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一種無需分割光纖端差的測試方法

文檔序號(hào):8337753閱讀:532來源:國知局
一種無需分割光纖端差的測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試技術(shù),特別是一種無需分割光纖端差的測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]根據(jù)國標(biāo)規(guī)定,光纖產(chǎn)品應(yīng)給出端差值并在給定的指標(biāo)內(nèi)。端差通常的測試方法是光纖的E端(一盤光纖的結(jié)束端)與S端(一盤光纖的開始端)衰減之差值。由于光纖存在不均勻性(原材料及制造工藝等引起),當(dāng)用戶將一盤光纖分割成短光纖制造光纜時(shí),端差值往往會(huì)發(fā)生變化與測試值不符,造成融接損失,衰減超標(biāo)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種可以在不分割光纖的情況下,準(zhǔn)確測試長光纖端差的方法,其技術(shù)方案如下:
[0004]在一根光纖的末端E與始端S之間,選取A、B長度及E端和S端中任一端為起始掃描端,A點(diǎn)距起始掃描端Lm,Lm彡O, AB長度從A點(diǎn)開始,以步長Lb向另一端移動(dòng)掃描測量各AB移動(dòng)點(diǎn)衰減值,在距另一端Lm處停止,最后一步長度若不是Lb整數(shù),則在距另一端Lm+余長Ly處停止,然后再由此點(diǎn)以同樣步長返回掃描至起始掃描端,測量各相同位置AB點(diǎn)的衰減值,把兩次測量的各相同位置AB長度點(diǎn)的衰減值相減,擬合成端差衰減曲線。AB長度取為2Km,Lm取為100m,Lb取為200m。測試前將待測光纖與假光纖接好,接續(xù)點(diǎn)取為待測光纖的E端和S端并將MARKER線放在假光纖與待測光纖的接續(xù)處。小于50Km的光纖,在1310波長下接續(xù),大于50Km的光纖在1550波長下接續(xù)。
【附圖說明】
[0005]圖1是端差測試原理圖;
[0006]圖2、3是光纖不均勻時(shí)的入射光及反射光示意圖;
[0007]圖4是端差計(jì)算不意圖;
[0008]圖5、6是本發(fā)明的測試方法示意圖;
[0009]圖7是端差衰減曲線。
【具體實(shí)施方式】
[0010]參見圖1至圖6假設(shè)一根待測光纖為10Km,選取A、B長度為2Km (因?yàn)楣饫|的長度一般為2-6Km,AB取太短則數(shù)據(jù)處理時(shí)間較長,不適合批量生產(chǎn);取太長則測量不準(zhǔn)確),以開始從E端向S端掃描為例,A點(diǎn)距接續(xù)點(diǎn)E端取Lm=10m,其目的是避過盲區(qū)使測試更準(zhǔn)確。(也可從E端開始掃描,即Lm=0,但測試值會(huì)不理想。Lm取值多少與接續(xù)質(zhì)量有關(guān),一般情況下的較佳值取Lm=10m)。從E端后10m處A點(diǎn)以步長Lb=200m向S端進(jìn)行掃描測量(AB — A1B1 —…ΑηΒη,ΑρΑ+Ι^ΒρΒ+Ιν..An=AnJLb, Bn=Bn-^Lb,類推),在距 S 端 Lm=10m處停止,其目的是避過盲區(qū),使測試更準(zhǔn)確。如果掃描長度不是步長Lb的整數(shù)倍,則在Lm+余長Ly處停止,計(jì)算每2Km長度上的衰減,然后在從距S端Lm+Ly處返回向E端同步長掃描。測出各同樣兩點(diǎn)的衰減值,把兩次測量的相同位置AB兩點(diǎn)向的衰減值相減擬合一條端差曲線(圖7)。根據(jù)此曲線就可分析出一根光纖上的端差情況,如果我們給定端差值,計(jì)算機(jī)可以給出超過給定值的所有段長的具體位置,超標(biāo)的段長分割報(bào)廢。以上掃描計(jì)算及擬合過程均是由計(jì)算機(jī)軟件實(shí)現(xiàn),用本發(fā)明方法還可測試光纖的長度,衰減和不均勻性,實(shí)際測量結(jié)果準(zhǔn)確性在90%以上,重復(fù)性達(dá)0.005dB/Km。
[0011]實(shí)施注意事項(xiàng):
[0012]1、小于50Km的光纖,在1310波長下接續(xù),觀察其末端是否有菲涅爾反射峰;
[0013]2、大于50Km的光纖,在1550波長下接續(xù),觀察其末端是否有菲涅爾反射峰;
[0014]3、測量前將待測光纖與假光纖接好,使其接續(xù)損失< 0.5dB ;
[0015]4、測量時(shí)將待MARKER線放在假光纖的接續(xù)處,以顯示測量中接續(xù)損失是否符合要求;
[0016]5、一般情況1310端差大于1550端差,如果發(fā)現(xiàn)1550大于1310時(shí),再測一次,以確認(rèn);
[0017]6、端差值通常不超過0.ldB/Km,如果超過此值重新測試一次;
[0018]7、將端差軟件測試的長度和張力度相比,誤差超過1%需重新測試;
[0019]8、損失值一端正常,另一端異常大或異常小,測試可能有誤,需重新測試;
[0020]9、先測試光纖的E端,將E端接續(xù)好后再取S端,以防S、E端混淆(也可先測試S端,再取E端);
[0021]10、特別注意不要用同一端測試;
[0022]11、波形不良的光纖無法測試端差。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種無需分割光纖端差的測試方法,其特征在于:在一根光纖的末端E與始端S之間,選取A、B長度及E端和S端中任一端為起始掃描端,A點(diǎn)距起始掃描端Lm,Lm ^ O, AB長度從A點(diǎn)開始,以步長Lb向另一端移動(dòng)掃描測量各AB移動(dòng)點(diǎn)衰減值,在距另一端Lm處停止,最后一步長度若不是Lb整數(shù),則在距另一端Lm+余長Ly處停止,然后再由此點(diǎn)以同樣步長返回掃描至起始掃描端,測量各相同位置AB點(diǎn)的衰減值,把兩次測量的各相同位置AB長度點(diǎn)的衰減值相減,擬合成端差衰減曲線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種無需分割光纖端差的測試方法,其特征在于:AB長度取為 2Km, Lm 取 100m, Lb 取 200m。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種無需分割光纖端差的測試方法,其特征在于:測試前將待測光纖與假光纖接好,接續(xù)點(diǎn)取為待測光纖的E端和S端并將MARKER線放在假光纖與待測光纖的接續(xù)處。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種無需分割光纖端差的測試方法,其特征在于:是待測光纖小于50Km的光纖,在1310波長下接續(xù),大于50Km的光纖在1550波長下接續(xù)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種無需分割光纖端差的測試方法,其特征是在一根光纖的末端E與始端S之間,選取A、B長度及E端和S端中任一端為起始掃描端,A點(diǎn)距起始掃描端Lm,Lm≥0,AB長度從A點(diǎn)開始,以步長Lb向另一端移動(dòng)掃描測量各AB移動(dòng)點(diǎn)衰減值,在距另一端Lm處停止,最后一步長度若不是Lb整數(shù),則在距另一端Lm+余長Ly處停止,然后再由此點(diǎn)以同樣步長返回掃描至起始掃描端,測量各相同位置AB點(diǎn)的衰減值,把兩次測量的各相同位置AB長度點(diǎn)的衰減值相減,擬合成端差衰減曲線。
【IPC分類】G01M11-02
【公開號(hào)】CN104655400
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310594952
【發(fā)明人】鞠洪建
【申請(qǐng)人】大連惟康科技有限公司
【公開日】2015年5月27日
【申請(qǐng)日】2013年11月21日
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