一種基于控制器的金屬物體探測定位器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型屬于金屬探測器領(lǐng)域，尤其涉及一種基于控制器的金屬物體探測定位 器。
【背景技術(shù)】
[0002] 金屬探測器因其功能和市場應(yīng)用領(lǐng)域不同可分為通道式金屬探測器、便攜式金屬 探測器、臺式金屬探測器、工業(yè)用金屬探測器和水下金屬探測器，不論是何種探測器，都存 在結(jié)構(gòu)復(fù)雜、功耗大的問題。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003] 本實(shí)用新型實(shí)施例的目的在于提供一種基于控制器的金屬物體探測定位器，旨在 解決現(xiàn)有的金屬探測器結(jié)構(gòu)復(fù)雜、功耗大的問題。
[0004] 本實(shí)用新型是該樣實(shí)現(xiàn)的，一種基于控制器的金屬物體探測定位器包括滑軌、滑 桿、電源模塊、鍵盤模塊、控制器、步進(jìn)電機(jī)、平面掃描模塊，所述的鍵盤模塊、步進(jìn)電機(jī)、平 面掃描模塊與控制器連接，所述的滑桿安裝在滑軌上，步進(jìn)電機(jī)、控制器安裝在滑桿上，平 面掃描模塊安裝在滑桿前部，電源模塊為基于控制器的金屬物體探測定位器的各部件提供 電源。
[000引進(jìn)一步，所述的電源模塊采用輸入240V、輸出+30V、最大電流3A的電源。
[0006] 進(jìn)一步，所述的鍵盤模塊采用MSP430控制器開發(fā)板自帶的矩陣鍵盤。
[0007] 進(jìn)一步，所述的平面掃描模塊采用LDC1000型的數(shù)字轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器的SPI接口 連接控制器，該數(shù)字轉(zhuǎn)換器外接一個PCB線圈或者自制線圈W實(shí)現(xiàn)非接觸式電感檢測。
[0008] 本實(shí)用新型的金屬物體探測定位器結(jié)構(gòu)簡單，功耗低，運(yùn)算速度快，能夠快速準(zhǔn)確 的實(shí)現(xiàn)金屬物體的探測和定位。
【附圖說明】
[0009] 圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的基于控制器的金屬物體探測定位器的結(jié)構(gòu)示意 圖；
[0010] 圖中；1、滑軌；2、滑桿；3、電源模塊；4、控制器；5、步進(jìn)電機(jī)；6、平面掃描模塊；7、 透明玻璃板；
[0011] 圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LDC1000的原理電路圖；
[0012] 圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LDC1000與MCU的連接原理圖；
[0013] 圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動器的原理電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014] 為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，W下結(jié)合實(shí)施例，對本 實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用W解釋本實(shí)用 新型，并不用于限定本實(shí)用新型。本實(shí)用新型不存在方法或軟件的創(chuàng)新。
[0015] 下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對本實(shí)用新型的應(yīng)用原理作進(jìn)一步描述。
[0016] 圖1示出了本實(shí)用新型的基于控制器的金屬物體探測定位器的結(jié)構(gòu)，如圖所示， 本實(shí)用新型實(shí)施例是該樣實(shí)現(xiàn)的，一種基于控制器的金屬物體探測定位器包括滑軌1、滑桿 2、電源模塊3、鍵盤模塊、控制器4、步進(jìn)電機(jī)5、平面掃描模塊6,所述的鍵盤模塊、步進(jìn)電機(jī) 5、平面掃描模塊6與控制器4連接，所述的滑桿2安裝在滑軌上1，步進(jìn)電機(jī)5、控制器4安 裝在滑桿2上，平面掃描模塊6安裝在滑桿2前部，電源模塊3為基于控制器的金屬物體探 測定位器的各部件提供電源。
[0017] 進(jìn)一步，所述的電源模塊3采用輸入240V、輸出+30V、最大電流3A的電源。
[0018] 進(jìn)一步，所述的鍵盤模塊采用MSP430控制器開發(fā)板自帶的矩陣鍵盤。
[0019] 進(jìn)一步，所述的平面掃描模塊6采用LDC1000型的數(shù)字轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器的SPI接 口連接控制器，該數(shù)字轉(zhuǎn)換器外接一個PCB線圈或者自制線圈W實(shí)現(xiàn)非接觸式電感檢測。
[0020] 滑桿2位于透明玻璃板7上方，滑桿2遠(yuǎn)離滑軌的一端設(shè)置有滾輪，步進(jìn)電機(jī)5帶 動滑桿2在滑軌1上移動，透明玻璃板7下方放置有金屬物體。
[0021] 本實(shí)用新型實(shí)施例的金屬物體探測定位器，可探測置于玻璃板下的金屬物體并給 出定位指示：
[002引 1、在探測區(qū)域內(nèi)某處(距探測邊界> 5cm)玻璃下放置一枚直徑約19mm的鍛媒鋼 芯1角硬幣（第五套人民幣的1角硬幣）。探頭能從玻璃板一側(cè)的"探頭進(jìn)入?yún)^(qū)"一側(cè)任意 指定位置和方向自行進(jìn)入探測區(qū)(玻璃板下鐵絲框包圍區(qū)域)。通過探測，定位指針指在硬 幣邊沿之內(nèi)，且探測定位總時間應(yīng)不超過2分鐘。完成定位時給出聲-光指示，此后探頭不 得再移動。
[002引 2、將1角硬幣更換成直徑約25mm的1元硬幣（第五套人命幣），重復(fù)1的探測過程。 定位完成后，定位指針與硬幣圓也之間的定位誤差控制在5mm W內(nèi)；探測定位總時間不超 過2分鐘。完成定位時給出聲-光指示，此后探頭不得再移動。
[0024] 3、將硬幣改為自制圓鐵環(huán)(直徑為2mm鐵絲繞制)，鐵環(huán)外直徑4畑1。1的探測過程， 定位指針指向鐵環(huán)圓也，定位誤差在5mm W內(nèi)；完成定位時給出聲-光指示，此后探頭不得 再移動，探測定位總時間不超過3分鐘。
[00幼性能測試結(jié)果
[0026] (1)脈沖寬度調(diào)制檢測
[0027] 測試方法：將示波器連接控制器的P1. 2和P1. 3,觀察與測量MSP430輸出的電機(jī) 驅(qū)動信號。檢測其占空比與周期。結(jié)果見表1。
[0028] 表 1
[0029]
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種基于控制器的金屬物體探測定位器，其特征在于，所述的基于控制器的金屬物 體探測定位器包括滑軌、滑桿、電源模塊、鍵盤模塊、控制器、步進(jìn)電機(jī)、平面掃描模塊； 鍵盤模塊、步進(jìn)電機(jī)、平面掃描模塊與控制器連接，滑桿安裝在滑軌上，步進(jìn)電機(jī)、控制 器安裝在滑桿上，平面掃描模塊安裝在滑桿前部。
2. 如權(quán)利要求1所述的基于控制器的金屬物體探測定位器，其特征在于，采用輸入 240V、輸出+30V、最大電流3A的電源模塊。
3. 如權(quán)利要求1所述的基于控制器的金屬物體探測定位器，其特征在于，采用MSP430 控制器開發(fā)板自帶矩陣鍵盤的鍵盤模塊。
4. 如權(quán)利要求1所述的基于控制器的金屬物體探測定位器，其特征在于，采用LDC1000 型數(shù)字轉(zhuǎn)換器的平面掃描模塊。
5. 如權(quán)利要求4所述的基于控制器的金屬物體探測定位器，其特征在于，轉(zhuǎn)換器的SPI 接口連接控制器。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種基于控制器的金屬物體探測定位器，該基于控制器的金屬物體探測定位器包括滑軌、滑桿、電源模塊、鍵盤模塊、控制器、步進(jìn)電機(jī)、平面掃描模塊，所述的鍵盤模塊、步進(jìn)電機(jī)、平面掃描模塊與控制器連接，所述的滑桿安裝在滑軌上，步進(jìn)電機(jī)、控制器安裝在滑桿上，平面掃描模塊安裝在滑桿前部，電源模塊為基于控制器的金屬物體探測定位器的各部件提供電源。本實(shí)用新型的金屬物體探測定位器結(jié)構(gòu)簡單，功耗低，運(yùn)算速度快，能夠快速準(zhǔn)確的實(shí)現(xiàn)金屬物體的探測和定位。
【IPC分類】G01V3-11
【公開號】CN204331052
【申請?zhí)枴緾N201520005444
【發(fā)明人】張慧彪, 陳美君, 涂遠(yuǎn), 鄭靈敏, 鞠靖楠, 任露
【申請人】金陵科技學(xué)院
【公開日】2015年5月13日
【申請日】2015年1月6日