專利名稱:電子衍射物相鑒定儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種可根據(jù)電子衍射花樣進(jìn)行物相鑒定的儀器。
在電子衍射物相鑒定中,現(xiàn)今常用的方法均需人工對電子衍射花樣進(jìn)行較多的測量、計(jì)算、查表等工作,煩瑣、費(fèi)時(shí)。在借助于計(jì)算機(jī)進(jìn)行物相鑒定時(shí),也要先通過人工從電子衍射花樣中測出足夠的數(shù)據(jù),然后再逐一輸入計(jì)算機(jī)中,當(dāng)待定相較多時(shí),這部分工作也較費(fèi)時(shí)、乏味。
鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本實(shí)用新型的目的在于提供一種省事快速、操作簡單、費(fèi)用低廉的電子衍射物相鑒定儀。
本實(shí)用新型根據(jù)電子衍射物相鑒定的d(晶面間距)值法原理設(shè)計(jì)。它由基板、絲位片(即細(xì)絲定位片)、絲位片插槽、斑距片(即衍射斑點(diǎn)至中心斑點(diǎn)距離標(biāo)記片)、上滑動(dòng)槽、下滑動(dòng)槽、細(xì)絲及彈性元件所組成,主要由硬質(zhì)薄片制作。基板有一個(gè)雙層邊緣,兩層之間有一定間隙。該邊緣由較長的雙層直邊緣與較短的雙層齒狀邊緣相交成鈍角連接組成,后者相對于前者朝基板內(nèi)側(cè)偏斜。有八根或八根以上的柔韌細(xì)絲,一端均被固定在基板正面與雙層邊緣有一定距離的同一點(diǎn)上,另一端都繞過雙層邊緣與固定在基板背面的彈性元件相連,由此使基板正面的各細(xì)絲因受拉而保持繃直狀態(tài)。絲位片插槽與雙層邊緣鄰接,它在雙層齒狀邊緣的一端有一開口,可供絲位片插入。每一件電子衍射物相鑒定儀均配有各種物相的絲位片。各物相絲位片的一個(gè)邊緣都有數(shù)量與細(xì)絲相同并與低指數(shù)衍射斑點(diǎn)一一對應(yīng)的V形缺口,以及一個(gè)對應(yīng)于中心斑點(diǎn)的“000”標(biāo)記。所有這些缺口的尖端及“000”標(biāo)記均排到列于同一直線上。從各缺口尖端到“000”標(biāo)記的距離,等于相應(yīng)物相前八個(gè)或更多的各低指數(shù)倒易矢量g經(jīng)過一定倍數(shù)λL放大后的長度。該邊緣以V形缺口為界的各段均平行于各V形缺口尖端連成的直線,但不處在同一直線上,而是隨著與“000”標(biāo)記距離的增加逐級接近V形缺口的尖端,使該邊緣成為階梯狀,同時(shí)每個(gè)V形缺口內(nèi)的兩個(gè)斜邊緣一長一短。物相鑒定時(shí)需要將絲位片插入絲位片插槽中,在這一過程中V形缺口按相應(yīng)斑點(diǎn)指數(shù)先高后低的順序進(jìn)入雙層邊緣的間隙中。如果事先已將各細(xì)絲處在雙層邊緣上的彎折段,分別置于雙層齒狀邊緣的一個(gè)齒間缺口內(nèi),則各細(xì)絲的這一段都將能受到一個(gè)V形缺口內(nèi)的長邊緣的推動(dòng),并且隨著其沿雙層齒狀邊緣的前移而逐步進(jìn)入到相應(yīng)V形缺口的尖端。當(dāng)絲位片被推入到其插槽的最終位置時(shí),刻于基板正面且一端位于細(xì)絲固定點(diǎn)的直線(“000”直線),其另一端將準(zhǔn)確地與絲位片的“000”標(biāo)記重合,同時(shí)它又與各細(xì)絲交成不同的銳角。在抽出絲位片時(shí),雙層邊緣上各細(xì)絲位置的變化與插入時(shí)相反,最終又各處于雙層齒狀邊緣的一個(gè)齒間缺口內(nèi),因而為再次插入絲位片創(chuàng)造了條件。每個(gè)絲位片上均標(biāo)注有相應(yīng)物相的名稱、晶體結(jié)構(gòu)類型、點(diǎn)陣參數(shù)、相應(yīng)絲位片的λL值以及各V形缺口所對應(yīng)的指數(shù)hkl?;逭孢€有平行于“000”直線的滑動(dòng)槽,其一端與外相通使斑距片能由外推入其內(nèi)或由其內(nèi)取出。斑距片上有一個(gè)帶有中心斑點(diǎn)“000”標(biāo)記的楔形直邊緣,用于標(biāo)出衍射花樣中的各斑點(diǎn)至中心斑點(diǎn)距離的標(biāo)記。當(dāng)斑距片裝入滑動(dòng)槽內(nèi)時(shí),其楔形直邊緣上的“000”標(biāo)記總能與基板正面的“000”直線保持重合。若有某一物相的絲位片插入絲位片插槽的最終位置,無論斑距片移動(dòng)到何處,其楔形直邊緣與各細(xì)絲的交點(diǎn)到其“000”標(biāo)記的各長度,均分別等于相應(yīng)物相在某一λL值下形成的衍射花樣中的一個(gè)衍射斑點(diǎn)到中心斑點(diǎn)的距離。
本實(shí)用新型中不同物相的各絲位片可按同一λL值制作,還可以分別按兩個(gè)或更多個(gè)不同的λL值制作。前一種方案的物相鑒定儀上還有一個(gè)平行于基板“000”直線的λL標(biāo)尺。后一種方案將各物相絲位片要取的最高指數(shù)的g值按其值大小劃分為兩個(gè)或更多個(gè)范圍,每個(gè)范圍內(nèi)的各物相絲位片取同一λL值,最高指數(shù)的g值越大,相應(yīng)范圍內(nèi)各物相絲位片所取的λL值越小。后一種物相鑒定儀還有兩個(gè)或更多個(gè)平行于基板“000”直線的λL標(biāo)尺,它們適合于與不同λL值的絲位片配合使用。
本實(shí)用新型的斑距片的楔形直邊可制成長度標(biāo)尺,在需要時(shí)能讀出各衍射斑點(diǎn)標(biāo)記到中心斑點(diǎn)的距離。
本實(shí)用新型的物相鑒定方法及步驟如下1.拍攝出λL相同的已知相(如基體相)和待定相的幾個(gè)低指數(shù)晶帶的電子衍射花樣照片;2.將斑距片先后放在上述各電子衍射花樣照片上,在其“000”標(biāo)記與衍射花樣的中心斑點(diǎn)重合的情況下繞中心斑點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng),并在其楔形直邊緣與各低指數(shù)衍射斑點(diǎn)相遇處作出標(biāo)記。為了便于區(qū)分待定相與已知相的標(biāo)記及事后將標(biāo)記抹去,兩種相的標(biāo)記可分別采用不同顏色的水彩筆畫出或用鉛筆畫出不同的符號表示;3.將已知相的絲位片插入絲位片插槽;4.將斑距片推入滑動(dòng)槽并移到使已知相的所有斑點(diǎn)標(biāo)記都能與一根細(xì)絲重合的位置。此時(shí)斑距片楔形直邊緣在λL標(biāo)尺上的讀數(shù)即為已知相的衍射花樣的λL值;5.根據(jù)樣品的化學(xué)成分、熱處理工藝等條件判斷待定相的可能種類后,將相應(yīng)物相的絲位片換入到絲位片插槽內(nèi)。如果該絲位片標(biāo)注的λL值與已知相絲位片上的相同,此時(shí)斑距片保持原位不動(dòng),否則需按適用于待定相絲位片的λL標(biāo)尺,將斑距片移動(dòng)到與更換絲位片前相同的λL值處;6.如果待定相的每個(gè)斑點(diǎn)標(biāo)記都能與細(xì)絲一一重合,則可按絲位片上標(biāo)注的物相名稱確定持相種類。反之,若待定相的多個(gè)斑點(diǎn)標(biāo)記不能與細(xì)絲重合或接近,則可否定前面對待定物相種類的判斷。然后再重復(fù)步驟“5”和“6”,直至待定相得到正確的鑒定。
若在物相鑒定前已知λL值,則不需使用已知相的衍射花樣,只要在斑距片楔形直邊緣作出待定相衍射花樣斑點(diǎn)標(biāo)記后,將斑距片按已知的λL值推入滑動(dòng)槽的相應(yīng)位置再進(jìn)行步驟“5”和“6”即可。
由上述鑒定方法可見,本實(shí)用新型可根據(jù)各電子衍射斑點(diǎn)到中心斑點(diǎn)的距離,通過非常簡單的操作即可直接鑒別物相。此外,還可按絲位片上的指數(shù)標(biāo)定出各衍射斑點(diǎn)指數(shù)。它完全免去常用方法中的測量、計(jì)算、查ASTM卡片等煩瑣、費(fèi)時(shí)的工作。另外,由于它的結(jié)構(gòu)簡單、用料少、尺寸小,故還具有費(fèi)用低,便于攜帶等優(yōu)點(diǎn)。
以下結(jié)合附
圖1至3所示的實(shí)施例,對本實(shí)用新型作具體描述。
圖1是電子衍射物相鑒定議的透視圖,其中的絲位片未推到最終位置;圖2表示某一物相絲位片的透視圖;圖3是打開后蓋的電子衍射物相鑒定儀背面透視圖(未插入絲位片)。
圖1為本實(shí)用新型中的一種物相鑒定儀,主要由硬塑料制成。其基板[3]右邊為雙層邊緣,由雙層直邊緣[7]與朝基板內(nèi)側(cè)偏斜的雙層齒狀邊緣[14]相連組成。八根尼龍絲[2]的一端都被固定在基板正面“000”直線[10]左端的同一點(diǎn)上,另一端都饒過雙層邊緣與固定在基板背面的細(xì)小彈簧[17]或橡皮筋相連(如圖3所示),這使得基板正面的尼龍絲因受拉而保持繃直狀態(tài)。絲位片插槽[8]位于基板右側(cè)與雙層邊緣鄰接,其下端為絲位片[13]的插入口。圖2為某一物相的絲位片,其左邊緣為階梯狀并有八個(gè)V形缺口[15],每個(gè)V形缺口分別對應(yīng)于前八個(gè)低指數(shù)衍射斑點(diǎn)中的一個(gè)斑點(diǎn),相應(yīng)的指數(shù)[9]標(biāo)在它們的右邊,越靠下方指數(shù)越低。最低指數(shù)的V形缺口下方有一個(gè)“000”標(biāo)記[11],再下方標(biāo)注有物相名稱、晶體結(jié)構(gòu)類型、點(diǎn)陣參數(shù)、相應(yīng)絲位片的λL值[12]。該實(shí)施例將不同物相按低指數(shù)中的第八個(gè)g值的大小,以某個(gè)值(例如g=8nm-1)為界分為兩類,小于該值的各物相絲位片按較大的λL值(例如16mm·nm)確定各V形缺口尖端的位置,反之則按較小的λL值(例如8mm·nm)來確定。絲位片插槽空著時(shí),各尼龍絲在雙層邊緣上的彎折均分別位于雙層齒狀邊緣的一個(gè)齒間缺口內(nèi)(如圖3所示)。物相鑒定時(shí),絲位片按V形缺口指數(shù)先高后低的順序插入絲位片插槽中。在這一過程中,雙層齒狀邊緣上的各尼龍絲按離絲位片插槽口最遠(yuǎn)至最近的順序,分別能受到絲位片上的第一個(gè)(即指數(shù)最高的)、第二個(gè)、第三個(gè)、……、第八個(gè)V形缺口內(nèi)的長邊的前推,當(dāng)這些尼龍絲順雙層齒狀邊緣移至雙層直邊緣(如圖1所示)時(shí),便處于V形缺口的尖端。抽出絲位片時(shí),各尼龍絲的位置變化與插入時(shí)相反,每根尼龍絲都能分別在雙層齒狀邊緣的一齒間缺口處脫離絲位片的V形缺口而恢復(fù)到原位。基板的正面還有上滑動(dòng)槽[6]和下滑動(dòng)槽[1]。下滑動(dòng)槽同時(shí)又是由透明有機(jī)玻璃制成的兩個(gè)λL標(biāo)尺。上方的λL標(biāo)尺根據(jù)λL值較大(例如16mm·nm)的絲位片制作,下方的一個(gè)則按λL值較小(例如8 mm·nm)的絲位片制得。兩滑動(dòng)槽的左端都與外相同,可由該通口推入斑距片[5]。斑距片上有一楔形直邊緣[4],用于按電子衍射花樣標(biāo)出各衍射斑點(diǎn)至中心斑點(diǎn)距離的標(biāo)記,其面上的中心斑點(diǎn)“000”標(biāo)記為永久性標(biāo)記,當(dāng)斑距片推入上滑動(dòng)槽和下滑動(dòng)槽時(shí),該標(biāo)記與基板上的“000”直線重合。該物相鑒定儀的背面還有一個(gè)可揭開的后蓋[16]。
權(quán)利要求1.一種電子衍射物相鑒定儀,特別適合于根據(jù)電子衍射花樣鑒別物相,其特征在于(1.1)在基板[3]上有一個(gè)雙層邊緣,兩層之間有一定間隙,該邊緣由雙層直邊緣[7]與雙層齒狀邊緣[14]相交成鈍角連接組成,后者相對于前者朝基板內(nèi)側(cè)偏斜,有八根或八根以上的柔韌細(xì)絲[2],一端均被固定在基板的正面的同一點(diǎn)上,另一端都饒過雙層邊緣與固定在基板背面的彈性元件[17]相連,在雙層邊緣一側(cè)有絲位片插槽[8],基板的正面還有上滑動(dòng)槽[6]和下滑動(dòng)槽[1],(1.2)有一個(gè)兩端分別插入上滑動(dòng)槽和下滑動(dòng)槽內(nèi)并可移動(dòng)的斑距片[5],(1.3)還配有各種物相的絲位片[13],各絲位片的一個(gè)邊緣上有數(shù)量與柔韌細(xì)絲相同并與衍射斑點(diǎn)一一對應(yīng)的V形缺口[15]以及一個(gè)對應(yīng)于中心斑點(diǎn)的“000”標(biāo)記[11],在該邊緣上,以V形缺口為分界的各段為不在同一直線上的直邊緣,形似階梯。
2.按權(quán)利要求1所述的物相鑒定儀,其特征在于所說的各物相絲位片[13]均按同一λL值制作,在平行于斑距片[5]可移動(dòng)的方向上有一個(gè)適用于這些絲位片的λL標(biāo)尺。
3.按權(quán)利要求1所述的物相鑒定儀,其特征在于所說的不同物相的絲位片[13]分別按兩個(gè)或兩個(gè)以上的λL值制作,在平行于斑距片[5]可移動(dòng)的方向上,有兩個(gè)或兩個(gè)以上分別適用于這些不同λL值絲位片的λL標(biāo)尺。
4.按權(quán)利要求1所述的物相鑒定儀,其特征在于所說的斑距片[5]的一個(gè)邊緣為楔形邊緣[4]并有長度標(biāo)尺刻度。
專利摘要本實(shí)用新型可根據(jù)電子衍射花樣鑒別物相,其方法簡便快速,結(jié)構(gòu)簡單,設(shè)計(jì)合理,外觀尺寸小。它有一塊帶有雙層邊緣的基板,多根細(xì)絲的一端固定在基板正面,各細(xì)絲的另一端均繞過雙層邊緣與基板背面的彈性元件相連。在雙層邊緣鄰近處的絲位片插槽可插入各種物相的絲位片,各絲位片邊緣的多個(gè)V形缺口可使各細(xì)絲在雙層邊緣處按需要分開?;逭孢€有λL標(biāo)尺、滑動(dòng)槽和一個(gè)可沿滑動(dòng)槽移動(dòng)的斑距片。
文檔編號G01N23/20GK2288438SQ96212820
公開日1998年8月19日 申請日期1996年5月23日 優(yōu)先權(quán)日1996年5月23日
發(fā)明者任遙遙 申請人:任遙遙