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一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置的制作方法

文檔序號:6265518閱讀:277來源:國知局
專利名稱:一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及原子力顯微鏡技術應用領域,具體地,涉及一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置。
背景技術
原子力顯微鏡是具有原子級高分辨的新型儀器,廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中,成為納米科學研究的基本工具。原子力顯微鏡工作特點是工作區(qū)域狹小,對噪聲,振動敏感。而現(xiàn)有制冷設備中,使用壓縮機、冷凝管的制冷設備體積較大,且制冷效率低,噪音振動敏感。半導體制冷利用半導體材料的Peltier效應,當直流電通過兩種不同半導體材料串聯(lián)成的電偶時,在電偶的兩端即可分別吸收熱量和放出熱量,可以實現(xiàn)制冷的目的。優(yōu)點是沒有運動部件,制冷效率高。半導體制冷要求放熱面與散熱器相連,一般為循環(huán)水,水流引起的振動以及控制器散熱風扇的噪聲是原子力顯微鏡工作環(huán)境不允許的。本發(fā)明針對原子力顯微鏡工作區(qū)域狹小,受噪聲振動影響顯著而設計,以實現(xiàn)在原子力顯微鏡允許條件下穩(wěn)定溫度控制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術問題是克服現(xiàn)有的缺陷,提出一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,以實現(xiàn)體積小、振動減小的優(yōu)點。為了解決上述技術問題,本發(fā)明采用的技術方案是
一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,包括固定于底座的底板、樣品臺、兩個獨立的半導體制冷模塊、兩個獨立的溫度傳感器、兩個溫度控制器、循環(huán)水泵、兩個冷卻水模塊,所述底板中心處設置有樣品臺,兩個所述半導體制冷模塊分別通過電纜與溫度控制器連接,兩個所述溫度傳感器分別通過電纜與溫度控制器連接;所述循環(huán)水泵通過進水管道與冷卻水模塊相連,所述冷卻水模塊與出水管道與循環(huán)水泵相連接。進一步地,所述底板背面鑲嵌有至少一個磁鐵。進一步地,所述進水管道設置有加筋,進水管道長度大于10m。進一步地,所述溫度控制器設置有儲存測量數(shù)據(jù)的儲存模塊。與現(xiàn)有技術相比較,本發(fā)明具有如下的有益效果1、底板背面鑲嵌磁鐵,可以和原子力顯微鏡鐵質(zhì)底座牢固連接,減少振動,且易于拆裝。2、進水管道設置加筋,增加其剛度來消除其自身在空氣中的振動;進水管道長度大于10m,由較長的管壁消除水流振動。3、采用半導體制冷模塊,可以做到小體積,制冷效率高。4、采用兩組獨立的半導體制冷模塊及溫度傳感器,不僅可以實現(xiàn)均勻溫度場,還可以實現(xiàn)梯度溫度場。


圖1為本發(fā)明原子力顯微鏡用制冷溫控裝置的結構示意圖。圖2為本發(fā)明原子力顯微鏡用制冷溫控裝置的底板的示意圖。
具體實施例方式以下結合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行說明,應當理解,此處所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。如圖1、圖2所不,一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,包括固定于底座的底板1、樣品臺2、兩個獨立的半導體制冷模塊3、兩個獨立的溫度傳感器4、兩個溫度控制器5、循環(huán)水泵6、兩個冷卻水模塊7,底板I中心處設置有樣品臺2,底板I背面鑲嵌有一個磁鐵11,本實例為三個磁鐵,可以和原子力顯微鏡鐵質(zhì)底座牢固連接。兩個半導體制冷模塊3分別通過電纜8與溫度控制器5連接,兩個溫度傳感器4分別通過電纜8和溫度控制器5連接;溫度控制器5設置有儲存測量數(shù)據(jù)的存儲模塊。循環(huán)水泵6通過進水管道9與冷卻水模塊7相連,進水管道9設置有加筋,進水管道9長度大于10m。冷卻水模塊7通過出水管道10與循環(huán)水泵6相連接。本發(fā)明針對原子力顯微鏡工作區(qū)域狹小,受噪聲振動影響顯著而設計,可以克服現(xiàn)有技術中噪聲、振動等缺陷,以實現(xiàn)在原子力顯微鏡允許條件下穩(wěn)定溫度控制。最后應說明的是以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已,并不用于限制本發(fā)明,盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明,對于本領域的技術人員來說,其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改,或者對其中部分技術特征進行等同替換。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權利要求
1.一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,包括固定于底座的底板、樣品臺、兩個獨立的半導體制冷模塊、兩個獨立的溫度傳感器、兩個溫度控制器、循環(huán)水泵、兩個冷卻水模塊,其特征在于,所述底板中心處設置有樣品臺,兩個所述半導體制冷模塊分別通過電纜與溫度控制器連接,兩個所述溫度傳感器分別通過電纜與溫度控制器連接;所述循環(huán)水泵通過進水管道與冷卻水模塊相連,所述冷卻水模塊與出水管道與循環(huán)水泵相連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,其特征在于,所述底板背面鑲嵌有至少一個磁鐵。
3.根據(jù)權利要求1所述的原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,其特征在于,所述進水管道設置有加筋,進水管道長度大于10m。
4.根據(jù)權利要求1所述的原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,其特征在于,所述溫度控制器設置有存儲測量數(shù)據(jù)的儲存模塊。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種原子力顯微鏡用制冷溫控裝置,包括固定于底座的底板、樣品臺、兩個獨立的半導體制冷模塊、兩個獨立的溫度傳感器、兩個溫度控制器、循環(huán)水泵、兩個冷卻水模塊,所述底板中心處設置有樣品臺,兩個所述半導體制冷模塊分別通過電纜與溫度控制器連接,兩個所述溫度傳感器分別通過電纜與溫度控制器連接;所述循環(huán)水泵通過進水管道與冷卻水模塊相連,所述冷卻水模塊與出水管道與循環(huán)水泵相連接。本發(fā)明克服現(xiàn)有技術中噪聲、振動等缺陷,以實現(xiàn)在原子力顯微鏡允許條件下穩(wěn)定溫度控制,且振動小、制冷效率高。
文檔編號G05D23/20GK103019271SQ201210527108
公開日2013年4月3日 申請日期2012年12月10日 優(yōu)先權日2012年12月10日
發(fā)明者任曉川, 賴遠明, 張保平 申請人:蘭州大學
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