一種ic卡模擬測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及1C卡測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種1C卡模擬測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在開發(fā)讀卡器時，需要對讀卡器中的1C卡進(jìn)行讀寫訪問，以對1C卡讀卡器進(jìn)行檢測，因此需要專門的設(shè)備來模擬1C卡，目前國內(nèi)常用的該類設(shè)備基本為進(jìn)口設(shè)備，雖然功能較為齊全，但是價格昂貴，設(shè)備的市場價基本在10萬元以上，對眾多的中小企業(yè)來說是一筆巨大的開支。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種1C卡模擬測試系統(tǒng)，成本低廉、結(jié)構(gòu)簡單。
[0004]本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:一種1C卡模擬測試系統(tǒng)，包括1C卡讀卡器、1C卡仿真測試裝置、第一 PC機(jī)和第二 PC機(jī)，1C卡讀卡器包括第一單片機(jī)和1C卡座，1C卡仿真測試裝置包括第二單片機(jī)，第一 PC機(jī)通過第一單片機(jī)與1C卡座連接，1C卡座與第二單片機(jī)連接，第二單片機(jī)與第二 PC機(jī)連接。
[0005]所述1C卡仿真測試裝置還包括第一晶振電路和第二晶振電路。
[0006]所述第一晶振電路包括第一晶振、第一電容和第二電容，第一晶振的兩端分別與第二單片機(jī)的外部振蕩器輸入端和外部振蕩器輸出端連接，第一電容的第一端接地，第一電容的第二端接單片機(jī)的外部振蕩器輸入端，第二電容的第一端接地，第二電容的第二端接第二單片機(jī)的外部振蕩器輸出端。
[0007]所述第二晶振電路包括第二晶振、第三電容、第四電容、第一電阻和第二電阻，第二晶振的一端通過第一電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸入端連接，第二晶振的另一端通過第二電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸出端連接，第三電容的第一端接地，第三電容的第二端通過第一電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸入端連接，第四電容的第一端接地，第四電容的第二端通過第二電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸出端連接。
[0008]所述第二單片機(jī)的第一數(shù)據(jù)輸入輸出端與1C卡座的復(fù)位信號端連接，第二單片機(jī)的第二數(shù)據(jù)輸入輸出端與1C卡座的數(shù)據(jù)輸入輸出端連接。
[0009]所述1C卡仿真測試裝置還包括復(fù)位電路，復(fù)位電路包括第五電容、第三電阻和第一開關(guān)，第五電容的一端接第二單片機(jī)的復(fù)位端，第五電容的另一端接地，第三電阻的一端接外部電源，第三電阻的另一端接單片機(jī)的復(fù)位端，第一開關(guān)與第五電容并聯(lián)。
[0010]所述1C卡仿真測試裝置還包括USB轉(zhuǎn)串口電路，USB轉(zhuǎn)串口電路包括MIN1-USB接口、PL2303HX芯片、第四電阻、第五電阻、第六電阻、第七電阻、第六電容、第七電容、第八電容、第九電容、第十電容、第i^一電容和第三晶振。
[0011]所述MIN1-USB接口的電源端通過第四電阻接5V電源，MIN1-USB接口的接地端接地，MIN1-USB接口的D-信號端通過第五電阻與PL2303HX芯片的D-信號端連接，MIN1-USB接口的D+信號端通過第六電阻與PL2303HX芯片的D+信號端連接。
[0012]所述MIN1-USB接口的D+信號端通過第七電阻與PL2303HX芯片的電源輸出端連接，PL2303HX芯片的電源輸出端通過第六電容接地，第七電容與第六電容并聯(lián)。
[0013]所述PL2303HX芯片的USB電源端接5V電源，PL2303HX芯片的USB電源端通過第八電容與PL2303HX芯片的USB接地端連接，PL2303HX芯片的USB接地端接地。
[0014]所述第三晶振的兩端分別與PL2303HX芯片的晶振輸入端和PL2303HX芯片的晶振輸出端連接，第九電容的一端接地，第九電容的另一端接PL2303HX芯片的晶振輸入端，第十電容的一端接地，第十電容的另一端接PL2303HX芯片的晶振輸出端。
[0015]所述PL2303HX芯片的RS232電源端接3.3V電源，PL2303HX芯片的RS232接地端接地，PL2303HX芯片的RS232電源端通過第^^一電容與PL2303HX芯片的RS232接地端連接。
[0016]所述PL2303HX芯片的串口數(shù)據(jù)輸入端與第二單片機(jī)的第三數(shù)據(jù)輸入輸出端連接，PL2303HX芯片的串口數(shù)據(jù)輸出端與單片機(jī)的第四數(shù)據(jù)輸入輸出端連接。
[0017]所述1C卡仿真測試裝置還包括多個狀態(tài)顯示電路，狀態(tài)顯示電路包括發(fā)光二極管和第八電阻，發(fā)光二極管的陰極接地，發(fā)光二極管的陽極通過第八電阻與第二單片機(jī)的第五數(shù)據(jù)輸入輸出端口連接。
[0018]所述第一單片機(jī)和第二單片機(jī)均為STM32系列單片機(jī)。
[0019]本實(shí)用新型的有益效果是:
[0020](1)本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，價格便宜，特別適用于眾多的中小企業(yè)；
[0021](2)本實(shí)用新型中通過USB轉(zhuǎn)串口電路，使得1C卡仿真測試裝置能夠連接到PC機(jī)上；
[0022](3)本實(shí)用新型中設(shè)有狀態(tài)指示電路，能夠顯示1C卡仿真測試裝置的不同測試結(jié)果，便于操作者直觀的了解測試結(jié)果。
【附圖說明】
[0023]圖1為本實(shí)用新型一種1C卡模擬測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；
[0024]圖2為本實(shí)用新型中1C卡仿真測試裝置的電路圖；
[0025]圖3為本實(shí)用新型中USB轉(zhuǎn)串口電路的電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本實(shí)用新型的技術(shù)方案，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不局限于以下所述。
[0027]如圖1、圖2和圖3所示，一種1C卡模擬測試系統(tǒng)，包括1C卡讀卡器、1C卡仿真測試裝置、第一 PC機(jī)和第二 PC機(jī)，1C卡讀卡器包括第一單片機(jī)和1C卡座，1C卡仿真測試裝置包括第二單片機(jī)，第一 PC機(jī)通過第一單片機(jī)與1C卡座連接，1C卡座與第二單片機(jī)連接，第二單片機(jī)與第二PC機(jī)連接。
[0028]所述1C卡仿真測試裝置還包括第一晶振電路和第二晶振電路。
[0029]所述第一晶振電路包括第一晶振、第一電容和第二電容，第一晶振的兩端分別與第二單片機(jī)的外部振蕩器輸入端和外部振蕩器輸出端連接，第一電容的第一端接地，第一電容的第二端接單片機(jī)的外部振蕩器輸入端，第二電容的第一端接地，第二電容的第二端接第二單片機(jī)的外部振蕩器輸出端。
[0030]所述第二晶振電路包括第二晶振、第三電容、第四電容、第一電阻和第二電阻，第二晶振的一端通過第一電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸入端連接，第二晶振的另一端通過第二電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸出端連接，第三電容的第一端接地，第三電容的第二端通過第一電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸入端連接，第四電容的第一端接地，第四電容的第二端通過第二電阻與第二單片機(jī)的LSE振蕩器輸出端連接。
[0031]所述第二單片機(jī)的第一數(shù)據(jù)輸入輸出端與1C卡座的復(fù)位信號端連接，第二單片機(jī)的第二數(shù)據(jù)輸入輸出端與1C卡座的數(shù)據(jù)輸入輸出端連接。
[0032]所述1C卡仿真測試裝置還包括復(fù)位電路，復(fù)位電路包括第五電容、第三電阻和第一開關(guān)，第五電容的一端接第二單片機(jī)的復(fù)位端，