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一種鐳射二極管推力測(cè)試儀的制作方法

文檔序號(hào):10800518閱讀:395來(lái)源:國(guó)知局
一種鐳射二極管推力測(cè)試儀的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)一種鐳射二極管推力測(cè)試儀,包括底板、依次設(shè)置于底板上的第一墊塊組及第一連接板、依次設(shè)置于第一連接板上的TO管座固定裝置、測(cè)力部及顯微鏡組件、及設(shè)置于第一連接板上且支撐于TO管座固定裝置底部的管座三軸調(diào)整組件,該管座三軸調(diào)整組件包括調(diào)整基板、分別設(shè)置于調(diào)整基板上的X軸調(diào)試儀、Y軸調(diào)試儀及Z軸調(diào)試儀;所述測(cè)力部包括設(shè)置于第一連接板上的測(cè)力部固定座、及依次設(shè)置于測(cè)力部固定座上的推力裝置、第二連接板與數(shù)顯測(cè)力計(jì),在該第二連接板的上端面及數(shù)顯測(cè)力計(jì)的前端設(shè)有測(cè)試臂水平支撐組件,該測(cè)試臂水平支撐組件上設(shè)置有一測(cè)試針。該鐳射二極管推力測(cè)試儀可多軸向調(diào)節(jié)待測(cè)品位置,且測(cè)試數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度高。
【專利說(shuō)明】
一種鐳射二極管推力測(cè)試儀
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及檢測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種鐳射二極管推力測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]目前,對(duì)二極管,特別是鐳射二極管推力的測(cè)試,均是將待測(cè)品放入固定裝置后,滑動(dòng)推力桿達(dá)到測(cè)試推力的目的。但將待測(cè)品放入固定裝置后,只能進(jìn)行一個(gè)軸向調(diào)節(jié),對(duì)待測(cè)品測(cè)試點(diǎn)的位置難把握;同時(shí)測(cè)試針與測(cè)力計(jì)都沒(méi)有縱向支撐點(diǎn),導(dǎo)致測(cè)試臂出現(xiàn)不水平現(xiàn)象,易造成測(cè)試誤差,導(dǎo)致測(cè)試精度低。
[0003]因此,開(kāi)發(fā)出一種可多軸向調(diào)節(jié)待測(cè)品位置,且提高測(cè)試精度的鐳射二極管推力測(cè)試儀,顯得尤為重要。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]針對(duì)上述不足,本實(shí)用新型的目的在于提供一種鐳射二極管推力測(cè)試儀,以解決現(xiàn)有推力測(cè)試裝置無(wú)法對(duì)軸向調(diào)節(jié)待測(cè)品位置,且測(cè)試精度低等問(wèn)題,本實(shí)用新型提供的鐳射二極管推力測(cè)試儀,可多軸向調(diào)節(jié)待測(cè)品位置,且測(cè)試數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度高。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案是:
[0006]—種鐳射二極管推力測(cè)試儀,包括底板、設(shè)置于底板上的第一墊塊組、設(shè)置于第一墊塊組上的第一連接板、設(shè)置于第一連接板上的TO管座固定裝置與測(cè)力部、及設(shè)置于TO管座固定裝置上方的顯微鏡組件,其特征在于,還包括設(shè)置于第一連接板上且支撐于TO管座固定裝置底部的管座三軸調(diào)整組件,該管座三軸調(diào)整組件包括調(diào)整基板、分別設(shè)置于調(diào)整基板上的X軸調(diào)試儀、Y軸調(diào)試儀及Z軸調(diào)試儀;所述測(cè)力部包括設(shè)置于第一連接板上的測(cè)力部固定座、及依次設(shè)置于測(cè)力部固定座上的推力裝置、第二連接板與數(shù)顯測(cè)力計(jì),在該第二連接板的上端面及數(shù)顯測(cè)力計(jì)的前端設(shè)有測(cè)試臂水平支撐組件,該測(cè)試臂水平支撐組件上設(shè)置有一測(cè)試針。
[0007]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述TO管座固定裝置包括連接架、管座壓板軌道、分別設(shè)置于連接架前后兩端的前擋板與后擋板,其中,該連接架與后擋板之間設(shè)有一扳手,該連接架與前擋板之間設(shè)有一管座定位座與一管座端面壓板,且在該連接架、管座定位座與管座端面壓板上均開(kāi)設(shè)有通孔,所述管座壓板軌道依次貫穿于連接架、管座定位座與管座端面壓板的通孔中,同時(shí),在該連接架中且在管座壓板軌道上下端分別設(shè)置有定位銷(xiāo)。
[0008]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述測(cè)試針的前端設(shè)置于管座端面壓板上。
[0009]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述定位銷(xiāo)與管座壓板軌道垂直。
[0010]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述顯微鏡組件包括顯微鏡支桿、設(shè)置于顯微鏡支桿上的顯微鏡安裝座、及安裝于顯微鏡安裝座上的顯微鏡。
[0011]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述推力裝置包括一推力基板、及連接于推力基板側(cè)邊的推力手臂。
[0012]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述第一墊塊組由平行設(shè)置的若干第一墊塊組成。
[0013]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述推力裝置與第二連接板之間還設(shè)有第二墊塊組。
[0014]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述第二墊塊組由平行設(shè)置的若干第二墊塊組成。
[0015]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:通過(guò)管座三軸調(diào)整組件實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)品位置進(jìn)行X軸、Y軸與Z軸調(diào)節(jié),方便更精準(zhǔn)的找到測(cè)試點(diǎn),以提供測(cè)試精準(zhǔn)度;通過(guò)測(cè)試臂水平支撐組件,增加了測(cè)試針與數(shù)顯測(cè)力計(jì)之間的Z軸支撐點(diǎn),起到支撐作用的同時(shí),保證在測(cè)試的過(guò)程中,進(jìn)行X軸滑動(dòng)時(shí)不會(huì)出現(xiàn)晃動(dòng),以提高測(cè)試數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度。
[0016]下面結(jié)合附圖與【具體實(shí)施方式】,對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明。
【附圖說(shuō)明】
[0017]圖1為本實(shí)用新型鐳射二極管推力測(cè)試儀的整體結(jié)構(gòu)示意圖;
[0018]圖2為T(mén)O管座固定裝置的分解示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)到預(yù)定目的所采取的技術(shù)手段及功效,以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】詳細(xì)說(shuō)明。
[0020]請(qǐng)參照?qǐng)D1至圖2,本實(shí)用新型提供一種鐳射二極管推力測(cè)試儀,包括底板1、設(shè)置于底板I上的第一墊塊組2、設(shè)置于第一墊塊組2上的第一連接板3、設(shè)置于第一連接板3上的TO管座固定裝置4與測(cè)力部5、及設(shè)置于TO管座固定裝置4上方的顯微鏡組件6,還包括設(shè)置于第一連接板3上且支撐于TO管座固定裝置4底部的管座三軸調(diào)整組件7,該管座三軸調(diào)整組件7包括調(diào)整基板71、分別設(shè)置于調(diào)整基板71上的X軸調(diào)試儀72、Y軸調(diào)試儀73及Z軸調(diào)試儀74;所述測(cè)力部5包括設(shè)置于第一連接板3上的測(cè)力部固定座51、及依次設(shè)置于測(cè)力部固定座51上的推力裝置52、第二連接板53與數(shù)顯測(cè)力計(jì)54,該推力裝置52包括一推力基板521、及連接于推力基板521側(cè)邊的推力手臂522,在該第二連接板53的上端面及數(shù)顯測(cè)力計(jì)54的前端設(shè)有測(cè)試臂水平支撐組件8,該測(cè)試臂水平支撐組件8上設(shè)置有一測(cè)試針9。
[0021]所述TO管座固定裝置4包括連接架41、管座壓板軌道42、分別設(shè)置于連接架41前后兩端的前擋板43與后擋板44,其中,該連接架41與后擋板44之間設(shè)有一扳手45,該連接架41與前擋板43之間設(shè)有一管座定位座46與一管座端面壓板47,且在該連接架41、管座定位座46與管座端面壓板47上均開(kāi)設(shè)有通孔,所述管座壓板軌道42依次貫穿于連接架41、管座定位座46與管座端面壓板47的通孔中,同時(shí),在該連接架41中且在管座壓板軌道42上下端分別設(shè)置有定位銷(xiāo)48,該定位銷(xiāo)48與管座壓板軌道42垂直,且所述測(cè)試針9的前端設(shè)置于管座端面壓板47上。
[0022]所述顯微鏡組件6包括顯微鏡支桿61、設(shè)置于顯微鏡支桿61上的顯微鏡安裝座62、及安裝于顯微鏡安裝座62上的顯微鏡63。
[0023]所述第一墊塊組2由平行設(shè)置的若干第一墊塊21組成;所述第二墊塊組55由平行設(shè)置的若干第二墊塊551組成。
[0024]所述推力裝置52與第二連接板53之間還設(shè)有第二墊塊組55。
[0025]推力測(cè)試原理:將待測(cè)品放置于TO管座固定裝置4內(nèi),目視顯微鏡63,并通過(guò)管座三軸調(diào)整組件7中的X軸調(diào)試儀7 2、Y軸調(diào)試儀7 3與Z軸調(diào)試儀74可以調(diào)節(jié)待測(cè)品在X軸、Y軸及Z軸的位置,使待測(cè)品調(diào)至要求的測(cè)試位置,再滑動(dòng)推力手臂522,待測(cè)品芯片剝離后記錄數(shù)顯測(cè)力計(jì)54數(shù)據(jù),完成推力測(cè)試。
[0026]本實(shí)用新型的重點(diǎn)在于:通過(guò)管座三軸調(diào)整組件實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)品位置進(jìn)行X軸、Y軸與Z軸調(diào)節(jié),方便更精準(zhǔn)的找到測(cè)試點(diǎn),以提供測(cè)試精準(zhǔn)度;通過(guò)測(cè)試臂水平支撐組件,增加了測(cè)試針與數(shù)顯測(cè)力計(jì)之間的Z軸支撐點(diǎn),起到支撐作用的同時(shí),保證在測(cè)試的過(guò)程中,進(jìn)行X軸滑動(dòng)時(shí)不會(huì)出現(xiàn)晃動(dòng),以提高測(cè)試數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度。
[0027]以上所述,僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并非對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)范圍作任何限制,故采用與本實(shí)用新型上述實(shí)施例相同或近似的技術(shù)特征,均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種鐳射二極管推力測(cè)試儀,包括底板、設(shè)置于底板上的第一墊塊組、設(shè)置于第一墊塊組上的第一連接板、設(shè)置于第一連接板上的TO管座固定裝置與測(cè)力部、及設(shè)置于TO管座固定裝置上方的顯微鏡組件,其特征在于,還包括設(shè)置于第一連接板上且支撐于TO管座固定裝置底部的管座三軸調(diào)整組件,該管座三軸調(diào)整組件包括調(diào)整基板、分別設(shè)置于調(diào)整基板上的X軸調(diào)試儀、Y軸調(diào)試儀及Z軸調(diào)試儀;所述測(cè)力部包括設(shè)置于第一連接板上的測(cè)力部固定座、及依次設(shè)置于測(cè)力部固定座上的推力裝置、第二連接板與數(shù)顯測(cè)力計(jì),在該第二連接板的上端面及數(shù)顯測(cè)力計(jì)的前端設(shè)有測(cè)試臂水平支撐組件,該測(cè)試臂水平支撐組件上設(shè)置有一測(cè)試針。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述TO管座固定裝置包括連接架、管座壓板軌道、分別設(shè)置于連接架前后兩端的前擋板與后擋板,其中,該連接架與后擋板之間設(shè)有一扳手,該連接架與前擋板之間設(shè)有一管座定位座與一管座端面壓板,且在該連接架、管座定位座與管座端面壓板上均開(kāi)設(shè)有通孔,所述管座壓板軌道依次貫穿于連接架、管座定位座與管座端面壓板的通孔中,同時(shí),在該連接架中且在管座壓板軌道上下端分別設(shè)置有定位銷(xiāo)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述測(cè)試針的前端設(shè)置于管座端面壓板上。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述定位銷(xiāo)與管座壓板軌道垂直。5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述顯微鏡組件包括顯微鏡支桿、設(shè)置于顯微鏡支桿上的顯微鏡安裝座、及安裝于顯微鏡安裝座上的顯微鏡。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述推力裝置包括一推力基板、及連接于推力基板側(cè)邊的推力手臂。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述第一墊塊組由平行設(shè)置的若干第一墊塊組成。8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述推力裝置與第二連接板之間還設(shè)有第二墊塊組。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的鐳射二極管推力測(cè)試儀,其特征在于,所述第二墊塊組由平行設(shè)置的若干第二墊塊組成。
【文檔編號(hào)】G01L5/00GK205483356SQ201620042763
【公開(kāi)日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2016年1月14日
【發(fā)明人】王敏
【申請(qǐng)人】廣東瑞谷光纖通信有限公司
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