)崟r(shí)讀取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù);所述傳感器驅(qū)動(dòng)程序基于操作系統(tǒng)內(nèi)核設(shè)置的； 通過(guò)所述操作系統(tǒng)內(nèi)核提供的接口實(shí)時(shí)獲取所述傳感器驅(qū)動(dòng)程序讀取到的傳感器數(shù)據(jù)。6.一種SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置，其特征在于，包括: 數(shù)據(jù)獲取模塊，用于實(shí)時(shí)獲取監(jiān)測(cè)SoC性能的傳感器數(shù)據(jù)，所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)； 分析及預(yù)測(cè)模塊，用于提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)； 信息輸出模塊，用于輸出所述SoC的性能狀態(tài)信息以及性能退化趨勢(shì)信息。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的SoC健康監(jiān)測(cè)的裝置，其特征在于，所述可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)包括TDDB退化傳感器數(shù)據(jù)、HCI退化傳感器數(shù)據(jù)、BTI退化傳感器數(shù)據(jù)。8.—種SoC系統(tǒng)，其特征在于，包括系統(tǒng)硬件層、系統(tǒng)內(nèi)核層、系統(tǒng)服務(wù)層以及應(yīng)用層； 所述系統(tǒng)硬件層的傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)SoC性能； 所述系統(tǒng)內(nèi)核層的操作系統(tǒng)內(nèi)核實(shí)時(shí)獲取所述系統(tǒng)硬件層的傳感器數(shù)據(jù)，并傳遞所述傳感器數(shù)據(jù)給所述系統(tǒng)服務(wù)層;所述傳感器數(shù)據(jù)包括可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)、溫度傳感器數(shù)據(jù)、噪聲傳感器數(shù)據(jù)以及電流傳感器數(shù)據(jù)； 所述系統(tǒng)服務(wù)層的預(yù)測(cè)模塊提取所述傳感器數(shù)據(jù)中包含的代表所述SoC性能的特征數(shù)據(jù);并利用預(yù)測(cè)算法對(duì)所述特征數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和預(yù)測(cè)，得到所述SoC的性能狀態(tài)以及性能退化趨勢(shì)； 所述應(yīng)用層預(yù)設(shè)的APP輸出所述SoC系統(tǒng)的性能狀態(tài)信息以及所述性能退化趨勢(shì)信息。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的SoC系統(tǒng)，其特征在于，所述可靠性退化傳感器數(shù)據(jù)包括TDDB退化傳感器數(shù)據(jù)、HCI退化傳感器數(shù)據(jù)、BTI退化傳感器數(shù)據(jù)。10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的SoC系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)內(nèi)核層包括操作系統(tǒng)內(nèi)核，以及基于操作系統(tǒng)內(nèi)核設(shè)置的傳感器驅(qū)動(dòng)程序； 所述傳感器驅(qū)動(dòng)程序?qū)崟r(shí)讀取所述系統(tǒng)硬件層的傳感器數(shù)據(jù);所述操作系統(tǒng)內(nèi)核通過(guò)對(duì)應(yīng)的接口實(shí)時(shí)獲取所述傳感器驅(qū)動(dòng)程序讀取到的傳感器數(shù)據(jù)并傳遞給所述系統(tǒng)服務(wù)層的預(yù)測(cè)模塊。
【文檔編號(hào)】G05B23/02GK106020170SQ201610532420
【公開日】2016年10月12日
【申請(qǐng)日】2016年7月7日
【發(fā)明人】陳義強(qiáng), 雷登云, 恩云飛, 方文嘯, 侯波, 劉遠(yuǎn), 黃云
【申請(qǐng)人】工業(yè)和信息化部電子第五研究所