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一種pos機具空間場強測定方法

文檔序號:9373477閱讀:494來源:國知局
一種pos機具空間場強測定方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及POS機具的測定方法,具體地涉及POS機具的空間場強測定方法。
【背景技術】
[0002] 現有金融智能卡和POS機具遵循的測試規(guī)范主要為EMVCo和IS010373 - 6,兩份 規(guī)范中都定義了機具需要滿足提供能量的區(qū)間并給出了具體的測試方法和區(qū)間值。
[0003] (I) EMVCo定義中存在空間的概念,通過Test PICC測量出的電壓值,查看測量值 是否落在規(guī)定要求內,單位為V (伏特)。
[0004] (2) IS010373 - 6規(guī)范定義中不存在空間的概念,通過校準后的Reference PICC 測量出電壓值,查看是否大于協議要求的電壓值,如果大于則滿足協議要求的1. 5~7. 5A/ m的場強要求,單位為A/m (安倍/米)。
[0005] EMVCo與IS010373 - 6的測試方法是以是否滿足協議區(qū)間為目的的,而非直接標 定機具能量、給出定量的結果。
[0006] 機具在空載(無卡)和有載(有卡)條件下,表面場強是不一樣的。通常放置卡片負 載后,場強要比空載低,由于不同的卡片負載大小不一樣,在機具表面度量出來的有載場強 也不一致。因此需要統(tǒng)一^^片負載類型。IS010373 - 6規(guī)定的Reference PICC因需要調 節(jié)諧振頻率并且只能選用線性負載,所以測試結果在空間測試中不具有統(tǒng)一性,結果容易 失真。
[0007] EMVCo協議規(guī)定的Test PICC具有固定的諧振頻率并且使用非線性負載(非線性 負載更接近于實際卡片模型)。但是由于EMVCo協議對RF能量的單位為V,而IS010373 - 6 (14443)協議對RF能量的單位為A/m,因此無法進行比較。
[0008] 現有金融智能卡和POS機具的規(guī)范中只定義了被測POS機具需要滿足的場強區(qū) 間,并沒有針對場強的具體標量值進行規(guī)范和定義。在同樣滿足協議規(guī)范要求的前提下,無 法對現有的金融POS機具進行性能上的橫向比較,只能通過實際使用時,根據經驗較定性 地進行性能比較。
[0009]

【發(fā)明內容】

[0010] 鑒于上述問題,本發(fā)明旨在提供一種能夠標定量化POS機具場強的POS機具空間 場強測定方法。
[0011] 本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法,其特征在于,包括下述步驟: 對應關系表建立步驟,建立模擬卡作為標準卡時的電壓與磁場強度的對應關系表; 空載場強測定步驟,將校驗線圈放置在POS機具表面,測定校驗線圈的峰峰值電壓 Vpp,并根據所述峰峰值電壓Vpp獲得POS機具的空載場強He ; 有載場強測定步驟,將模擬卡放置在POS機具表面空間的一個或多個點上,測得模擬 卡的對應的一個或多個端口電壓,并根據所述對應關系表獲得該電壓下的一個或多個場強 值。
[0012] 優(yōu)選地,在所述有載場強測定步驟中,將模擬卡放置在POS機具表面空間的多個 點上,測得模擬卡的對應的多個端口電壓值,并根據所述對應關系表獲得該電壓下的多個 場強值, 在所述有載場強測定步驟之后還具備: 空間場強模型建立步驟,根據獲得所述多個場強值,建立基于所述表面空間的多個點 的空間場強模型。
[0013] 優(yōu)選地,在所述空間場強模型建立步驟中,模擬實際刷卡動作建立錐形的空間場 強模型。
[0014] 優(yōu)選地,所述模擬卡被設定為非線性負載。
[0015] 優(yōu)選地,所述對應關系表建立步驟包括下述子步驟: 將模擬卡放置在測試用三層天線上; 進行場強遞增掃描; 在每個場強點記錄模擬卡上測得的端口電壓值; 根據每個場強點上測得的端口電壓值,建立模擬卡的電壓與磁場強度的對應關系表。
[0016] 優(yōu)選地,所述測試用三層天線被預先校準為50歐姆天線匹配。
[0017] 優(yōu)選地,所述場強遞增掃描是以OA/m為起點,0. 2A/m為步進,12A/m為終點進行場 強掃描。
[0018] 優(yōu)選地,所述空載場強測定步驟包括下述子步驟: 將所述校驗線圈放置在POS機具表面; 用示波器測量校驗線圈的峰峰值電壓Vpp ; 按照下述公式,根據所述峰峰值電壓Vpp計算POS機具的空載場強He,
[0019] 優(yōu)選地,所述有載場強測定步驟包括下述子步驟: 將模擬卡放置在POS機具表面空間的一個點上; 測得模擬卡在該位置點上的端口電壓; 根據所述對應關系表獲得該電壓下的對應的場強值; 重復進行上述三個子步驟以獲得多個場強值。
[0020] 如上所述,根據本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法,能夠直接測得POS機具空間 中某個點的場強值,并且能夠根據獲得的場強值建立機具空間場強的模型。
[0021]
【附圖說明】
[0022] 圖1是表示本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法的步驟圖。
[0023] 圖2是表示本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法中的電路連接關系的一個示例的 示意圖。
[0024] 圖3是表示用感應法測量磁場時的探測線圈與磁場的關系示意圖。
[0025] 圖4是表TK用本發(fā)明POS機具空間場強測定方法模擬實際刷卡時POS機具場強模 型的建立圖。
[0026]
【具體實施方式】
[0027] 下面介紹的是本發(fā)明的多個實施例中的一些,旨在提供對本發(fā)明的基本了解。并 不旨在確認本發(fā)明的關鍵或決定性的要素或限定所要保護的范圍。
[0028] 圖1是表示本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法的步驟圖。
[0029] 下面參照圖1對于本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法進行說明。如圖1所示, 本發(fā)明的POS機具空間場強測定方法,包括下述步驟: 對應關系表建立步驟SlOl :建立模擬卡作為標準卡時的電壓與磁場強度的對應關系 表; 空載場強測定步驟S102 :將校驗線圈放置在POS機具表面,測定校驗線圈的峰峰值電 壓VPP,并根據所述峰峰值電壓Vpp獲得POS機具的空載場強He ; 有載場強測定步驟S103 :將模擬卡放置在POS機具表面空間的一個或多個點上,測得 模擬卡的對應的一個或多個端口電壓,并根據所述對應關系表獲得該電壓下的一個或多個 場強值; 空間場強模型建立步驟S104 :根據獲得所述多個場強值,建立基于所述表面空間的多 個點的空間場強模型(步驟S104是可選步驟,是在步驟S103中測定多個空間點的情況下用 于構建空間場強模型的步驟)。
[0030] 下面對于步驟SlOl~步驟S104進行具體說明。
[0031] (1)對應關系表建立步驟SlOl 對應關系表建立步驟SlOl包括下述子步驟: 將模擬卡設定為非線性負載; 示波器探頭進行校準; 將IS010373-6的測試用三層天線校準為50歐姆天線匹配; 連接微處理器、功率放大器、測試三層天線和示波器; 將模擬卡放置在測試三層天線上; 進行場強遞增掃描; 在每個場強點記錄模擬卡上測得的端口電壓值; 根據每個場強點上測得的端口電壓值,建立模擬卡的電壓與磁場強度的對應關系表。
[0032] 其中,所謂模擬卡是指:能模擬卡片的行為(諧振頻率,負載等特性)來對讀卡機進 行測試的裝置。由于實際卡片在POS機具場強中呈現一種非線性負載效應,當RF場強較低 時,卡片內的整流電路為不開啟,卡片呈現高阻抗,不工作;當RF場強大于卡片內整流電路 開啟電壓后,整流電路工作,卡片呈現為固定負載效應,模擬卡如果使用固定電阻電容的線 性負載無法完全等效實際卡片在不同場強上的負載情況;而使用非線性負載可以很好的等 效出實際卡片的負載效應,真實還原卡片在讀卡器場強中的使用情況。
[0033] 在本發(fā)明中采用的"測試三層天線"(即"Test Bench")是ISO 10373-6規(guī)范中規(guī) 定使用的標準測試天線,主要用途是進行能量和信號的傳遞及場強測量等。在本發(fā)明中,可 以把"三層天線"接口的阻抗校準為50Ω,以便通過50Ω同軸電纜與讀卡機連接,而讀卡 機輸出也采用50Ω阻抗,這樣保證能量能較好的傳遞,信號不發(fā)生畸變。這是因為在電子 行業(yè)50 Ω阻抗匹配為標準匹配方式之一。
[0034] 關于微處理器、功率放大器、測試天線和示波器的連接,在圖2示出了一個實施方 式。如圖2所示,測試三層天線100的輸出連接到功率放大器200,功率放大器200的輸出 輸入到微處理器300,另一方面測試三層天線100的輸出也連接到示波器400,示波器400 的輸出連接到微處理器300,計算機500分別可以與微處理器300、示波器400連接。其中, 計算機500與示波器400的連接,以及計算機500與微處理器300的連接可以使用USB、
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