一種光耦電氣性能檢測裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例提供了一種光耦電氣性能檢測裝置，屬于自動化檢測技術(shù)領(lǐng)域。該光耦電氣性能檢測裝置包括主控模塊、觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊，所述觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊連接于所述主控模塊。其中，所述觸發(fā)模塊用于在外部操作的作用下產(chǎn)生觸發(fā)信號并發(fā)送給所述主控模塊；所述主控模塊用于根據(jù)接收到的所述觸發(fā)信號控制所述光耦測試模塊進(jìn)行測試；所述光耦測試模塊用于檢測被測光耦的電氣性能參數(shù)，并將檢測到的電氣性能參數(shù)發(fā)送給所述顯示模塊進(jìn)行顯示。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)對光耦的自動化測試，以及有效提高測試的準(zhǔn)確性和效率。
【專利說明】
一種光耦電氣性能檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及自動化檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種光耦電氣性能檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]光耦是以光為媒介來傳輸電信號的器件，廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路中，光耦主要分為發(fā)光器和受光器。當(dāng)輸入端加電信號時發(fā)光器發(fā)出光線，受光器接收光線之后則產(chǎn)生光電流，并從接收端流出，從而實(shí)現(xiàn)“電-光-電”的轉(zhuǎn)換。目前對于光耦電氣性能的檢測至關(guān)重要。
[0003]在現(xiàn)有技術(shù)的實(shí)施過程中，至少面臨以下問題:光耦的電氣性能指標(biāo)只能逐個手動檢測，不能一次性將所有電氣性能指標(biāo)檢測完成;在逐個檢測時，需要人為手動去調(diào)節(jié)輸入電壓以達(dá)到檢測條件，存在著人為誤差;一個光耦在完成一套電氣性能指標(biāo)的檢測需要耗費(fèi)的時長在五分鐘以上，效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供了一種光耦電氣性能檢測裝置，旨在實(shí)現(xiàn)對光耦的自動化測試，以及有效提高測試的準(zhǔn)確性和效率。
[0005]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光耦電氣性能檢測裝置，包括主控模塊、觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊，所述觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊連接于所述主控模塊；
[0006]其中，所述觸發(fā)模塊用于在外部操作的作用下產(chǎn)生觸發(fā)信號并發(fā)送給所述主控模塊；
[0007]所述主控模塊用于根據(jù)接收到的所述觸發(fā)信號控制所述光耦測試模塊進(jìn)行測試；
[0008]所述光耦測試模塊用于檢測被測光耦的電氣性能參數(shù)，并將檢測到的電氣性能參數(shù)發(fā)送給所述顯示模塊進(jìn)行顯示;其中，所述光耦測試模塊包括電壓正向輸出電路、反向漏電流輸出電路、接收電流采樣電路和恒流源電路，所述電壓正向輸出電路、反向漏電流輸出電路、接收電流采樣電路和恒流源電路分別連接于所述主控模塊和被測光耦;所述電氣性能參數(shù)包括所述被測光耦的正向壓降、飽和壓降、反向電流、接收電流和反向擊穿電壓。
[0009]優(yōu)選地，所述電壓正向輸出電路包括場效應(yīng)管(Ql)和場效應(yīng)管(Q22)，所述場效應(yīng)管(Ql)通過三極管(Tl)與所述主控模塊連接，使得所述主控模塊通過控制該三極管(Tl)的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管(Ql)導(dǎo)通或截止;所述三極管(Tl)的集電極通過電阻(Rll)與電壓源(VCC)連接、基極通過電阻(R12)連接于所述主控模塊、發(fā)射極接地;所述場效應(yīng)管(Ql)的柵極連接于所述三極管(Tl)的集電極、源極連接于所述電壓源(VCC)、漏極連接于所述被測光耦的第一發(fā)送端(OPl);所述場效應(yīng)管(Q22)通過三極管(T21)與所述主控模塊連接，使得所述主控模塊通過控制該三極管(T21)的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管(Q22)導(dǎo)通或截止;所述場效應(yīng)管(Q22)的柵極連接于所述三極管(T21)的集電極、源極連接于所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2)、漏極通過串聯(lián)連接的電阻(R25)和電阻(R26)接地;所述三極管(T21)的集電極通過電阻(R23)連接于所述電壓源(VCC)、基極通過電阻(R24)連接于所述主控模塊、發(fā)射極接地。
[0010]優(yōu)選地，所述反向漏電流輸出電路包括場效應(yīng)管(Q2)和場效應(yīng)管(Qll);所述場效應(yīng)管(Q2)通過三極管(T2)與所述主控模塊連接，使得所述主控模塊通過控制該三極管(T2)的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管(Q2)導(dǎo)通或截止;所述三極管(T2)的基極通過電阻(R21)連接于所述主控模塊、集電極通過電阻(R22)連接于所述電壓源(VCC)、發(fā)射極接地;所述場效應(yīng)管(Q2)的柵極連接于所述三極管(T2)的集電極、源極連接于所述電壓源(VCC)、漏極連接于所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2);所述場效應(yīng)管(Qll)的柵極連接于所述主控模塊、漏極連接于所述被測光耦的第一發(fā)送端(0P1)、源極通過串聯(lián)連接的電阻(R13)和電阻(R14)接地。
[0011]優(yōu)選地，所述接收電流采樣電路包括電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)，所述電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)依次并聯(lián)，所述電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)的一端分別連接于所述被測光耦的第一接收端(0P3)、另一端接地;所述主控模塊通過所述并聯(lián)連接的電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)與所述被測光耦的第一接收端(0P3)連接，以對所述被測光耦的接收端電流進(jìn)行采樣。
[0012]優(yōu)選地，所述恒流源電路包括三極管(TO)、穩(wěn)壓二極管(CTO)、場效應(yīng)管(QOl)和場效應(yīng)管(Q02);所述三極管(TO)的基極通過電阻(ROI)連接于所述電壓源(VCC)、集電極連接于所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2)、發(fā)射極連接于所述穩(wěn)壓二極管(CTO);所述場效應(yīng)管(QOl)的柵極連接于所述主控模塊、源極接地、漏極通過串聯(lián)的電阻(R02)和電阻(R03)連接于所述三極管(TO)的發(fā)射極;所述場效應(yīng)管(Q02)的柵極連接于所述主控模塊、源極接地、漏極通過電阻(R04)連接于所述三極管(TO)的發(fā)射極;所述主控模塊通過該恒流源電路輸出一電流至所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2)作為發(fā)送端電流，并根據(jù)所述接收端電流和發(fā)送端電流的比值得到所述電流傳輸比。
[0013]優(yōu)選地，所述電壓源(VCC)為鋰電池、開關(guān)電源或線性電源。
[0014]優(yōu)選地，所述主控模塊還連接有電流切換模塊，所述電流切換模塊用于根據(jù)所述主控模塊發(fā)送的指令調(diào)整所述恒流源電路輸出的電流大小。
[0015]優(yōu)選地，所述電流切換模塊包括數(shù)字電位器和切換控制器，所述主控模塊連接于所述數(shù)字電位器，所述數(shù)字電位器連接于所述切換控制器，所述切換控制器用于調(diào)節(jié)所述數(shù)字電位器的電阻值，從而調(diào)節(jié)所述恒流源電路輸出的電流大小。
[0016]優(yōu)選地，所述切換控制器包括繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器，所述繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器連接于所述數(shù)字電位器。
[0017]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光耦電氣性能檢測裝置，將觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊連接于主控模塊，使得主控模塊根據(jù)觸發(fā)模塊產(chǎn)生的觸發(fā)信號控制光耦測試模塊進(jìn)行自動化測試，光耦測試模塊將檢測到的電氣性能參數(shù)發(fā)送給顯示模塊進(jìn)行顯示，如此能夠?qū)崿F(xiàn)對光耦的自動化測試，以及有效提高測試的準(zhǔn)確性和效率。
【附圖說明】
[0018]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應(yīng)當(dāng)理解，以下附圖僅示出了本發(fā)明的某些實(shí)施例，因此不應(yīng)該看作是對范圍的限定，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。
[0019]圖1是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種光耦電氣性能檢測裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
[0020]圖2是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種光耦電氣性能檢測裝置的電路示意圖。
[0021]圖中標(biāo)記分別為:
[0022]光耦電氣性能檢測裝置100，被測光耦200；
[0023]主控模塊101，光耦測試模塊102，觸發(fā)模塊103，顯示模塊104，電流切換模塊105;
[0024]電壓正向輸出電路201，反向漏電流輸出電路202，接收電流采樣電路203，恒流源電路204。
【具體實(shí)施方式】
[0025]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0026]應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號和字母在下面的附圖中表示類似項(xiàng)，因此，一旦某一項(xiàng)在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進(jìn)行進(jìn)一步定義和解釋。同時，在本發(fā)明的描述中，術(shù)語“第一”、“第二”等僅用于區(qū)分描述，而不能理解為指示或暗示相對重要性。
[0027]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種光耦電氣性能檢測裝置100。如圖1所示，所述光耦電氣性能檢測裝置100可以包括主控1?塊101、光親測試1?塊102、觸發(fā)1?塊103和顯不1?塊104。所述光耦測試模塊102、觸發(fā)模塊103和顯示模塊104連接于所述主控模塊101。
[0028]其中，所述觸發(fā)模塊103用于在外部操作的作用下產(chǎn)生觸發(fā)信號，并發(fā)送給所述主控模塊101。所述主控模塊101用于接收所述觸發(fā)信號，并根據(jù)所述觸發(fā)信號控制所述光耦測試模塊102進(jìn)行測試?？蛇x地，所述觸發(fā)模塊103包括機(jī)械按鍵，當(dāng)所述機(jī)械按鍵被按下時向所述主控模塊101發(fā)送觸發(fā)信號，觸發(fā)所述主控模塊101啟動所述光耦測試模塊102對被測光耦200進(jìn)行自動化測試。
[0029]所述光耦測試模塊102用于在所述觸發(fā)信號的作用下檢測所述被測光耦200的電氣性能參數(shù)，并將檢測到的電氣性能參數(shù)發(fā)送給所述主控模塊101，所述主控模塊101控制所述顯示模塊104顯示所述電氣性能參數(shù)。
[0030]本實(shí)施例中，所述光耦測試模塊102包括電壓正向輸出電路201、反向漏電流輸出電路202、接收電流采樣電路203和恒流源電路204。所述電壓正向輸出電路201、反向漏電流輸出電路202、接收電流采樣電路203和恒流源電路204分別連接于所述主控模塊1I和被測光耦200。所述電壓正向輸出電路201、反向漏電流輸出電路202、接收電流采樣電路203和恒流源電路204能夠檢測到所述被測光耦200的各種不同電氣性能參數(shù)。所述電氣性能參數(shù)主要包括所述被測光耦200的正向壓降、飽和壓降、反向電流、電流傳輸比和反向擊穿電壓。
[0031]如圖2所示，所述電壓正向輸出電路201用于檢測所述被測光耦200的正向壓降，其可以包括場效應(yīng)管Ql和場效應(yīng)管Q22。所述場效應(yīng)管Ql通過三極管Tl與所述主控模塊101連接，使得所述主控模塊101可通過控制該三極管Tl的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管Ql導(dǎo)通或截止。具體地，所述場效應(yīng)管Ql的柵極與三極管Tl的集電極連接、源極連接電壓源VCC、漏極連接于所述被測光耦200的第一發(fā)送端OPl。本實(shí)施例中，所述三極管Tl可以是NPN型三極管，所述電壓源VCC為鋰電池或開關(guān)電源。所述三極管Tl的集電極通過電阻Rll連接電壓源VCC、基極通過電阻R12連接于所述主控模塊101、發(fā)射極接地。所述主控模塊101通過電阻R12向所述三極管Tl發(fā)送控制信號，所述三極管Tl在所述控制信號的作用下導(dǎo)通或截止，然后通過該三極管Tl發(fā)送相應(yīng)的控制信號給所述場效應(yīng)管Ql，以驅(qū)動該場效應(yīng)管Ql導(dǎo)通或截止。其它實(shí)施例中，所述三極管Tl也可以省略，使用所述主控模塊101直接驅(qū)動該場效應(yīng)管Ql。本實(shí)施例中，在主控模塊101和場效應(yīng)管Ql之間使用三極管Tl，通過三極管Tl和場效應(yīng)管Ql的組合，可避免該場效應(yīng)管Ql在主控模塊101的直接驅(qū)動下出現(xiàn)主控模塊101的輸出電壓在3V左右時該場效應(yīng)管Ql狀態(tài)不穩(wěn)定的情況。電壓源VCC為電池、開關(guān)電源或線性電源。
[0032]所述場效應(yīng)管Q22通過三極管T21與所述主控模塊101連接，使得所述主控模塊101可通過控制該三極管T21的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管Q22導(dǎo)通或截止。具體地，所述場效應(yīng)管Q22的柵極連接于所述三極管T21的集電極、源極連接于所述被測光耦200的第二發(fā)送端0P2、漏極通過串聯(lián)連接的電阻R25和電阻R26接地。所述三極管T21的集電極通過電阻R23連接于所述電壓源VCC、基極通過電阻R24連接于所述主控模塊101、發(fā)射極接地。所述主控模塊101通過電阻R24向所述三極管T21發(fā)送控制信號，以控制所述三極管T21導(dǎo)通或截止，然后通過三極管T21發(fā)送控制信號給所述場效應(yīng)管Q22，以控制該場效應(yīng)管Q22導(dǎo)通或截止。其它實(shí)施例中，所述三極管T21也可以省略，使用所述主控模塊101直接驅(qū)動該場效應(yīng)管Q22。本實(shí)施例中，在主控模塊101和場效應(yīng)管Q22之間使用三極管T21，通過三極管T21和場效應(yīng)管Q22的組合，可避免該場效應(yīng)管Q22在主控模塊101的直接驅(qū)動下出現(xiàn)主控模塊101的輸出電壓在3V左右時場效應(yīng)管Q22狀態(tài)不穩(wěn)定的情況。所述主控模塊101能夠獲取所述電阻R25和電阻R26之間的電壓信號。下面詳細(xì)闡述通過所述正向電壓輸出電路201測試所述被測光耦200的正向壓降的測試原理。
[0033]首先，所述正向壓降為所述被測光耦200的第一發(fā)送端OPl和第二發(fā)送端0P2之間的壓降。測試該正向壓降時，所述主控模塊101分別發(fā)送控制信號給所述三極管Tl和三極管T21分別驅(qū)動所述場效應(yīng)管Ql和場效應(yīng)管Q22導(dǎo)通，使得所述電壓源VCC的電壓信號通過所述場效應(yīng)管Ql傳送至所述被測光耦200的第一發(fā)送端OPl，并通過所述被測光耦200的第二發(fā)送端0P2輸出，然后通過場效應(yīng)管Q22傳輸至電阻R25和R26進(jìn)行分壓，最后由所述主控模塊101測得分壓信號的方式來測量所述正向壓降。其中，所述電阻R25和R26為采樣電阻。本實(shí)施例中，在測試所述正向壓降時，所述主控模塊101發(fā)送給三極管Tl和三極管T21的控制信號可以是高電平也可以是低電平，具體根據(jù)三極管Tl以及三極管T21的類型決定。本實(shí)施例中，所述第一發(fā)送端OPl是指被測光耦200的發(fā)光二極管的陽極接線端口，所述第二發(fā)送端0P2是指該發(fā)光二極管的陰極接線端口。
[0034]進(jìn)一步參閱圖2，所述反向漏電流輸出電路202包括場效應(yīng)管Q2和場效應(yīng)管QlI。其中，所述場效應(yīng)管Q2通過三極管T2與所述主控模塊101連接，使得所述主控模塊101可通過控制該三極管T2的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管Q2導(dǎo)通或截止。所述場效應(yīng)管Q2的柵極連接于所述三極管T2的集電極、源極連接于所述電壓源VCC、漏極連接于所述被測光耦200的第二發(fā)送端0P2。所述三極管T2的基極通過電阻R21連接于所述主控模塊101、集電極通過電阻R22連接于所述電壓源VCC、發(fā)射極接地。所述主控模塊101通過電阻R21向所述三極管T2發(fā)送控制信號，以控制三極管T2導(dǎo)通或截止，然后通過該三極管T2發(fā)送控制信號，以控制所述場效應(yīng)管Q2導(dǎo)通或截止。其它實(shí)施例中，所述三極管T2也可以省略，使用所述主控模塊101直接驅(qū)動該場效應(yīng)管Q2。本實(shí)施例中，在主控模塊101和場效應(yīng)管Q2之間使用三極管Τ2，通過三極管Τ2和場效應(yīng)管Q2的組合，可避免該場效應(yīng)管Q2在主控模塊101的直接驅(qū)動下出現(xiàn)主控模塊101的輸出電壓在3V左右時場效應(yīng)管Q2狀態(tài)不穩(wěn)定的情況。所述場效應(yīng)管Qll的柵極連接于所述主控模塊101、漏極連接于所述被測光耦200的第一發(fā)送端OPl、源極通過串聯(lián)的電阻R13和電阻R14接地。所述主控模塊101可以向所述場效應(yīng)管Qll發(fā)送控制信號，以控制所述場效應(yīng)管Qll導(dǎo)通或截止。所述主控模塊101還連接于所述電阻R13和電阻R14之間，使得所述主控模塊101能夠獲取所述電阻R13和電阻R14之間的分壓信號。下面詳細(xì)闡述所述被測光耦200的反向電流的測試原理。
[0035]所述反向電流為所述被測光耦200的第二發(fā)送端0Ρ2流向第一發(fā)送端OPl的電流。測試該反向電流時，所述主控模塊101發(fā)送控制信號給所述三極管Τ2，通過該三極管Τ2驅(qū)動所述場效應(yīng)管Q2導(dǎo)通并同時驅(qū)動場效應(yīng)管Qll導(dǎo)通，使得所述電壓源VCC的電壓信號通過所述場效應(yīng)管Q2傳送至所述被測光耦200的第二發(fā)送端0Ρ2。同時，主控模塊101控制所述恒流源電路204也供給相應(yīng)的電流到該第二發(fā)送端0Ρ2，并通過所述第一發(fā)送端OPl后依次通過所述場效應(yīng)管Q11、電阻R13和電阻R14。最后，由連接在所述電阻R13和電阻R14之間的所述主控模塊101測得所述反向電流。其中，所述電阻R13和R14為采樣電阻。本實(shí)施例中，在測試所述反向電流時，所述主控模塊101發(fā)送給三極管Τ2的控制信號可以是高電平也可以是低電平，具體根據(jù)三極管Τ2的類型決定。
[0036]本實(shí)施例中，在測試所述正向壓降時，除所述場效應(yīng)管Ql和場效應(yīng)管Q22導(dǎo)通之外，其它場效應(yīng)管均處于截止?fàn)顟B(tài)。在測試所述反向電流時，除所述場效應(yīng)管Q2和場效應(yīng)管Ql I導(dǎo)通之外，其它場效應(yīng)管均處于截止?fàn)顟B(tài)。
[0037]所述電流傳輸比，是指所述被測光耦200的接收端電流與發(fā)送端電流之比。測試該電流傳輸比時，首先，所述主控模塊101控制所述恒流源電路204輸出一電流(發(fā)送端電流)，所述電流從所述被測光耦200的第一發(fā)送端OPl流向第二發(fā)送端0Ρ2。然后，所述主控模塊101發(fā)送控制信號給所述三極管Τ2，并通過該三極管Τ2驅(qū)動所述場效應(yīng)管Q2導(dǎo)通，并同時驅(qū)動場效應(yīng)管Qll導(dǎo)通。所述被測光耦200的第二接收端0Ρ4連接于電壓源VCC，所述被測光耦200的接收端光敏半導(dǎo)體管將電壓源VCC輸出的電信號通過所述第一接收端0Ρ3后經(jīng)由所述接收電流采樣電路203傳輸給主控模塊101，得到接收端電流。根據(jù)接收端電流與發(fā)送端電流的比值即可得到所述電流傳輸比。
[0038]進(jìn)一步地，所述接收電流采樣電路203可以包括電阻R31、電阻R32、電阻R33和電阻R34 ο所述電阻R31、電阻R32、電阻R33和電阻R34依次并聯(lián)連接。所述電阻R31、電阻R32、電阻R33和電阻R34并聯(lián)后的一端分別連接于所述被測光耦200的第一接收端OPl和所述主控模塊101、另一端接地。其中，所述電阻R31、電阻R32、電阻R33和電阻R34也可以用單個大功率的電阻替代。所述被測光耦200的第一接收端0Ρ3連接于所述并聯(lián)連接的電阻R31、電阻R32、電阻R33和電阻R34，第二接收端0Ρ4連接于所述電壓源VCC。本實(shí)施例中，所述第一接收端0Ρ3是指所述被測光耦200的接收端光敏半導(dǎo)體管的發(fā)射極接線端口，所述第二接收端0Ρ4是指所述被測光耦200的接收端光敏半導(dǎo)體管的集電極接線端口。
[0039 ] 請?jiān)賲㈤唸D2，所述恒流源電路204包括三極管TO、穩(wěn)壓二極管CTO、場效應(yīng)管QOI和場效應(yīng)管Q02。其中，所述三極管TO的基極通過電阻ROl連接于所述電壓源VCC、集電極連接于所述被測光耦200的第二發(fā)送端0P2、發(fā)射極連接于所述穩(wěn)壓二極管CTO。所述三極管TO在所述第二發(fā)送端0P2輸出電壓的作用下導(dǎo)通或截止。所述場效應(yīng)管QOl的柵極連接于所述主控模塊101、源極接地、漏極通過串聯(lián)連接的電阻R02和電阻R03連接于所述三極管TO的發(fā)射極。所述場效應(yīng)管Q02的柵極連接于所述主控模塊101、源極接地、漏極通過電阻R04連接于所述三極管TO的發(fā)射極。本實(shí)施例中，所述電阻R02、電阻R03和電阻R04的電阻值根據(jù)所述恒流源輸出的電流大小來確定。可選地，所述電阻R02、電阻R03和電阻R04可用數(shù)字電位器來替換。所述主控模塊101分別向所述場效應(yīng)管QOl和所述場效應(yīng)管Q02發(fā)送控制信號，選擇性導(dǎo)通所述場效應(yīng)管Q01、Q02的其中之一，進(jìn)而控制所述恒流源電路204可輸出兩種不同的輸出電流。例如，所述不同的輸出電流可以是I OmA或5mA或其他。
[0040]本實(shí)施例中，所述主控模塊101可能是一種集成電路芯片，具有信號的處理能力，例如微型控制單元(Micro Control Unit，MQJ)、單片機(jī)等。所述電壓正向輸出電路201、反向漏電流輸出電路202、接收電流采樣電路203、恒流源電路204與該主控模塊101相連接的各個元件分別連接到該主控模塊1I的不同控制端口( port)上。
[0041]進(jìn)一步參閱圖1，所述主控模塊101還可以連接電流切換模塊105。所述電流切換模塊105用于根據(jù)所述主控模塊101發(fā)送的指令調(diào)整所述恒流源電路204的輸出電流，例如在所述1mA和5mA之間切換。
[0042]可選地，所述電流切換模塊105包括數(shù)字電位器和切換控制器。所述切換控制器通過數(shù)控方式調(diào)節(jié)所述數(shù)字電位器的電阻值。所述數(shù)字電位器具有使用靈活、調(diào)節(jié)精度高、無觸點(diǎn)、低噪聲、不易污損、抗振動、抗干擾、體積小和壽命長等特點(diǎn)。其中，所述切換控制器可以包括繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器。所述繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器連接于所述數(shù)字電位器。所述切換控制器通過所述繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器與所述數(shù)字電位器實(shí)現(xiàn)切換隔離。
[0043]進(jìn)一步地，所述顯示模塊104可以是液晶顯示器、觸控顯示器、數(shù)碼管或其它任意可以用于顯示所述被測光耦200的電氣性能參數(shù)的顯示設(shè)備。
[0044]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光耦電氣性能檢測裝置100，將觸發(fā)模103塊、顯示模塊104和光耦測試模塊102連接于主控模塊101，使得主控模塊101根據(jù)觸發(fā)模塊103產(chǎn)生的觸發(fā)信號控制光耦測試模塊102進(jìn)行自動化測試，光耦測試模塊102將檢測到的電氣性能參數(shù)發(fā)送給顯示模塊104進(jìn)行顯示，如此能夠?qū)崿F(xiàn)對光耦的自動化測試，以及有效提高測試的準(zhǔn)確性和效率。
[0045]在上述電路的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中還連接有部分輔助元器件和連線，用于保證電路的正常運(yùn)行，這些輔助元器件和連線的使用屬于行業(yè)通用的電路應(yīng)用習(xí)慣，在此不再贅述。
[0046]所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡(luò)單元上。可以根據(jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。
[0047]另外，在本發(fā)明各個實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。
[0048]需要說明的是，在本文中，術(shù)語“包括”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。
[0049]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)所述以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述光耦電氣性能檢測裝置包括主控模塊、觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊，所述觸發(fā)模塊、顯示模塊和光耦測試模塊連接于所述主控模塊； 其中，所述觸發(fā)模塊用于在外部操作的作用下產(chǎn)生觸發(fā)信號并發(fā)送給所述主控模塊； 所述主控模塊用于根據(jù)接收到的所述觸發(fā)信號控制所述光耦測試模塊進(jìn)行測試； 所述光耦測試模塊用于檢測被測光耦的電氣性能參數(shù)，并將檢測到的電氣性能參數(shù)發(fā)送給所述顯示模塊進(jìn)行顯示;其中，所述光耦測試模塊包括電壓正向輸出電路、反向漏電流輸出電路、接收電流采樣電路和恒流源電路，所述電壓正向輸出電路、反向漏電流輸出電路、接收電流采樣電路和恒流源電路分別連接于所述主控模塊和被測光耦;所述電氣性能參數(shù)包括所述被測光耦的正向壓降、飽和壓降、反向電流、電流傳輸比和反向擊穿電壓。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述電壓正向輸出電路包括場效應(yīng)管(Ql)和場效應(yīng)管(Q22)，所述場效應(yīng)管(Ql)通過三極管(Tl)與所述主控模塊連接，使得所述主控模塊通過控制該三極管(Tl)的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管(Ql)導(dǎo)通或截止;所述三極管(Tl)的集電極通過電阻(Rll)與電壓源(VCC)連接、基極通過電阻(R12)連接于所述主控模塊、發(fā)射極接地;所述場效應(yīng)管(Ql)的柵極連接于所述三極管(Tl)的集電極、源極連接于所述電壓源(VCC)、漏極連接于所述被測光耦的第一發(fā)送端(OPl);所述場效應(yīng)管(Q22)通過三極管(T21)與所述主控模塊連接，使得所述主控模塊通過控制該三極管(T21)的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管(Q22)導(dǎo)通或截止;所述場效應(yīng)管(Q22)的柵極連接于所述三極管(T21)的集電極、源極連接于所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2)、漏極通過串聯(lián)連接的電阻(R25)和電阻(R26)接地;所述三極管(T21)的集電極通過電阻(R23)連接于所述電壓源(VCC)、基極通過電阻(R24)連接于所述主控模塊、發(fā)射極接地。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述反向漏電流輸出電路包括場效應(yīng)管(Q2)和場效應(yīng)管(Qll);所述場效應(yīng)管(Q2)通過三極管(T2)與所述主控模塊連接，使得所述主控模塊通過控制該三極管(T2)的導(dǎo)通或截止來驅(qū)動場效應(yīng)管(Q2)導(dǎo)通或截止；所述三極管(T2)的基極通過電阻(R21)連接于所述主控模塊、集電極通過電阻(R22)連接于所述電壓源(VCC)、發(fā)射極接地;所述場效應(yīng)管(Q2)的柵極連接于所述三極管(T2)的集電極、源極連接于所述電壓源(VCC)、漏極連接于所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2);所述場效應(yīng)管(Qll)的柵極連接于所述主控模塊、漏極連接于所述被測光耦的第一發(fā)送端(0P1)、源極通過串聯(lián)連接的電阻(R13)和電阻(R14)接地。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述接收電流采樣電路包括電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)，所述電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)依次并聯(lián)，所述電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)的一端分別連接于所述被測光耦的第一接收端(0P3)、另一端接地;所述主控模塊通過所述并聯(lián)連接的電阻(R31)、電阻(R32)、電阻(R33)和電阻(R34)與所述被測光耦的第一接收端(0P3)連接，以對所述被測光耦的接收端電流進(jìn)行采樣。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述恒流源電路包括三極管(TO)、穩(wěn)壓二極管(CTO)、場效應(yīng)管(QOI)和場效應(yīng)管(Q02);所述三極管(TO)的基極通過電阻(ROl)連接于所述電壓源(VCC)、集電極連接于所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2)、發(fā)射極連接于所述穩(wěn)壓二極管(CTO);所述場效應(yīng)管(QOl)的柵極連接于所述主控模塊、源極接地、漏極通過串聯(lián)連接的電阻(R02)和電阻(R03)連接于所述三極管(TO)的發(fā)射極;所述場效應(yīng)管(Q02)的柵極連接于所述主控模塊、源極接地、漏極通過電阻(R04)連接于所述三極管(TO)的發(fā)射極;所述主控模塊通過該恒流源電路輸出一電流至所述被測光耦的第二發(fā)送端(0P2)作為發(fā)送端電流，并根據(jù)所述接收端電流和發(fā)送端電流的比值得到所述電流傳輸比。6.根據(jù)權(quán)利要求2-5任意一項(xiàng)所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述電壓源(VCC)為鋰電池、開關(guān)電源或線性電源。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述主控模塊還連接有電流切換模塊，所述電流切換模塊用于根據(jù)所述主控模塊發(fā)送的指令調(diào)整所述恒流源電路輸出的電流大小。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述電流切換模塊包括數(shù)字電位器和切換控制器，所述主控模塊連接于所述數(shù)字電位器，所述數(shù)字電位器連接于所述切換控制器，所述切換控制器用于調(diào)節(jié)所述數(shù)字電位器的電阻值，從而調(diào)節(jié)所述恒流源電路輸出的電流大小。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光耦電氣性能檢測裝置，其特征在于，所述切換控制器包括繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器，所述繼電器隔離切換器、光耦隔離切換器和三極管隔離切換器連接于所述數(shù)字電位器。
【文檔編號】G01R31/00GK106019040SQ201610658781
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年8月12日
【發(fā)明人】李中澤, 王子云, 張方方, 常莉
【申請人】武漢盛帆電子股份有限公司