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超聲波衍射時(shí)差法掃查架的制作方法

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超聲波衍射時(shí)差法掃查架的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及超聲波無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種超聲波衍射時(shí)差法掃查架。
【背景技術(shù)】
[0002]T0FD(Time Of Flight Diffract1n,超聲波衍射時(shí)差法),是一種依靠從待檢試件內(nèi)部結(jié)構(gòu)(主要是指缺陷)的“端角”和“端點(diǎn)”處得到的衍射能量來(lái)檢測(cè)缺陷的方法,用于缺陷的檢測(cè)、定量和定位。
[0003]T(FD技術(shù)采用一發(fā)一收兩個(gè)寬帶窄脈沖探頭進(jìn)行檢測(cè),探頭相對(duì)于焊縫中心線對(duì)稱布置。發(fā)射探頭產(chǎn)生非聚焦縱波波束以一定角度入射到被檢工件中,其中部分波束沿近表面?zhèn)鞑ケ唤邮仗筋^接收,部分波束經(jīng)底面反射后被探頭接收。接收探頭通過(guò)接收缺陷尖端的衍射信號(hào)及其時(shí)差來(lái)確定缺陷的位置和自身高度。
[0004]在操作過(guò)程中,關(guān)鍵點(diǎn)是通過(guò)所檢測(cè)工件厚度計(jì)算出兩個(gè)探頭之間的距離,保證在檢測(cè)過(guò)程中兩個(gè)探頭始終處于同一水平線上并保持距離不變。所以T(FD檢測(cè)的主要裝置是掃查架。
[0005]傳統(tǒng)的掃查架只考慮到了平板焊縫的檢驗(yàn),其結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大大并且沉重,在電廠現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)管道時(shí)使用極其不方便。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]本實(shí)用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,輕便,且使用方便的超聲波衍射時(shí)差法掃查架。
[0007]為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型提供了一種超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其包括主架條,所述主架條的兩端分別設(shè)有第一扣合部;兩探頭架條,每個(gè)所述探頭架條的一端設(shè)有第二扣合部,其另一端設(shè)有探頭固定部;兩所述探頭架條的第二扣合部分別與所述主架條兩端的所述第一扣合部緊扣配合。
[0008]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,在所述第一扣合部的中央設(shè)有第一螺紋通孔,在所述第二扣合部對(duì)應(yīng)所述第一螺紋通孔處設(shè)置有第二螺紋通孔,一螺栓貫穿所述第一螺紋通孔和所述第二螺紋通孔并與所述第一螺紋通孔和所述第二螺紋通孔螺紋配合。
[0009]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,兩所述第一扣合部分別為設(shè)置在所述主架條兩端的凹臺(tái),所述第二扣合部為設(shè)置在所述探頭架條一端的凸柱,或者,兩所述第一扣合部分別為設(shè)置在所述主架條兩端的凸柱,所述第二扣合部為設(shè)置在所述探頭架條一端的凹臺(tái)。
[0010]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,所述探頭架條一端的兩側(cè)對(duì)稱設(shè)有兩個(gè)所述第二扣合部。
[0011]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,兩所述第一扣合部位于所述主架條的同一側(cè)。
[0012]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,所述凸柱為圓柱或者棱柱。
[0013]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,所述凹臺(tái)為在呈圓柱狀或者棱柱狀的凸臺(tái)的上表面開(kāi)設(shè)凹槽形成。
[0014]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,所述超聲波衍射時(shí)差法掃查架還包括:連接架條,沿所述連接架條的長(zhǎng)度方向,在所述連接架條的中部開(kāi)設(shè)有用于連接探頭的安裝孔。
[0015]如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,所述主架條包括:第一連接條、中間連接條和第二連接條,所述第一連接條的一端和所述第二連接條的一端分別能轉(zhuǎn)動(dòng)的連接在所述中間連接條的兩端,所述第一連接條的另一端和所述第二連接條的另一端均設(shè)有所述第一扣合部。如上所述的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其中,所述探頭固定部為呈半工字形結(jié)構(gòu)的插槽,所述插槽的開(kāi)口朝向所述探頭架條的外側(cè),在所述插槽結(jié)構(gòu)相對(duì)的兩個(gè)槽壁上對(duì)稱設(shè)有兩個(gè)第三螺紋孔。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)如下:
[0017]本實(shí)用新型提供的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,在對(duì)較薄待測(cè)工件的進(jìn)行檢測(cè)時(shí),僅需在主架條的兩端分別一連接探頭架條,然后在兩探頭架條的探頭固定部分別連接一探頭,即可滿足使用需求,而在對(duì)檢測(cè)較厚工件進(jìn)行檢測(cè)時(shí),只需在原有結(jié)構(gòu)上,利用連接架條將同一側(cè)相鄰的兩個(gè)探頭與安裝孔相連接,構(gòu)成安裝有四個(gè)探頭的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,即可滿足使用需求,與現(xiàn)有技術(shù)使用的結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大并且沉重的掃查架相比,本實(shí)用新型提供的超聲波衍射時(shí)差法掃查架在滿足了檢測(cè)的必要需求的前提下,使用了更少的零部件,從而使其具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、輕便、便于攜帶、使用方便等優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0018]以下附圖僅旨在于對(duì)本實(shí)用新型做示意性說(shuō)明和解釋,并不限定本實(shí)用新型的范圍。其中:
[0019]圖1是根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例提供的超聲波衍射時(shí)差法掃查架的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0020]圖2是圖1所示的超聲波衍射時(shí)差法掃查架中主架條的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0021]圖3是圖2所示的主架條的側(cè)視圖;
[0022]圖4是圖1所示的超聲波衍射時(shí)差法掃查架中探頭架條的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0023]圖5是圖4所示的探頭架條的側(cè)視圖;
[0024]圖6是圖1所示的超聲波衍射時(shí)差法掃查架中連接架條的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0025]圖7是圖6所示的連接架條的俯視圖;
[0026]圖8根據(jù)本實(shí)用新型另一實(shí)施例提供的超聲波衍射時(shí)差法掃查架的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]附圖標(biāo)號(hào)說(shuō)明:
[0028]1-主架條;11-第一扣合部;111-第一螺紋通孔;12-第一連接條;13-中間連接條;14-第二連接條;2-探頭架條;21-第二扣合部;211-第二螺紋通孔;22-探頭固定部,221-第三螺紋孔;3-連接架條;31-安裝孔。
【具體實(shí)施方式】
[0029]為了對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案、目的和效果有更清楚的理解,現(xiàn)結(jié)合【附圖說(shuō)明】本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】。
[0030]如圖1所示,本實(shí)用新型提供的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,其包括:主架條1和兩探頭架條2,其中,主架條1的兩端分別設(shè)有第一扣合部11;每個(gè)探頭架條2的一端設(shè)有第二扣合部21,探頭架條2的另一端設(shè)有探頭固定部22;在使用時(shí),先將兩探頭架條2的第二扣合部21分別與主架條1兩端的第一扣合部11緊扣配合,再將兩探頭分別連接在兩探頭固定部22上,然后推動(dòng)主架條1帶動(dòng)探頭架條2及固定在探頭架條2上的探頭同時(shí)移動(dòng)即可,在使用完畢后,可先將探頭從探頭架條2上拆下,在將探頭架條2從主架條1上拆卸下來(lái)即可,從而使得該超聲波衍射時(shí)差法掃查架的攜帶變得簡(jiǎn)單方便;與現(xiàn)有技術(shù)使用的結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大并且沉重的掃查架相比,本實(shí)施例提供的超聲波衍射時(shí)差法掃查架,在滿足了超聲波衍射時(shí)差法檢測(cè)的必要需求的前提下,使用了更少的零部件,且主架條1與探頭架條2的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,輕便,便于攜帶、拆卸及安裝,從而使得該超聲波衍射時(shí)差法掃查架具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、輕便,便于攜帶、使用方便等優(yōu)點(diǎn)。
[0031]進(jìn)一步,為了避免在使用時(shí),因外力導(dǎo)致探頭架條3與主架條1的相對(duì)位置發(fā)生變化,或者探頭架條3松脫掉落的情況發(fā)生,如圖2所示,在第一扣合部11的中央設(shè)有第一螺紋通孔111,如圖4所示,在第二扣合部21正對(duì)第一螺紋通孔111處設(shè)置有第二螺紋通孔211,在第一扣合部11與第二扣合部21扣緊配合后,第一螺紋通孔111與第二螺紋通孔211形成一個(gè)貫通的螺紋孔,如圖1所示,一螺栓貫穿第一螺紋通孔111和第二螺紋通孔211并與第一螺紋通孔111和第二螺紋通孔211螺紋配合,將主架條1與兩連接架條3連接成一體結(jié)構(gòu),從而避免了連接架條3在隨主架條1移動(dòng)的過(guò)程中,連接架條3因晃動(dòng)或者位移或者松脫掉落而導(dǎo)致檢測(cè)信號(hào)中斷的情況發(fā)生,使得主架條1與探頭架條2之間連接的更加牢固可靠。
[0032]在本實(shí)用新型的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,第一扣合部11分別為設(shè)置在主架條1兩端的凹臺(tái),第二扣合部21為設(shè)置在探頭架條2—端的凸柱;
[0033]或者,第一扣合部11分別為設(shè)置在主架條1兩端的凸柱,第二扣合部21為設(shè)置在探頭架條2—端的凹臺(tái)。
[0034]探頭架條2通過(guò)凸柱與凹臺(tái)的過(guò)盈配合與主架條1連接為一體結(jié)構(gòu),此外,凸柱和凹臺(tái)的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,易加工,從而使得超聲波衍射時(shí)差法掃查架的組裝及拆卸變得簡(jiǎn)單方便。
[0035]在本實(shí)用新型的一個(gè)具體實(shí)施例中,如圖5所示,探頭架條2—端的兩側(cè)對(duì)稱設(shè)有兩個(gè)第二扣合部21,使得探頭架條2的兩側(cè)均可與主架條1相連接,從而使得探頭架條2的安裝簡(jiǎn)單方便,進(jìn)而超聲波衍射時(shí)差法掃查架的裝配操作簡(jiǎn)單方便。
[0036]進(jìn)一步,為了使得超聲波衍射時(shí)差法掃查架的組裝更加簡(jiǎn)單,將兩第一扣合部11設(shè)置在主架條1的同一側(cè),使得兩探頭架條連接在主架條的同一側(cè),這樣,在安裝探頭時(shí),無(wú)需通過(guò)其他部件調(diào)整探頭位置即可保證兩探頭的高度大致相同,從而使得超聲波衍射時(shí)差法掃查架的裝配操作更加簡(jiǎn)單方便。
[0037]再進(jìn)一步,凸柱為圓柱或者棱柱,凹臺(tái)為在呈圓柱狀或者棱柱狀的凸臺(tái)的上表面開(kāi)設(shè)凹槽形成,且凹槽的橫截面形狀與凸柱的橫截面形狀相同,其中,在如圖2、圖3、圖4和圖5所示的實(shí)施例中,凸柱均為圓柱,且主架條1的兩端與探頭架條2的一端均設(shè)有呈圓形的凸臺(tái),這樣的形狀,既便于調(diào)整探頭架條2與主架條1之間的相對(duì)的角度,從而可以調(diào)整兩探頭之間的距離,使得該超聲波衍射時(shí)差法掃查架的使用更加靈活,又避免了在裝配時(shí)因主架條1和探頭架條2的端部的棱角劃
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