本發(fā)明涉及激光器檢測(cè)，特別是涉及一種激光器光路檢測(cè)電路及其失效檢測(cè)方法。

背景技術(shù)：

激光器是用于產(chǎn)生激光的裝置，激光器內(nèi)部包含產(chǎn)生激光的電路，稱(chēng)為光路，光路中包含激光產(chǎn)生元件，當(dāng)光路正常工作時(shí)，激光產(chǎn)生元件會(huì)產(chǎn)生激光光線。激光器在生產(chǎn)的過(guò)程中，由于光路在生產(chǎn)過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤安裝，造成激光產(chǎn)生元件在光路正常通電時(shí)無(wú)法產(chǎn)生激光光線，同時(shí)，錯(cuò)誤安裝的光路持續(xù)通電可能會(huì)被嚴(yán)重?fù)p壞。因此，激光器的光路在通電測(cè)試時(shí)需要有可靠的措施確保激光器光路的安全，否則成本高昂的光路可能受損。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，本發(fā)明提供一種可檢測(cè)激光器的光路是否正常產(chǎn)生激光光線并產(chǎn)生保護(hù)信號(hào)的激光器光路檢測(cè)電路及其失效檢測(cè)方法。

為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種激光器光路檢測(cè)電路，用于檢測(cè)激光器中的光路能否正常產(chǎn)生激光，及用于輸出保護(hù)信號(hào)voc，其特征在于，所述激光器光路檢測(cè)電路包括檢測(cè)模組、連接所述檢測(cè)模組的前級(jí)運(yùn)算模組及連接所述前級(jí)運(yùn)算模組的后級(jí)運(yùn)算模組；所述檢測(cè)模組設(shè)有初始信號(hào)端；所述前級(jí)運(yùn)算模組設(shè)有第一接收端及次級(jí)信號(hào)端；所述后級(jí)運(yùn)算模組設(shè)有第二接收端、參照端及控制端；所述檢測(cè)模組的初始信號(hào)端與所述前級(jí)運(yùn)算模組的第一接收端連接；所述前級(jí)運(yùn)算模組的次級(jí)信號(hào)端與所述后級(jí)運(yùn)算模組的第二接收端連接。

本發(fā)明的激光器光路檢測(cè)電路及其失效檢測(cè)方法通過(guò)所述檢測(cè)模組、前級(jí)運(yùn)算模組及后級(jí)運(yùn)算模組可根據(jù)激光器光路是否發(fā)出激光光線而可靠地產(chǎn)生相應(yīng)的保護(hù)信號(hào)，在激光器光路通電后出現(xiàn)異常時(shí)能及時(shí)控制激光器光路與外部電源切斷，從而避免了成本高的激光器光路在通電測(cè)試中受損。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述檢測(cè)模組包括電阻r1、r2、光電二極管pd1、及電容c1；所述電阻r1的一端與外部電源連接；所述電阻r1的另一端與所述光電二極管pd1的陰極連接；所述光電二極管pd1的陽(yáng)極與所述電阻r2的一端連接；所述光電二極管pd1的陽(yáng)極還與所述電容c1的一端連接；所述電阻r2的另一端與外部電源連接；所述電阻r2的另一端還與所述電容c2的另一端連接；所述電阻r2的一端作為所述檢測(cè)模組的初始信號(hào)端，與所述前級(jí)運(yùn)算模組連接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述前級(jí)運(yùn)算模組包括電阻r3、電阻r4、電阻r5、電阻r6、可變電阻r7、電容c2及芯片u1；所述電阻r3的一端連接外部電源；所述電阻r3的另一端連接芯片u1的反相端；所述電阻r3的另一端還連接所述電阻r4的一端；所述電阻r4的另一端連接可變電阻r7的一端；所述可變電阻r7的另一端連接所述電阻r5的一端；所述電阻r5的另一端作為所述前級(jí)運(yùn)算模組的次級(jí)信號(hào)端，與所述后級(jí)運(yùn)算模組連接；所述可變電阻r7的另一端還連接所述電阻r6的一端；所述可變電阻r7的另一端還連接所述芯片u1的輸出端；所述電阻r6的另一端連接電容c2的一端；所述電容c2的另一端連接外部電源；所述芯片u1的正相端作為所述前級(jí)運(yùn)算模組的第一接收端，與所述檢測(cè)模組的初始信號(hào)端連接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述后級(jí)運(yùn)算模組包括電阻r8、電容c3、電容c4、及芯片u2；所述芯片u2設(shè)有正電能端及負(fù)電能端；所述芯片u2的正相端作為所述后級(jí)運(yùn)算模組的第二接收端，與所述前級(jí)運(yùn)算模組的次級(jí)信號(hào)端連接；所述芯片u2的反相端與所述電阻r8的一端連接；所述電阻r8的另一端作為所述后級(jí)運(yùn)算模組的參照端；所述芯片u2的反相端還與所述電容c4的一端連接；所述電容c4的另一端連接外部電源；所述芯片u2的正電能端連接外部電源；所述芯片u2的正電能端還連接電容c3的一端；所述芯片u2的負(fù)電能端連接所述電容c3的另一端；所述芯片u2的負(fù)電能端還連接外部電源；所述芯片u2的輸出端作為所述后級(jí)運(yùn)算模組的控制端。

一種激光器光路檢測(cè)電路的失效檢測(cè)方法，用于對(duì)所述激光器光路檢測(cè)電路的失效性進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)過(guò)程中需用到外置光線檢測(cè)模塊，該外置光線檢測(cè)模塊能識(shí)別激光器光路是否有產(chǎn)生激光光線，其特征在于，所述激光器光路檢測(cè)電路的失效檢測(cè)方法包括如下步驟：

s10：將所述激光器光路檢測(cè)電路接通外部電源，然后進(jìn)入步驟s20；

s20：判斷所述激光器光路檢測(cè)電路輸出的保護(hù)信號(hào)voc是否為高電位；若判斷結(jié)果為是，則確定所述激光器光路檢測(cè)電路失效，失效性檢測(cè)過(guò)程直接結(jié)束；若判斷結(jié)果為否，則進(jìn)入步驟s30；

s30：令所述激光器中的光路通電，然后進(jìn)入步驟s40；

s40：利用外置光線檢測(cè)模塊檢測(cè)所述光路是否產(chǎn)生激光光線，若檢測(cè)到光路未產(chǎn)生激光光線，則進(jìn)入步驟s50；若檢測(cè)到產(chǎn)生了激光光線，則進(jìn)入步驟s60；

s50：令所述激光器的光路停止通電，調(diào)整所述激光器的光路，以使其能正常產(chǎn)生激光光線，然后進(jìn)入步驟s30；

s60：分析所述保護(hù)信號(hào)voc的電位狀態(tài)，若所述保護(hù)信號(hào)voc為低電位，則可確定所述激光器光路檢測(cè)電路失效；若所述保護(hù)信號(hào)voc為高電位，則可確定所述激光器光路檢測(cè)電路可有效識(shí)別激光器光路是否有產(chǎn)生激光光線并產(chǎn)生正確的控制信號(hào)voc。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的激光器光路檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)圖；

圖2為圖1所示的激光器光路檢測(cè)電路的電路圖；

圖3為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的激光器光路檢測(cè)電路的失效檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為了便于理解本發(fā)明，下面將對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更全面的描述。但是，本發(fā)明可以以許多不同的形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)本發(fā)明的公開(kāi)內(nèi)容的理解更加透徹全面。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語(yǔ)與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說(shuō)明書(shū)中所使用的術(shù)語(yǔ)只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。

請(qǐng)參閱圖1及圖2，為本發(fā)明一較佳實(shí)施方式的激光器光路檢測(cè)電路10，用于檢測(cè)激光器中的光路能否正常產(chǎn)生激光，即激光光線，且其向激光器的光路輸出保護(hù)信號(hào)voc，當(dāng)激光器光路檢測(cè)電路10在光路通電后檢測(cè)到光路未能正常產(chǎn)生激光光線時(shí)，該激光器光路檢測(cè)電路10通過(guò)保護(hù)信號(hào)voc令激光器的光路停止通電；所述激光器光路檢測(cè)電路10在工作時(shí)與外部電源連接；外部電源設(shè)有正極及負(fù)極，外部電源的負(fù)極作為參考地。所述激光器光路檢測(cè)電路10包括檢測(cè)模組20、連接所述檢測(cè)模組20的前級(jí)運(yùn)算模組30及連接所述前級(jí)運(yùn)算模組30的后級(jí)運(yùn)算模組40；所述檢測(cè)模組20能檢測(cè)所述光路是否有發(fā)出激光，并根據(jù)激光的強(qiáng)度向所述前級(jí)運(yùn)算模組30輸出相應(yīng)幅值的初始判斷信號(hào)；所述前級(jí)運(yùn)算模組30將所述初始判斷信號(hào)進(jìn)行調(diào)整，并向所述后級(jí)運(yùn)算模組40輸出第一放大信號(hào)；所述后級(jí)運(yùn)算模組40將第一放大信號(hào)與參考值進(jìn)行對(duì)比，并向該激光器的光路發(fā)出保護(hù)信號(hào)voc。

所述檢測(cè)模組20還與外部電源的正極及參考地連接；所述檢測(cè)模組20設(shè)有初始信號(hào)端；所述檢測(cè)模組20包括電阻r1、r2、光電二極管pd1、及電容c1；所述電阻r1的一端與所述外部電源的正極連接；所述電阻r1的另一端與所述光電二極管pd1的陰極連接；所述光電二極管pd1的陽(yáng)極與所述電阻r2的一端連接；所述光電二極管pd1的陽(yáng)極還與所述電容c1的一端連接；所述電阻r2的另一端與參考地連接；所述電阻r2的另一端還與所述電容c2的另一端連接；所述電阻r2的一端作為所述檢測(cè)模組20的初始信號(hào)端，與所述前級(jí)運(yùn)算模組30連接。

所述前級(jí)運(yùn)算模組30設(shè)有第一接收端及次級(jí)信號(hào)端；所述前級(jí)運(yùn)算模組30還與外部電源的正極及參考地連接；所述前級(jí)運(yùn)算模組30包括電阻r3、電阻r4、電阻r5、電阻r6、可變電阻r7、電容c2及芯片u1；所述電阻r3的一端連接參考地；所述電阻r3的另一端連接芯片u1的反相端；所述電阻r3的另一端還連接所述電阻r4的一端；所述電阻r4的另一端連接可變電阻r7的一端；所述可變電阻r7的另一端連接所述電阻r5的一端；所述電阻r5的另一端作為所述前級(jí)運(yùn)算模組30的次級(jí)信號(hào)端，與所述后級(jí)運(yùn)算模組40連接；所述可變電阻r7的另一端還連接所述電阻r6的一端；所述可變電阻r7的另一端還連接所述芯片u1的輸出端；所述電阻r6的另一端連接電容c2的一端；所述電容c2的另一端連接參考地；所述芯片u1設(shè)有正電能端及負(fù)電能端；所述芯片u1的正電能端接外部電源的正極；所述芯片u1的負(fù)電能端接參考地；所述芯片u1的正相端作為所述前級(jí)運(yùn)算模組30的第一接收端，與所述檢測(cè)模組20的初始信號(hào)端連接。

所述后級(jí)運(yùn)算模組40設(shè)有第二接收端、參照端及控制端；所述后級(jí)運(yùn)算模組40還與外部電源的正極及參考地連接；所述后級(jí)運(yùn)算模組40包括電阻r8、電容c3、電容c4、及芯片u2；所述芯片u2設(shè)有正電能端及負(fù)電能端；所述芯片u2的正相端作為所述后級(jí)運(yùn)算模組40的第二接收端，與所述前級(jí)運(yùn)算模組30的次級(jí)信號(hào)端連接；所述芯片u2的反相端與所述電阻r8的一端連接；所述電阻r8的另一端作為所述后級(jí)運(yùn)算模組40的參照端；所述后級(jí)運(yùn)算模組40的參照端通過(guò)端子pd_f_ref輸入調(diào)整電壓vref；所述芯片u2的反相端還與所述電容c4的一端連接；所述電容c4的另一端接參考地；所述芯片u2的正電能端連接外部電源正極；所述芯片u2的正電能端還連接電容c3的一端；所述芯片u2的負(fù)電能端連接所述電容c3的另一端；所述芯片u2的負(fù)電能端還連接參考地；所述芯片u2的輸出端作為所述后級(jí)運(yùn)算模組40的控制端；所述后級(jí)運(yùn)算模組40的控制端通過(guò)端子pd_f向所述激光器的光路輸出所述保護(hù)信號(hào)voc。

在其中一種實(shí)施方式中，外部電源的輸入電壓vcc為3.3v；所述激光器光路檢測(cè)電路10正常工作時(shí)，所述檢測(cè)模組20中的光電二極管pd1檢測(cè)激光器的光路是否有產(chǎn)生激光光線；當(dāng)激光器的光路正常產(chǎn)生激光光線，所述光電二極管pd1通過(guò)光電流，光電流通過(guò)所述電阻r2后，在所述電阻r2的一端產(chǎn)生一定幅值的感應(yīng)電壓信號(hào)，所述電阻r2一端的感應(yīng)電壓信號(hào)從所述第一接收端輸入所述前級(jí)運(yùn)算模組30；所述感應(yīng)電壓信號(hào)經(jīng)所述第一運(yùn)算模塊放大后，成為二次電壓信號(hào)，當(dāng)有光電流產(chǎn)生時(shí)，所述二次電壓信號(hào)的幅值接近供電電壓vcc；所述二次電壓信號(hào)從所述第二接收端輸入所述第二運(yùn)算模塊；所述后級(jí)運(yùn)算模組40的參照端輸入調(diào)整電壓vref，所述二次電壓信號(hào)與所述調(diào)整電壓vref通過(guò)所述芯片u2進(jìn)行比較，且所述芯片u2的輸出端輸出保護(hù)信號(hào)voc；當(dāng)有光電流產(chǎn)生時(shí)，所述保護(hù)信號(hào)voc為高電位；在所述激光器光路檢測(cè)電路10正常有效的前提下，所述保護(hù)信號(hào)voc為高電位即表示所述激光器的光路產(chǎn)生了激光光線。

所述激光器光路檢測(cè)電路10正常工作時(shí)，當(dāng)激光器通電后，其光路未產(chǎn)生激光光線，則所述光電二極管pd1沒(méi)有光電流通過(guò)，在所述電阻r2的一端的感應(yīng)電壓信號(hào)的為低電位；當(dāng)所述感應(yīng)電壓信號(hào)的幅值約為零時(shí)，所述第一運(yùn)算模塊輸出的二次電壓信號(hào)為低電位，且由于所述二次電壓信號(hào)的幅值低于所述調(diào)整電壓vref，所述保護(hù)信號(hào)voc為低電位；在所述激光器光路檢測(cè)電路10正常有效的前提下，所述保護(hù)信號(hào)voc為低電位即表示所述激光器的光路未產(chǎn)生激光光線。

通過(guò)調(diào)整所述可變電阻r7的阻值，可改變所述二次電壓信號(hào)與所述感應(yīng)電壓信號(hào)之間的倍數(shù)關(guān)系。

所述激光器的光路在通電后一定時(shí)間內(nèi)未接受到高電位的保護(hù)信號(hào)voc，則立即停止通電，以避免所述激光器的光路受損。

請(qǐng)參閱圖3，為激光器光路檢測(cè)電路的失效檢測(cè)方法的流程；為保證所述激光器光路檢測(cè)電路10能正確判斷所述激光器的光路是否產(chǎn)生激光光線并產(chǎn)生準(zhǔn)確的保護(hù)信號(hào)voc，需對(duì)所述激光器光路檢測(cè)電路10的有效性進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)過(guò)程中需用到外置光線檢測(cè)模塊，所述外置光線檢測(cè)模塊能檢測(cè)所述光路是否產(chǎn)生激光光線，所述激光器光路檢測(cè)電路的失效檢測(cè)方法包含的步驟如下：

s10：將所述激光器光路檢測(cè)電路10接通外部電源，然后進(jìn)入步驟s20。

s20：判斷所述激光器光路檢測(cè)電路10輸出的保護(hù)信號(hào)voc是否為高電位；若判斷結(jié)果為是，則確定所述激光器光路檢測(cè)電路10失效，有效性檢測(cè)過(guò)程直接結(jié)束；若判斷結(jié)果為否，則進(jìn)入步驟s30；

本步驟用于針對(duì)下述情況，在所述激光器光路檢測(cè)電路10接通外部電源，但所述激光器的光路未接通外部電源時(shí)，所述光路不可能產(chǎn)生激光光線，正常情況下所述保護(hù)信號(hào)voc應(yīng)該為低電平；若此時(shí)所述保護(hù)信號(hào)voc為高電平，則所述激光器光路檢測(cè)電路10失效，不能應(yīng)用于激光器光路的檢測(cè)和保護(hù)；該情況下，所述激光器光路檢測(cè)電路10失效的原因可能是以下兩種，第一種原因是所述光電二極管pd1被短路，所述電阻r2的一端直接接通電阻r1的另一端，導(dǎo)致在未產(chǎn)生激光光線的情況下，在所述電阻r2的一端產(chǎn)生一定幅值的感應(yīng)電壓信號(hào)；第二種原因是所述光電二極管pd1被反向安裝，即所述光電二極管pd1的陽(yáng)極與所述電阻r1的另一端連接，所述光電二極管pd1的陰極與所述電阻r2的一端連接，導(dǎo)致所述激光器光路檢測(cè)電路10接通外部電源后，所述光電二極管pd1直接正向?qū)ǎ谒鲭娮鑢2的一端產(chǎn)生一定幅值的感應(yīng)電壓信號(hào)。

s30：令所述激光器中的光路通電，然后進(jìn)入步驟s40；

s40：利用外置光線檢測(cè)模塊檢測(cè)所述光路是否產(chǎn)生激光光線，若檢測(cè)到光路未產(chǎn)生激光光線，則進(jìn)入步驟s50；若檢測(cè)到產(chǎn)生了激光光線，則進(jìn)入步驟s60。

s50：令所述激光器的光路停止通電，調(diào)整所述激光器的光路，以使其能正常產(chǎn)生激光光線，然后進(jìn)入步驟s30。

s60：分析所述保護(hù)信號(hào)voc的電位狀態(tài)，若所述保護(hù)信號(hào)voc為低電位，則可確定所述激光器光路檢測(cè)電路10失效；若所述保護(hù)信號(hào)voc為高電位，則可確定所述激光器光路檢測(cè)電路10可有效識(shí)別激光器光路是否有產(chǎn)生激光光線并產(chǎn)生正確的控制信號(hào)voc；

本步驟中，所述激光器光路檢測(cè)電路10失效的原因可能是所述光電二極管pd1與其他元件的連接存在開(kāi)路或所述光電二極管pd1內(nèi)部損毀。

本實(shí)施例中，通過(guò)所述檢測(cè)模組、前級(jí)運(yùn)算模組及后級(jí)運(yùn)算模組可根據(jù)激光器光路是否發(fā)出激光光線而可靠地產(chǎn)生相應(yīng)的保護(hù)信號(hào)，在激光器光路通電后出現(xiàn)異常時(shí)能及時(shí)控制激光器光路與外部電源切斷，從而避免了成本高的激光器光路在通電測(cè)試中受損。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專(zhuān)利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專(zhuān)利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。