母差保護(hù)死區(qū)故障邏輯驗(yàn)證方法
【專利摘要】一種可保證母線發(fā)生死區(qū)故障時(shí)母差保護(hù)能正確動(dòng)作的母差保護(hù)死區(qū)故障邏輯驗(yàn)證方法，差動(dòng)電流定值設(shè)置：由繼電保護(hù)部門給定差動(dòng)電流為0－20A；驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線；由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)的II母差動(dòng)動(dòng)作時(shí)間及開入B相端子時(shí)的II母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間，時(shí)差大于50ms，表明母聯(lián)合位死區(qū)邏輯正確；驗(yàn)證母聯(lián)分位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線；由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)I母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間，該動(dòng)作時(shí)間為20～40ms，表明母聯(lián)分位死區(qū)邏輯正確。
【專利說明】
母差保護(hù)死區(qū)故障還輯驗(yàn)證方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明設(shè)及電力系統(tǒng)中母差保護(hù)死區(qū)故障邏輯驗(yàn)證方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 目前，微機(jī)型母差保護(hù)在國內(nèi)各電力系統(tǒng)中得到了廣泛應(yīng)用，母線差動(dòng)保護(hù)由母 線大差動(dòng)和幾個(gè)各段母線的小差動(dòng)組成。母線大差動(dòng)是由除母聯(lián)斷路器和分段斷路器W外 的母線所有其余支路的電流構(gòu)成的大差動(dòng)元件，其作用是區(qū)分母線內(nèi)還是母線外短路，但 它不能區(qū)分是哪一條母線發(fā)生故障。某條母線小差動(dòng)是由與該母線相連的各支路電流構(gòu)成 的差動(dòng)元件，其中包括與該母線相關(guān)聯(lián)的母聯(lián)斷路器和分段斷路器支路的電流，其作用是 可W區(qū)分該條母線內(nèi)還是該條母線外故障，所W可W作為故障母線的選擇元件。對于雙母 線、母線分段等形式的母線保護(hù)，如果大差動(dòng)元件和某條母線小差動(dòng)元件同時(shí)動(dòng)作，則將該 條母線切除，也就是"大差判母線故障，小差選故障母線"。
[0003] 對于雙母線或單母線分段的母差保護(hù)，當(dāng)故障發(fā)生在母聯(lián)斷路器與母聯(lián)TA之間或 分段斷路器與分段TA之間時(shí)，如果不采取措施斷路器側(cè)的母差保護(hù)要誤動(dòng)，而TA側(cè)的母差 保護(hù)要拒動(dòng)。一般把母聯(lián)斷路器與母聯(lián)TA之間或分段斷路器與分段TA之間運(yùn)一段范圍稱作 死區(qū)。
[0004] W圖1所示的雙母接線為例。設(shè)四個(gè)連接元件的141^42^43^44的同極性端都在 母線側(cè)，母聯(lián)TA的同極性端在I母側(cè)，它們正方向電流I ,如圖2中實(shí)線箭頭所示。TAl， T A 2，T A 3，T A 4的電流組成大差，由正方向電流的相量和構(gòu)成的差動(dòng)電流為
「A1，TA2，TA5的電流組成I母小差，由正方向電流的相量和構(gòu)成的差 動(dòng)電流為
TA3，TA4，TA5的電流構(gòu)成II母小差，由于i^ f 4的正方向電流是 流出11母的而1 5的正方向電流是流入H母的，故由正方向電流的相量和構(gòu)成的差動(dòng)電流為
。在母聯(lián)回路中電流互感器TA5靠近I母，斷路器5靠近II母，所W把I母小 差又稱作TA側(cè)小差，把II母小差稱作斷路器側(cè)小差。在母聯(lián)斷路器5和母聯(lián)TA5之間的死區(qū) 內(nèi)發(fā)生短路時(shí)，流過各個(gè)元件的IiK~電流如圖中虛線所示，它們都流向短路點(diǎn)。顯然
大差的差動(dòng)電流為 的短路電流（二次值KTA
側(cè)（I母側(cè)）小差的差g 母 偵O小差的差動(dòng)電流女 ，也 等于短路點(diǎn)的短路電流(二次值）。所W大差和斷路器側(cè)小差動(dòng)作跳開斷路器側(cè)母線上各連 接元件和母聯(lián)斷路器。由于TA側(cè)小差不動(dòng)作，所WTA側(cè)母線保護(hù)不動(dòng)，使短路故障依然存 在。所W把母聯(lián)斷路器和母聯(lián)TA之間稱作死區(qū)。運(yùn)種短路故障只能靠母聯(lián)失靈保護(hù)帶較長 的延時(shí)跳開TA側(cè)母線上各斷路器才能被切除。由于是母線故障，故障電流很大，母線上所有 元件承受很大的故障電流。如不能快速切除故障點(diǎn)，可能造成電流互感器、高壓開關(guān)因長時(shí) 間承受故障電流，而造成電流互感器、高壓開關(guān)爆炸，造成電網(wǎng)瓦解。
[0005] 母聯(lián)死區(qū)保護(hù)原理如下：
[0006] 為縮短故障切除時(shí)間，專設(shè)了母聯(lián)死區(qū)保護(hù)。在發(fā)生如圖2所示的母聯(lián)斷路器和母 聯(lián)TA之間死區(qū)范圍內(nèi)的故障時(shí)，母聯(lián)死區(qū)保護(hù)可同時(shí)滿足下述四個(gè)條件:①母線差動(dòng)保護(hù) 發(fā)過II母的跳令;②母聯(lián)斷路器已跳開(TWJ=I);③母聯(lián)TA任一相仍有電流;④大差比率差 動(dòng)元件及II母的小差比率差動(dòng)元件動(dòng)作后一直不返回。同時(shí)滿足上述四個(gè)條件經(jīng)死區(qū)動(dòng)作 延時(shí)后經(jīng)過復(fù)合電壓閉鎖去跳開I母上的各連接元件。在上述死區(qū)內(nèi)發(fā)生短路，大差和II母 小差動(dòng)作跳開II母側(cè)母線上各連接元件和母聯(lián)斷路器后，前=個(gè)條件已經(jīng)滿足。大差由于 TAl，TA2中流有短路電流，所W-直不返回；n母側(cè)小差由于母聯(lián)TA5中一直流有短路電流， 所W也一直不返回，運(yùn)樣第四個(gè)條件可W滿足。故而經(jīng)短延時(shí)和復(fù)合電壓閉鎖可W跳開I母 側(cè)母線上各斷路器切除故障。
[0007] 目前，變電站母差保護(hù)中母聯(lián)死區(qū)邏輯無有效的驗(yàn)證方法，導(dǎo)致母線發(fā)生死區(qū)故 障時(shí)，造成母差保護(hù)誤動(dòng)，擴(kuò)大了事故范圍。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008] 本發(fā)明是要解決現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問題，提供一種母差保護(hù)死區(qū)故障邏輯驗(yàn)證 方法，保證母線發(fā)生死區(qū)故障時(shí)母差保護(hù)能正確動(dòng)作。
[0009] 本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：
[0010] 1、差動(dòng)電流定值設(shè)置：由繼電保護(hù)部n給定差動(dòng)電流為0-20A;
[0011] 2、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線
[0012] 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:曰1、61、(：1、111端子為母聯(lián)1八 二次端子，日2、62、〇2、112端子為1母小差14二次端子;日3、63、〇3、113端子為11母小差14二次端 子，試驗(yàn)儀A相電流IA通入母聯(lián)元件，試驗(yàn)儀B相電流IB通入I母任一元件，試驗(yàn)儀C相電流IC 通入II母任一元件；
[0013] 試驗(yàn)儀A相電流接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流接入I母任一元件電流回路，試 驗(yàn)儀C相電流接入II母任一元件電流回路;試驗(yàn)儀按照先后順序開入A相端子接到II母元件 跳閩接點(diǎn)，試驗(yàn)儀開入B相端子接到I母元件跳閩接點(diǎn)，母聯(lián)跳閩接點(diǎn)給母聯(lián)跳位開入；
[0014] 3、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯
[0015] 1)試驗(yàn)前，母聯(lián)跳合位開入均斷開，母差保護(hù)裝置報(bào)"開入異常"，母差保護(hù)裝置默 認(rèn)母聯(lián)開關(guān)在合位；
[0016] 2)試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，n母差動(dòng)元件先動(dòng)作，由母聯(lián)跳閩接點(diǎn)給母聯(lián)跳位開 入;繼續(xù)通入故障電流，此時(shí)，滿足封母聯(lián)CT的第=個(gè)條件，當(dāng)I母元件電流大于差動(dòng)定值， 死區(qū)保護(hù)元件動(dòng)作，I母跳閩；
[0017] 狀態(tài)1: IA=IB = IC且大于差動(dòng)電流，同相位;模擬II母區(qū)內(nèi)故障，開入A相端子翻 轉(zhuǎn)進(jìn)入下一狀態(tài)；
[0018] 狀態(tài)2: IA= IB = IC且大于差定電流，同相位;封母聯(lián)CT，IB〉差動(dòng)電流定值，死區(qū)保 護(hù)元件動(dòng)作跳I母，開入B相端子，停止本狀態(tài)；
[0019] 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)的II母差動(dòng)動(dòng)作時(shí)間及開入B相端子時(shí)的II母差動(dòng) 動(dòng)作時(shí)間，時(shí)差大于50ms;表明母聯(lián)合位死區(qū)邏輯正確；
[0020] 4、投入"分列運(yùn)行"壓板后，直接封母聯(lián)CT，當(dāng)非母聯(lián)元件電流大于差動(dòng)電流定值 時(shí)母差保護(hù)動(dòng)作；
[0021] 5、驗(yàn)證母聯(lián)分位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線
[0022] 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:曰1、61、(：1、111端子為母聯(lián)1八 二次端子，日2、62、〇2、112端子為1母小差14二次端子;日3、63、〇3、113端子為11母小差14二次端 子，試驗(yàn)儀A相電流IA接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流IB接入I母任一元件電流回路;試 驗(yàn)儀開入A相端子接到I母跳閩接點(diǎn)；
[0023] 6、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯
[0024] 試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，I母差動(dòng)元件動(dòng)作；
[0025] 狀態(tài)1:IA=IB且大于差動(dòng)電流定值，同相位，I母差動(dòng)元件開入A相端子停止故障；
[0026] 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)I母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間，該動(dòng)作時(shí)間為20~40ms，表 明母聯(lián)分位死區(qū)邏輯正確。
[0027] 本發(fā)明的有益效果是:通過上述試驗(yàn)驗(yàn)證母聯(lián)死區(qū)保護(hù)邏輯正確性，防止母線差 動(dòng)保護(hù)在發(fā)生母聯(lián)死區(qū)故障而由于保護(hù)缺陷，將直接影響電力系統(tǒng)的安全穩(wěn)定運(yùn)行，造成 嚴(yán)重后果。通過對母聯(lián)死區(qū)故障原因進(jìn)行分析，提出可行的試驗(yàn)方法，為運(yùn)行和維護(hù)人員提 供了借鑒和參考。另外，充分利用測試裝置的各項(xiàng)功能，改進(jìn)試驗(yàn)方法、實(shí)現(xiàn)手段、試驗(yàn)過程 W簡化繼電保護(hù)的調(diào)試工作，提高了測試效率。
【附圖說明】
[0028] 圖1是變電站雙母接線圖；
[0029] 圖2是本發(fā)明的實(shí)驗(yàn)接線圖。
【具體實(shí)施方式】
[0030] 本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：
[0031 ] 1、差動(dòng)電流定值設(shè)置:由繼電保護(hù)部口給定差動(dòng)電流為0 - 20A;
[0032] 2、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線
[0033] 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:曰1、61、(：1、111端子為母聯(lián)1八 二次端子，日2、62、〇2、112端子為1母小差14二次端子;日3、63、〇3、113端子為11母小差14二次端 子，試驗(yàn)儀A相電流IA通入母聯(lián)元件，試驗(yàn)儀B相電流IB通入I母任一元件，試驗(yàn)儀C相電流IC 通入II母任一元件；
[0034] 試驗(yàn)儀A相電流接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流接入I母任一元件電流回路，試 驗(yàn)儀C相電流接入II母任一元件電流回路;試驗(yàn)儀按照先后順序開入A相端子接到II母元件 跳閩接點(diǎn)，試驗(yàn)儀開入B相端子接到I母元件跳閩接點(diǎn)，母聯(lián)跳閩接點(diǎn)給母聯(lián)跳位開入；
[0035] 3、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯
[0036] 1)試驗(yàn)前，母聯(lián)跳合位開入均斷開，母差保護(hù)裝置報(bào)"開入異常"，母差保護(hù)裝置默 認(rèn)母聯(lián)開關(guān)在合位；
[0037] 2)試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，n母差動(dòng)元件先動(dòng)作，由母聯(lián)跳閩接點(diǎn)給母聯(lián)跳位開 入;繼續(xù)通入故障電流，此時(shí)，滿足封母聯(lián)CT的第=個(gè)條件，當(dāng)I母元件電流大于差動(dòng)定值， 死區(qū)保護(hù)元件動(dòng)作，I母跳閩；
[003引狀態(tài)1: IA=IB = IC且大于差動(dòng)電流，同相位;模擬II母區(qū)內(nèi)故障，開入A相端子翻 轉(zhuǎn)進(jìn)入下一狀態(tài)；
[0039] 狀態(tài)2: IA=IB = IC且大于差定電流，同相位;封母聯(lián)CT，IB>差動(dòng)電流定值，死區(qū)保 護(hù)元件動(dòng)作跳I母，開入B相端子，停止本狀態(tài)；
[0040] 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)的II母差動(dòng)動(dòng)作時(shí)間及開入B相端子時(shí)的II母差動(dòng) 動(dòng)作時(shí)間，時(shí)差大于50ms;表明母聯(lián)合位死區(qū)邏輯正確；
[0041] 4、投入"分列運(yùn)行"壓板后，直接封母聯(lián)CT，當(dāng)非母聯(lián)元件電流大于差動(dòng)電流定值 時(shí)母差保護(hù)動(dòng)作；
[0042] 5、驗(yàn)證母聯(lián)分位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線
[0043] 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:曰1、61、(：1、111端子為母聯(lián)1八 二次端子，日2、62、〇2、112端子為1母小差14二次端子;日3、63、〇3、113端子為11母小差14二次端 子，試驗(yàn)儀A相電流IA接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流IB接入I母任一元件電流回路;試 驗(yàn)儀開入A相端子接到I母跳閩接點(diǎn)；
[0044] 6、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯
[0045] 試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，I母差動(dòng)元件動(dòng)作；
[0046] 狀態(tài)1:IA=IB且大于差動(dòng)電流定值，同相位，I母差動(dòng)元件開入A相端子停止故障；
[0047] 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)I母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間，該動(dòng)作時(shí)間為20~40ms，表 明母聯(lián)分位死區(qū)邏輯正確。
[0048] 如圖2所示，本發(fā)明的具體實(shí)例如下：
[0049] 1、差動(dòng)電流定值設(shè)置:由繼電保護(hù)部口給定差動(dòng)電流為2A;
[0050] 2、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線
[0051] 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:曰1、61、(：1、111端子為母聯(lián)1八 二次端子，日2、62、〇2、112端子為1母小差14二次端子;日3、63、〇3、113端子為11母小差14二次端 子，試驗(yàn)儀A相電流IA通入母聯(lián)元件，試驗(yàn)儀B相電流IB通入I母任一元件，試驗(yàn)儀C相電流IC 通入II母任一元件;試驗(yàn)儀A相電流接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流接入I母任一元件電 流回路，試驗(yàn)儀C相電流接入II母任一元件電流回路;試驗(yàn)儀按照先后順序開入A相端子接 到II母元件跳閩接點(diǎn)，試驗(yàn)儀開入B相端子接到I母元件跳閩接點(diǎn)，母聯(lián)跳閩接點(diǎn)給母聯(lián)跳 位開入；
[0052] 3、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯
[0053] 1)試驗(yàn)前，母聯(lián)跳合位開入均斷開，母差保護(hù)裝置報(bào)"開入異常"，母差保護(hù)裝置默 認(rèn)母聯(lián)開關(guān)在合位；
[0054] 2)試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，n母差動(dòng)元件先動(dòng)作，由母聯(lián)跳閩接點(diǎn)給母聯(lián)跳位開 入;繼續(xù)通入故障電流，此時(shí)，滿足封母聯(lián)CT的第=個(gè)條件，當(dāng)I母元件電流大于差動(dòng)定值， 死區(qū)保護(hù)元件動(dòng)作，I母跳閩；
[0化5] 狀態(tài)1:IA=IB=IC = 2.1A且大于差動(dòng)電流，同相位;模擬II母區(qū)內(nèi)故障，開入A相 端子翻轉(zhuǎn)進(jìn)入下一狀態(tài)；
[0化6] 狀態(tài)2: IA= IB = IC = 2. IA且大于差定電流，同相位;封母聯(lián)CT，IB〉差動(dòng)電流定值， 死區(qū)保護(hù)元件動(dòng)作跳I母，開入B相端子，停止本狀態(tài)；
[0057] 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)的II母差動(dòng)動(dòng)作時(shí)間及開入B相端子時(shí)的II母差動(dòng) 動(dòng)作時(shí)間，時(shí)差大于50ms;表明母聯(lián)合位死區(qū)邏輯正確；
[0058] 4、投入"分列運(yùn)行"壓板后，直接封母聯(lián)CT，當(dāng)非母聯(lián)元件電流大于差動(dòng)電流定值 時(shí)母差保護(hù)動(dòng)作；
[0059] 5、驗(yàn)證母聯(lián)分位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線
[0060] 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:曰1、61、(：1、111端子為母聯(lián)1八 二次端子，日2、62、〇2、112端子為1母小差14二次端子;日3、63、〇3、113端子為11母小差14二次端 子，試驗(yàn)儀A相電流IA接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流IB接入I母任一元件電流回路;試 驗(yàn)儀開入A相端子接到I母跳閩接點(diǎn)；
[0061 ] 6、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯
[0062] 試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，I母差動(dòng)元件動(dòng)作；
[0063] 狀態(tài)1:IA=IB = 2.5A且大于差動(dòng)電流定值，同相位，I母差動(dòng)元件開入A相端子停 止故障；
[0064] 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)I母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間，該動(dòng)作時(shí)間為30ms，表明母 聯(lián)分位死區(qū)邏輯正確。
[0065] W上僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人 員來說，本發(fā)明可W有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、 等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種母差保護(hù)死區(qū)故障邏輯驗(yàn)證方法，其特征是步驟如下： 1 )、差動(dòng)電流定值設(shè)置：由繼電保護(hù)部門給定差動(dòng)電流為0 - 20A; 2) 、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:al、bl、cl、nl端子為母聯(lián)TA二次 端子，a2、b2、c2、n2端子為I母小差ΤΑ二次端子;a3、b3、c3、n3端子為II母小差ΤΑ二次端子， 試驗(yàn)儀Α相電流IΑ通入母聯(lián)元件，試驗(yàn)儀Β相電流IΒ通入I母任一元件，試驗(yàn)儀C相電流IC通 入II母任一元件;試驗(yàn)儀A相電流接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀B相電流接入I母任一元件電流 回路，試驗(yàn)儀C相電流接入II母任一元件電流回路;試驗(yàn)儀按照先后順序開入A相端子接到 II母元件跳閘接點(diǎn)，試驗(yàn)儀開入B相端子接到I母元件跳閘接點(diǎn)，母聯(lián)跳閘接點(diǎn)給母聯(lián)跳位 開入； 3) 、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯 1) 試驗(yàn)前，母聯(lián)跳合位開入均斷開，母差保護(hù)裝置報(bào)"開入異常"，母差保護(hù)裝置默認(rèn)母 聯(lián)開關(guān)在合位； 2) 試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，II母差動(dòng)元件先動(dòng)作，由母聯(lián)跳閘接點(diǎn)給母聯(lián)跳位開入;繼 續(xù)通入故障電流，此時(shí)，滿足封母聯(lián)CT的第三個(gè)條件，當(dāng)I母元件電流大于差動(dòng)電流定值，死 區(qū)保護(hù)元件動(dòng)作，I母跳閘； 狀態(tài)1:IA=IB = IC且大于差動(dòng)電流定值，同相位;模擬II母區(qū)內(nèi)故障，開入A相端子翻 轉(zhuǎn)進(jìn)入下一狀態(tài)； 狀態(tài)2:IA = IB=IC且大于差定電流，同相位;封母聯(lián)CT，IB>差動(dòng)電流定值，死區(qū)保護(hù)元 件動(dòng)作跳I母，開入B相端子，停止本狀態(tài)； 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)的II母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間及開入B相端子時(shí)的II母差動(dòng) 元件動(dòng)作時(shí)間，時(shí)差大于50ms;表明母聯(lián)合位死區(qū)邏輯正確； 4) 、投入"分列運(yùn)行"壓板后，直接封母聯(lián)CT，當(dāng)非母聯(lián)元件電流大于差動(dòng)電流定值時(shí)母 差保護(hù)動(dòng)作； 5) 、驗(yàn)證母聯(lián)分位死區(qū)邏輯實(shí)驗(yàn)接線 在母差保護(hù)屏后的端子排上，電流量的接入方法如下:al、bl、cl、nl端子為母聯(lián)TA二次 端子，a2、b2、c2、n2端子為I母小差ΤΑ二次端子;a3、b3、c3、n3端子為II母小差ΤΑ二次端子， 試驗(yàn)儀Α相電流ΙΑ接入母聯(lián)電流回路，試驗(yàn)儀Β相電流IB接入I母任一元件電流回路;試驗(yàn)儀 開入A相端子接到I母跳閘接點(diǎn)； 6) 、驗(yàn)證母聯(lián)合位死區(qū)邏輯 試驗(yàn)時(shí)，通入故障電流，I母差動(dòng)元件動(dòng)作； 狀態(tài)1: IA= IB且大于差動(dòng)電流定值，同相位，I母差動(dòng)元件開入A相端子停止故障； 由試驗(yàn)儀測定開入A相端子時(shí)I母差動(dòng)元件動(dòng)作時(shí)間，該動(dòng)作時(shí)間為2 0~4 0 m s，表明母 聯(lián)分位死區(qū)邏輯正確。
【文檔編號】G01R31/00GK106019015SQ201610436629
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年6月17日
【發(fā)明人】王海洋, 孟祥博, 陳天弼, 李云陟, 李禹
【申請人】國網(wǎng)遼寧省電力有限公司錦州供電公司, 國家電網(wǎng)公司