一種痕量雜質(zhì)測量裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種痕量雜質(zhì)測量裝置，包括檢測室、設(shè)置在檢測室內(nèi)的粉末吸收器；所述檢測室側(cè)邊設(shè)置有收納區(qū)，且在收納區(qū)內(nèi)設(shè)置有可在檢測室底部移動(dòng)的壓輥；所述壓輥外部設(shè)置有多個(gè)細(xì)小的碾壓釘齒，壓輥內(nèi)設(shè)置有四個(gè)干燥室，每個(gè)干燥室內(nèi)設(shè)置有多根加熱盤管，加熱盤管呈三排多列交錯(cuò)布置，且每根的加熱盤管之間相互獨(dú)立。采用本實(shí)用新型可以對(duì)超純金屬進(jìn)行有效準(zhǔn)確的痕量雜質(zhì)測量。
【專利說明】
_種痕量雜質(zhì)測量裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及痕量檢測領(lǐng)域，具體涉及一種痕量雜質(zhì)測量裝置?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]低含量金屬元素廣泛存在于環(huán)境及生物鏈中，對(duì)其進(jìn)行精確的測試以觀察其變化量有比較重要的意義，現(xiàn)有的技術(shù)手段往往趨向于采用更精密的昂貴儀器如多重光譜質(zhì)譜儀等手段，觀察其變化量，因此，痕量分析是對(duì)各種金屬有色金屬進(jìn)行測定的重要內(nèi)容。而在目前的但由于整個(gè)測定的過程處于敞開環(huán)境，因此需要在超凈間完成操作，否則容易帶來污染。而由于儀器檢出限的限制，在完成這一任務(wù)的過程中面臨的最大難題就是痕量雜質(zhì)因環(huán)境變化，實(shí)際應(yīng)用中樣品的測試檢出限并不能達(dá)到儀器在標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的指標(biāo)，而造成測定不準(zhǔn)確?！緦?shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型旨在提供一種痕量雜質(zhì)測量裝置，以解決上述問題。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0005]—種痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:包括檢測室、設(shè)置在檢測室內(nèi)的粉末吸收器;所述檢測室側(cè)邊設(shè)置有收納區(qū)，且在收納區(qū)內(nèi)設(shè)置有可在檢測室底部移動(dòng)的壓輥;所述壓輥外部設(shè)置有多個(gè)細(xì)小的碾壓釘齒，壓輥內(nèi)設(shè)置有四個(gè)干燥室，每個(gè)干燥室內(nèi)設(shè)置有多根加熱盤管，加熱盤管呈三排多列交錯(cuò)布置，且每根的加熱盤管之間相互獨(dú)立。
[0006]進(jìn)一步地，所述粉末吸收器為吸風(fēng)機(jī)。
[0007]進(jìn)一步地，所述檢測室內(nèi)設(shè)置有滑軌，壓輥通過驅(qū)動(dòng)軸連接到滑軌。
[0008]進(jìn)一步地，所述碾壓釘齒為斜三角形。
[0009]進(jìn)一步地，所述檢測室的外壁均填充有隔熱板。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果在于:本實(shí)用新型的熱盤管相互獨(dú)立，可以分別進(jìn)行加熱干燥，加熱效率可控調(diào)節(jié)。并且在壓輥外部設(shè)置有多個(gè)斜三角形的碾壓釘齒，將需要測量的高純度金屬碾壓成粉末狀并形成連續(xù)的薄膜，就可以用能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行有效測量?！靖綀D說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型提供的痕量雜質(zhì)測量裝置結(jié)構(gòu)示意圖。[0〇12]圖中標(biāo)記:1為檢測室、2為收納區(qū)、3為壓輯、4為干燥室、5為熱盤管、6為吸風(fēng)機(jī)。【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明。
[0014]如圖1所示，一種痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:包括檢測室1、設(shè)置在檢測室1內(nèi)的粉末吸收器;所述檢測室1側(cè)邊設(shè)置有收納區(qū)2,且在收納區(qū)2內(nèi)設(shè)置有可在檢測室1底部移動(dòng)的壓輥3;所述壓輥3外部設(shè)置有多個(gè)細(xì)小的碾壓釘齒，壓輥3內(nèi)設(shè)置有四個(gè)干燥室4,每個(gè)干燥室4內(nèi)設(shè)置有多根加熱盤管5,加熱盤管5呈三排多列交錯(cuò)布置，且每根的加熱盤管5 之間相互獨(dú)立。
[0015]所述粉末吸收器為吸風(fēng)機(jī)6。所述檢測室1內(nèi)設(shè)置有滑軌，壓輥3通過驅(qū)動(dòng)軸連接到滑軌。所述碾壓釘齒為斜三角形。所述檢測室1的外壁均填充有隔熱板。
[0016]在使用時(shí)，本實(shí)用新型可以先通過加熱盤管5使壓輥3內(nèi)部溫度升高，并通過壓輥3 將待檢測的高純度金屬進(jìn)行碾壓。在碾壓過程中，高溫度的壓輥3將水分蒸發(fā)，并讓粉末流動(dòng)使其形成較薄的一層膜。就可以用能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行有效測量。在停止使用后，可以通過吸風(fēng)機(jī)6將粉末吸出。
[0017]以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本實(shí)用新型，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本實(shí)用新型可以有各種更改和變化。凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:包括檢測室、設(shè)置在檢測室內(nèi)的粉末吸收器； 所述檢測室側(cè)邊設(shè)置有收納區(qū)，且在收納區(qū)內(nèi)設(shè)置有可在檢測室底部移動(dòng)的壓輥;所述壓 輥外部設(shè)置有多個(gè)細(xì)小的碾壓釘齒，壓輥內(nèi)設(shè)置有四個(gè)干燥室，每個(gè)干燥室內(nèi)設(shè)置有多根 加熱盤管，加熱盤管呈三排多列交錯(cuò)布置，且每根的加熱盤管之間相互獨(dú)立。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:所述粉末吸收器為吸風(fēng)機(jī)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:所述檢測室內(nèi)設(shè)置有滑軌， 壓輥通過驅(qū)動(dòng)軸連接到滑軌。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:所述碾壓釘齒為斜三角形。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的痕量雜質(zhì)測量裝置，其特征在于:所述檢測室的外壁均填充有 隔熱板。
【文檔編號(hào)】G01N23/223GK205665183SQ201620531764
【公開日】2016年10月26日
【申請(qǐng)日】2016年6月2日
【發(fā)明人】郭春雨, 于平, 于清炎, 干大強(qiáng)
【申請(qǐng)人】樂山凱亞達(dá)光電科技有限公司