一種軸類檢測工具的靈敏度校準平臺的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及軸類檢測輔助裝置，尤其是指一種軸類檢測工具的靈敏度校準平臺O
【背景技術】
[0002]在許多領域中應用到的軸類工件在加工完成后都需要采用軸類檢測工具對軸類工件進行超聲波檢測?，F(xiàn)有的軸類檢測工具包括掃查裝置和探頭，其中掃查裝置為通用儀器，而探頭則是根據(jù)不同的軸類工件的工況選用對應的探頭，并將選定的探頭安裝于掃查裝置上，來對軸類工件進行掃查檢測。
[0003]通常在對軸類工件進行超聲波檢測之前，都需要對軸類檢測工具進行靈敏度校準，通過校準設定使軸類檢測工具達到檢測要求的靈敏度。目前，軸類檢測工具的靈敏度校準通常是將試塊放置在工作臺上，工作人員手持探頭在試塊上移動掃查，來檢測探頭的靈敏度并進行靈敏度的校準。
[0004]但是，在手持探頭進行標定靈敏度的過程中，由于手持探頭進行掃查時對探頭施加的壓力與掃查裝置掃查過程中對探頭施加的壓力會有偏差，而壓力不同則耦合狀況不同，導致靈敏度會有所變化；另外掃查裝置在軸類工件的正上方、側面、正下方等位置時由于自身重力的影響導致對軸類工件施加的壓力也有所不同，如果僅僅是使用手動的方法進行靈敏度校準，那么在使用掃查裝置時，實際檢測靈敏度會有較大的起伏。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本實用新型的目的是提供一種能降低人為因素及軸類檢測工具本身的重力對探頭的靈敏度校準造成影響的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺。
[0006]為達到上述目的，本實用新型提供了一種軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，用于承載被檢測的試塊，其特征在于，所述軸類檢測工具的靈敏度校準平臺包括支架和橫向設置在所述支架上的圓筒，所述圓筒與所述支架鉸接，所述圓筒的外壁上設有至少一個能容納所述試塊的容置部，所述容置部的深度等于所述試塊的厚度，所述圓筒的外壁與所述試塊的外表面具有相同的曲率。
[0007]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述支架包括橫向設置的呈矩形的底部框架和分別從所述底部框架的兩端向上延伸設置的兩縱向框架，所述圓筒安裝于兩所述縱向框架之間，所述圓筒的兩端分別與兩所述縱向框架轉動連接。
[0008]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述底部框架由兩根相互平行的側邊橫桿和與兩根所述側邊橫桿垂直的兩根端部橫桿圍合而成，所述縱向框架包括兩縱桿及一頂部橫桿，每個所述縱向框架中，兩所述縱桿的下端分別連接于對應的所述端部橫桿的兩端，且兩所述縱桿的上端通過所述頂部橫桿連接，每個所述縱向框架的兩所述縱桿之間的距離由下至上逐漸變小。
[0009]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述圓筒的兩端與對應的所述縱向框架之間均通過圓筒端頭連接，所述圓筒端頭包括能拆裝的連接于所述圓筒的端部的圓盤部、以及由所述圓盤部的圓心處朝向對應的所述縱向框架延伸形成的連接軸，所述圓筒通過兩所述連接軸與兩所述縱向框架轉動連接。
[0010]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，兩所述頂部橫桿上設有能分別拆裝的軸承座，兩所述軸承座分別位于對應的所述頂部橫桿的中央，且兩所述軸承座的軸線與所述圓筒的軸線以及兩所述連接軸的軸線重合，兩所述連接軸能轉動的插入對應的所述軸承座中，并且兩所述連接軸上均旋接有能阻止所述圓筒轉動的緊固螺母。
[0011]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，兩所述頂部橫桿上分別設有供對應的所述連接軸貫穿的通孔，兩所述通孔分別位于對應的所述頂部橫桿的兩端中間，且兩所述通孔的軸線與所述圓筒的軸線以及兩所述連接軸的軸線重合，兩所述連接軸能轉動的插入對應的所述通孔中，并且兩所述連接軸上均旋接有能阻止所述圓筒轉動的緊固螺母。
[0012]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述底部框架的下方能拆裝的設有多個滾輪，多個所述滾輪均勻分布在所述底部框架的下方。
[0013]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述滾輪上設有能阻止所述滾輪轉動的定位結構。
[0014]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述試塊通過螺釘能拆裝的固定在所述圓筒上。
[0015]如上所述的軸類檢測工具的靈敏度校準平臺，其中，所述試塊上凹設有模擬缺陷結構，所述模擬缺陷結構呈圓孔狀、條形狀或環(huán)形狀。
[0016]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的優(yōu)點如下:
[0017]本實用新型通過將試塊設置在能轉動的圓筒上，可以將軸類檢測工具的掃查裝置裝卡于圓筒的上方，并轉動圓筒使圓筒的各個位置分別與安裝于掃查裝置上的探頭相對，從而使探頭能對圓筒進行全面的掃查，并根據(jù)探頭反饋的缺陷信號回波的變化量對探頭進行靈敏度校準;使用過程中不需要工作人員手持探頭，降低了人為因素對探頭靈敏度校準的影響，同時使用過程中也不需要將探頭移動至圓筒的各個方向，減少了軸類檢測工具在移動至圓筒的不同位置時重力因素對探頭靈敏度校準的不良影響。
【附圖說明】
[0018]以下附圖僅旨在于對本實用新型做示意性說明和解釋，并不限定本實用新型的范圍。其中:
[0019]圖1是本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺的立體結構示意圖；
[0020]圖2A是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第一種試塊的立體結構示意圖；
[0021]圖2B是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第一種試塊的主視圖；
[0022]圖2C是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第一種試塊的側視圖；
[0023]圖2D是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第一種試塊的仰視圖；
[0024]圖3A是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第二種試塊的立體結構示意圖；
[0025]圖3B是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第二種試塊的主視圖；
[0026]圖3C是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第二種試塊的側視圖；
[0027]圖3D是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第一種試塊的仰視圖；
[0028]圖4A是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第三種試塊的立體結構示意圖；
[0029]圖4B是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第三種試塊的主視圖；
[0030]圖4C是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第三種試塊的側視圖；
[0031]圖4D是安裝于本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺上的第三種試塊的俯視圖；
[0032]圖5是本實用新型軸類檢測工具的靈敏度校準平臺的使用狀態(tài)示意圖。
[0033]附圖標號說明:
[0034]I 支架
[0035]11 底部框架
[0036]111側邊橫桿
[0037]112端部橫桿
[0038]12 縱向框架
[0039]121 縱桿
[0040]122頂部橫桿
[0041]1221 軸承座
[0042]1222緊固螺母
[0043]13 滾輪
[0044]2 圓筒
[0045]21 圓筒端頭
[0046]211圓盤部
[0047]212連接軸
[0048]3 試塊
[0049]31