本技術涉及芯片測試架，具體為一種具有限位功能的芯片測試架。

背景技術：

1、芯片測試架主要是作用于工業(yè)電子器件中針對其中的控制芯片進行檢查測試的設備裝置，且檢測治具簡單說就是生產(chǎn)線上的一種輔助生產(chǎn)設備，需要對芯片產(chǎn)品或半成品進行檢測、試驗以判斷其功能。

2、由公告號“cn218350441u”其專利名為：一種具有限位功能的芯片測試架。該公開文獻通過設置限位板將芯片進行位置固定，但限位板只能對芯片的前后兩端進行夾持固定，無法對芯片的左右兩側進行夾持固定，當工作人員將芯片放置于底座上時，因芯片的左右方向無法起到限位作用，此時，芯片的中心與檢測板的中心處于偏心的狀態(tài)，導致測試探針與芯片處于非完全重合的狀態(tài)，進而影響了測試探針對芯片的檢測效果。基于此，本實用新型設計了一種具有限位功能的芯片測試架，以解決上述問題。

技術實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的在于提供一種具有限位功能的芯片測試架，以解決上述背景技術提出的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種具有限位功能的芯片測試架，包括支撐座以及支撐板，所述支撐板固設于支撐座的頂部，所述支撐座內部設置有限位組件，所述限位組件包括一體設置有支撐座內部頂端的十字孔，所述支撐座內部四角處轉接有轉銷，所述轉銷外部上端固定套設有皮帶輪，四件所述皮帶輪的外部通過緊配套設的齒皮帶進行輪齒嚙合的串聯(lián)處理，所述轉銷外部下端套設的滑架與支撐座滑接相連，所述支撐座內部一側固設的齒條與轉銷外部固定套設的齒輪輪齒嚙合，所述滑架頂部內側固設的限位銷滑動貫穿于十字孔，所述支撐座內部頂端左側固設有微型電機，且微型電機的首端與左側的轉銷固接相連。

3、更進一步的，四件所述限位銷兩兩之間的角度為90度設計，所述微型電機具有正反轉以及自鎖功能。

4、更進一步的，四件所述限位銷的中心分別與十字孔中心之間的間距處于等同設計的狀態(tài)，所述支撐座外部右側固設有控制器。

5、更進一步的，所述支撐板頂部中端固設有電動推桿，所述電動推桿的首端貫穿于支撐板的頂部，且電動推桿的底部固設有安裝板，所述電動推桿具有自鎖功能。

6、更進一步的，所述安裝板底部固設有若干件數(shù)量的探針，所述安裝板的中心與十字孔以及支撐座的中心處于同心設計。

7、更進一步的，所述支撐板內部上端設置有橡膠材質的罩體，所述罩體內部中端一體設置的讓位孔與安裝板相互重合，且讓位孔俯視橫截面大于安裝板的俯視橫截面。

8、更進一步的，所述罩體內部下端左右兩側滑接有橡膠材質的封堵板，所述封堵板外側的前后兩端與罩體之間固設有彈簧，且彈簧內側設置的橡膠材質的隔板與罩體固接相連，所述隔板滑動貫穿于封堵板。

9、更進一步的，所述封堵板外側中端固設有鐵塊，所述罩體內部左右兩側的中端固設的電磁鐵與鐵塊一一對應。

10、與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果是：

11、1.本實用新型不僅可將芯片進行限位處理，還可將限位后的芯片的中心與安裝板的中心處于同心的狀態(tài)，進而使得芯片與探針處于完全重合的狀態(tài)，由此可知，通過使用本申請中的裝置，不僅確保了芯片限位的穩(wěn)定性，還確保了探針對芯片的檢測效果。

12、2.本實用新型通過防護功能的設計，可將未使用中的探針與外界進行隔離處理，以此避免探針被外界物體誤碰撞而導致探針變形，由此可知，通過使用本申請中的裝置，不僅對探針起到保護處理，還確保了探針工作時的正常性，即確保了探針檢測芯片的精準性。

技術特征：

1.一種具有限位功能的芯片測試架，包括支撐座(1)以及支撐板(2)，其特征在于：所述支撐板(2)固設于支撐座(1)的頂部，所述支撐座(1)內部設置有限位組件(3)，所述限位組件(3)包括一體設置有支撐座(1)內部頂端的十字孔(301)，所述支撐座(1)內部四角處轉接有轉銷(302)，所述轉銷(302)外部上端固定套設有皮帶輪(303)，四件所述皮帶輪(303)的外部通過緊配套設的齒皮帶(304)進行輪齒嚙合的串聯(lián)處理，所述轉銷(302)外部下端套設的滑架(305)與支撐座(1)滑接相連，所述支撐座(1)內部一側固設的齒條(306)與轉銷(302)外部固定套設的齒輪(307)輪齒嚙合，所述滑架(305)頂部內側固設的限位銷(308)滑動貫穿于十字孔(301)，所述支撐座(1)內部頂端左側固設有微型電機(309)，且微型電機(309)的首端與左側的轉銷(302)固接相連。

2.根據(jù)權利要求1所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：四件所述限位銷(308)兩兩之間的角度為90度設計，所述微型電機(309)具有正反轉以及自鎖功能。

3.根據(jù)權利要求1所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：四件所述限位銷(308)的中心分別與十字孔(301)中心之間的間距處于等同設計的狀態(tài)，所述支撐座(1)外部右側固設有控制器(4)。

4.根據(jù)權利要求1所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：所述支撐板(2)頂部中端固設有電動推桿(5)，所述電動推桿(5)的首端貫穿于支撐板(2)的頂部，且電動推桿(5)的底部固設有安裝板(6)，所述電動推桿(5)具有自鎖功能。

5.根據(jù)權利要求4所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：所述安裝板(6)底部固設有若干件數(shù)量的探針(7)，所述安裝板(6)的中心與十字孔(301)以及支撐座(1)的中心處于同心設計。

6.根據(jù)權利要求1所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：所述支撐板(2)內部上端設置有橡膠材質的罩體(8)，所述罩體(8)內部中端一體設置的讓位孔(9)與安裝板(6)相互重合，且讓位孔(9)俯視橫截面大于安裝板(6)的俯視橫截面。

7.根據(jù)權利要求6所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：所述罩體(8)內部下端左右兩側滑接有橡膠材質的封堵板(10)，所述封堵板(10)外側的前后兩端與罩體(8)之間固設有彈簧(11)，且彈簧(11)內側設置的橡膠材質的隔板(12)與罩體(8)固接相連，所述隔板(12)滑動貫穿于封堵板(10)。

8.根據(jù)權利要求7所述一種具有限位功能的芯片測試架，其特征在于：所述封堵板(10)外側中端固設有鐵塊(13)，所述罩體(8)內部左右兩側的中端固設的電磁鐵(14)與鐵塊(13)一一對應。

技術總結
本技術公開了一種具有限位功能的芯片測試架，包括支撐座以及支撐板，支撐板固設于支撐座的頂部，支撐座內部設置有限位組件。本技術不僅可將芯片進行限位處理，還可將限位后的芯片的中心與安裝板的中心處于同心的狀態(tài)，進而使得芯片與探針處于完全重合的狀態(tài)，由此可知，通過使用本申請中的裝置，不僅確保了芯片限位的穩(wěn)定性，還確保了探針對芯片的檢測效果。本技術通過防護功能的設計，可將未使用中的探針與外界進行隔離處理，以此避免探針被外界物體誤碰撞而導致探針變形，由此可知，通過使用本申請中的裝置，不僅對探針起到保護處理，還確保了探針工作時的正常性，即確保了探針檢測芯片的精準性。

技術研發(fā)人員：羅榮忠
受保護的技術使用者：江西省眾銳智能科技有限公司
技術研發(fā)日：20240319
技術公布日：2024/12/19