專利名稱：一種Pt100熱電阻溫度變化模擬裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
—種PtIOO熱電阻溫度變化模擬裝置技術(shù)領(lǐng)域；本實(shí)用新型主要用于驗(yàn)證PLC、DCS、SIS等邏輯控制系統(tǒng)正確與否，具體涉及一種PtlOO熱電阻溫度變化模擬裝置。
背景技術(shù)：
目前，工礦企業(yè)的大型裝置、大型旋轉(zhuǎn)機(jī)械設(shè)備的控制系統(tǒng)大都采用PLC、DCS、SIS等邏輯控制系統(tǒng)，然而，在設(shè)備投運(yùn)前怎樣驗(yàn)證這些復(fù)雜邏輯系統(tǒng)的正確性，保證工藝設(shè)備的正常運(yùn)行？目前的一般做法是對(duì)大中型工廠的自動(dòng)化儀表控制系統(tǒng)，用模擬量信號(hào)單位進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，沒有辦法模擬的信號(hào)旁路掉或強(qiáng)制一些邏輯電路達(dá)到實(shí)驗(yàn)的目的。由于現(xiàn)場(chǎng)儀表控制點(diǎn)多且分散，造成了對(duì)系統(tǒng)邏輯部分不能做到完整動(dòng)作調(diào)試，不能檢測(cè)整套系統(tǒng)的邏輯組態(tài)正確性，可靠性。給工藝設(shè)備的投運(yùn)，造成很多困難。因此，怎樣全面驗(yàn)證PLC、 DCS、SIS等可編程序邏輯控制系統(tǒng)邏輯回路的正確與否，在生產(chǎn)運(yùn)行過(guò)程中是非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)。發(fā)明內(nèi)容為了提高檢測(cè)整套系統(tǒng)的邏輯組態(tài)的正確性，本實(shí)用新型提供一種PtlOO熱電阻溫度變化模擬裝置。實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的技術(shù)方案是本實(shí)用新型包括外殼，其特征是外殼的面板上設(shè)有若干個(gè)多圈電位器，在其盒內(nèi)設(shè)有端子排，端子排與多圈電位器連接。將本實(shí)用新型的多圈電位器、端子排與機(jī)柜I/O接線端子連接，通入直流電源，旋轉(zhuǎn)多圈電位器，改變電位器電阻，實(shí)現(xiàn)模擬Ptioo熱電阻變化的功能。本實(shí)用新型方便集中、快速準(zhǔn)確，是一種非常實(shí)用的邏輯組態(tài)檢測(cè)裝置，將它與模擬軸震動(dòng)、軸位移的TK-3接近器，模擬轉(zhuǎn)速探頭的頻率信號(hào)發(fā)生器等安裝在本實(shí)用新型盒內(nèi)，就可以使用一個(gè)裝置實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)檢測(cè)，避免了現(xiàn)場(chǎng)儀表檢測(cè)分散難以完整檢測(cè)的弊端。


圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例的線路圖。圖中，I、被測(cè)設(shè)備計(jì)算機(jī)機(jī)柜安全柵端子排，2、端子排，R1、R2、R3......R12表示多圈電位器。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例；圖I所示，本實(shí)施例有36個(gè)多圈電位器。本實(shí)施例的外殼上設(shè)有36個(gè)多圈電位器,每個(gè)多圈電位器的輸入端與機(jī)柜I/O輸入安全柵端子連接，每個(gè)多圈電位器的輸出端與端子排2連接,端子排2與機(jī)柜I/O輸入安全柵端子連接。本實(shí)施例中多圈電位器采用規(guī)格是220 Ω，型號(hào)是WXD2 —53。端子排采用型號(hào)是SUK-2. 5B。
權(quán)利要求1.一種PtlOO熱電阻溫度變化模擬裝置，包括外殼，其特征是外殼的面板上設(shè)有若干個(gè)多圈電位器，在其盒內(nèi)設(shè)有端子排，端子排與多圈電位器連接。
專利摘要一種Pt100熱電阻溫度變化模擬裝置，主要用于驗(yàn)證PLC、DCS、SIS等邏輯控制系統(tǒng)正確與否，它包括外殼，其特征是外殼的面板上設(shè)有若干個(gè)多圈電位器，在其盒內(nèi)設(shè)有端子排，端子排與多圈電位器連接。將本實(shí)用新型的多圈電位器、端子排與機(jī)柜I/0接線端子連接，通入直流電源，旋轉(zhuǎn)多圈電位器，改變電位器電阻，實(shí)現(xiàn)模擬Pt100熱電阻變化的功能。本實(shí)用新型方便集中、快速準(zhǔn)確，是一種非常實(shí)用的邏輯組態(tài)檢測(cè)裝置，將它與模擬軸震動(dòng)、軸位移的TK-3接近器，模擬轉(zhuǎn)速探頭的頻率信號(hào)發(fā)生器等安裝在本實(shí)用新型盒內(nèi)，就可以使用一個(gè)裝置實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)檢測(cè)，避免了現(xiàn)場(chǎng)儀表檢測(cè)分散難以完整檢測(cè)的弊端。
文檔編號(hào)G05B23/02GK202615230SQ20122005977
公開日2012年12月19日 申請(qǐng)日期2012年2月22日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月22日
發(fā)明者馬志誠(chéng), 賀曙紅, 劉小虎, 鄔振軍 申請(qǐng)人:中化二建集團(tuán)有限公司