一種厚度測量系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及計量技術(shù)，特別是涉及一種厚度測量系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的厚度測量方式之一是采用X射線測厚儀，由于X射線的輸出功率和穿透力是成正比的，所以要想穿透比重密度越大的被測物質(zhì)其輸出功率也就越大，這就導(dǎo)致在一些被測物比重很大的情況下，需要使用輸出功率大的X射線才能夠穿透被測物從而有效的進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和測量。
[0003]X射線的輸出功率過大時會對操作者產(chǎn)生危害，因為長時間大劑量的X照射生物死亡率可以達(dá)到100%，但是如果為了安全降低其輸出功率(國家環(huán)保局有相關(guān)規(guī)定)則無法達(dá)到正常檢測量程的目地。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型提供一種厚度測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)既能保證被測產(chǎn)品的精度，也能降低X射線輻射。
[0005]本實用新型的技術(shù)方案為:一種厚度測量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，其中至少有I組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量裝置。各測量裝置分別對被測產(chǎn)品進(jìn)行測量。至少兩組的測量裝置按照現(xiàn)有技術(shù)的方式安裝在被測產(chǎn)品旁，各測量裝置之間不連接。各測量裝置獲得的測量數(shù)據(jù)，選取與測量裝置測量量程對應(yīng)測量數(shù)據(jù)為被測產(chǎn)品的厚度數(shù)據(jù)。
[0006]所述厚度測量系統(tǒng)具有I組X射線測量裝置。
[0007]所述非X射線測量裝置采用電磁測量裝置或激光測量裝置。
[0008]所述X射線測量裝置的輸出功率與最終產(chǎn)品的厚度相匹配。
[0009]所述厚度測量系統(tǒng)測量的被測產(chǎn)品是是在加工過程中厚度逐漸降低的產(chǎn)品。
[0010]所述X射線測量裝置包括高壓電源、X射線裝置光管和電離室，高壓電源與X射線裝置光管電連接，電離室接收X射線裝置光管發(fā)射的X射線。
[0011]所述厚度測量系統(tǒng)還包括控制器和顯示裝置，控制器根據(jù)不同測量裝置的測量范圍選取相應(yīng)落入測量范圍的測量值顯示在顯示裝置。由于X射線測量裝置的量程范圍較小，因此在加工過程中，控制器根據(jù)加工產(chǎn)品的厚度范圍確定該范圍落入哪一組測量裝置的測量范圍，從而選取該組測量裝置測量的數(shù)值進(jìn)行顯示。保證了顯示的測量數(shù)值的精度。
[0012]本實用新型采用至少2組測量裝置，其中至少I組是X射線測量裝置(X射線測量裝置是現(xiàn)有技術(shù)中用于厚度測量的X射線測量裝置，包括X光管，高壓電源以及X射線強(qiáng)度感應(yīng)器等(X射線強(qiáng)度感應(yīng)器是指電離室、固態(tài)電離室或者能夠感應(yīng)X射線強(qiáng)度的相關(guān)裝置))。由于采用了 I組X射線測量裝置，就保證了最終產(chǎn)品測量的精度，因為該組X射線測量裝置的作用是專門針對測量的厚度值以及測量的范圍比較小時，這個時候可以滿足很高的測量精度；其X射線測量裝置的工作原理就是利用X光管工作在一個固定的輸出功率下其最佳測量范圍也是相對固定的這一個特性，而本實用新型利用了該特性，只使用X射線測量裝置測量其最佳測量范圍的厚度，其輸出功率也就較小，減少了輻射，同時保證了成品的精度。而較大厚度范圍則采用其它厚度測量裝置進(jìn)行測量。本實用新型在整個產(chǎn)品加工過程，比如軋鋼過程中，既保證了最終產(chǎn)品的測量精度，也降低了 X射線測量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒有測量量程的限制，對產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。
[0013]采用本實用新型的測量厚度的系統(tǒng)，當(dāng)被測物的厚度在較大量程裝置的測量范圍時，控制器使用和顯示的是較大量程測量裝置測量獲得一組數(shù)據(jù)，當(dāng)被測物的厚度變化到較大量程裝置的測量下限但又進(jìn)入較小量程測量裝置的量程上限時，控制器使用和顯示較小量程裝置測量獲得一組數(shù)據(jù)。如果實際需要測量范圍更大可以采用更多組的測量裝置進(jìn)行多段測量已完成實際測量需求。
【附圖說明】
[0014]圖1是本實用新型實施例中的厚度測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖并以實施例的方式對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
[0016]如圖1所示，本實用新型的厚度測量系統(tǒng)包括兩組厚度測量裝置，一組由高壓電源l、x射線裝置光管2、電離室3等構(gòu)成的X射線測量裝置，高壓電源I與X射線裝置光管2電連接，電離室3接收X射線裝置光管發(fā)射的X射線.一組為電磁傳感器4和電磁傳感器5組成的電磁測量裝置，X射線測量裝置的測量量程小于電磁測量裝置的測量量程。X射線測量裝置的輸出功率與被測產(chǎn)品的最終厚度相匹配，也就是以產(chǎn)品最終厚度的范圍來確定X射線測量裝置的最佳測量量程范圍。電磁裝置也可以更換為激光裝置。兩組厚度測量裝置分別與控制器(圖中未顯示)連接，控制器讀取兩組厚度測量裝置的測量數(shù)據(jù)，根據(jù)被測產(chǎn)品的厚度選取對應(yīng)在某一測量裝置最佳測量范圍的測量裝置測量的數(shù)值顯示在顯示裝置上并用于加工程序中。
[0017]被測產(chǎn)品6在實際生產(chǎn)環(huán)節(jié)中是由厚變薄的，比如軋鋼，原料厚度達(dá)到(3.5毫米)，最終成品厚度(0.1毫米?0.5毫米)，因此本實用新型為了降低X射線測量裝置的輻射，采用了兩組測量裝置，其實際測量過程是由厚(既大量程大變化量)到薄(小量程微變化量)轉(zhuǎn)變的，首先用電磁裝置作為大量程測量使用，兩組測量裝置采用控制器來連接并控制切換，當(dāng)加工過程中被測產(chǎn)品的厚度還在一個大量程范圍時，獲取電磁裝置的測量數(shù)據(jù)并顯示厚度讀數(shù)；當(dāng)加工到被測產(chǎn)品的厚度進(jìn)入X射線測量裝置的量程范圍時，控制器獲取X射線測量裝置的測量數(shù)值并顯示顯示該厚度讀數(shù)。本實用新型能夠保證其最終被測產(chǎn)品的測量精度更高的同時而且不會受到厚度上限的影響，還大大降低了輻射強(qiáng)度即做到了超低的輻射標(biāo)準(zhǔn)又做到了不管被測物被測厚度多厚其上限是多少都不影響最終成品的測量精度。
【主權(quán)項】
1.一種厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，還包括控制器和顯示裝置，控制器分別與各組測量裝置連接，控制器與顯示器連接，控制器根據(jù)不同測量裝置的測量范圍選取相應(yīng)落入測量范圍的測量值顯示在顯示裝置上；其中至少有I組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述厚度測量系統(tǒng)具有I組X射線測量裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，非X射線測量裝置采用電磁測量裝置或激光測量裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述X射線測量裝置的輸出功率與最終產(chǎn)品的厚度相匹配。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述X射線測量裝置包括高壓電源、X射線裝置光管和電離室，高壓電源與X射線裝置光管電連接，電離室接收X射線裝置光管發(fā)射的X射線。
【專利摘要】本實用新型公開了一種厚度測量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，其中至少有1組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量裝置。本實用新型采用至少2組測量裝置，其中至少1組是X射線測量裝置，既保證了最終產(chǎn)品的測量精度，也降低了X射線測量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒有測量量程的限制，對產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。
【IPC分類】G01B7-06, G01B11-06, G01B15-02
【公開號】CN204286384
【申請?zhí)枴緾N201420615640
【發(fā)明人】趙剛
【申請人】北京市東方瀚釔科技有限公司
【公開日】2015年4月22日
【申請日】2014年10月22日