低壓電器電觸頭超聲波無損檢測用測試塊及其組合和應(yīng)用
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于超聲波探傷裝備技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，是涉及一種低壓電器電觸頭無損檢測用測試塊及其組合和應(yīng)用。
【背景技術(shù)】
[0002]超聲波檢測是目前應(yīng)用最為廣泛的無損檢測方法之一。它具有穿透力強、設(shè)備輕便、檢測成本低、檢測效率高，并可以即時知道檢測結(jié)果等優(yōu)點。
[0003]在低壓電器的無損檢測行業(yè)中，焊接質(zhì)量的好壞是通過測量C掃圖像的釬著率作為評定的依據(jù)。在實際檢測中，僅僅通過檢測設(shè)備面板上的各種調(diào)節(jié)按鈕往往不足以定量地記錄檢測設(shè)備的靈敏度以及其他有關(guān)的檢測條件，這就給定量測量以及后續(xù)的驗證帶來困難，同時也不方便測量檢測系統(tǒng)的性能。
[0004]現(xiàn)有的測試塊有國際標(biāo)準(zhǔn)試塊和國家標(biāo)準(zhǔn)試塊，但標(biāo)準(zhǔn)試塊往往結(jié)構(gòu)復(fù)雜，且不同的標(biāo)準(zhǔn)試塊由于組成的不同其主要用途各異，檢測人員在選擇和使用時非常不便。
[0005]經(jīng)檢索發(fā)現(xiàn)，中國專利CN104777235A，公布了一種低壓電器電觸點超聲波無損檢測用弧面斜面型測試工件，包括測試塊，所述測試塊為長方體，所述長方體下表面及側(cè)表面均為平面，上表面由第一平面、傾斜角度為I?10°的第一斜面、傾斜角度為10?20°的第二斜面、圓弧半徑為10?50mm的圓柱面以及第二平面依次連接而成。該發(fā)明充分考慮低壓電器領(lǐng)域電觸頭的形狀特點，能夠配合超聲波掃描技術(shù)，完成超聲波探頭對具有斜面或圓弧面工件的檢測能力進行標(biāo)定;可以彌補其他多種標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的測試塊的不足，提高工作效率，具有很高的推廣應(yīng)用價值。
[0006]以上發(fā)明雖然可以提供一套比較完整的測試塊，但是在實際使用時，仍不能快速地根據(jù)掃查結(jié)果完成對檢測系統(tǒng)的標(biāo)定，同時，也不能方便的進行檢測設(shè)備的性能測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明的目的是設(shè)計一種低壓電器電觸頭超聲波無損檢測用測試塊及其組合和應(yīng)用，可供檢測人員方便的使用于探頭、檢測設(shè)備的性能測試、靈敏度的調(diào)整，檢測特殊形狀工件時的調(diào)整以及測量范圍的調(diào)整等方面的工作。
[0008]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
[0009]本發(fā)明提供一種低壓電器電觸頭超聲波無損檢測用測試塊，所述測試塊由三部分組成:第一部分為凸字型部件，第二部分為圓環(huán)形密封部件，第三部分為密封蓋;所述圓環(huán)形密封部件安裝在所述凸字型部件底部，所述圓形密封蓋設(shè)置在所述凸字型部件頂部，所述圓環(huán)形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封蓋之間；所述凸字型部件是指整體呈凸字型結(jié)構(gòu)，凸字型的上下兩部分均是圓柱體或長方體;所述凸字型部件內(nèi)部均設(shè)有梯形孔。
[0010]進一步的，所述凸字型部件的圓柱體或長方體的底部設(shè)有圓環(huán)形凹槽，并設(shè)有螺紋孔;所述圓環(huán)形橡膠密封墊安裝在所述圓環(huán)形凹槽內(nèi)；所述密封蓋上設(shè)有螺紋孔，所述螺紋孔與所述凸字型圓柱體或長方體底部的螺紋孔相配合，從而通過螺釘將所述三部分固定為一體。
[0011]在一優(yōu)選方式中:所述測試塊，其凸字型部件的上下兩部分均為圓柱體，圓柱體上表面為平面，內(nèi)部設(shè)有梯形孔，此種結(jié)構(gòu)測試塊稱為平面測試塊。
[0012]進一步的，所述平面測試塊分為兩種，使用時任選一種或兩種:
[0013]第一種:平面測試塊，其圓柱體內(nèi)部具有一梯形孔，且梯形孔和外部圓柱同軸;所述梯形孔為盲孔，所述梯形孔的頂部距離圓柱體的上表面有一厚度;所述測試塊的所述梯形孔底部直徑比所述梯形孔頂部直徑大；
[0014]第二種:平面測試塊，其圓柱體內(nèi)部設(shè)有第一、第二上下兩個梯形孔;所述第二梯形孔位于所述第一梯形的下面位置;所述第二梯形孔的頂部為所述第一梯形孔的底部;所述第一梯形孔的頂部至圓柱體上表面有一厚度，所述第一梯形孔底部直徑比所述第一梯形孔頂部直徑大;所述第二梯形孔的底部直徑大于所述第二梯形孔的頂部直徑。
[0015]在一優(yōu)選方式中:所述測試塊，其凸字型部件的上下兩部分均為圓柱體，所述上半部分圓柱體的上表面是球面;此種結(jié)構(gòu)測試塊稱為球面測試塊。
[0016]進一步的，所述球面測試塊，其圓柱體內(nèi)部設(shè)有一梯形孔，所述梯形孔與所述圓柱體同軸;所述測試塊內(nèi)部梯形孔的頂部圓心到所述球面有一厚度;所述測試塊梯形孔底部直徑大于所述梯形孔頂部直徑。
[0017]在一優(yōu)選方式中:所述測試塊，其凸字型部件的上半部分為類長方體，下半部分為長方體;所述類長方體是指長方體的上表面是圓柱面，且其投影為正方形;此種結(jié)構(gòu)測試塊稱為圓柱面測試塊。
[0018]進一步的，所述圓柱面測試塊內(nèi)部設(shè)有一梯形孔，所述梯形孔的中心是所述類長方體的中心;所述測試塊內(nèi)部梯形孔的頂部圓心到所述圓柱面有一厚度;所述測試塊梯形孔底部直徑略大于所述梯形孔頂部直徑。
[0019]本發(fā)明還提供一種上述低壓電器領(lǐng)域電觸頭無損檢測用測試塊的組合，所述測試塊的組合是一套測試塊，包括多個測試塊，按上表面的形狀分為3組:平面組、球面組和圓柱面組;其中平面組為至少2個平面測試塊，球面組為I個球面測試塊，圓柱面組為I個圓柱面測試塊;使用時，測試塊單獨使用其中任意一個測試塊或者多個測試塊任意組合；
[0020]所述至少2個平面測試塊，其中至少一個平面測試塊的圓柱體內(nèi)部具有一梯形孔(即第一種平面測試塊)，至少一個平面測試塊的圓柱體內(nèi)部設(shè)有第一、第二上下兩個梯形孔(即第二種平面測試塊)。具體數(shù)量根據(jù)實際需要進行選擇。
[0021]本發(fā)明還提供一種上述低壓電器領(lǐng)域電觸頭無損檢測用測試塊的應(yīng)用，是指:所述測試塊用于低壓電器領(lǐng)域電觸頭無損檢測；
[0022]利用超聲波無損檢測設(shè)備進行檢測時，目標(biāo)檢測面是測試塊內(nèi)部梯形孔的頂部圓所在的平面；
[0023]檢測時，總的檢測面積等于測試塊第一部分上半部分圓柱體或長方體的上表面的面積，而檢測結(jié)果的缺陷面積是測試塊內(nèi)部梯形孔的頂部圓的面積，理論計算釬著率為:(總的檢測面積-梯形孔頂部圓的面積)/總的檢測面積；同時，梯形孔能消除超聲無損檢測的邊緣效應(yīng)；
[0024]將理論值與檢測得到的釬著率相比較，完成對探頭的標(biāo)定；
[0025]組合使用時，得到多組理論值與實際檢測值，通過分析理論值與實際檢測值，能得到檢測設(shè)備的線性性能。
[0026]由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明的有益效果是:
[0027]本發(fā)明無損檢測用測試塊，既可以整套使用，也可以單獨使用其中任意一個測試塊或其任意組合，能夠配合超聲波掃描技術(shù)，掃查每個測試塊之后可以得到相對應(yīng)的釬著率，完成對探頭的標(biāo)定以及對檢測設(shè)備的性能測試以及靈敏度的調(diào)整等方面的工作。本發(fā)明簡單，使用方便，可替代多種標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的測試塊，提高工作效率，具有很高的推廣應(yīng)用價值。
【附圖說明】
[0028]圖1為本發(fā)明一個平面組測試塊的裝配體的軸測圖；
[0029]圖2為本發(fā)明測試塊用密封圈結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖3為本發(fā)明測試塊的底座結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖4(a)-圖4(g)為本發(fā)明平面組1#_7#測試塊第一部分的剖視圖；
[0032]圖5為本發(fā)明平面組8#測試塊第一部分的剖視圖；
[0033]圖6(a)、圖6(b)為本發(fā)明球面組9#測試塊第一部分剖視圖和軸測圖；
[0034]圖7(a)、圖7(b)為本發(fā)明柱面組10#測試塊第一部分剖視圖和軸測圖；
[0035]圖中:凸字型圓柱體或凸字型長方體1，圓環(huán)形密封部件2，密封蓋