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位置檢測裝置、鐘表、位置檢測方法和鐘表的時(shí)刻校正方法與流程

文檔序號:12785588閱讀:428來源:國知局
位置檢測裝置、鐘表、位置檢測方法和鐘表的時(shí)刻校正方法與流程

本發(fā)明涉及位置檢測裝置、鐘表、位置檢測方法和鐘表的時(shí)刻校正方法。



背景技術(shù):

在具有齒輪的鐘表中,存在一種接收電波并使用接收的電波對時(shí)刻的偏差進(jìn)行校正的鐘表。在這樣的鐘表中,提出了以下這樣的方案:例如通過在分針齒輪和時(shí)針齒輪上設(shè)置透射孔,并且在與這些齒輪對應(yīng)的位置處設(shè)置發(fā)光元件和受光元件,在每次對齒輪進(jìn)行驅(qū)動(dòng)時(shí)檢測有無來自發(fā)光元件的透射光,從而對齒輪的位置進(jìn)行檢測(例如,參考專利文獻(xiàn)1)。

專利文獻(xiàn)1:日本專利3295315號公報(bào)

然而,在專利文獻(xiàn)1記載的發(fā)明中,有時(shí)在驅(qū)動(dòng)脈沖信號變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)之后,齒輪由于慣性還會擺動(dòng)一定期間。此時(shí),在專利文獻(xiàn)1記載的發(fā)明中,在擺動(dòng)的期間內(nèi)相對于本來的停止位置向旋轉(zhuǎn)方向前進(jìn)的時(shí)刻,透過為了進(jìn)行位置檢測而設(shè)置的透射孔,由此,可能在不正確的位置(例如前1個(gè)脈沖)處檢測出透射光。由此,指針停止在與本來應(yīng)該停止的位置偏離的位置處,可能無法修正為基于接收的電波的時(shí)刻。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明是鑒于上述問題而完成的,其目的在于提供能夠防止齒輪的位置的錯(cuò)誤檢測的位置檢測裝置、鐘表、位置檢測方法和鐘表的時(shí)刻校正方法。

(1)為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明的一個(gè)方式的位置檢測裝置具有:發(fā)光元件;受光元件,其接收來自所述發(fā)光元件的透射光;驅(qū)動(dòng)電機(jī),其對齒輪進(jìn)行驅(qū)動(dòng);以及控制部,其按照每個(gè)規(guī)定的時(shí)機(jī)判斷所述受光元件的受光結(jié)果是否發(fā)生了變化,在本次的判斷結(jié)果與上次的判斷結(jié)果不同的情況下進(jìn)行控制,使所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止,在所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止的期間內(nèi)再次判斷所述受光結(jié)果,在再次判斷的結(jié)果為上次的受光結(jié)果與本次的受光結(jié)果相同的情況下,檢測出所述本次的停止位置作為基準(zhǔn)位置。

(2)另外,在本發(fā)明的一個(gè)方式的位置檢測裝置中,也可以是,所述控制部在所述受光元件受光的情況下判斷為受光狀態(tài)發(fā)生了變化,在再次判斷的結(jié)果為上次的受光結(jié)果與本次的受光結(jié)果都是所述受光元件正在受光的情況下,檢測出所述本次的停止位置作為基準(zhǔn)位置。

(3)另外,在本發(fā)明的一個(gè)方式的位置檢測裝置中,也可以是,所述控制部在每對所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)進(jìn)行一次驅(qū)動(dòng)時(shí),對所述受光元件的受光結(jié)果進(jìn)行多次判斷。

(4)另外,在本發(fā)明的一個(gè)方式的位置檢測裝置中,也可以是,所述控制部控制為在對所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)后,使所述發(fā)光元件以規(guī)定時(shí)間發(fā)光,在所述發(fā)光元件發(fā)光的期間內(nèi)判斷所述受光元件的受光結(jié)果。

(5)另外,在本發(fā)明的一個(gè)方式的位置檢測裝置中,也可以是,所述位置檢測裝置具有:設(shè)置有至少1個(gè)透射孔的齒輪;以及板,其安裝有所述齒輪,并且在與所述齒輪相對的位置處設(shè)置有透射孔,所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)對所述齒輪進(jìn)行驅(qū)動(dòng),所述發(fā)光元件與所述受光元件被配置為隔著所述齒輪和所述板,所述控制部對所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng),控制所述發(fā)光元件的發(fā)光,根據(jù)所述受光元件的受光結(jié)果對所述齒輪的所述基準(zhǔn)位置進(jìn)行檢測。

(6)為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明的一個(gè)方式的鐘表具有:(1)~(5)中的任意一項(xiàng)所述的位置檢測裝置;以及接收電路,其接收表示時(shí)刻的時(shí)刻信息,所述控制部根據(jù)所述接收電路接收的所述時(shí)刻信息和所述位置檢測裝置檢測出的位置,對顯示時(shí)刻進(jìn)行校正。

(7)為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明的一個(gè)方式的位置檢測方法是以下這樣的位置檢測裝置的位置檢測方法,該位置檢測裝置具有發(fā)光元件、接收來自所述發(fā)光元件的透射光的受光元件、齒輪、以及對所述齒輪進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述位置檢測方法包括以下步驟:驅(qū)動(dòng)步驟,控制部對所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng);判斷步驟,所述控制部按照每個(gè)規(guī)定的時(shí)機(jī)判斷所述受光元件的受光結(jié)果是否發(fā)生了變化;停止步驟,所述控制部在本次的判斷結(jié)果與上次的判斷結(jié)果不同的情況下進(jìn)行控制,使所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止;再判斷步驟,在所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止的期間內(nèi),所述控制部對所述受光結(jié)果進(jìn)行再次判斷;以及位置檢測步驟,在再次判斷的結(jié)果為上次的受光結(jié)果與本次的受光結(jié)果相同的情況下,所述控制部檢測出所述本次的停止位置作為基準(zhǔn)位置。

(8)為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明的一個(gè)方式的鐘表的時(shí)刻校正方法是以下這樣的鐘表的時(shí)刻校正方法,該鐘表具有位置檢測裝置和接收電路,該位置檢測裝置具有發(fā)光元件、接收來自所述發(fā)光元件的透射光的受光元件、齒輪、以及對所述齒輪進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電機(jī),該接收電路接收時(shí)刻信息,所述時(shí)刻校正方法包括以下步驟:驅(qū)動(dòng)步驟,控制部對所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng);判斷步驟,所述控制部按照每個(gè)規(guī)定的時(shí)機(jī)判斷所述受光元件的受光結(jié)果是否發(fā)生了變化;停止步驟,所述控制部在本次的判斷結(jié)果與上次的判斷結(jié)果不同的情況下進(jìn)行控制,使所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止;再判斷步驟,在所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止的期間內(nèi),所述控制部對所述受光結(jié)果進(jìn)行再次判斷;位置檢測步驟,在再次判斷的結(jié)果為上次的受光結(jié)果與本次的受光結(jié)果相同的情況下,所述控制部檢測出所述本次的停止位置作為基準(zhǔn)位置;以及校正步驟,所述控制部根據(jù)所述接收電路接收到的所述時(shí)刻信息和所述位置檢測裝置檢測出的位置,對顯示時(shí)刻進(jìn)行校正。

根據(jù)本發(fā)明能夠防止齒輪的位置的錯(cuò)誤檢測。

附圖說明

圖1是本實(shí)施方式的鐘表的主要部分的主視圖。

圖2是本實(shí)施方式的時(shí)分輪系的主視圖。

圖3是本實(shí)施方式的秒輪系的主視圖。

圖4是將本實(shí)施方式的鐘表的主要部分在同一平面上展開的截面圖。

圖5是包括本實(shí)施方式的控制電路的鐘表的框圖。

圖6是本實(shí)施方式的位置檢測的處理的流程圖。

圖7是示出本實(shí)施方式的每進(jìn)行1次的電機(jī)驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行1次檢測的情況下的位置檢測的一例的時(shí)序圖。

圖8是示出在圖7的狀態(tài)P21、P22、P23、P31、P32、以及P33下的透射孔1A和透射孔5A的狀態(tài)的圖。

圖9是本實(shí)施方式的變形例的位置檢測的處理的流程圖。

圖10是示出本實(shí)施方式的每進(jìn)行1次的電機(jī)驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行3次檢測的情況下的位置檢測的一例的時(shí)序圖。

標(biāo)號說明

1:下板;2:中板;3:時(shí)針齒輪;4:分針齒輪;5:第2分中間輪;6:秒針齒輪;7:發(fā)光元件;8:受光元件;10:上板;11:轉(zhuǎn)子;12:第1分中間輪;13:跨輪;14:轉(zhuǎn)子;15:第1秒中間輪;16:第2秒中間輪;17:第3秒中間輪;20:定子;21:定子;22:驅(qū)動(dòng)線圈;23:驅(qū)動(dòng)線圈;24:基板;100:鐘表;101:控制電路;110:接收電路;120:振蕩電路;130:電源電路;140:存儲部;150:控制部;160:驅(qū)動(dòng)部;M1:第1驅(qū)動(dòng)電機(jī);161:輪系;M2:第2驅(qū)動(dòng)電機(jī);162:輪系;170:顯示部;171:時(shí)針;172:分針;173:秒針;180:位置檢測部;1A、2A、3A、4A、5A、5B、6A、6B:透射孔。

具體實(shí)施方式

以下,參照附圖對本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。

圖1是本實(shí)施方式的鐘表100的主要部分的主視圖。圖2是本實(shí)施方式的時(shí)分輪系的主視圖。圖3是本實(shí)施方式的秒輪系的主視圖。圖4是將本實(shí)施方式的鐘表100的主要部分在同一平面上展開的截面圖。另外,圖4是在圖1的II-II處展開的截面圖。

如圖1~圖4所示,鐘表100具有下板1、中板2、時(shí)針齒輪3、分針齒輪4、第2分中間輪5、秒針齒輪6、發(fā)光元件7、受光元件8、上板10、轉(zhuǎn)子11、第1分中間輪12、跨輪13、轉(zhuǎn)子14、第1秒中間輪15、第2秒中間輪16、第3秒中間輪17、基板24、控制電路101、第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1、以及第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2。另外,第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1具有定子20和驅(qū)動(dòng)線圈22。第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2具有定子21和驅(qū)動(dòng)線圈23。如圖4所示,在基板24上安裝有控制電路101。

如圖4所示,下板1具有透射孔1A,中板2具有透射孔2A,時(shí)針齒輪3具有至少1個(gè)透射孔3A。如圖2和圖4所示,分針齒輪4具有至少1個(gè)透射孔4A,第2分中間輪5具有至少1個(gè)透射孔5A。如圖3和圖4所示,秒針齒輪6具有至少1個(gè)透射孔6A。

另外,圖4所示的例子是透射孔1A、透射孔3A、透射孔4A、透射孔5A、透射孔2A、以及透射孔6A從發(fā)光元件7朝向受光元件8而在基準(zhǔn)時(shí)刻排列在一條直線上的狀態(tài)的圖。透射孔1A和透射孔2A的位置是固定的。并且,透射孔3A、透射孔4A、透射孔5A、以及透射孔6A的位置隨著齒輪的旋轉(zhuǎn)而發(fā)生變化。

另外,在圖4中,發(fā)光元件7和受光元件8的配置也可以相反。另外,圖2、圖3以及圖4中示出的各孔的位置、形狀以及數(shù)量只是一例,并不限于此。另外,圖1省略了設(shè)置在各齒輪上的透射孔。

另外,如圖2所示,時(shí)分輪系與轉(zhuǎn)子11、第1分中間輪12、第2分中間輪5、分針齒輪4、跨輪13、以及時(shí)針齒輪3依次嚙合。另外,在分針齒輪4上安裝有分針172(圖5)。并且,在時(shí)針齒輪3上安裝有時(shí)針171。

另外,如圖3所示,秒輪系與轉(zhuǎn)子14、第1秒中間輪15、第2秒中間輪16、第3秒中間輪17、以及秒針齒輪6依次嚙合。另外,在秒針齒輪6上安裝有秒針173(圖5)。

接著,對控制電路101的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。

圖5是包括本實(shí)施方式的控制電路101的鐘表100的框圖。

如圖5所示,鐘表100具有控制電路101、驅(qū)動(dòng)部160、顯示部170以及位置檢測部180。

控制電路101具有接收電路110、振蕩電路120、電源電路130、存儲部140、以及控制部150。

驅(qū)動(dòng)部160具有第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1、輪系161、第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2、以及輪系162。另外,輪系161包括圖1和圖2示出的轉(zhuǎn)子11、第1分中間輪12、第2分中間輪5、時(shí)針齒輪3、分針齒輪4、以及跨輪13。另外,輪系162包括圖1和圖3示出的轉(zhuǎn)子14、第1秒中間輪15、第2秒中間輪16、第3秒中間輪17、以及秒針齒輪6。第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1和第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2例如是步進(jìn)電機(jī)。

顯示部170具有時(shí)針171、分針172、以及秒針173。

位置檢測部180具有發(fā)光元件7和受光元件8。

接著,對鐘表100的動(dòng)作進(jìn)行說明。

鐘表100例如是電波鐘表。鐘表100進(jìn)行計(jì)時(shí),例如接收標(biāo)準(zhǔn)時(shí)刻電波,根據(jù)使用接收到的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)刻電波和位置檢測部180而檢測出的各齒輪的旋轉(zhuǎn)位置關(guān)系,對時(shí)刻的顯示進(jìn)行校正。

接收電路110在規(guī)定的時(shí)機(jī)接收包括時(shí)刻代碼信號的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)刻電波,從接收的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)刻電波中提取時(shí)刻代碼信號,將提取出的時(shí)刻代碼信號輸出到控制部150。

振蕩電路120生成基準(zhǔn)信號?;鶞?zhǔn)信號的頻率例如是32.768kHz。振蕩電路120將生成的基準(zhǔn)信號輸出到控制部150。

電源電路130包括電池,將電力提供給接收電路110、存儲部140以及控制部150。

存儲部140存儲用于控制控制部150的控制程序、后述的規(guī)定時(shí)間△t1、規(guī)定時(shí)間△t2等。

發(fā)光元件7例如是發(fā)光二極管。發(fā)光元件7根據(jù)控制部150的控制而開始發(fā)光以及結(jié)束發(fā)光。

受光元件8例如是光電二極管。受光元件8接收發(fā)光元件7發(fā)出的光,將受光的結(jié)果作為檢測信號輸出到控制部150。

控制部150例如是CPU(中央運(yùn)算裝置)??刂撇?50根據(jù)存儲部140存儲的控制程序,生成用于驅(qū)動(dòng)第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1的驅(qū)動(dòng)脈沖D11和D12,將生成的驅(qū)動(dòng)脈沖D11和D12輸出到第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1。控制部150根據(jù)存儲部140存儲的控制程序,生成用于驅(qū)動(dòng)第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2的驅(qū)動(dòng)脈沖D21和D22,將生成的驅(qū)動(dòng)脈沖D21和D22輸出到第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2。

另外,控制部150使用基于時(shí)針齒輪3、分針齒輪4以及第2分中間輪5的組合的、受光元件8接收到的檢測信號,進(jìn)行時(shí)分輪系中的各個(gè)齒輪的旋轉(zhuǎn)位置關(guān)系的檢測??刂撇?50使用基于秒針齒輪6的檢測信號,進(jìn)行秒輪系中的各個(gè)齒輪的旋轉(zhuǎn)位置關(guān)系的檢測。并且,控制部150根據(jù)接收電路110輸出的時(shí)刻代碼信號和檢測出的位置,判斷是否需要進(jìn)行顯示部170的時(shí)刻校正,在判斷為需要進(jìn)行時(shí)刻校正的情況下,驅(qū)動(dòng)第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1和第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2,進(jìn)行控制以便對顯示時(shí)刻進(jìn)行校正。

第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1根據(jù)控制部150輸出的驅(qū)動(dòng)脈沖D11和D12,使輪系161旋轉(zhuǎn),由此,使時(shí)針171和分針172進(jìn)行走針。

第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2根據(jù)控制部150輸出的驅(qū)動(dòng)脈沖D21和D22,使輪系162旋轉(zhuǎn),由此,使秒針173進(jìn)行走針。

顯示部170包括表盤(未圖示),顯示部170通過時(shí)針171、分針172以及秒針173顯示時(shí)刻。

時(shí)針171每12小時(shí)旋轉(zhuǎn)1次,分鐘172每60分鐘旋轉(zhuǎn)1次,秒針173每1分鐘旋轉(zhuǎn)1次。

這里,說明控制部150向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1、第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2)輸出1個(gè)脈沖的驅(qū)動(dòng)脈沖時(shí)的齒輪的動(dòng)作和控制部150的控制和處理的例子。在輸出驅(qū)動(dòng)脈沖后,齒輪旋轉(zhuǎn)規(guī)定的角度,但是,此時(shí)由于慣性作用于轉(zhuǎn)子(11或14),因此,轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)到比確定的停止位置稍靠前的位置處。將此方向設(shè)為正向,則轉(zhuǎn)子隨著慣性力在正向上繼續(xù)旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)到比規(guī)定的停止位置稍靠前的位置處后,這次在反向上旋轉(zhuǎn),并且從反向再次向正向旋轉(zhuǎn)。這樣,轉(zhuǎn)子重復(fù)擺動(dòng)而慣性力衰減,最終停止到規(guī)定的位置。

使用圖8對與此時(shí)的轉(zhuǎn)子嚙合的齒輪的動(dòng)作進(jìn)行說明。圖8是示出在圖7的狀態(tài)P21、P22、P23、P31、P32、以及P33下的透射孔1A和透射孔5A的狀態(tài)的圖。另外,圖8是示出透射孔1A和透射孔5A的狀態(tài)的圖。在透射孔1A和透射孔5A的關(guān)系處于P21的狀態(tài)的情況下,根據(jù)該狀態(tài)輸出1個(gè)脈沖的驅(qū)動(dòng)脈沖后,轉(zhuǎn)子被驅(qū)動(dòng),嚙合的齒輪旋轉(zhuǎn)規(guī)定的角度而在P23的狀態(tài)下停止。然而,如上所述那樣,由于轉(zhuǎn)子根據(jù)慣性力繼續(xù)旋轉(zhuǎn)到比規(guī)定的位置稍靠前的位置處,因此,齒輪也與之對應(yīng)地旋轉(zhuǎn)到比規(guī)定的位置稍靠前的位置處。P22示出了此時(shí)的狀態(tài)的一例。在P22的狀態(tài)下,由于透過透射孔1A和透射孔5A,因此,檢測到受光。接著,齒輪在反轉(zhuǎn)方向上旋轉(zhuǎn),重復(fù)擺動(dòng),最終在P23的狀態(tài)下停止。

這樣,存在這樣的情況:本來由于是不會透過透射孔的位置關(guān)系而不應(yīng)該檢測出受光,但由于齒輪根據(jù)慣性而旋轉(zhuǎn)到超過了規(guī)定的位置的位置處而使光透過。這樣,在比本來應(yīng)該檢測的位置靠前的位置處,受光元件8接收發(fā)光元件7發(fā)出的光,并將接收到的結(jié)果作為檢測信號輸出到控制部150,因此,無法進(jìn)行本來應(yīng)該檢測的正確的位置的檢測。因此,在本實(shí)施方式中,在輸出驅(qū)動(dòng)脈沖之后,控制部150對受光元件8的檢測信號進(jìn)行一次確認(rèn)。另外,將獲得了透射光的狀態(tài)的檢測信號設(shè)為H電平,將沒有獲得透射光的狀態(tài)的檢測信號設(shè)為L電平。另外,將檢測的信號電平小于規(guī)定閾值的情況下的電平設(shè)為L電平,將檢測的信號電平為規(guī)定閾值以上的情況下的電平設(shè)為H電平。在檢測出H電平的檢測信號的情況下,控制部150使驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止,即,不輸出驅(qū)動(dòng)脈沖,在經(jīng)過規(guī)定時(shí)間后,對檢測信號的電平進(jìn)行再次檢測。如果該再次檢測的結(jié)果是H電平,則控制部150判定為得到了透射光,即,判定為各齒輪的透射孔到達(dá)下板1的透射孔1A。并且,控制部150將獲得了透射光的位置判斷為表示基準(zhǔn)時(shí)刻的基準(zhǔn)位置。另外,基準(zhǔn)時(shí)刻是預(yù)先規(guī)定的所顯示的顯示時(shí)刻,例如12時(shí)。另外,基準(zhǔn)時(shí)刻是預(yù)先規(guī)定為各齒輪和各透射孔的配置及形狀的時(shí)刻,也可以是12個(gè)小時(shí)中的多個(gè)。另外,如圖3所示,秒針齒輪6具有多個(gè)透射孔6A,多個(gè)透射孔6A中的1個(gè)在圓弧方向上比其他的透射孔長??刂撇?50將該圓弧方向上較長的透射孔的位置判斷為0秒的基準(zhǔn)位置。

接著,對本實(shí)施方式的位置檢測的處理步驟進(jìn)行說明。

圖6是本實(shí)施方式的位置檢測的處理的流程圖。

(步驟S101)控制部150判斷是否是輸出用于驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)電機(jī)(第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1或第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2)的驅(qū)動(dòng)脈沖的時(shí)機(jī)。控制部150在判斷為不是輸出用于驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)脈沖的時(shí)機(jī)的情況下(步驟S101;否),重復(fù)步驟S101的處理,控制部150在判斷為是輸出用于驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)脈沖的時(shí)機(jī)的情況下(步驟S101;是),進(jìn)入步驟S102的處理。

(步驟S102)控制部150使輸出到驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)脈沖(也稱為驅(qū)動(dòng)信號)從L(低)電平變?yōu)镠(高)電平。

(步驟S103)控制部150在經(jīng)過了針對驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)而規(guī)定的時(shí)間后,使驅(qū)動(dòng)脈沖從H電平變?yōu)長電平。

(步驟S104)控制部150進(jìn)行控制,使得發(fā)光元件7開始發(fā)光。另外,開始發(fā)光的時(shí)機(jī)是預(yù)先規(guī)定的周期的時(shí)刻、從驅(qū)動(dòng)脈沖的上升開始經(jīng)過了預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后、以及從驅(qū)動(dòng)脈沖的下降開始經(jīng)過了預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后等。

(步驟S105)控制部150在使發(fā)光元件7發(fā)光后,判斷是否是經(jīng)過了檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的檢測時(shí)機(jī)。控制部150在判斷為不是檢測時(shí)機(jī)的情況下(步驟S105;否),重復(fù)步驟S105的處理,在判斷為是檢測時(shí)機(jī)的情況下(步驟S105;是),進(jìn)入步驟S106的處理。

(步驟S106)控制部150取得受光元件8輸出的檢測信號。接著,控制部150判斷檢測信號的電平是否是H電平??刂撇?50在判斷為檢測信號的電平是H電平的情況下(步驟S106;是),使處理進(jìn)入步驟S107,在判斷為檢測信號的電平不是H電平的情況下(步驟S106;否),使處理進(jìn)入步驟S109。

(步驟S107)控制部150進(jìn)行控制,使驅(qū)動(dòng)電機(jī)以規(guī)定時(shí)間停止。即,控制部150使驅(qū)動(dòng)脈沖以規(guī)定時(shí)間維持L電平。另外,規(guī)定時(shí)間是對齒輪驅(qū)動(dòng)后,例如齒輪的擺動(dòng)結(jié)束的期間,是設(shè)計(jì)者預(yù)先通過實(shí)際測量或仿真而確定的時(shí)間。

(步驟S108)控制部150取得受光元件8輸出的檢測信號。接著,控制部150判斷檢測信號的電平是否是H電平??刂撇?50在判斷為檢測信號的電平是H電平的情況下(步驟S108;是),使處理進(jìn)入步驟S110,在判斷為檢測信號的電平不是H電平的情況下(步驟S108;否),使處理進(jìn)入步驟S109。在該步驟S108中,在對齒輪進(jìn)行驅(qū)動(dòng)后,在被認(rèn)為擺動(dòng)結(jié)束的規(guī)定時(shí)間后再次取得在步驟S105的時(shí)機(jī)取得的檢測信號是否正確,再次確認(rèn)檢測信號的電平。

(步驟S109)控制部150結(jié)束發(fā)光元件7的發(fā)光。接著,控制部150使處理返回步驟S101。

(步驟S110)控制部150檢測在步驟S108的時(shí)機(jī)停止的位置作為齒輪的基準(zhǔn)位置。控制部150使處理進(jìn)入步驟S111。

(步驟S111)控制部150結(jié)束發(fā)光元件7的發(fā)光。接著,控制部150使處理返回步驟S101。

(步驟S112)控制部150取得接收電路110輸出的時(shí)刻代碼信號(表示時(shí)刻的時(shí)刻信息)。接著,控制部150對取得的時(shí)刻信息與基于齒輪基準(zhǔn)位置的基準(zhǔn)時(shí)刻進(jìn)行比較,判斷是否需要對時(shí)刻顯示進(jìn)行校正??刂撇?50例如在時(shí)刻信息與基準(zhǔn)時(shí)刻之差大于預(yù)先規(guī)定的時(shí)間的情況下,判斷為需要校正,在時(shí)刻信息與基準(zhǔn)時(shí)刻之差小于預(yù)先規(guī)定的時(shí)間的情況下判斷為不需要校正。在判斷為需要校正的情況下,控制部150生成對時(shí)刻顯示進(jìn)行校正的驅(qū)動(dòng)脈沖,通過將生成的驅(qū)動(dòng)脈沖輸出到驅(qū)動(dòng)電機(jī)來進(jìn)行時(shí)刻顯示的校正。

至此,結(jié)束位置檢測的處理。

接著,對本實(shí)施方式的位置檢測的一例進(jìn)行說明。另外,在以下的說明中,使用圖7和圖8對透過第2分中間輪5的透射孔5A的光是檢測信號的情況的例子進(jìn)行說明。圖7是示出本實(shí)施方式的每進(jìn)行1次電機(jī)驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行1次檢測的情況下的位置檢測的一例的時(shí)序圖。在圖7中,橫軸表示時(shí)刻,縱軸表示各信號的電平。另外,將檢測的信號電平小于規(guī)定閾值的情況下的電平設(shè)為L電平,將檢測的信號電平為閾值以上的情況下的電平設(shè)為H電平。另外,在圖7所示的例子,在第一次的檢測時(shí)機(jī)S1和第三次的檢測時(shí)機(jī)S3時(shí)檢測出的檢測信號是準(zhǔn)確的,在第二次的檢測時(shí)機(jī)S2時(shí)檢測出的檢測信號是錯(cuò)誤的。另外,在圖7中,狀態(tài)P21、P22、P23、P31、P32以及P33分別表示透射孔1A與透射孔5A的狀態(tài),透射孔1A和透射孔5A的狀態(tài)如圖8所示。

另外,在圖7中,波形g201表示基于第2分中間輪5的透射孔5A的光量的變化(透射孔5A相對于透射孔1A的開口率)。另外,L電平是透射孔5A不位于檢測位置,即處于檢測位置的下板1的透射孔1A被第2分中間輪5遮擋的狀態(tài)。另外,從L電平到H電平的變化是透射孔5A的一端到達(dá)檢測位置的狀態(tài)。再者,H電平是透射孔5A通過檢測位置的上方的狀態(tài)。

另外,波形g202表示驅(qū)動(dòng)脈沖D11,波形g203表示驅(qū)動(dòng)脈沖D12。波形g204表示發(fā)光元件7的發(fā)光狀態(tài),波形g205表示受光元件8接收到的檢測信號,波形g206表示檢測時(shí)機(jī)。

首先,控制部150在時(shí)刻t1時(shí),使輸出到第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1的驅(qū)動(dòng)脈沖D11從L電平變?yōu)镠電平。接著,控制部150在經(jīng)過了針對第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1的驅(qū)動(dòng)而規(guī)定的時(shí)間后的時(shí)刻t2時(shí),使驅(qū)動(dòng)脈沖D11從H電平變?yōu)長電平。即,控制部150在時(shí)刻t1~t2的期間,將驅(qū)動(dòng)脈沖D11輸出到第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1。

在時(shí)刻t3時(shí),控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7開始發(fā)光。

控制部150在使發(fā)光元件7發(fā)光后,在經(jīng)過檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的時(shí)刻t4的檢測時(shí)機(jī)S1時(shí),取得受光元件8輸出的檢測信號。在時(shí)刻t4時(shí),由于透射孔1A被第2分中間輪5遮擋,因此,檢測信號是L電平。

在時(shí)刻t5時(shí),控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7結(jié)束發(fā)光。

在時(shí)刻t6時(shí),控制部150使輸出到第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1的驅(qū)動(dòng)脈沖D12從L電平變?yōu)镠電平。時(shí)刻t6時(shí)的狀態(tài)P21是如圖8的標(biāo)號g301所示的區(qū)域的圖像那樣,透射孔5A沒有到達(dá)透射孔1A,透射孔1A被第2分中間輪5遮擋。

控制部150在經(jīng)過了預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的時(shí)刻t7時(shí),使驅(qū)動(dòng)脈沖D12從H電平變?yōu)長電平。

在時(shí)刻t8時(shí),控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7開始發(fā)光。接著,控制部150在使發(fā)光元件7發(fā)光后,經(jīng)過了檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的時(shí)刻t9的檢測時(shí)機(jī)S2時(shí),取得受光元件8輸出的檢測信號。

檢測時(shí)機(jī)S2的狀態(tài)P22是如圖8的標(biāo)號g302所示的區(qū)域的圖像那樣,是透射孔5A的一端由于第2分中間輪5的擺動(dòng)而暫時(shí)與透射孔1A重合的狀態(tài),或者混入了噪聲的錯(cuò)誤狀態(tài)。在此時(shí)的檢測信號超過規(guī)定閾值的情況下,控制部150將檢測信號判斷為H電平。在使用此時(shí)取得的檢測信號進(jìn)行位置檢測的情況下,由于檢測時(shí)機(jī)S2的檢測信號是錯(cuò)誤的,因此,無法進(jìn)行準(zhǔn)確的位置檢測,在將該位置作為基準(zhǔn)位置的情況下,無法準(zhǔn)確地對時(shí)刻進(jìn)行校正。因此,在本實(shí)施方式中,在檢測出檢測信號的H電平的情況下,使電機(jī)(在圖6的例子中為第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1)以規(guī)定時(shí)間停止后,再次取得檢測信號,由此,進(jìn)行檢測信號的再次確認(rèn)。

控制部150使第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1停止,即使驅(qū)動(dòng)脈沖D11維持L電平。在本實(shí)施方式中,在電機(jī)停止過程中,發(fā)光元件一直持續(xù)發(fā)光,但也可以是在不妨礙檢測的時(shí)機(jī)開始發(fā)光,在檢測結(jié)束后適當(dāng)結(jié)束發(fā)光。另外,時(shí)刻t11表示齒輪擺動(dòng)后的時(shí)刻。時(shí)刻t11時(shí)的狀態(tài)P23是如圖8的標(biāo)號g303所表示的區(qū)域的圖像那樣,透射孔5A沒有到達(dá)透射孔1A,透射孔1A被第2分中間輪5遮擋。由于第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1停止,因此,時(shí)刻t11和時(shí)刻t13的透射孔1A和透射孔5A的狀態(tài)大致相同,處于狀態(tài)P23。

在從檢測時(shí)機(jī)S2(時(shí)刻t9)起經(jīng)過規(guī)定時(shí)間Δt1后的時(shí)刻t13的檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí),控制部150再次取得檢測信號。檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí)的檢測信號是L電平。因此,由于檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí)取得的檢測信號是L電平,所以,控制部150將在檢測時(shí)機(jī)S2時(shí)取得的檢測信號判斷為錯(cuò)誤。另外,由于分別在檢測時(shí)機(jī)S2和檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí)取得的檢測信號不一致,因此,控制部150也可以將檢測時(shí)機(jī)S2時(shí)取得的檢測信號判斷為錯(cuò)誤。

在時(shí)刻t14時(shí),控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7結(jié)束發(fā)光。

在時(shí)刻t15時(shí),控制部150使驅(qū)動(dòng)脈沖D11從L電平變?yōu)镠電平。接著,在時(shí)刻t17時(shí),控制部150使驅(qū)動(dòng)脈沖D11從H電平變?yōu)長電平。另外,如波形g201所示,在時(shí)刻t16時(shí),透射孔5A開始到達(dá)透射孔1A。時(shí)刻t16的狀態(tài)P31是如圖8的標(biāo)號g304所示的區(qū)域的圖像那樣,透射孔5A開始到達(dá)透射孔1A的狀態(tài)。

在時(shí)刻t18時(shí),控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7開始發(fā)光。接著,控制部150在使發(fā)光元件7發(fā)光后,經(jīng)過檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的時(shí)刻t19的檢測時(shí)機(jī)S3時(shí),取得受光元件8輸出的檢測信號。

檢測時(shí)機(jī)S3的狀態(tài)P32是如圖8的標(biāo)號g305所示的區(qū)域的圖像那樣,透射孔5A到達(dá)透射孔1A的狀態(tài)。因此,檢測信號是H電平。

為了判斷在檢測時(shí)機(jī)S3時(shí)取得的檢測信號是否錯(cuò)誤,控制部150再次使第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1停止。由于第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1停止,因此,時(shí)刻t21和時(shí)刻t23的透射孔1A和透射孔5A的狀態(tài)大致相同,處于狀態(tài)P33。

另外,規(guī)定時(shí)間△t1和△t2也可以是相同時(shí)間。規(guī)定時(shí)間△t1和△t2例如是0.5秒。接著,控制部150在使發(fā)光元件7發(fā)光后,從檢測時(shí)機(jī)S3起經(jīng)過規(guī)定時(shí)間△t2后,并且在經(jīng)過檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的時(shí)刻t23的檢測時(shí)機(jī)S3’時(shí),控制部150取得受光元件8輸出的檢測信號。在檢測時(shí)機(jī)S3’時(shí),檢測信號是H電平。檢測時(shí)機(jī)S3’的狀態(tài)P33是如圖8的標(biāo)號g306所示的區(qū)域的圖像那樣,透射孔5A到達(dá)透射孔1A的狀態(tài)。

因此,由于在每個(gè)檢測時(shí)機(jī)S3’取得的檢測信號都是H電平,因此,控制部150判斷為在檢測時(shí)機(jī)S3時(shí)取得的檢測信號沒有錯(cuò)誤。并且,控制部150檢測出檢測時(shí)機(jī)S3’的位置作為第2分中間輪5的基準(zhǔn)位置。

在時(shí)刻t24時(shí),控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7結(jié)束發(fā)光。

另外,在圖7中,以驅(qū)動(dòng)第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1時(shí)的透射孔1A與透射孔5A的狀態(tài)為例進(jìn)行了說明,但控制部150在驅(qū)動(dòng)各齒輪時(shí),通過進(jìn)行相同的處理來對各齒輪的位置進(jìn)行檢測。另外,存儲部140預(yù)先存儲了齒輪的位置和時(shí)刻之間的關(guān)系。

另外,在本實(shí)施方式中,受光結(jié)果是使用規(guī)定的閾值對受光元件接收到的信號電平是H電平還是L電平進(jìn)行判斷后的結(jié)果。另外,在本實(shí)施方式中,例如在檢測時(shí)機(jī)S1的檢測結(jié)果是本次的檢測結(jié)果的情況下,在檢測時(shí)機(jī)S1的前一個(gè)檢測時(shí)機(jī)時(shí)所檢測出的結(jié)果是上次的檢測結(jié)果。在這種情況下,由于上次的檢測結(jié)果是L電平,本次的檢測結(jié)果是L電平,因此,控制部150使驅(qū)動(dòng)電機(jī)不停止。另一方面,在檢測時(shí)機(jī)S2是本次的檢測結(jié)果的情況下,上次的檢測結(jié)果是檢測時(shí)機(jī)S1時(shí)的檢測結(jié)果。在這種情況下,由于上次的檢測結(jié)果是L電平,本次的檢測結(jié)果是H電平,因此,控制部150在使驅(qū)動(dòng)電機(jī)以規(guī)定時(shí)間停止后,再次在檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí)判斷檢測結(jié)果。在檢測時(shí)機(jī)S2’,檢測時(shí)機(jī)S2時(shí)的檢測結(jié)果是上次的檢測結(jié)果,為H電平,檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí)的檢測結(jié)果是本次的檢測結(jié)果,為L電平。這樣,由于控制部150再次判斷的結(jié)果是上次的檢測結(jié)果和本次的檢測結(jié)果不一致,因此,不將本次的停止位置P23用作基準(zhǔn)位置。另一方面,由于檢測時(shí)機(jī)S3(上次)的檢測結(jié)果和檢測時(shí)機(jī)S3’(本次)的檢測結(jié)果都是H電平,因此,由于上次的檢測結(jié)果和本次的檢測結(jié)果一致,因此,控制部150將本次的停止位置P23用作基準(zhǔn)位置。

另外,在圖7所示的例子中,敘述了對受光元件的檢測信號為H電平的情況進(jìn)行檢測的例子,但不限于此,也可以是,受光元件檢測L電平。例如,在要對齒輪的透射孔的旋轉(zhuǎn)方向的結(jié)束端脫離透射孔1A時(shí)的位置進(jìn)行檢測的情況下,會檢測出本來是H電平但變?yōu)長電平的位置。在這種情況下,根據(jù)齒輪的慣性,也會發(fā)生與上述現(xiàn)象相同的現(xiàn)象。即,齒輪由于慣性而超過透射孔1A,之后,通過返回而停止在規(guī)定的位置處。在由于慣性而超過透射孔1A的狀態(tài)下,由于透射孔1A被齒輪遮擋,因此,檢測信號是L電平,但最終返回正確的位置處后,檢測出H電平。即使在這樣的狀態(tài)下進(jìn)行位置檢測的情況下,有時(shí)也無法進(jìn)行正確的位置檢測。根據(jù)本實(shí)施方式,即使在這樣的情況下也能夠進(jìn)行正確的位置檢測。

如上所述,本實(shí)施方式的位置檢測裝置(控制電路101、位置檢測部180)具有發(fā)光元件7;受光元件8,其接收來自發(fā)光元件的透射光;驅(qū)動(dòng)電機(jī)(第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1、第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2),其對齒輪(例如時(shí)針齒輪3、分針齒輪4、第2分中間輪5、秒針齒輪6)進(jìn)行驅(qū)動(dòng);以及控制部150,其按照每個(gè)規(guī)定的時(shí)機(jī)判斷受光元件的受光結(jié)果是否發(fā)生變化,在本次的判斷結(jié)果(例如檢測時(shí)機(jī)S3)與上次的判斷結(jié)果(例如檢測時(shí)機(jī)S2’)不同的情況下進(jìn)行控制,使驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止,在驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止的期間(例如檢測時(shí)機(jī)S3’)內(nèi),控制部150再次判斷受光結(jié)果,在再次判斷的結(jié)果為上次的受光結(jié)果(例如檢測時(shí)機(jī)S3)與本次的受光結(jié)果(例如檢測時(shí)機(jī)S3’)相同的情況下,控制部150檢測出本次的停止位置(例如狀態(tài)P33)作為基準(zhǔn)位置。

根據(jù)該結(jié)構(gòu),在本實(shí)施方式中,在進(jìn)行一次檢測后,使驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止,之后進(jìn)行再次檢測,因此,即使在存在部件的制造差異或電源電壓的變動(dòng)導(dǎo)致的慣性變動(dòng)引起的齒輪擺動(dòng)狀態(tài)變化的情況下,也能夠防止位置的錯(cuò)誤檢測。

<變形例>

在上述例子中,對齒輪的透射孔的旋轉(zhuǎn)方向的開始端稍微到達(dá)透射孔1A之后,返回而到達(dá)規(guī)定的位置的例子進(jìn)行了說明,但齒輪的動(dòng)作不限于此。根據(jù)電壓、指針的條件(不平衡等),轉(zhuǎn)子和齒輪基于慣性的動(dòng)作會發(fā)生變化。由于轉(zhuǎn)子一邊擺動(dòng)一邊停止,因此,在擺動(dòng)過程中,在發(fā)生了齒輪在處于返回方向時(shí)透射孔1A被齒輪遮擋的狀態(tài)的情況下,檢測信號變?yōu)長電平。在這樣的狀態(tài)下進(jìn)行位置檢測時(shí),即使在本來應(yīng)該檢測H電平的位置處,也無法進(jìn)行正確的位置檢測。

使用圖8對此時(shí)的齒輪的動(dòng)作進(jìn)行說明。在透射孔1A與透射孔5A的關(guān)系處于P31的狀態(tài)的情況下,在該狀態(tài)下輸出1個(gè)脈沖的驅(qū)動(dòng)脈沖后,轉(zhuǎn)子被驅(qū)動(dòng),嚙合的齒輪旋轉(zhuǎn)規(guī)定的角度后在P33的狀態(tài)下停止。然而,如上所述那樣,由于慣性力作用于轉(zhuǎn)子,因此,轉(zhuǎn)子在繼續(xù)旋轉(zhuǎn)到比規(guī)定的位置稍靠前的位置后變?yōu)镻32的狀態(tài),之后,這次進(jìn)行反轉(zhuǎn),例如,有時(shí)返回到P21的狀態(tài)。接著,齒輪再次在正向上旋轉(zhuǎn),最終在P33的狀態(tài)下停止。如果在處于P21的狀態(tài)時(shí)控制部150進(jìn)行檢測,則本來應(yīng)該檢測出H電平,但結(jié)果檢測出L電平,無法進(jìn)行正確的位置檢測。

在上述的例子中,對每進(jìn)行1次的電機(jī)驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行1次檢測的情況下的例子進(jìn)行了說明,但在變形例中,為了防止這樣的現(xiàn)象,每進(jìn)行1次的電機(jī)驅(qū)動(dòng)的次數(shù)也可以是2次以上。以下,說明每進(jìn)行1次的電機(jī)驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行3次檢測的例子。

首先,對位置檢測的處理步驟進(jìn)行說明。

圖9是本實(shí)施方式的變形例的位置檢測處理的流程圖。另外,對于與圖6中說明的處理相同的處理,使用相同標(biāo)號而省略說明。

(步驟S101~S103)控制部150進(jìn)行步驟S101~S103的處理。接著,控制部150使處理進(jìn)入步驟S201。

(步驟S201)控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7開始發(fā)光。接著,控制部150將檢測次數(shù)設(shè)定為1,使處理進(jìn)入步驟S202。

(步驟S202)控制部150在使發(fā)光元件7發(fā)光后,判斷是否是經(jīng)過檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的檢測時(shí)機(jī)??刂撇?50在判斷為不是檢測時(shí)機(jī)的情況下(步驟S202;否),重復(fù)步驟S202的處理,在判斷為是檢測時(shí)機(jī)的情況下(步驟S202;是),使處理進(jìn)入步驟S203。

(步驟S203)控制部150取得受光元件8輸出的檢測信號。接著,控制部150判斷檢測信號的電平是否是H電平。控制部150在判斷為檢測信號的電平是H電平的情況下(步驟S203;是),使處理進(jìn)入步驟S204,在判斷檢測信號的電平不是H電平的情況下(步驟S203;否),使處理進(jìn)入步驟S206。

(步驟S204)控制部150設(shè)定表示檢測出H電平的標(biāo)志。另外,控制部150在每次檢測時(shí),也可以將檢測出H電平的次數(shù)設(shè)定為與H電平檢測標(biāo)志相關(guān)聯(lián)。另外,控制部150也可以將H電平檢測標(biāo)志和檢測次數(shù)寫入存儲部140。

(步驟S205)控制部150在檢測次數(shù)中加1。

(步驟S206)控制部150通過判斷檢測次數(shù)是否達(dá)到3次來判斷3次檢測是否結(jié)束??刂撇?50在判斷為3次檢測結(jié)束的情況下(步驟S206;是),使處理進(jìn)入步驟S207,在判斷為3次檢測沒有結(jié)束的情況下(步驟S206;否),使處理返回步驟S202。

(步驟S207)控制部150通過確認(rèn)H電平檢測標(biāo)志來判斷是否至少一次檢測到H電平。控制部150在判斷為至少一次檢測到H電平的情況下(步驟S207;是),使處理進(jìn)入步驟S107,在判斷為至少一次沒有檢測到H電平的情況下(步驟S207;否),使處理進(jìn)入步驟S109。

接著,對變形例的位置檢測的一例進(jìn)行說明。

圖10是示出本實(shí)施方式的每進(jìn)行1次的電機(jī)驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行3次檢測的情況下的位置檢測的一例的時(shí)序圖。

圖7和圖10的差異在于發(fā)光元件的發(fā)光時(shí)機(jī)和檢測時(shí)機(jī)。

控制部150輸出驅(qū)動(dòng)脈沖D11,進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7開始發(fā)光,之后,在經(jīng)過檢測所需的預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的檢測時(shí)機(jī)S11時(shí),取得受光元件8輸出的第1次的檢測信號。

在檢測時(shí)機(jī)S12時(shí),取得受光元件8輸出的第2次檢測信號。

在檢測時(shí)機(jī)S13時(shí),取得受光元件8輸出的第3次檢測信號。另外,檢測時(shí)機(jī)S11~S13例如是預(yù)先規(guī)定的時(shí)間間隔。

由于在檢測時(shí)機(jī)S11~S13時(shí)分別取得的檢測信號中不包括H電平,因此,控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7結(jié)束發(fā)光,在一定時(shí)間后,輸出驅(qū)動(dòng)脈沖D12。

控制部150在進(jìn)行控制使發(fā)光元件7開始發(fā)光后,在經(jīng)過預(yù)先規(guī)定的時(shí)間后的檢測時(shí)機(jī)S21時(shí),取得受光元件8輸出的第1次的檢測信號。

在檢測時(shí)機(jī)S22時(shí),取得受光元件8輸出的第2次檢測信號。

在檢測時(shí)機(jī)S23時(shí),取得受光元件8輸出的第3次檢測信號。

由于在檢測時(shí)機(jī)S21~S23分別取得的檢測信號中包括H電平,因此,控制部150使第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1停止,使發(fā)光元件7繼續(xù)發(fā)光。

控制部150為了再次確認(rèn)檢測信號,在規(guī)定時(shí)間△t1后的檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí),至少一次再次取得檢測信號。

由于在檢測時(shí)機(jī)S2’時(shí)取得的檢測信號是L電平,因此,控制部150將在檢測時(shí)機(jī)S22時(shí)取得的檢測信號判斷為錯(cuò)誤。接著,控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7結(jié)束發(fā)光,接著,輸出驅(qū)動(dòng)脈沖D11。

控制部150在進(jìn)行控制使發(fā)光元件7開始發(fā)光之后,在經(jīng)過預(yù)先確定的時(shí)間后的檢測時(shí)機(jī)S31時(shí),取得受光元件8輸出的第1次的檢測信號。

在檢測時(shí)機(jī)S32時(shí),取得受光元件8輸出的第2次檢測信號。

在檢測時(shí)機(jī)S33時(shí),取得受光元件8輸出的第3次檢測信號。

由于在檢測時(shí)機(jī)S31~S33分別取得的檢測信號中包括H電平,因此,控制部150使第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1停止,使發(fā)光元件7繼續(xù)發(fā)光。

控制部150為了對檢測信號進(jìn)行再次確認(rèn),在規(guī)定時(shí)間△t2后的檢測時(shí)機(jī)S3’時(shí),至少一次再次取得檢測信號。另外,規(guī)定時(shí)間△t1和△t2也可以是相同時(shí)間。規(guī)定時(shí)間△t1和△t2例如是0.5秒。另外,規(guī)定時(shí)間△t1例如也可以是從時(shí)刻S21或時(shí)刻S22到檢測時(shí)機(jī)S2’的期間。

由于在檢測時(shí)機(jī)S3’時(shí)取得的檢測信號是H電平,因此,控制部150將在檢測時(shí)機(jī)S31~S33時(shí)取得的檢測信號判斷為不是錯(cuò)誤。接著,控制部150進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7結(jié)束發(fā)光。

另外,每進(jìn)行1次驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行3次檢測的情況下的發(fā)光元件7的發(fā)光時(shí)機(jī)例如在圖10中也可以是輸出驅(qū)動(dòng)脈沖之后(第1次)、輸出下一次的驅(qū)動(dòng)脈沖之前(第3次)、以及這兩次的發(fā)光時(shí)刻之間(第2次)。

如上所述,根據(jù)本實(shí)施方式,即使在齒輪的透射孔的旋轉(zhuǎn)方向的開始端和結(jié)束端進(jìn)行擺動(dòng)而到達(dá)透射孔1A和透射孔2A的情況下,在使驅(qū)動(dòng)電機(jī)停止后,通過進(jìn)行多次檢測,能夠去除噪聲而進(jìn)行準(zhǔn)確的位置檢測。

另外,這樣,通過在1次驅(qū)動(dòng)中進(jìn)行多次檢測,例如能夠去除電路內(nèi)產(chǎn)生的噪聲和來自外部的入射光等導(dǎo)致的噪聲而能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的位置檢測。

在使用了圖9和圖10的例子中,對每進(jìn)行1次驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行3次檢測的例子進(jìn)行了說明,但檢測次數(shù)也可以是2次、4次以上。

另外,在檢測次數(shù)是3次的情況下,也可以是,控制部150例如在圖10的檢測時(shí)機(jī)S21時(shí)對H電平進(jìn)行檢測,在檢測時(shí)機(jī)S22和S23時(shí)L電平持續(xù)的情況下,控制部15將檢測時(shí)機(jī)S21時(shí)的檢測信號判斷為錯(cuò)誤而不進(jìn)行再次確認(rèn)。另外,也可以是,控制部150在3次的檢測中,檢測到2次H電平的情況下,進(jìn)行再次確認(rèn)。由此,在本實(shí)施方式中,在每次發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)可以不進(jìn)行再次確認(rèn)。在進(jìn)行再次確認(rèn)的情況下,由于指針在規(guī)定時(shí)間例如0.5秒內(nèi)沒有被驅(qū)動(dòng),因此,使用者有可能看到指針的動(dòng)作。另外,在圖10所示的例子中,由于在檢測時(shí)機(jī)S23~S2’和檢測時(shí)機(jī)S33~S3’這兩次,每次分別等待0.5秒后進(jìn)行再次確認(rèn),因此,指針實(shí)質(zhì)上停止1秒(=0.5秒×2)。這樣,如果按照每個(gè)錯(cuò)誤進(jìn)行再次確認(rèn),則使用者有時(shí)能夠看到指針不動(dòng)作的狀態(tài)。因此,根據(jù)本實(shí)施方式,在錯(cuò)誤的可能性較高的狀態(tài)下(只在檢測時(shí)機(jī)S21為H電平,或者H電平為1次等),通過不進(jìn)行再次確認(rèn),從而使得不會發(fā)生這樣的指針停止。

另外,在圖7~圖10所示的例子中,對僅在檢測信號的檢測時(shí)使發(fā)光元件7發(fā)光的例子進(jìn)行了說明,但也可以是始終發(fā)光。如圖7所示,在使發(fā)光元件7間斷地發(fā)光的情況下,發(fā)光期間至少包括檢測時(shí)刻即可,例如,也可以包括從驅(qū)動(dòng)脈沖的上升后到檢測時(shí)機(jī)的期間。

如上所述,在本實(shí)施方式的位置檢測裝置(控制電路101、位置檢測部180)中,控制部150在對驅(qū)動(dòng)電機(jī)(第1驅(qū)動(dòng)電機(jī)M1、第2驅(qū)動(dòng)電機(jī)M2)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)后,進(jìn)行控制,使發(fā)光元件7以規(guī)定時(shí)間(例如△t1、△t2、0.5秒)發(fā)光,并且在發(fā)光元件發(fā)光的期間內(nèi),判斷受光元件8的受光結(jié)果。

通過該結(jié)構(gòu),即使在存在部件的制造差異或電源電壓的變動(dòng)導(dǎo)致的齒輪擺動(dòng)狀態(tài)的變化的情況下,也能夠防止位置的錯(cuò)誤檢測。

另外,上述的實(shí)施方式中的控制電路101的功能整體或部分功能也可以通過將用于實(shí)現(xiàn)這些功能的程序記錄在計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)中并使計(jì)算機(jī)系統(tǒng)讀入記錄在該記錄介質(zhì)中的程序并執(zhí)行來實(shí)現(xiàn)。另外,這里所說的“計(jì)算機(jī)系統(tǒng)”包括OS和周圍設(shè)備等硬件。

另外,“計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)”是軟盤、光磁盤、ROM、CD-ROM等便攜式介質(zhì)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)內(nèi)置的硬盤等存儲部。并且,“計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)”包括:如經(jīng)由互聯(lián)網(wǎng)等網(wǎng)絡(luò)或電話線路等通信線路發(fā)送程序時(shí)的通信線路那樣,在短時(shí)間內(nèi)動(dòng)態(tài)地保持程序的介質(zhì);如成為該情況下的服務(wù)器或客戶端的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)內(nèi)部的易失性存儲器那樣在一定時(shí)間內(nèi)保持程序的介質(zhì)。另外,上述程序可以是用于實(shí)現(xiàn)上述功能的一部分的程序,還可以是通過與已經(jīng)記錄在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的程序的組合來實(shí)現(xiàn)上述功能的程序。

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