一種角度檢測設(shè)備及角度檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種角度檢測設(shè)備及方法，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變。
【專利說明】
一種角度檢測設(shè)備及角度檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及角度檢測技術(shù)，尤其涉及一種角度檢測設(shè)備及角度檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]插拔式筆記本的轉(zhuǎn)軸角度檢測可以適用于多種場景，例如藍(lán)牙鍵盤的自動連接，拍照時支架的自動提醒?，F(xiàn)有的角度檢測方法都很復(fù)雜，主要利用電容傳感器、雙重力傳感器來檢測轉(zhuǎn)軸角度，精確度很差且軟件算法繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例提供了一種角度檢測設(shè)備法及角度檢測方法。
[0004]本發(fā)明實施例提供的角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，
[0005]當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變。
[0006]本發(fā)明實施例提供的角度檢測方法應(yīng)用于角度檢測設(shè)備，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；所述角度檢測方法包括:
[0007]測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻；
[0008]基于所測量的電阻，在所述存儲單元的電阻與角度對應(yīng)關(guān)系中查詢與所述電阻相對應(yīng)的角度；其中，所述角度為所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度。
[0009]本發(fā)明實施例的技術(shù)方案中，轉(zhuǎn)軸包括轉(zhuǎn)子和定子，檢測轉(zhuǎn)軸的角度也即檢測轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，為此，本發(fā)明實施例利用滑動變阻器的原理，通過檢測不同轉(zhuǎn)動情況下定子與轉(zhuǎn)子之間的電阻來確定轉(zhuǎn)子相對于定轉(zhuǎn)動的角度；具體地，角度檢測設(shè)備包括存儲單元，該存儲單元預(yù)先存儲有電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；角度檢測設(shè)備包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；測量到轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻時，可在存儲單元中查詢到與電阻相對應(yīng)的角度，從而確定出當(dāng)前轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，本發(fā)明實施例的技術(shù)方案精確度高且方法簡單，由于電阻值穩(wěn)定不易改變，可實現(xiàn)長年使用之后精確度不變的特征。
【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明實施例一的角度檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)組成示意圖；
[0011]圖2為發(fā)明實施例一的角度檢測方法的流程示意圖；
[0012]圖3為發(fā)明實施例二的角度檢測方法的流程示意圖；
[0013]圖4為發(fā)明實施例三的角度檢測方法的流程示意圖；
[0014]圖5為發(fā)明實施例四的角度檢測方法的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0015]為了能夠更加詳盡地了解本發(fā)明實施例的特點與技術(shù)內(nèi)容，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實施例的實現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)闡述，所附附圖僅供參考說明之用，并非用來限定本發(fā)明實施例。
[0016]圖1為本發(fā)明實施例一的角度檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)組成示意圖，如圖1所示，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元(圖中未示出)，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系。
[0017]所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子11、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子12 ;所述定子11上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子12上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子12上的電阻通過一彈片13與所述定子11上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子12上的電阻與所述定子11上的電阻相并聯(lián)；其中，
[0018]當(dāng)所述轉(zhuǎn)子12相對所述定子11轉(zhuǎn)動時，所述彈片13與所述定子11的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子12與定子11相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變。
[0019]本發(fā)明實施例中，柱狀定子11可以是實心材質(zhì)也可以是空心材質(zhì)，柱狀轉(zhuǎn)子12為空心材質(zhì)，如此，轉(zhuǎn)子12可套設(shè)在定子11外部，柱狀定子11與柱狀轉(zhuǎn)子12同心，柱狀轉(zhuǎn)子12可繞同心軸繞柱狀定子11轉(zhuǎn)動。本發(fā)明實施例的角度檢測設(shè)備能夠檢測轉(zhuǎn)子12相對于定子11轉(zhuǎn)動的角度，為此，在定子11上設(shè)置一電阻Rl，在轉(zhuǎn)子12上設(shè)置一電阻R2 ;轉(zhuǎn)子12上的電阻通過一金屬材質(zhì)的彈片13與定子11上的電阻相并聯(lián)，當(dāng)轉(zhuǎn)子12相對定子11轉(zhuǎn)動時，彈片13與定子11的接觸位置相應(yīng)發(fā)生改變，從而使轉(zhuǎn)子12與定子11相并聯(lián)的電阻相應(yīng)發(fā)生改變。通過測量轉(zhuǎn)子12與定子11相并聯(lián)的電阻，再在存儲單元中查詢與所測量到的電阻相對于的角度，即可得到轉(zhuǎn)子12相對于定子11轉(zhuǎn)動角度。
[0020]本發(fā)明實施例中，預(yù)先在存儲單元中設(shè)置電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系，該對應(yīng)關(guān)系可預(yù)先通過測量不同的電阻情況下所具有的角度獲得。
[0021]優(yōu)選地，本發(fā)明實施例的定子11上設(shè)置有一電阻具體為:
[0022]定子11的中間設(shè)置有直線狀電阻，定子11的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中，
[0023]所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。
[0024]如此，直線狀的電阻與線圈狀電阻共同串聯(lián)成定子11上的電阻。
[0025]本發(fā)明實施例中，轉(zhuǎn)子12上的電阻通過一彈片13與定子11上的電阻相接觸具體為，轉(zhuǎn)子12上的電阻通過一彈片13與定子11上的線圈狀電阻相接觸，當(dāng)轉(zhuǎn)子12相對于定子11轉(zhuǎn)動時，彈片13接觸到線圈的位置發(fā)生變化，致使定子11與轉(zhuǎn)子12相并聯(lián)的電阻發(fā)生變化。
[0026]優(yōu)選地，定子11的第一端，例如左端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與定子11的第二端，例如右端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。
[0027]圖2為本發(fā)明實施例一的角度檢測方法的流程示意圖，本示例中的角度檢測方法應(yīng)用于角度檢測設(shè)備，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；如圖2所示，所述角度檢測方法包括以下步驟:
[0028]步驟201:測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0029]本發(fā)明實施例中，柱狀定子可以是實心材質(zhì)也可以是空心材質(zhì)，柱狀轉(zhuǎn)子為空心材質(zhì)，如此，轉(zhuǎn)子可套設(shè)在定子外部，柱狀定子與柱狀轉(zhuǎn)子同心，柱狀轉(zhuǎn)子可繞同心軸繞柱狀定子轉(zhuǎn)動。本發(fā)明實施例的角度檢測設(shè)備能夠檢測轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，為此，在定子上設(shè)置一電阻，在轉(zhuǎn)子上設(shè)置一電阻；轉(zhuǎn)子上的電阻通過一金屬材質(zhì)的彈片與定子上的電阻相并聯(lián)，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對定子轉(zhuǎn)動時，彈片與定子的接觸位置相應(yīng)發(fā)生改變，從而使轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)發(fā)生改變。通過測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻，再在存儲單元中查詢與所測量到的電阻相對于的角度，即可得到轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動角度。
[0030]本發(fā)明實施例中，定子的中間設(shè)置有直線狀電阻，定子的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中，所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。如此，直線狀的電阻與線圈狀電阻共同串聯(lián)成定子上的電阻。
[0031 ] 本發(fā)明實施例中，轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與定子上的線圈狀電阻相接觸，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動時，彈片接觸到線圈的位置發(fā)生變化，致使定子與轉(zhuǎn)子相并聯(lián)的電阻發(fā)生變化。優(yōu)選地，定子左端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與定子的右端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。
[0032]本發(fā)明實施例中，在轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻兩端接通一輸入輸出電路，通過該電路的上拉電阻即可測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0033]步驟202:基于所測量的電阻，在所述存儲單元的電阻與角度對應(yīng)關(guān)系中查詢與所述電阻相對應(yīng)的角度；其中，所述角度為所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度。
[0034]本發(fā)明實施例中，測量到轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻時，可在存儲單元中查詢到與電阻相對應(yīng)的角度，從而確定出當(dāng)前轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，本發(fā)明實施例的技術(shù)方案精確度高且方法簡單，由于電阻值穩(wěn)定不易改變，可實現(xiàn)長年使用之后精確度不變的特征。
[0035]圖3為本發(fā)明實施例二的角度檢測方法的流程示意圖，本示例中的角度檢測方法應(yīng)用于角度檢測設(shè)備，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；如圖3所示，所述角度檢測方法包括以下步驟:
[0036]步驟301:預(yù)先在所述存儲單元中設(shè)置電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系。
[0037]本發(fā)明實施例中，預(yù)先在存儲單元中設(shè)置電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系，該對應(yīng)關(guān)系可預(yù)先通過測量不同的電阻情況下所具有的角度獲得。
[0038]步驟302:測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0039]本發(fā)明實施例中，柱狀定子可以是實心材質(zhì)也可以是空心材質(zhì)，柱狀轉(zhuǎn)子為空心材質(zhì)，如此，轉(zhuǎn)子可套設(shè)在定子外部，柱狀定子與柱狀轉(zhuǎn)子同心，柱狀轉(zhuǎn)子可繞同心軸繞柱狀定子轉(zhuǎn)動。本發(fā)明實施例的角度檢測設(shè)備能夠檢測轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，為此，在定子上設(shè)置一電阻，在轉(zhuǎn)子上設(shè)置一電阻；轉(zhuǎn)子上的電阻通過一金屬材質(zhì)的彈片與定子上的電阻相并聯(lián)，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對定子轉(zhuǎn)動時，彈片與定子的接觸位置相應(yīng)發(fā)生改變，從而使轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)發(fā)生改變。通過測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻，再在存儲單元中查詢與所測量到的電阻相對于的角度，即可得到轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動角度。
[0040]本發(fā)明實施例中，定子的中間設(shè)置有直線狀電阻，定子的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中，所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。如此，直線狀的電阻與線圈狀電阻共同串聯(lián)成定子上的電阻。
[0041]本發(fā)明實施例中，轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與定子上的線圈狀電阻相接觸，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動時，彈片接觸到線圈的位置發(fā)生變化，致使定子與轉(zhuǎn)子相并聯(lián)的電阻發(fā)生變化。優(yōu)選地，定子左端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與定子的右端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。
[0042]本發(fā)明實施例中，在轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻兩端接通一輸入輸出電路，通過該電路的上拉電阻即可測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0043]步驟303:基于所測量的電阻，在所述存儲單元的電阻與角度對應(yīng)關(guān)系中查詢與所述電阻相對應(yīng)的角度；其中，所述角度為所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度。
[0044]本發(fā)明實施例中，測量到轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻時，可在存儲單元中查詢到與電阻相對應(yīng)的角度，從而確定出當(dāng)前轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，本發(fā)明實施例的技術(shù)方案精確度高且方法簡單，由于電阻值穩(wěn)定不易改變，可實現(xiàn)長年使用之后精確度不變的特征。
[0045]圖4為本發(fā)明實施例三的角度檢測方法的流程示意圖，本示例中的角度檢測方法應(yīng)用于角度檢測設(shè)備，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；所述定子與電子設(shè)備的鍵盤相連，所述轉(zhuǎn)子與電子設(shè)備的屏幕相連；這里，所述電子設(shè)備可以是筆記本電腦、插拔式筆記本等電子設(shè)備；如圖4所示，所述角度檢測方法包括以下步驟:
[0046]步驟401:測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0047]本發(fā)明實施例中，柱狀定子可以是實心材質(zhì)也可以是空心材質(zhì)，柱狀轉(zhuǎn)子為空心材質(zhì)，如此，轉(zhuǎn)子可套設(shè)在定子外部，柱狀定子與柱狀轉(zhuǎn)子同心，柱狀轉(zhuǎn)子可繞同心軸繞柱狀定子轉(zhuǎn)動。本發(fā)明實施例的角度檢測設(shè)備能夠檢測轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，為此，在定子上設(shè)置一電阻，在轉(zhuǎn)子上設(shè)置一電阻；轉(zhuǎn)子上的電阻通過一金屬材質(zhì)的彈片與定子上的電阻相并聯(lián)，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對定子轉(zhuǎn)動時，彈片與定子的接觸位置相應(yīng)發(fā)生改變，從而使轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)發(fā)生改變。通過測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻，再在存儲單元中查詢與所測量到的電阻相對于的角度，即可得到轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動角度。
[0048]本發(fā)明實施例中，定子的中間設(shè)置有直線狀電阻，定子的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中，所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。如此，直線狀的電阻與線圈狀電阻共同串聯(lián)成定子上的電阻。
[0049]本發(fā)明實施例中，轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與定子上的線圈狀電阻相接觸，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動時，彈片接觸到線圈的位置發(fā)生變化，致使定子與轉(zhuǎn)子相并聯(lián)的電阻發(fā)生變化。優(yōu)選地，定子左端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與定子的右端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。
[0050]本發(fā)明實施例中，在轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻兩端接通一輸入輸出電路，通過該電路的上拉電阻即可測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0051]步驟402:基于所測量的電阻，在所述存儲單元的電阻與角度對應(yīng)關(guān)系中查詢與所述電阻相對應(yīng)的角度；其中，所述角度為所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度。
[0052]步驟403:通過檢測所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度，確定所述電子設(shè)備的鍵盤相對于屏幕的角度。
[0053]這里，轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度即為電子設(shè)備的鍵盤相對于屏幕的角度。
[0054]本發(fā)明實施例中，測量到轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻時，可在存儲單元中查詢到與電阻相對應(yīng)的角度，從而確定出當(dāng)前轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，本發(fā)明實施例的技術(shù)方案精確度高且方法簡單，由于電阻值穩(wěn)定不易改變，可實現(xiàn)長年使用之后精確度不變的特征。
[0055]圖5為本發(fā)明實施例四的角度檢測方法的流程示意圖，本示例中的角度檢測方法應(yīng)用于角度檢測設(shè)備，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；所述定子與電子設(shè)備的鍵盤相連，所述轉(zhuǎn)子與電子設(shè)備的屏幕相連；這里，所述電子設(shè)備可以是筆記本電腦、插拔式筆記本等電子設(shè)備；所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的兩端分別與所述電子設(shè)備主板上的輸入輸出端(GP1，General Purpose InputOutput)相連；如圖5所示，所述角度檢測方法包括以下步驟:
[0056]步驟501:通過所述GP1測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0057]本發(fā)明實施例中，柱狀定子可以是實心材質(zhì)也可以是空心材質(zhì)，柱狀轉(zhuǎn)子為空心材質(zhì)，如此，轉(zhuǎn)子可套設(shè)在定子外部，柱狀定子與柱狀轉(zhuǎn)子同心，柱狀轉(zhuǎn)子可繞同心軸繞柱狀定子轉(zhuǎn)動。本發(fā)明實施例的角度檢測設(shè)備能夠檢測轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，為此，在定子上設(shè)置一電阻，在轉(zhuǎn)子上設(shè)置一電阻；轉(zhuǎn)子上的電阻通過一金屬材質(zhì)的彈片與定子上的電阻相并聯(lián)，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對定子轉(zhuǎn)動時，彈片與定子的接觸位置相應(yīng)發(fā)生改變，從而使轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)發(fā)生改變。通過測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻，再在存儲單元中查詢與所測量到的電阻相對于的角度，即可得到轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動角度。
[0058]本發(fā)明實施例中，定子的中間設(shè)置有直線狀電阻，定子的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中，所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。如此，直線狀的電阻與線圈狀電阻共同串聯(lián)成定子上的電阻。
[0059]本發(fā)明實施例中，轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與定子上的線圈狀電阻相接觸，當(dāng)轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動時，彈片接觸到線圈的位置發(fā)生變化，致使定子與轉(zhuǎn)子相并聯(lián)的電阻發(fā)生變化。優(yōu)選地，定子左端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與定子的右端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。
[0060]本發(fā)明實施例中，在轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻兩端接通一輸入輸出電路，通過該電路的上拉電阻即可測量轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。
[0061]步驟502:基于所測量的電阻，在所述存儲單元的電阻與角度對應(yīng)關(guān)系中查詢與所述電阻相對應(yīng)的角度；其中，所述角度為所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度。
[0062]步驟503:通過檢測所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度，確定所述電子設(shè)備的鍵盤相對于屏幕的角度。
[0063]這里，轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度即為電子設(shè)備的鍵盤相對于屏幕的角度。
[0064]本發(fā)明實施例中，測量到轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻時，可在存儲單元中查詢到與電阻相對應(yīng)的角度，從而確定出當(dāng)前轉(zhuǎn)子相對于定子轉(zhuǎn)動的角度，本發(fā)明實施例的技術(shù)方案精確度高且方法簡單，由于電阻值穩(wěn)定不易改變，可實現(xiàn)長年使用之后精確度不變的特征。
[0065]本發(fā)明實施例所記載的技術(shù)方案之間，在不沖突的情況下，可以任意組合。
[0066]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種角度檢測設(shè)備，其特征在于，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并耳關(guān);其中， 當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的角度檢測設(shè)備，其特征在于，所述定子上設(shè)置有一電阻，為: 所述定子的中間設(shè)置有直線狀電阻，所述定子的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中， 所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的角度檢測設(shè)備，其特征在于，所述定子的第一端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與所述定子的第二端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。4.一種角度檢測方法，應(yīng)用于角度檢測設(shè)備，其特征在于，所述角度檢測設(shè)備包括存儲單元，所述存儲單元用于記錄電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系；所述角度檢測設(shè)備還包括一柱狀定子、套設(shè)在所述定子外部的柱狀轉(zhuǎn)子；所述定子上設(shè)置有一電阻；所述轉(zhuǎn)子上設(shè)置一有電阻；所述轉(zhuǎn)子上的電阻通過一彈片與所述定子上的電阻相接觸，而使所述轉(zhuǎn)子上的電阻與所述定子上的電阻相并聯(lián)；其中，當(dāng)所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動時，所述彈片與所述定子的接觸位置相應(yīng)改變，而使所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻相應(yīng)改變；所述角度檢測方法包括: 測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻； 基于所測量的電阻，在所述存儲單元的電阻與角度對應(yīng)關(guān)系中查詢與所述電阻相對應(yīng)的角度；其中，所述角度為所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的角度檢測方法，其特征在于，所述角度檢測方法還包括: 預(yù)先在所述存儲單元中設(shè)置電阻與角度的對應(yīng)關(guān)系。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的角度檢測方法，其特征在于，所述定子與電子設(shè)備的鍵盤相連，所述轉(zhuǎn)子與電子設(shè)備的屏幕相連；所述角度檢測方法還包括: 通過檢測所述轉(zhuǎn)子相對所述定子轉(zhuǎn)動的角度，確定所述電子設(shè)備的鍵盤相對于屏幕的角度。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的角度檢測方法，其特征在于，所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的兩端分別與所述電子設(shè)備主板上的輸入輸出端GP1相連；相應(yīng)地，所述測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻，包括: 通過所述GP1測量所述轉(zhuǎn)子與定子相并聯(lián)的電阻。8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的角度檢測方法，其特征在于，所述定子上設(shè)置有一電阻，為: 所述定子的中間設(shè)置有直線狀電阻，所述定子的兩端設(shè)置有線圈狀電阻；其中， 所述直線狀的電阻與所述線圈狀電阻串聯(lián)。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的角度檢測方法，其特征在于，所述定子的第一端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)與所述定子的第二端所設(shè)置的線圈狀電阻的圈數(shù)相同。
【文檔編號】G01B7/30GK105987663SQ201510091863
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年2月28日
【發(fā)明人】施開成, 郭彧昌
【申請人】聯(lián)想(北京)有限公司