用于led結溫k系數(shù)的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于半導體器件測試技術領域，尤其涉及一種LED結溫K系數(shù)的測試裝置。
【背景技術】
[0002]半導體發(fā)光二極管(LED)照明被認為是21世紀最具發(fā)展前景的光源之一，具有節(jié)能、長壽命、綠色環(huán)保等優(yōu)點，為節(jié)省城市建設資金、緩解用電矛盾、構建節(jié)約型社會做出了重大貢獻。
[0003]對于LED結溫K系數(shù)測試用裝置，一般采用鋁基板固定LED器件和控溫裝置來實現(xiàn)，現(xiàn)有技術常采用將恒溫槽開口后將LED電源線引出，容易造成恒溫環(huán)境不穩(wěn)定，直接導致LED結溫K系數(shù)時測試產(chǎn)生較大的誤差，難以保證K系數(shù)測量的準確性，且每次更換樣品需要焊接LED器件，安裝及更換樣品不方便，測試效率較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術問題是:克服現(xiàn)有技術中LED結溫K系數(shù)測試裝置測試產(chǎn)生較大誤差的不足，提供一種用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置。
[0005]為解決上述技術問題，本發(fā)明所采用的技術方案如下:包括溫度控制器、設置在所述溫度控制器上的恒溫槽、導電探針和彈簧片；
[0006]所述恒溫槽內(nèi)設置有用于固定LED的空間，所述的恒溫槽側壁上設置有通孔，所述導電探針通過所述通孔一端進入恒溫槽內(nèi)；所述的彈簧片兩端分別與所述溫度控制器和位于恒溫槽外的導電探針連接。
[0007]作為優(yōu)選，為有效控制恒溫槽內(nèi)的溫度，所述的溫度控制器為導體制冷器或熱電半導體制冷器。
[0008]作為優(yōu)選，所述的恒溫槽為鋁基板、銅基板或陶瓷基板材質(zhì)。
[0009]進一步地，所述的彈簧片一端固定設置在溫度控制器上。
[0010]本發(fā)明的有益效果是，恒溫性能較好，實用性強，能夠減少測量誤差，且更換被測樣品方便，略去常規(guī)LED引腳與導線焊接等繁瑣過程，效率高，可滿足多種LED型號測試要求。
【附圖說明】
[0011]下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。
[0012]圖1為用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置結構示意圖；
[0013]圖中1.溫度控制器、2.恒溫槽、3.導電探針，4.彈簧片，5.LED。
【具體實施方式】
[0014]現(xiàn)在結合附圖對本發(fā)明作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本發(fā)明的基本結構，因此其僅顯示與本發(fā)明有關的構成。
[0015]實施例1
[0016]用于LED5結溫K系數(shù)的測試裝置，包括溫度控制器1、設置在所述溫度控制器I上的恒溫槽2、導電探針3和彈簧片4 ;
[0017]所述恒溫槽2內(nèi)設置有用于固定LED5的空間，所述的恒溫槽2側壁上設置有通孔，所述導電探針3通過所述通孔一端進入恒溫槽2內(nèi)；所述的彈簧片4一端固定連接在所述溫度控制器1，另一端與位于恒溫槽2外的導電探針3連接。
[0018]本實施例中溫度控制器I采用半導體制冷器，恒溫槽2采用鋁基板材質(zhì)，恒溫槽2側壁上對稱設置兩個通孔，相應的測試裝置設置兩個導電探針3和彈簧片4。測試時將溫度控控制器I溫度設置為25°C，將待測LED5利用導熱硅膠粘合在恒溫槽2內(nèi)鋁基板上，按壓彈簧片4并調(diào)整導電探針3，利用彈簧片4使得導電探針3 —端壓緊LED5引腳，供電使得LED5穩(wěn)定后通過相關設備連接導電探針3進行結溫K系數(shù)的測試；測試完畢后，按壓導電探針3，使得導電探針3與LED5引腳分離，以便更換其他待測LED5進行測試。相對于常規(guī)方式，采用導電探針3方便更換樣品，略去焊接繁瑣過程，效率高，且恒溫槽2恒溫性能較好，實用性強，可滿足多種LED5型號測試要求。
[0019]本發(fā)明不限于以上實施方式，在本發(fā)明的精神和權利要求的保護范圍內(nèi)，對本發(fā)明作的任何修改和改變，均應任務是本發(fā)明的保護范圍。
【主權項】
1.一種用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置，其特征在于:包括溫度控制器(1)、設置在所述溫度控制器⑴上的恒溫槽(2)、導電探針(3)和彈簧片⑷； 所述恒溫槽(2)內(nèi)設置有用于固定LED(5)的空間，所述的恒溫槽(2)側壁上設置有通孔，所述導電探針(3)通過所述通孔一端進入恒溫槽(2)內(nèi)；所述的彈簧片(4)兩端分別與所述溫度控制器⑴和位于恒溫槽⑵外的導電探針⑶連接。2.根據(jù)權利要求1所述的用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置，其特征在于:所述的溫度控制器(I)為導體制冷器或熱電半導體制冷器。3.根據(jù)權利要求1所述的用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置，其特征在于:所述的恒溫槽(2)為鋁基板、銅基板或陶瓷基板材質(zhì)。4.根據(jù)權利要求1所述的用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置，其特征在于:所述的彈簧片(4) 一端固定設置在溫度控制器(I)上。
【專利摘要】本發(fā)明屬于半導體器件測試技術領域，一種用于LED結溫K系數(shù)的測試裝置，包括溫度控制器、設置在所述溫度控制器上的恒溫槽、導電探針和彈簧片；所述恒溫槽內(nèi)設置有用于固定LED的空間，所述的恒溫槽側壁上設置有通孔，所述導電探針通過所述通孔一端進入恒溫槽內(nèi)；所述的彈簧片兩端分別與所述溫度控制器和位于恒溫槽外導電探針連接。本發(fā)明的有益效果是，恒溫性能較好，實用性強，能夠減少測量誤差，且更換被測樣品方便，略去常規(guī)LED引腳與導線焊接等繁瑣過程，效率高，可滿足多種LED型號測試要求。
【IPC分類】G01R31/44, G01R31/26, G01R1/067, G05D23/19
【公開號】CN105044583
【申請?zhí)枴緾N201510307527
【發(fā)明人】王田虎, 羅印升, 顏怡, 宋偉, 張曉玲
【申請人】江蘇理工學院
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年6月5日