一種實(shí)現(xiàn)cp測試的電壓檢測器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明實(shí)施例涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種實(shí)現(xiàn)CP測試的電壓檢測器。
【背景技術(shù)】
[0002]電壓檢測器可以有效防護(hù)外部輸入電壓對智能卡的攻擊。一般情況下，智能卡根據(jù)應(yīng)用要求會(huì)有一個(gè)工作電壓范圍。當(dāng)電壓超出這個(gè)范圍后電壓檢測器會(huì)產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)，這個(gè)報(bào)警電壓稱為高低壓報(bào)警點(diǎn)。這樣，由于電壓檢測器的存在，智能卡不會(huì)工作在過高或者過低的電壓下。
[0003]在設(shè)計(jì)時(shí)，電壓檢測器的報(bào)警點(diǎn)不能在智能卡正常容差范圍之內(nèi)，但又不能遠(yuǎn)離工作邊界。遠(yuǎn)離邊界，就會(huì)存在較大的風(fēng)險(xiǎn)窗口。當(dāng)電壓處于這個(gè)窗口時(shí)，電壓檢測器不會(huì)產(chǎn)生報(bào)警，但是智能卡可能已經(jīng)被攻擊。這就要求報(bào)警點(diǎn)要無限接近工作電壓范圍的邊界。在產(chǎn)品中，會(huì)設(shè)定電壓檢測器高壓、低壓報(bào)檢測點(diǎn)的容差范圍。
[0004]為了保證電壓檢測器的高低壓報(bào)警點(diǎn)都在容差范圍內(nèi)，需要在芯片級逐顆芯片測試，將不符合要求的芯片剔除。目前，一般的CP(Circuit Probing，芯片測試)測試方法是改變芯片的工作電壓，將電壓分別置為高、低壓檢測點(diǎn)容差范圍的邊界值。然后確定高低壓報(bào)警點(diǎn)是否在容差范圍內(nèi)。
[0005]例如:高壓報(bào)警點(diǎn)范圍為6V?7V之間，首先將電壓設(shè)在6V，這時(shí)電壓檢測器不產(chǎn)生報(bào)警，則說明報(bào)警點(diǎn)高于6V，若報(bào)警，說明報(bào)警點(diǎn)S6V;其次將報(bào)警點(diǎn)設(shè)在7V，這時(shí)電壓檢測器若產(chǎn)生報(bào)警，則說明報(bào)警點(diǎn)< 7V，若不報(bào)警，則說明報(bào)警點(diǎn)>7V。綜上所述，若要求報(bào)警點(diǎn)在6V?7V之間，則在6V時(shí)，電壓檢測器不會(huì)報(bào)警，在7V時(shí)，電壓檢測器會(huì)產(chǎn)生報(bào)警。同理的，測試低壓報(bào)警點(diǎn)也可以采用同樣的方法。
[0006]但是，目前通過改變電壓來測試電壓檢測器的方法需要設(shè)置四次外部電壓才能夠測定電壓檢測器高低壓報(bào)警點(diǎn)的范圍，導(dǎo)致測試時(shí)間成本增加。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明實(shí)施例提供一種實(shí)現(xiàn)CP測試的電壓檢測器，能夠?qū)崿F(xiàn)在一個(gè)電壓下同時(shí)進(jìn)行高低壓報(bào)警點(diǎn)的測試。
[0008]本發(fā)明實(shí)施例提供一種實(shí)現(xiàn)CP測試的電壓檢測器，包括:傳感器電路，用于感應(yīng)智能卡電源電壓，并將所述電源電壓傳遞給判決電路;判決電路，由比較器構(gòu)成，用于將傳感器電路傳遞過來的電源電壓與參考基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較，并將模擬信號(hào)的比較結(jié)果轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)的比較結(jié)果;邏輯電路，用于根據(jù)判決電路傳遞過來的比較結(jié)果進(jìn)行電壓檢測器的CP測試，如果比較結(jié)果不在預(yù)先設(shè)定的容差范圍內(nèi)，則輸出報(bào)警信號(hào)。
[0009]進(jìn)一步地，所述裝置還包括CP測試電路;所述CP測試電路位于傳感器電路和判決電路之間，用于接收傳感器電路傳遞過來的電源電壓，并將電源電壓進(jìn)行高壓和低壓選擇，傳送給判決電路。
[0010]進(jìn)一步地，所述CP測試電路包括模式控制開關(guān)，該模式控制開關(guān)由并聯(lián)的第一開關(guān)、第二開關(guān)和第三開關(guān)組成;通過控制所述模式控制開關(guān)，所述CP測試電路進(jìn)入工作模式或CP測試模式。
[0011]進(jìn)一步地，所述CP測試電路中的第一開關(guān)關(guān)閉，第二開關(guān)和第三開關(guān)打開，進(jìn)入工作模式，所述CP測試電路對從傳感器電路接收到的電源電壓的高壓信號(hào)和低壓信號(hào)分別對應(yīng)的進(jìn)行高壓檢測和低壓檢測。
[0012]進(jìn)一步地，所述電源電壓預(yù)先設(shè)為預(yù)期電壓值;所述CP測試電路中的第二開關(guān)關(guān)閉，第一開關(guān)和第三開關(guān)打開，進(jìn)入低壓的CP測試模式，所述CP測試電路對從傳感器電路接收到的電源電壓的低壓信號(hào)進(jìn)行檢測，確定低壓報(bào)警點(diǎn)的下限;所述CP測試電路中的第三開關(guān)關(guān)閉，第一開關(guān)和第二開關(guān)打開，進(jìn)入高壓的CP測試模式，所述CP測試電路對從傳感器電路接收到的電源電壓的高壓信號(hào)進(jìn)行檢測，確定高壓報(bào)警點(diǎn)的上限。
[0013]進(jìn)一步地，如果電壓檢測器接收到測試模式信號(hào)VD_TESTEN，電壓檢測器通過控制CP測試電路的模式控制開關(guān)處于CP測試模式，第一次采樣電壓檢測器的高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào);如果電壓檢測器接收到測試模式信號(hào)VD_SC，第二次采樣電壓檢測器的高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào);如果第一次采樣和第二次采樣的高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào)都在預(yù)先設(shè)定的容差范圍內(nèi)，則所述電壓檢測器高壓報(bào)警點(diǎn)和低壓報(bào)警點(diǎn)在容差范圍內(nèi)。
[0014]進(jìn)一步地，所述電壓檢測器接收到測試模式信號(hào)VD_TESTEN之前，將智能卡上電，POR置為高電平，使電壓檢測器處于工作狀態(tài)。
[0015]進(jìn)一步地，所述第一次采樣時(shí)，如果高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào)輸出為高電平，則電壓檢測器的高壓報(bào)警點(diǎn)和低壓報(bào)警點(diǎn)高于容差范圍的下限，在容差范圍內(nèi)；如果高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào)輸出為低電平，則電壓檢測器的高壓報(bào)警點(diǎn)和低壓報(bào)警點(diǎn)低于容差范圍的下限，超出了容差范圍。
[0016]進(jìn)一步地，所述第二次采樣時(shí)，如果高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào)輸出為低電平，則電壓檢測器的高壓報(bào)警點(diǎn)和低壓報(bào)警點(diǎn)低于容差范圍的上限，在容差范圍內(nèi)；如果高壓輸出信號(hào)和低壓輸出信號(hào)輸出為高電平，則電壓檢測器的高壓報(bào)警點(diǎn)和低壓報(bào)警點(diǎn)高于容差范圍的上限，超出了容差范圍。
[0017]進(jìn)一步地，所述電壓檢測器在一個(gè)電壓下同時(shí)進(jìn)行高壓報(bào)警點(diǎn)和低壓報(bào)警點(diǎn)的CP測試。
[0018]本發(fā)明實(shí)施例提供的實(shí)現(xiàn)CP測試的電壓檢測器，通過系統(tǒng)配合，可以降低測試電路的復(fù)雜性;不需要改變電源電壓，只需在設(shè)定的電源電壓下，就可以完成電壓檢測器檢測點(diǎn)容差范圍的測試;在測試時(shí)，將外部電壓置于預(yù)期值后，高壓檢測點(diǎn)和低壓檢測點(diǎn)可以同時(shí)測試，大大節(jié)省時(shí)間成本;并且在測試時(shí)，內(nèi)部電源電壓檢測器和外部電源電壓檢測器的報(bào)警點(diǎn)可以同時(shí)進(jìn)行，這樣會(huì)進(jìn)一步節(jié)省時(shí)間成本；電壓檢測器有正常工作模式和CP測試模式，兩種模式受系統(tǒng)控制，在檢測器正常工作時(shí)，CP測試模式關(guān)閉，電壓檢測器不會(huì)產(chǎn)生額外的功耗;此外，由于測試時(shí)的電壓可以任意設(shè)置，這樣就降低對測試設(shè)備的要求，無需設(shè)備提供很高的電壓。
[0019]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。
【附圖說明】
[0020]附圖用來提供對本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本申請的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明的技術(shù)方案，并不構(gòu)成對本發(fā)明技術(shù)方案的限制。
[0021]圖1為本發(fā)明實(shí)施例中電壓檢測器的電路示意圖；
[0022]圖2為本發(fā)明實(shí)施例中電壓檢測器的CP測試的電路示意圖；
[0023]圖3本發(fā)明實(shí)施例中電壓檢測器在CP測試時(shí)的時(shí)序信息的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。
[0025]在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中執(zhí)行。并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。
[0026]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種高效的電壓檢測器的CP測試方案，通過在智能卡系統(tǒng)的配合下，實(shí)現(xiàn)該電壓檢測器的高低壓報(bào)警點(diǎn)測試在一個(gè)電壓下同時(shí)進(jìn)行，從而實(shí)現(xiàn)電壓檢測器高效的CP測試。
[0027]圖1為本發(fā)明實(shí)施例中電壓檢測器的電路示意圖。如圖1所示，實(shí)現(xiàn)該電壓檢測器電路100包括:傳感器電路101、判決電路102、邏輯電路103，其中，
[0028]傳感器電路101，用于感應(yīng)智能卡電源電壓，并將該電源電壓傳遞給判決電路102;
[0029]判決電路102，由比較器構(gòu)成，用于將傳感器電路101傳遞過來的電源電壓與參考基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較，并將模擬信號(hào)的比較結(jié)果轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)的比較結(jié)果；
[0030]邏輯電路103，用于對判決電路102傳遞過來的數(shù)字信號(hào)的比較結(jié)果進(jìn)行處理，如果比較結(jié)果不在預(yù)先設(shè)定的容差范圍內(nèi)，則根據(jù)比較結(jié)果輸出報(bào)警信號(hào)，具體過程包括當(dāng)電源電壓高于容差范圍，高壓檢測輸出HVOUT產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)，當(dāng)電源電壓低于容差范圍，低壓檢測輸出LVOUT產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)。
[0031]本發(fā)明實(shí)施例中電壓檢測器的CP測試原理是:電壓檢測器檢測電源變化的實(shí)質(zhì)是變化的電源電壓通過傳感器電路與參考基準(zhǔn)電壓比較，確定電源電壓是否超出容差范圍，從而能夠保證傳感器電路不產(chǎn)生誤差，參考基準(zhǔn)不會(huì)受電源電壓的影響，并且對同一個(gè)芯片判決電路的偏差是定值，則電壓檢測器的最終偏差就是由參考基準(zhǔn)電壓的偏差和判決電路的偏差決定。
[0032]此外，還可以預(yù)先確定參考基準(zhǔn)電壓與容差范圍中高低壓報(bào)警點(diǎn)的比例關(guān)系，如果測得參考基準(zhǔn)電壓和判決電路的偏差，通過參考基準(zhǔn)電壓與高低壓報(bào)警點(diǎn)的比例關(guān)系，就可以確定電壓檢測器的高低壓報(bào)警點(diǎn)的偏離范圍。
[0033]圖2為本發(fā)明實(shí)施例中電壓檢測