一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請涉及一種鐵氧體電感測試裝置，特別是一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]2010年12月29日公布的申請?zhí)枮?01020140997.8號的中國實用新型專利，該專利公開了一種磁環(huán)測試裝置。該測試裝置包括上蓋板、下蓋板和兩個防護皮套，所述上蓋板上沿同一圓心不同半徑的兩個圓周方向設(shè)置有多個插針，下蓋板上設(shè)置有與插針相配合的若干個插槽，每個外圈插針和內(nèi)圈插針通過設(shè)置在插針根部的導(dǎo)線連接，相對應(yīng)的兩個插槽根部也用導(dǎo)線連接，形成一個完整的單根通路。
[0003]上述測試裝置確實解決了同一種磁環(huán)繞線測試困難的技術(shù)問題，帶來了有益的技術(shù)效果，但也存在著如下不足:
[0004]每次測試前，需要操作人員將帶有插針的上蓋與帶有插槽的下蓋進行配合，而插針和插槽數(shù)量多，每個都準確配合，需要較長時間，測試效率低下，另外，還需出現(xiàn)個別插針與插槽配合不良的現(xiàn)象，導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準確。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本申請要解決的技術(shù)問題是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，而提供一種自動化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進行配合，測試效率高且通用性強的能通用的磁環(huán)電感測試裝置。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本申請采用的技術(shù)方案是:
[0007]一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置，包括一個多分度回轉(zhuǎn)盤和一套磁環(huán)電感測試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向均勻設(shè)置有若干個通孔，每個通孔內(nèi)均固定設(shè)置有一個用于支撐待測磁環(huán)的支撐盤，每個支撐盤均設(shè)置有兩圈徑向滑移孔，且兩圈徑向滑移孔沿同一圓心不同半徑的兩個圓周方向設(shè)置；所述磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤其中一個通孔的正上方，下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤的下方；上蓋的下表面和下蓋的上表面均以圓心為中心，沿半徑方向呈輻射狀設(shè)置有若干根絕緣輻射筋；其中，上蓋的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根通過導(dǎo)線相連接的插針，下蓋的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根通過導(dǎo)線相連接的固定柱；當上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，所述插針能從相應(yīng)的徑向滑移孔中穿出，并與相應(yīng)的固定柱相接觸配合。
[0008]所述多分度回轉(zhuǎn)盤為8分度回轉(zhuǎn)盤，所述通孔有8個。
[0009]所述多分度回轉(zhuǎn)盤分別與分度器和電機相連接。
[0010]本申請采用上述結(jié)構(gòu)后，自動化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進行配合，測試效率高且通用性強。
【附圖說明】
[0011]圖1是本申請一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖2顯示了當插針穿過徑向滑移孔時，支撐盤的放大結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]其中有:1.多分度回轉(zhuǎn)盤；2.通孔；21.支撐盤；22.徑向滑移孔；3.上蓋；32.插針;4.下蓋；41.固定柱。
【具體實施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖和具體較佳實施方式對本申請作進一步詳細的說明。
[0015]如圖1所示，一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置，包括一個多分度回轉(zhuǎn)盤I和一套磁環(huán)電感測試裝置。
[0016]多分度回轉(zhuǎn)盤I沿周向均勻設(shè)置有若干個通孔2，每個通孔2內(nèi)均固定設(shè)置有一個用于支撐待測磁環(huán)的支撐盤21。
[0017]如圖2所示，每個支撐盤21均設(shè)置有兩圈徑向滑移孔22，且兩圈徑向滑移孔22沿同一圓心不同半徑的兩個圓周方向設(shè)置。
[0018]磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋3和下蓋4。
[0019]上蓋3位于多分度回轉(zhuǎn)盤I其中一個通孔2的正上方，下蓋4位于多分度回轉(zhuǎn)盤I的下方。
[0020]上蓋3的下表面和下蓋4的上表面均以圓心為中心，沿半徑方向呈輻射狀設(shè)置有若干根絕緣輻射筋；其中，上蓋3的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根通過導(dǎo)線相連接的插針32，下蓋4的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根通過導(dǎo)線相連接的固定柱41。
[0021]上述插針32和固定柱41均能沿著相應(yīng)的絕緣輻射筋進行滑動并鎖緊，且徑向滑移孔22沿徑向設(shè)置，當插針32滑移調(diào)節(jié)后，仍能從徑向滑移孔22中穿出，如圖2所示，從而能適應(yīng)不同直徑的待測磁環(huán)，通用性強。
[0022]當上蓋3的高度下降和下蓋4的高度上升后，所有插針32能從相應(yīng)的徑向滑移孔22中穿出，并與相應(yīng)的固定柱41相接觸配合，進行電感測試與分選。
[0023]進一步，上述多分度回轉(zhuǎn)盤I為8分度回轉(zhuǎn)盤，通孔2優(yōu)選有8個。
[0024]進一步，多分度回轉(zhuǎn)盤I分別與分度器和電機相連接。
[0025]以上所述，僅為本申請較佳的【具體實施方式】，但本申請的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本申請揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本申請的保護范圍之內(nèi)。因此，本申請的保護范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護范圍為準。
【主權(quán)項】
1.一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置，其特征在于:包括一個多分度回轉(zhuǎn)盤和一套磁環(huán)電感測試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向均勻設(shè)置有若干個通孔，每個通孔內(nèi)均固定設(shè)置有一個用于支撐待測磁環(huán)的支撐盤，每個支撐盤均設(shè)置有兩圈徑向滑移孔，且兩圈徑向滑移孔沿同一圓心不同半徑的兩個圓周方向設(shè)置；所述磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤其中一個通孔的正上方，下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤的下方；上蓋的下表面和下蓋的上表面均以圓心為中心，沿半徑方向呈輻射狀設(shè)置有若干根絕緣輻射筋；其中，上蓋的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根通過導(dǎo)線相連接的插針，下蓋的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根通過導(dǎo)線相連接的固定柱；當上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，所述插針能從相應(yīng)的徑向滑移孔中穿出，并與相應(yīng)的固定柱相接觸配合。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能通用的磁環(huán)電感測試裝置，其特征在于:所述多分度回轉(zhuǎn)盤為8分度回轉(zhuǎn)盤，所述通孔有8個。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的能通用的磁環(huán)電感測試裝置，其特征在于:所述多分度回轉(zhuǎn)盤分別與分度器和電機相連接。
【專利摘要】本申請公開了一種能通用的磁環(huán)電感測試裝置，包括多分度回轉(zhuǎn)盤和磁環(huán)電感測試裝置，多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向均勻設(shè)有若干個通孔，每個通孔內(nèi)設(shè)一個支撐盤，每個支撐盤設(shè)有兩圈不同半徑的徑向滑移孔；磁環(huán)電感測試裝置包括上蓋和下蓋；上蓋的下表面和下蓋的上表面均以圓心為中心，沿半徑方向呈輻射狀設(shè)置有若干根絕緣輻射筋；上蓋的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根插針，下蓋的每根絕緣輻射筋上均滑動連接有兩根固定柱；當上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，所述插針能從相應(yīng)的徑向滑移孔中穿出，并與相應(yīng)的固定柱相接觸配合。采用上述結(jié)構(gòu)后，自動化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進行配合，測試效率高且通用性強。
【IPC分類】G01R1/04, G01R27/26
【公開號】CN204758703
【申請?zhí)枴緾N201520410280
【發(fā)明人】李玲
【申請人】李玲
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年6月15日