一種控制面板透光校檢方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種控制面板透光校檢方法，屬檢測技術(shù)。
【背景技術(shù)】
[0002]公知的在電氣產(chǎn)品中存在著大量的面板類部件，面板類部件主要用于安裝按鈕開關(guān)、指示燈、儀器儀表等器件。面板類部件一般都是操作界面，在操作界面中按鈕開關(guān)、指示燈、儀器儀表的下方有各種不同的字符提示。面板在生產(chǎn)加工時(shí)存在兩大問題:一是加工尺寸較多，通常在面板中需要加工多個(gè)不同大小的圓孔及方孔。二是在不同形狀的圓孔及方孔周圍有著較多的字符提示。常規(guī)的校檢方法是:依據(jù)圖紙對(duì)面板的每一個(gè)加工尺寸進(jìn)行測量，有多少個(gè)加工尺寸就必須測量多少次，對(duì)面板中的字符校對(duì)尺寸及內(nèi)容。此種作業(yè)方法的存在的缺陷是:每個(gè)加工尺寸、每個(gè)字符尺寸都必須進(jìn)行測量，校檢面板的效率太低；很多細(xì)小的字符不容易進(jìn)行檢測及校對(duì)，出錯(cuò)率較高，容易產(chǎn)生漏檢。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決現(xiàn)有控制面板校檢方法的不足本發(fā)明提供一種控制面板透光校檢方法，該方法改變了現(xiàn)有的檢測工藝方法。使得面板的校檢簡單化，提高了校檢面板的效率及降低了面板校檢的出錯(cuò)率，節(jié)約了生產(chǎn)成本。
[0004]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:根據(jù)具體產(chǎn)品面板的外形尺寸制作一個(gè)能夠從底部發(fā)射出光線的透光檢測工作臺(tái)；將面板檢測圖紙采用透明的薄膜紙進(jìn)行1:1的打印，獲得1:1面板透明檢測圖紙；將需要檢測的面板放置透光檢測工裝上，然后將制作的1:1透明校檢圖紙放置在面板上面，找準(zhǔn)基準(zhǔn)，依據(jù)透光的大小、范圍、亮度對(duì)面板的尺寸與字符進(jìn)行校檢。
[0005]本發(fā)明的有益效果是:通過透光技術(shù)完成了電氣產(chǎn)品面板的尺寸檢測與字符檢測，檢查效率高，出錯(cuò)率低，減少了校檢的檢測工具。
【具體實(shí)施方式】
[0006]例:一機(jī)器面板它共有開孔25個(gè)，面板字符共有40個(gè)。根據(jù)具體面板的外形尺寸制作一個(gè)能夠從底部發(fā)射出光線的透光檢測工作臺(tái)，透光檢測工作臺(tái)的制作果用節(jié)能燈進(jìn)行制作，采用封閉式的燈箱方法制作而成一個(gè)工作臺(tái)面。該工作臺(tái)采用開關(guān)控制。在設(shè)計(jì)的過程中考慮光線度及操作的方便性。將機(jī)器面板原有的檢測圖紙采用透明薄膜進(jìn)行1:1的打印。將需要校檢的機(jī)器面板放置在透光檢測工作臺(tái)上，打開電源，然后將透明的檢測圖紙找準(zhǔn)基準(zhǔn)放置在養(yǎng)路機(jī)械電氣產(chǎn)品面板，面板上面依據(jù)透光的大小、范圍、亮度開始進(jìn)行尺寸與字符進(jìn)行校檢，可以清楚明顯的校檢出是否偏差的現(xiàn)象。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種控制面板透光校檢方法，其特征是:根據(jù)具體產(chǎn)品面板的外形尺寸制作一個(gè)能夠從底部發(fā)射出光線的透光檢測工作臺(tái)；將面板檢測圖紙采用透明的薄膜紙進(jìn)行1:1的打印，獲得1:1面板透明檢測圖紙；將需要檢測的面板放置透光檢測工裝上，然后將制作的1:1透明校檢圖紙放置在面板上面，找準(zhǔn)基準(zhǔn)，依據(jù)透光的大小、范圍、亮度對(duì)面板的尺寸與字符進(jìn)行校檢。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種控制面板透光校檢方法，其特征是:通過透光技術(shù)完成了電氣產(chǎn)品面板的尺寸與字符的校檢。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種控制面板透光校檢方法，屬檢測技術(shù)。本發(fā)明提供一種控制面板透光校檢方法，根據(jù)具體產(chǎn)品面板的外形尺寸制作一個(gè)能夠從底部發(fā)射出光線的透光檢測工作臺(tái)；將面板檢測圖紙采用透明的薄膜紙進(jìn)行1:1的打印，獲得1:1面板透明檢測圖紙；將需要檢測的面板放置透光檢測工裝上，然后將制作的1:1透明校檢圖紙放置在面板上面，找準(zhǔn)基準(zhǔn)，依據(jù)透光的大小、范圍、亮度對(duì)面板的尺寸與字符進(jìn)行校檢。本發(fā)明的有益效果是：通過透光技術(shù)完成了電氣產(chǎn)品面板的尺寸檢測與字符檢測，檢查效率高，出錯(cuò)率低，減少了校檢的檢測工具。
【IPC分類】G01B11-00, G01N21-88
【公開號(hào)】CN104677268
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310603913
【發(fā)明人】孫進(jìn)
【申請(qǐng)人】孫進(jìn)
【公開日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2013年11月26日