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脈沖x射線能譜測量裝置的制造方法

文檔序號:10406277閱讀:507來源:國知局
脈沖x射線能譜測量裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種X射線能譜測量裝置,具體涉及一種適用于平均能量80?120keV的脈沖硬X射線能譜測量裝置。
【背景技術】
[0002]X射線能譜對于X射線源的研制、發(fā)展及應用研究具有重要的意義,重點應用在核物理的研究及與放射性同位素相關的工業(yè)、農業(yè)、醫(yī)療等諸多領域。近幾十年來,在脈沖功率技術領域,國內外對X射線能譜測量有著比較深入的研究,特別是以吸收法、熒光法、康普頓散射法及透射系數(shù)法等測量原理為代表的測量系統(tǒng)種類繁多,測量手段豐富,在多個能段都有較大的進展。
[0003]2004年,中國工程物理研究院流體物理研究所設計了基于X光感光底片的螺旋楔形測量裝置,給出了最高能量為12MeV的射線能譜,這種方式可以測量MeV級的射線能譜,無法測量較低能量范圍的X光;2010年,西北核技術研究所設計了基于電流型S1-PIN探測器的能譜儀,給出了最高能量為1.4MeV的射線能譜,平均能量約700keV,光子能量同樣偏高??梢姡趪鴥葘τ诿}沖寬度為幾十ns、最高能量600keV、平均能量80?120keV的脈沖X射線的能譜測量,由于受脈沖硬X射線源發(fā)展等諸多因素的限制,至今沒有一套適用于該能段范圍內的X射線能譜測量裝置。所以,迫切需要設計一套用于該能段的脈沖X射線能譜測量裝置,以適應脈沖硬X射線束流診斷技術發(fā)展的需求。

【發(fā)明內容】

[0004]本實用新型的目的是提供一種脈沖X射線能譜測量裝置,解決了對低能量段脈沖X射線能譜進行測量的技術問題。
[0005]本實用新型的技術解決方案是:所提供的脈沖X射線能譜測量裝置包括多個呈陣列排布的準直器,每個準直器內部均安裝有吸收片、隔離套筒和探測器;吸收片位于準直器一端,吸收片的接收端面朝向X射線入射方向,吸收片的出射端面朝向探測器;探測器位于準直器的另一端,與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連;隔離套筒位于吸收片和探測器之間。該裝置適用于測量平均能量為80?120keV的脈沖X射線。
[0006]上述探測器設置有兩個數(shù)據(jù)接口;其中,接口一與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連,用于信號引出;接口二與供電電源相連,用于直流電壓的引入。
[0007]上述探測器通過數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連;所述數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)包括電纜座、同軸電纜和數(shù)據(jù)轉接口,可以滿足與各種數(shù)據(jù)采集設備的連接使用。
[0008]上述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)包括示波器、計算機和軟件,其中軟件為Matlab程序編寫而成,用于數(shù)據(jù)的處理和能譜的求解。
[0009]上述探測器為電流型S1-PIN探測器,體積小、使用方便、適合做成陣列。
[0010]上述準直器由鉛制成;吸收片由銅和鋁制成;隔離套筒由銅制成。準直器和隔離套筒為圓筒狀,吸收片和探測器為圓柱狀,生產加工方便,有效工作面積大。
[0011]上述準直器為12個,呈3X4的二維陣列均勻排布??梢跃毜胤磻庾拥哪茏V分布,同時結構緊湊,體積小,便于攜帶。
[0012]上述吸收片的厚度為I?12mm;所述隔離套筒的厚度為I?30mm。二者厚度相配合可以把散射比例控制在5%以內
[0013]本實用新型的優(yōu)點在于:
[0014](I)本實用新型在充分考慮脈沖硬X射線在物質中的衰減規(guī)律的基礎上,采用12路PIN探測器按照二維均布結構組成探測陣列,具有極強的測量針對性,能夠更精細地測量出脈沖硬X射線能段的光子能量分布信息。
[0015](2)本實用新型公布的能譜測試裝置體積小,配合便捷高效的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和計算軟件,達到了操作簡單、針對性強、能量分辨率高、便攜式強等有益效果。
【附圖說明】
[0016]圖1為本實用新型較佳實施例的單個準直器的連接示意圖;
[0017]圖2為本實用新型實驗測得的脈沖X射線能譜結果。
【具體實施方式】
[0018]本實用新型的工作原理是:脈沖X射線經過不同材料、不同厚度的吸收片時,滿足指數(shù)衰減規(guī)律,會形成不同程度的衰減,衰減后的X射線入射到PIN探測器陣列的靈敏層上,產生電子-空穴對,這些電子-空穴對在外加電場的作用下分別向探測器的兩級漂移,形成電流,從而產生輸出信號,經過傳輸系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)被記錄下來。利用這些信號結合吸收片的衰減系數(shù)和探測器的能量響應,可以計算得到脈沖硬X射線的能譜。
[0019]本實用新型較佳實施例包括多路呈陣列排布的準直器,每路準直器里面均依次嵌套著吸收片、隔離套筒和PIN探測器。其作用是限制光的來源,防止射線的互相串擾,增加信噪比。
[0020]參見圖1,本實用新型較佳實施例的準直器的連接方式為:沿射線的入射方向依次設置吸收片、隔離套筒和探測器;吸收片位于準直器一端,吸收片的接收端面朝向X射線入射方向,吸收片的出射端面朝向探測器;探測器位于準直器的另一端,與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連;隔離套筒位于吸收片和探測器之間。
[0021]準直器呈圓柱筒狀,使用鉛材料制作而成。由于鉛的密度較大,可以限制光的來源,而且可以防止探測器之間的信號互相串擾。
[0022]吸收片是由銅或者鋁材料制作而成的圓柱體,其截面積稍大于探測器的面積,厚度視光源的強度和能譜儀與光源的距離而定,作用是使入射的脈沖硬X射線產生不同程度的衰減。
[0023]隔離套筒放置在吸收片和探測器之間,用于控制光子散射比例,其長度與吸收片的厚度相對應。
[0024]探測器是能譜儀的核心部件,用于探測經吸收片透射的X射線,探測器的尾部均有2個數(shù)據(jù)接口,一個與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連用于信號引出,另一個與供電電源相連用于直流電壓的引入。更多的探測器個數(shù)可以更精細地反應光子的能譜分布。
[0025]準直器中心、吸收片的中心、探測器的中心的連線垂直于探測器的表面,與射線入射方向重合。
[0026]本實用新型較為優(yōu)選的設計參數(shù)為:
[0027]整體呈長方體結構,長141mm,寬131mm,高100mm,包括12路呈陣列排布的準直器,陣列在二維方向上行數(shù)4列數(shù)3,準直器相互間距34mm。
[0028]準直器呈圓柱筒狀,內徑29mm,由鉛材料制成。
[0029]12個吸收片均呈圓柱形,直徑29mm,由銅或者鋁材料制成;其中,銅的厚度分別為Imm、2mm、3mm、4mm、5mm、7mm、8mm、I Omm 和 12mm,招的厚度分另 Ij 為3mm、7mm 和 I Imm。
[0030]隔離套筒采用銅材料,套筒的外徑為29mm,內徑為27mm,目的是使吸收片和探測器拉開一定距離,減少散射比例,增加信噪比。其厚度依據(jù)吸收片的厚度理論計算得到,把散射控制在5%以內,每一種厚度的吸收片均對應一定長度的隔離套筒。隔離套筒的長度(SP吸收片與探測器間的距離)分別為 1mm、2mm、4mm、6mm、8mm、10mm、20mm、30mm、30mm、30mm、30mm 和30mm o
[0031]探測器為電流型S1-PIN探測器,共12路,結構和材料參數(shù)均相同,外徑為29mm,靈敏直徑為10臟,靈敏厚度為50(^111。
[0032]供電電源為直流電源,市電接入,輸出為直流300V,用于給PIN探測器供電,產生外加電場,使入射光子激發(fā)的電子-空穴對向探測器的兩級漂移,產生輸出信號。
[0033]實驗過程中,脈沖X射線源發(fā)射光子,垂直照射到能譜測量裝置上,光子強度經吸收片衰減之后,被12路探測器采集,經由電纜線傳輸至示波器上,被信號采集系統(tǒng)所記錄,經過計算機處理后得到能譜。參見圖2,本實用新型提供的能譜測量裝置在實驗中測得的脈沖X射線能譜結果,光子最高能量600keV,平均能量82.87keV,滿足了對低能量段脈沖X射線能譜進行測量的需求。
【主權項】
1.一種脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:包括多個呈陣列排布的準直器,每個準直器內部均安裝有吸收片、隔離套筒和探測器; 所述吸收片位于準直器一端,吸收片的接收端面朝向X射線入射方向,吸收片的出射端面朝向探測器; 所述探測器位于準直器的另一端,與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連; 所述隔離套筒位于吸收片和探測器之間。2.根據(jù)權利要求1所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述探測器設置有兩個數(shù)據(jù)接口;其中,接口 一與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連,接口 二與供電電源相連。3.根據(jù)權利要求1或2所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述探測器通過數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連;所述數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)包括電纜座、同軸電纜和數(shù)據(jù)轉接口。4.根據(jù)權利要求3所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)包括示波器、計算機和軟件。5.根據(jù)權利要求4所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述探測器為電流型S1-PIN探測器。6.根據(jù)權利要求5所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述準直器由鉛制成;所述吸收片由銅或者鋁制成;所述隔離套筒由銅制成。7.根據(jù)權利要求6所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述準直器和隔離套筒為圓筒狀,所述吸收片和探測器為圓柱狀。8.根據(jù)權利要求7所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述準直器為12個,呈3 X 4的二維陣列均勻排布。9.根據(jù)權利要求8所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述吸收片的厚度為I?12mm;所述隔離套筒的厚度為I?30_。10.根據(jù)權利要求8所述的脈沖X射線能譜測量裝置,其特征在于:所述探測器的靈敏直徑為10臟,靈敏厚度為50(^111。
【專利摘要】本實用新型涉及一種X射線能譜測量裝置,包括多個呈陣列排布的準直器,每個準直器內部均安裝有吸收片、隔離套筒和探測器;吸收片位于準直器一端,吸收片的接收端面朝向X射線入射方向,吸收片的出射端面朝向探測器;探測器位于準直器的另一端,與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連;隔離套筒位于吸收片和探測器之間。本實用新型適用于平均能量80~120keV的脈沖硬X射線能譜測量,解決了對低能量段脈沖X射線能譜進行測量的技術問題。本實用新型在充分考慮脈沖硬X射線在物質中的衰減規(guī)律的基礎上,采用12路PIN探測器按照二維均布結構組成探測陣列,具有極強的測量針對性,能夠更精細地測量出脈沖硬X射線能段的光子能量分布信息。
【IPC分類】G01T1/36
【公開號】CN205317952
【申請?zhí)枴緾N201521020001
【發(fā)明人】蘇兆鋒, 來定國, 邱孟通, 任書慶
【申請人】西北核技術研究所
【公開日】2016年6月15日
【申請日】2015年12月9日
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