一種三維磁場測試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電磁兼容測試技術(shù)領(lǐng)域，具體的講是一種三維磁場測試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]常用的磁場測試儀器大多是將待測設(shè)備防止在測試平臺(tái)上后，由掃描測試頭針對(duì)幾個(gè)固定點(diǎn)進(jìn)行掃描測試，無法對(duì)待測設(shè)備全身進(jìn)行檢測，
[0003]從而得出待測設(shè)備是否質(zhì)量合格，但是這樣的測試局限性很大，得出的檢測結(jié)果也會(huì)有較大的誤差甚至是錯(cuò)誤的數(shù)值，使得待測設(shè)備的檢測結(jié)果帶有很大的不確定性，在使用中容易出現(xiàn)損壞甚至是造成安全事故。
[0004]為此設(shè)計(jì)一種方便快速全能的磁場測試設(shè)備是十分重要的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實(shí)用新型是設(shè)計(jì)了一種方便快速全能的磁場測試設(shè)備，具體的講是一種三維磁場測試設(shè)備，包括底座，測試圈，置物臺(tái)和測試頭，其特征在于:訴述底座一的兩端分別與固定支架一的一端和固定支架二的一端相固定，固定支架一的另一端與測試圈一外緣的一側(cè)相連，固定支架二的另一端與測試圈一外緣的另一側(cè)相連，底座二的兩端也分別與固定支架三的一端、固定支架四的一端相連接，固定支架三的另一端與測試圈二外緣一側(cè)相連接，固定支架四的另一端與測試圈二外緣的另一側(cè)相連接，所述測試圈一和測試圈二的內(nèi)緣設(shè)有若干測試頭，所述底座一與底座二相互十字交叉，底座一與底座二的交叉點(diǎn)采用支架與置物臺(tái)相固定。
[0006]所述測試圈一在測試圈二的外圍。
[0007]所述測試圈一的水平直徑與測試圈二的豎直直徑呈90°交叉。
[0008]所述固定支架一、固定支架二與測試圈一相固定的位置設(shè)有旋轉(zhuǎn)頭。
[0009]所述固定支架三、固定支架四與測試圈二相固定的位置也設(shè)有旋轉(zhuǎn)頭。
[0010]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，采用了交叉的測試圈，并且在測試圈的內(nèi)部設(shè)有若干測試頭，使得被檢測的物件可以在各個(gè)角度得到全面的檢測，并且節(jié)省了檢測的時(shí)間，提尚了檢測的效率。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]參見圖1，I為底座一，2為底座二，3為固定支架一，4為固定支架二，5為固定支架三，6為固定支架四，7為測試圈一，8為測試圈二，9為置物臺(tái)，10為測試頭。
【具體實(shí)施方式】
[0013]結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
[0014]參見圖1，本實(shí)用新型設(shè)計(jì)了一種三維磁場測試設(shè)備，包括底座，測試圈，置物臺(tái)9和測試頭10，所述底座一 I的兩端分別與固定支架一 3的一端和固定支架二 4的一端相固定，固定支架一 3的另一端與測試圈一 7外緣的一側(cè)相連，固定支架二 4的另一端與測試圈一 7外緣的另一側(cè)相連，底座二 2的兩端也分別與固定支架三5的一端、固定支架四6的一端相連接，固定支架三5的另一端與測試圈二 8外緣一側(cè)相連接，固定支架四6的另一端與測試圈二 8外緣的另一側(cè)相連接，所述測試圈一 7和測試圈二8的內(nèi)緣設(shè)有若干測試頭10，所述底座一 I與底座二 2相互十字交叉，底座一 I與底座二 2的交叉點(diǎn)采用支架與置物臺(tái)9相固定。
[0015]本實(shí)用新型中測試圈一 7在測試圈二 8的外圍。
[0016]本實(shí)用新型中測試圈一 7的水平直徑與測試圈二 8的豎直直徑呈90°交叉；使得放置在置物臺(tái)9上的機(jī)械可以得到三維的磁場檢測。
[0017]本實(shí)用新型中固定支架一 3、固定支架二 4與測試圈一 7相固定的位置設(shè)有旋轉(zhuǎn)頭O
[0018]本實(shí)用新型中固定支架三5、固定支架四6與測試圈二 8相固定的位置也設(shè)有旋轉(zhuǎn)頭O
[0019]本實(shí)用新型中測試圈一 7和測試圈二 8可進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，使得置物臺(tái)9上的機(jī)械可以在各個(gè)角度得到檢測。
[0020]在具體實(shí)施中，將待檢測的機(jī)械放置在置物臺(tái)9上，在測試過程中測試圈一 7和測試圈二 8進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，對(duì)置物臺(tái)9上的機(jī)械進(jìn)行全方面的檢測。
[0021]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，采用了交叉的測試圈，并且在測試圈的內(nèi)部設(shè)有若干測試頭，使得被檢測的物件可以在各個(gè)角度得到全面的檢測，并且節(jié)省了檢測的時(shí)間，提尚了檢測的效率。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種三維磁場測試設(shè)備，包括底座，測試圈，置物臺(tái)和測試頭，其特征在于:所述底座一(I)的兩端分別與固定支架一(3)的一端和固定支架二(4)的一端相固定，固定支架一(3)的另一端與測試圈一(7)外緣的一側(cè)相連，固定支架二(4)的另一端與測試圈一(7)外緣的另一側(cè)相連，底座二(2)的兩端也分別與固定支架三(5)的一端、固定支架四(6)的一端相連接，固定支架三(5)的另一端與測試圈二(8)外緣一側(cè)相連接，固定支架四(6)的另一端與測試圈二(8)外緣的另一側(cè)相連接，所述測試圈一(7)和測試圈二(8)的內(nèi)緣設(shè)有若干測試頭(10)，所述底座一(I)與底座二(2)相互十字交叉，底座一(I)與底座二(2)的交叉點(diǎn)采用支架與置物臺(tái)(9)相固定。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維磁場測試設(shè)備，其特征在于:所述測試圈一(7)在測試圈二(8)的外圍。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維磁場測試設(shè)備，其特征在于:所述測試圈一(7)的水平直徑與測試圈二(8)的豎直直徑呈90°交叉。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維磁場測試設(shè)備，其特征在于:所述固定支架一(3)、固定支架二(4)與測試圈一(7)相固定的位置設(shè)有旋轉(zhuǎn)頭。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三維磁場測試設(shè)備，其特征在于:所述固定支架三(5)、固定支架四(6)與測試圈二(8)相固定的位置也設(shè)有旋轉(zhuǎn)頭。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及電磁兼容測試技術(shù)領(lǐng)域，具體的講是一種三維磁場測試設(shè)備，底座一的兩端分別與固定支架一的一端和固定支架二的一端相固定，固定支架一的另一端與測試圈一外緣的一側(cè)相連，固定支架二的另一端與測試圈一外緣的另一側(cè)相連，底座二的兩端也分別與固定支架三的一端、固定支架四的一端相連接，固定支架三的另一端與測試圈二外緣一側(cè)相連接，固定支架四的另一端與測試圈二外緣的另一側(cè)相連接，所述測試圈一和測試圈二的內(nèi)緣設(shè)有若干測試頭，所述底座一與底座二相互十字交叉，底座一與底座二的交叉點(diǎn)采用支架與置物臺(tái)相固定，本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，檢測效率高。
【IPC分類】G01R33/02
【公開號(hào)】CN204631232
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520272029
【發(fā)明人】楊鵬
【申請(qǐng)人】上海優(yōu)立檢測技術(shù)有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請(qǐng)日】2015年4月29日