本實用新型涉及高清線材領域，特別涉及一種線材馬口鐵鉚壓電阻測試系統(tǒng)。
背景技術：
：瞬間導通不良是指當待測線材一般項目測試完成后作搖擺測試時，由于制程瑕疵引起某條線在特定角度時突然接點導通電阻有變化過大的情況，但在其他角度時又恢復正常。這種現(xiàn)象稱為瞬間導通不良，與瞬間開路最大不同點是待測物并沒有斷線，而是搖擺時由于線本身磨擦造成接點電阻瞬間有很大的變動。因此只用瞬間斷短路功能無法檢測出這種不良。瞬間導通不良與一般導通不良又有本質(zhì)上的不同，一般導通不良的原因大致是線材材質(zhì)不好，接點氧化，端子與接點箝夾不對位，接點冷焊等。而瞬間導通不良的原因大致冷焊，斷線后芯絲搭連，端子與接點箝夾松動等。傳統(tǒng)測試儀器，地線與芯線共享同一個測試設定參數(shù)，因為兩者的導通電阻測試差異性很大，所以傳統(tǒng)的測試儀器具有局限線無法做到兩者兼顧。所以在測試上有遺漏性。技術實現(xiàn)要素：本實用新型的為克服上述弊端，提供一種改善管控鉚壓不良與芯線焊接不良，提高生產(chǎn)效率，降低不良率，且能保證測試的質(zhì)量的線材馬口鐵鉚壓電阻測試系統(tǒng)。為達到上述實用新型目的，本實用新型采用的技術方案是：一種線材馬口鐵鉚壓電阻測試系統(tǒng)，包括連接產(chǎn)品的治具和控制測試的CPU，所述治具通過Relay與量測連接，所述CPU作為測試系統(tǒng)的核心連接有LCD、I/O和鍵盤，所述CPU還與所述量測連接，形成完整的測試回路。；進一步地，Relay采用四線式量測腳位與整個測試系統(tǒng)連通；進一步地，量測中包含量測源和訊號源；進一步地，量測源為電壓測試源，所述訊號源為恒流源；進一步地，測試系統(tǒng)包含鉚壓電阻測試與芯線電阻測試，且兩者參數(shù)分開設定；由于上述技術方案運用，本實用新型與現(xiàn)有技術相比具有下列優(yōu)點：本實用新型中包含鉚壓電阻測試與芯線電阻測試，兩者參數(shù)分開設定，完善了傳統(tǒng)測試儀器無法做到兩者兼顧的局限，并且在測試過程中，四線式量能實際測出待測線材的實際阻抗，保證測試結(jié)果，綜上，本實用新型改善管控鉚壓不良與芯線焊接不良，提高生產(chǎn)效率，降低不良率，且能保證測試的質(zhì)量。附圖說明圖1是本實用新型的結(jié)構示意圖；圖2是四線式量測腳位示意圖；圖3是本實用新型量測示意圖。具體實施方式下面結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述：實施例：參見圖1～3所示，一種線材馬口鐵鉚壓電阻測試系統(tǒng)，包括連接產(chǎn)品的治具和控制測試的CPU，治具通過Relay與量測連接，CPU作為測試系統(tǒng)的控制核心連接有LCD、I/O和鍵盤，CPU與量測連接，形成完整的測試回路；Relay采用四線式量測腳位與整個測試系統(tǒng)連通，量測中包含量測源和訊號源，且量測源為電壓測試源，訊號源為恒流源在整個測試系統(tǒng)中，量測源通過線路與四線式量測腳位連接，訊號源通過線路與測試區(qū)連接，且其內(nèi)存在內(nèi)部對比電阻和外部對比電阻，產(chǎn)品插入四線式量測腳位與整個測試系統(tǒng)連通；優(yōu)選的，測試系統(tǒng)包含鉚壓電阻測試與芯線電阻測試，且兩者參數(shù)分開設定；具體的，將接入Relay中四線式量測腳位，根據(jù)LCD界面顯示在鍵盤上輸入產(chǎn)品測試規(guī)格參數(shù)，對待測線材先后進行短斷路、導通、高壓和搖擺測試，并依次更換Relay中的測試點位并在鍵盤上設定參數(shù)，當在其中任意測試中出現(xiàn)不合格現(xiàn)象時，系統(tǒng)停止測試，在進行導通測試過程中，對芯線和地線的參數(shù)依據(jù)表1進行分開設定；芯線地線VGA30mΩ40mΩHDMI10mΩ5mΩ表1隨后進行高壓測試的參數(shù)確定，在進行搖擺測試的時候，人工搖擺待測線材，利用瞬間導通原理，來實現(xiàn)對鐵殼頸部鉚壓松緊度和芯線焊接不良的管控；在進行測試的過程中，產(chǎn)品、治具和Relay間進行測試信號的輸出和量測信號的采集，而在量測與Relay之間控制型號輸出以及測試信號輸出，并進行量測信號采集，當CPU給出控制指令，量測接受到CPU控制指令后給出訊號源，并采集產(chǎn)品端的量測信號，隨后CPU接受量測信號并傳達給I/O模塊，I/O數(shù)模轉(zhuǎn)換器通過接受模擬信號后轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號傳達給CPU，CPU再將數(shù)字信號傳給LCD，LCD在接收過后將測試結(jié)果顯示出來；進一步的，鉚壓不良是因為當待測線材一般項目測試完成后作搖擺測試時，鐵殼鉚壓松動，地線與鐵殼的接觸面積過變化過大，導致地線的瞬間導通阻抗值浮動多大，當變化的公差值超出所設定的參數(shù)時，測試系統(tǒng)停止后續(xù)的測試。芯線不良由于制程和鉚壓瑕疵引起某條線在特定角度時突然接點導通電阻有變化過大的情況，當導通電阻最大值與初始值的公差值超出所設定的測試參數(shù)時，測試系統(tǒng)停止后續(xù)的測試項目。本測試系統(tǒng)中包含鉚壓電阻測試系統(tǒng)與芯線電阻測試系統(tǒng)，兩者參數(shù)分開設定，完善了傳統(tǒng)測試儀器無法做到兩者兼顧的局限，并且在測試過程中，四線式量能實際測出待測線材的實際阻抗，保證測試結(jié)果，綜上，本實用新型改善管控鉚壓不良與芯線焊接不良，提高生產(chǎn)效率，降低不良率，且能保證測試的質(zhì)量。上述實施方式只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人能夠了解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍。凡根據(jù)本實用新型精神實質(zhì)所做的等效變換或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。當前第1頁1 2 3